Onder ons toetsinstrumente vir coating en oppervlak-evaluering is COATING DICKNESS METERS, OPPERVLAKROUWHEIDSTESTERS, GLOSSMETERS, KLEURLESERS, KLEURVERSKIL METERS, MALLIKROFERENCEMETER, MALLIKROFERENCEMETER, MALLIKROFENSIE Ons hooffokus is op NON-DESTRUCTIVE TOETS METODES. Ons dra handelsmerke van hoë gehalte soos SADTand MITECH.

 

'n Groot persentasie van alle oppervlaktes rondom ons is bedek. Bedekkings dien baie doeleindes, insluitend goeie voorkoms, beskerming en om produkte sekere gewenste funksionaliteit te gee soos waterafstotend, verbeterde wrywing, slytasie en skuurweerstand ….ens. Daarom is dit van kardinale belang om in staat te wees om die eienskappe en kwaliteit van coatings en oppervlaktes van produkte te meet, te toets en te evalueer. Bedekkings kan breedweg in twee hoofgroepe gekategoriseer word indien diktes in ag geneem word: THICK FILM_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf75dIN 30BAD5cf58d13cf58d13cf58d13cf58d1000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000001

​

Om die katalogus vir ons SADT-handelsmerk-metrologie en toetstoerusting af te laai, KLIK asseblief HIER.  In hierdie katalogus vind u van hierdie instrumente vir die evaluering van oppervlaktes en bedekkings.

​

Om brosjure af te laai vir Coating Dikte Gauge Mitech Model MCT200, KLIK asseblief HIER.

​

Sommige van die instrumente en tegnieke wat vir sulke doeleindes gebruik word, is:

 

COATING DICKNESS METER : Verskillende tipes coatings vereis verskillende tipe coating toetsers. 'n Basiese begrip van die verskillende tegnieke is dus noodsaaklik vir die gebruiker om die regte toerusting te kies. In die Magnetiese induksiemetode van coating diktemeting  meet ons niemagnetiese coatings oor ysterhoudende substrate oor niemagnetiese coatingsubstrate en magnetiese coatings substrate. Die sonde word op die monster geposisioneer en die lineêre afstand tussen die sondepunt wat die oppervlak kontak en die basissubstraat word gemeet. Binne die meetsonde is 'n spoel wat 'n veranderende magneetveld genereer. Wanneer die sonde op die monster geplaas word, word die magnetiese vloeddigtheid van hierdie veld verander deur die dikte van 'n magnetiese laag of die teenwoordigheid van 'n magnetiese substraat. Die verandering in magnetiese induktansie word gemeet deur 'n sekondêre spoel op die sonde. Die uitset van die sekondêre spoel word na 'n mikroverwerker oorgedra, waar dit as 'n laagdiktemeting op die digitale skerm gewys word. Hierdie vinnige toets is geskik vir vloeibare of poeierbedekkings, platerings soos chroom, sink, kadmium of fosfaat oor staal- of ystersubstrate. Bedekkings soos verf of poeier dikker as 0,1 mm is geskik vir hierdie metode. Die magnetiese induksiemetode is nie goed geskik vir nikkel oor staalbedekkings nie as gevolg van nikkel se gedeeltelike magnetiese eienskap. Fase-sensitiewe Eddy huidige metode is meer geskik vir hierdie coatings. Nog 'n tipe deklaag waar die magnetiese induksiemetode geneig is tot mislukking, is sinkgegalvaniseerde staal. Die sonde sal 'n dikte gelyk aan die totale dikte lees. Nuwer model-instrumente is in staat om self te kalibreer deur die substraatmateriaal deur die laag op te spoor. Dit is natuurlik baie nuttig wanneer 'n kaal substraat nie beskikbaar is nie of wanneer die substraatmateriaal onbekend is. Goedkoper toerusting weergawes vereis egter kalibrasie van die instrument op 'n kaal en onbedekte substraat. The Eddy Current Metode van coating dikte meting measures niegeleidende coatings op nie-substrative metale nie-geleidende coatings op nie-substrative metale nie-substratous coatings nie-geleidende coatings op nie-substraat en nie-substrative metale Dit is soortgelyk aan die magnetiese induktiewe metode wat voorheen genoem is wat 'n spoel en soortgelyke probes bevat. Die spoel in die wervelstroommetode het die dubbele funksie van opwekking en meting. Hierdie sondespoel word deur 'n hoëfrekwensie-ossillator aangedryf om 'n afwisselende hoëfrekwensieveld te genereer. Wanneer dit naby 'n metaalgeleier geplaas word, word werwelstrome in die geleier gegenereer. Impedansieverandering vind in die sondespoel plaas. Die afstand tussen die sondespoel en die geleidende substraatmateriaal bepaal die hoeveelheid impedansieverandering, wat gemeet kan word, gekorreleer kan word met 'n laagdikte en in die vorm van 'n digitale lesing vertoon kan word. Toepassings sluit in vloeibare of poeierbedekking op aluminium en niemagnetiese vlekvrye staal, en geanodiseer oor aluminium. Hierdie metode se betroubaarheid hang af van die onderdeel se geometrie en die laag se dikte. Die substraat moet bekend wees voordat lesings geneem word. Wervelstroomsondes moet nie gebruik word om niemagnetiese bedekkings oor magnetiese substrate soos staal en nikkel oor aluminiumsubstrate te meet nie. As gebruikers coatings oor magnetiese of nie-ysterhoudende geleidende substrate moet meet, sal hulle die beste bedien word met 'n dubbele magnetiese induksie/Wervelstroommeter wat die substraat outomaties herken. 'n Derde metode, genaamd die Coulometriese metode van laagdiktemeting, is 'n vernietigende toetsmetode wat baie belangrike funksies het. Die meting van die dupleks nikkelbedekkings in die motorbedryf is een van die belangrikste toepassings daarvan. In die coulometriese metode word die gewig van 'n area van bekende grootte op 'n metaalbedekking bepaal deur gelokaliseerde anodiese stroping van die bedekking. Die massa-per-eenheid oppervlakte van die laagdikte word dan bereken. Hierdie meting op die deklaag word gemaak met behulp van 'n elektrolisesel, wat gevul is met 'n elektroliet wat spesifiek gekies is om die spesifieke deklaag te stroop. 'n Konstante stroom loop deur die toetssel, en aangesien die bedekkingsmateriaal as die anode dien, word dit ontplooi. Die stroomdigtheid en die oppervlakarea is konstant, en dus is die laagdikte eweredig aan die tyd wat dit neem om die laag te stroop en af te haal. Hierdie metode is baie nuttig vir die meet van elektries geleidende bedekkings op 'n geleidende substraat. Die Coulometriese metode kan ook gebruik word vir die bepaling van die laagdikte van veelvuldige lae op 'n monster. Byvoorbeeld, die dikte van nikkel en koper kan gemeet word op 'n deel met 'n bolaag van nikkel en 'n intermediêre koperbedekking op 'n staalsubstraat. Nog 'n voorbeeld van 'n meerlaagbedekking is chroom oor nikkel oor koper bo-op 'n plastiese substraat. Coulometriese toetsmetode is gewild in elektroplateringsaanlegte met 'n klein aantal ewekansige monsters. Nog 'n vierde metode is die Beta Backscatter Metode om laagdiktes te meet. 'n Beta-emitterende isotoop bestraal 'n toetsmonster met beta-deeltjies. 'n Straal beta-deeltjies word deur 'n opening op die bedekte komponent gerig, en 'n deel van hierdie deeltjies word teruggestrooi soos verwag van die laag deur die opening om die dun venster van 'n Geiger Muller-buis binne te dring. Die gas in die Geiger Muller-buis ioniseer, wat 'n kortstondige ontlading oor die buiselektrodes veroorsaak. Die ontlading wat in die vorm van 'n puls is, word getel en na 'n laagdikte vertaal. Materiale met hoë atoomgetalle verstrooi die beta-deeltjies meer. Vir 'n monster met koper as 'n substraat en 'n goue laag van 40 mikron dik, word die beta-deeltjies deur beide die substraat en die deklaagmateriaal gestrooi. As die goudlaagdikte toeneem, neem die terugstrooitempo ook toe. Die verandering in die tempo van verspreide deeltjies is dus 'n maatstaf van die laagdikte. Toepassings wat geskik is vir die beta-terugstrooimetode is dié waar die atoomgetal van die laag en substraat met 20 persent verskil. Dit sluit in goud, silwer of tin op elektroniese komponente, bedekkings op masjiengereedskap, dekoratiewe bedekkings op loodgietertoebehore, opdampbedekkings op elektroniese komponente, keramiek en glas, organiese bedekkings soos olie of smeermiddel oor metale. Die beta-terugstrooimetode is nuttig vir dikker bedekkings en vir substraat- en bedekkingkombinasies waar magnetiese induksie- of wervelstroommetodes nie sal werk nie. Veranderinge in legerings beïnvloed die beta-terugstrooimetode, en verskillende isotope en veelvuldige kalibrasies kan nodig wees om te vergoed. 'n Voorbeeld sou wees tin/lood oor koper, of tin oor fosfor/brons wat goed bekend is in gedrukte stroombaanborde en kontakpenne, en in hierdie gevalle sal die veranderinge in legerings beter gemeet word met die duurder X-straal fluoressensie metode. Die X-straal fluoressensie metode vir die meting van coating dikte is 'n nie-kontak metode wat die meting van alle klein dele en baie dun dele toelaat. Onderdele word aan X-straling blootgestel. 'n Kollimator fokus die X-strale op 'n presies gedefinieerde area van die toetsmonster. Hierdie X-bestraling veroorsaak kenmerkende X-straal-emissie (dws fluoressensie) van beide die deklaag en die substraatmateriaal van die toetsmonster. Hierdie kenmerkende X-straal-emissie word met 'n energieverspreidende detektor opgespoor. Deur die toepaslike elektronika te gebruik, is dit moontlik om slegs die X-straal-emissie van die deklaagmateriaal of substraat te registreer. Dit is ook moontlik om 'n spesifieke laag selektief op te spoor wanneer tussenlae teenwoordig is. Hierdie tegniek word wyd gebruik op gedrukte stroombaanborde, juweliersware en optiese komponente. Die X-straal fluoressensie is nie geskik vir organiese bedekkings nie. Die gemete laag se dikte moet nie 0,5-0,8 mils oorskry nie. In teenstelling met die beta-terugstrooimetode, kan X-straalfluoressensie egter bedekkings met soortgelyke atoomgetalle meet (byvoorbeeld nikkel bo koper). Soos voorheen genoem, beïnvloed verskillende legerings 'n instrument se kalibrasie. Die ontleding van basismateriaal en laag se dikte is van kritieke belang vir die versekering van presisielesings. Vandag se stelsels en sagtewareprogramme verminder die behoefte aan veelvuldige kalibrasies sonder om kwaliteit in te boet. Ten slotte is dit die moeite werd om te noem dat daar meters is wat in verskeie van die bogenoemde modusse kan werk. Sommige het afneembare sondes vir buigsaamheid in gebruik. Baie van hierdie moderne instrumente bied statistiese ontledingsvermoëns vir prosesbeheer en minimale kalibrasievereistes, selfs al word dit op verskillende gevormde oppervlaktes of verskillende materiale gebruik.

​

OPPERVLAKGROFHEID TESTERS : Oppervlakgrofheid word gekwantifiseer deur die afwykings in die rigting van die normaalvektor van 'n oppervlak vanaf sy ideale vorm. As hierdie afwykings groot is, word die oppervlak as grof beskou; as hulle klein is, word die oppervlak as glad beskou. Kommersieel beskikbare instrumente genaamd SURFACE PROFILOMETERS word gebruik om oppervlakruwheid te meet en aan te teken. Een van die algemeen gebruikte instrumente het 'n diamantstylus wat langs 'n reguit lyn oor die oppervlak beweeg. Die opname-instrumente is in staat om te kompenseer vir enige oppervlakgolwendheid en dui slegs grofheid aan. Oppervlakgrofheid kan waargeneem word deur a.) Interferometrie en b.) Optiese mikroskopie, skandeer-elektronmikroskopie, laser of atoomkragmikroskopie (AFM). Mikroskopietegnieke is veral nuttig vir die beeld van baie gladde oppervlaktes waarvoor kenmerke nie deur minder sensitiewe instrumente vasgevang kan word nie. Stereoskopiese foto's is nuttig vir 3D-aansigte van oppervlaktes en kan gebruik word om oppervlakruwheid te meet. 3D-oppervlakmetings kan deur drie metodes uitgevoer word. Light from an optical-interference microscope shines against a reflective surface and records the interference fringes resulting from the incident and reflected waves. Laser profilometers_cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_word gebruik om oppervlaktes te meet deur óf interferometriese tegnieke óf deur 'n objektiewe lens te beweeg om 'n konstante brandpuntafstand oor 'n oppervlak te handhaaf. Die beweging van die lens is dan 'n maatstaf van die oppervlak. Laastens word die derde metode, naamlik die atomic-force mikroskoop, gebruik om uiters gladde oppervlaktes op die atoomskaal te meet. Met ander woorde met hierdie toerusting kan selfs atome op die oppervlak onderskei word. Hierdie gesofistikeerde en relatief duur toerusting skandeer areas van minder as 100 mikron vierkant op monsteroppervlaktes.

​

GLANSMETERS, KLEURLESERS, KLEURVERSKIL METER : A GLOSSMETER oppervlak van glansmeetrefleksie. 'n Maat van glans word verkry deur 'n ligstraal met vaste intensiteit en hoek op 'n oppervlak te projekteer en die gereflekteerde hoeveelheid teen 'n gelyke maar teenoorgestelde hoek te meet. Glansmeters word gebruik op 'n verskeidenheid materiale soos verf, keramiek, papier, metaal en plastiek produk oppervlaktes. Meting van glans kan maatskappye dien om die kwaliteit van hul produkte te verseker. Goeie vervaardigingspraktyke vereis konsekwentheid in prosesse en dit sluit konsekwente oppervlakafwerking en voorkoms in. Glansmetings word by 'n aantal verskillende geometrieë uitgevoer. Dit hang af van die oppervlakmateriaal. Metale het byvoorbeeld hoë vlakke van weerkaatsing en daarom is die hoekafhanklikheid minder in vergelyking met nie-metale soos bedekkings en plastiek waar hoekafhanklikheid groter is as gevolg van diffuse verstrooiing en absorpsie. Verligtingbron en waarneming ontvangshoeke konfigurasie laat meting oor 'n klein reeks van die algehele refleksiehoek toe. Die metingsresultate van 'n glansmeter hou verband met die hoeveelheid gereflekteerde lig van 'n swart glasstandaard met 'n gedefinieerde brekingsindeks. Die verhouding van die gereflekteerde lig tot die invallende lig vir die toetsmonster, in vergelyking met die verhouding vir die glansstandaard, word as glanseenhede (GU) aangeteken. Meethoek verwys na die hoek tussen die invallende en gereflekteerde lig. Drie meethoeke (20°, 60° en 85°) word vir die meeste industriële bedekkings gebruik.

​

Die hoek word gekies op grond van die verwagte glansreeks en die volgende aksies word geneem, afhangende van die meting:

 

Glansreeks...........60° Waarde.......Aksie

 

Hoëglans............>70 GU..........As meting 70 GU oorskry, verander toetsopstelling na 20° om metingsakkuraatheid te optimaliseer.

 

Medium glans........10 - 70 GU

 

Lae glans...............<10 GU..........As meting minder as 10 GU is, verander toetsopstelling na 85° om metingsakkuraatheid te optimaliseer.

​

Drie tipes instrumente is kommersieel beskikbaar: 60° enkelhoekinstrumente, 'n dubbelhoektipe wat 20° en 60° kombineer en 'n driehoektipe wat 20°, 60° en 85° kombineer. Twee bykomende hoeke word vir ander materiale gebruik, die hoek van 45° word gespesifiseer vir die meting van keramiek, films, tekstiele en geanodiseerde aluminium, terwyl die meethoek 75° vir papier en gedrukte materiaal gespesifiseer word. A COLOR READER or also referred to as COLORIMETER is a device that measures the absorbance of particular wavelengths of light by 'n spesifieke oplossing. Kolorimeters word die meeste gebruik om die konsentrasie van 'n bekende opgeloste stof in 'n gegewe oplossing te bepaal deur die toepassing van die Beer-Lambert-wet, wat bepaal dat die konsentrasie van 'n opgeloste stof eweredig is aan die absorpsie. Ons draagbare kleurlesers kan ook gebruik word op plastiek, verf, plaatjies, tekstiele, drukwerk, kleurvervaardiging, kos soos botter, patat, koffie, gebakte produkte en tamaties….ens. Hulle kan gebruik word deur amateurs wat nie professionele kennis oor kleure het nie. Aangesien daar baie soorte kleurlesers is, is die toepassings eindeloos. In gehaltebeheer word hulle hoofsaaklik gebruik om te verseker dat monsters binne kleurtoleransies wat deur die gebruiker gestel word, val. Om vir jou 'n voorbeeld te gee, is daar draagbare tamatiekolorimeters wat 'n USDA-goedgekeurde indeks gebruik om die kleur van verwerkte tamatieprodukte te meet en te gradeer. Nog 'n voorbeeld is handheld-koffiekolorimeters wat spesifiek ontwerp is om die kleur van heel groenbone, geroosterde bone en geroosterde koffie te meet deur gebruik te maak van industriestandaardmetings. Our KLEURVERSKIL METERS vertoon direk kleurverskil deur E*ab, L*a*l*c,*CIE_L*CIE. Standaardafwyking is binne E*ab0.2 Hulle werk op enige kleur en toetsing neem slegs sekondes van tyd.

​

METALLURGICAL MICROSCOPES and INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPE : Metallurgical microscope is usually an optical microscope, but differs from others in the method of the specimen illumination. Metale is ondeursigtige stowwe en daarom moet hulle deur frontale beligting verlig word. Daarom is die bron van lig binne die mikroskoopbuis geleë. In die buis is 'n gewone glasreflektor geïnstalleer. Tipiese vergrotings van metallurgiese mikroskope is in die x50 – x1000 reeks. Helderveldbeligting word gebruik vir die vervaardiging van beelde met helder agtergrond en donker nie-plat struktuurkenmerke soos porieë, rande en geëtste korrelgrense. Donkerveldbeligting word gebruik vir die vervaardiging van beelde met donker agtergrond en helder nie-plat struktuurkenmerke soos porieë, rande en geëtste korrelgrense. Gepolariseerde lig word gebruik om metale met nie-kubieke kristallyne struktuur soos magnesium, alfa-titanium en sink te sien, wat reageer op kruis-gepolariseerde lig. Gepolariseerde lig word geproduseer deur 'n polarisator wat voor die beligter en ontleder geleë is en voor die oogstuk geplaas word. 'n Nomarsky-prisma word gebruik vir differensiële interferensie-kontrasstelsel wat dit moontlik maak om kenmerke waar te neem wat nie in helder veld sigbaar is nie. INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPES_cc781905-5cde-3b-1386c het die bokant van hul lig en condenseer die bokant daarvan. , bokant die verhoog wys af, terwyl die doelwitte en rewolwer onder die verhoog wys. Omgekeerde mikroskope is nuttig vir die waarneming van kenmerke aan die onderkant van 'n groot houer onder meer natuurlike toestande as op 'n glasskyfie, soos die geval is met 'n konvensionele mikroskoop. Omgekeerde mikroskope word gebruik in metallurgiese toepassings waar gepoleerde monsters bo-op die verhoog geplaas kan word en van onder af bekyk kan word deur gebruik te maak van reflekterende doelwitte en ook in mikromanipulasietoepassings waar spasie bokant die monster benodig word vir manipuleerdermeganismes en die mikrogereedskap wat hulle hou.

​

Hier is 'n kort opsomming van sommige van ons toetsinstrumente vir die evaluering van oppervlaktes en bedekkings. U kan besonderhede hiervan aflaai vanaf die produkkatalogusskakels wat hierbo verskaf word.

​

Oppervlakgrofheidstoetser SADT RoughScan : Dit is 'n draagbare, battery-aangedrewe instrument om oppervlakruwheid na te gaan met die gemete waardes wat op 'n digitale uitlees vertoon word. Die instrument is maklik om te gebruik en kan gebruik word in die laboratorium, vervaardigingsomgewings, in winkels, en waar ook al oppervlakruwheidstoetsing vereis word.

​

SADT GT-REEKS Glansmeters : GT-reeks glansmeters is ontwerp en vervaardig volgens internasionale standaarde ISO2813, ASTMD523 en DIN67530. Die tegniese parameters voldoen aan JJG696-2002. Die GT45-glansmeter is spesiaal ontwerp vir die meet van plastiekfilms en keramiek, klein areas en geboë oppervlaktes.

​

SADT GMS/GM60-REEKS Glansmeters : Hierdie glansmeters is ontwerp en vervaardig volgens internasionale standaarde ISO2813, ISO7668, ASTM D523, ASTM D2457. Die tegniese parameters voldoen ook aan JJG696-2002. Ons GM-reeks glansmeters is goed geskik om verf, deklaag, plastiek, keramiek, leerprodukte, papier, gedrukte materiaal, vloerbedekkings ... ens. Dit het 'n aantreklike en gebruikersvriendelike ontwerp, driehoekige glansdata word gelyktydig vertoon, groot geheue vir meetdata, nuutste bluetooth-funksie en verwyderbare geheuekaart om data gerieflik oor te dra, spesiale glanssagteware om data-uitset te ontleed, lae battery en geheue vol aanwyser. Deur interne bluetooth-module en USB-koppelvlak kan GM-glansmeters data na 'n rekenaar oordra of via drukkoppelvlak na drukker uitgevoer word. Deur opsionele SD-kaarte te gebruik, kan die geheue soveel as wat nodig is uitgebrei word.

​

Presiese kleurleser SADT SC 80 : Hierdie kleurleser word meestal gebruik op plastiek, skilderye, plaatjies, tekstiele en kostuums, gedrukte produkte en in die kleurstofvervaardigingsindustrieë. Dit is in staat om kleuranalise uit te voer. Die 2,4”-kleurskerm en draagbare ontwerp bied gemaklike gebruik. Drie soorte ligbronne vir gebruikerskeuse, SCI- en SCE-modusskakelaar en metamerisme-analise bevredig jou toetsbehoeftes onder verskillende werksomstandighede. Toleransie-instelling, outo-beoordeel kleurverskilwaardes en kleurafwykingsfunksies laat jou die kleur maklik bepaal, selfs al het jy geen professionele kennis oor kleure nie. Met behulp van professionele kleurontledingsagteware kan gebruikers die kleurdata-analise uitvoer en kleurverskille op die uitsetdiagramme waarneem. Opsionele minidrukker stel gebruikers in staat om die kleurdata op die perseel uit te druk.

​

Draagbare kleurverskilmeter SADT SC 20 : Hierdie draagbare kleurverskilmeter word wyd gebruik in gehaltebeheer van plastiek en drukprodukte. Dit word gebruik om kleur doeltreffend en akkuraat vas te vang. Maklik om te bedryf, vertoon kleurverskil deur E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h., standaardafwyking binne E*ab0.2, dit kan deur die USB-uitbreiding aan die rekenaar gekoppel word koppelvlak vir inspeksie deur sagteware.

​

Metallurgiese mikroskoop SADT SM500 : Dit is 'n selfstandige draagbare metallurgiese mikroskoop wat ideaal geskik is vir metallografiese evaluering van metale in laboratorium of in situ. Draagbare ontwerp en unieke magnetiese staander, die SM500 kan direk teen die oppervlak van ysterhoudende metale geheg word teen enige hoek, platheid, kromming en oppervlakkompleksiteit vir nie-vernietigende ondersoek. Die SADT SM500 kan ook met 'n digitale kamera of CCD-beeldverwerkingstelsel gebruik word om metallurgiese beelde na 'n rekenaar af te laai vir data-oordrag, ontleding, berging en uitdruk. Dit is basies 'n draagbare metallurgiese laboratorium, met monstervoorbereiding, mikroskoop, kamera en geen behoefte aan AC-kragtoevoer in die veld nie. Natuurlike kleure sonder die behoefte om lig te verander deur die LED-beligting te verdof, bied die beste beeld wat te eniger tyd waargeneem word. Hierdie instrument het opsionele bykomstighede, insluitend bykomende staander vir klein monsters, digitale kamera-adapter met oogstuk, CCD met koppelvlak, oogstuk 5x/10x/15x/16x, objektief 4x/5x/20x/25x/40x/100x, mini-slyper, elektrolitiese poetser, 'n stel wielkoppe, poleerlapwiel, replika film, filter (groen, blou, geel), gloeilamp.

​

Draagbare metallurgrafiese mikroskoop SADT Model SM-3 : Hierdie instrument bied 'n spesiale magnetiese basis, wat die eenheid stewig op die werkstukke vasmaak, dit is geskik vir grootskaalse roltoets en direkte waarneming, geen sny en monsterneming benodig, LED-beligting, eenvormige kleurtemperatuur, geen verwarming, vorentoe / agtertoe en links / regs beweegmeganisme, gerieflik vir die aanpassing van die inspeksiepunt, adapter om digitale kameras te koppel en die opnames direk op rekenaar waar te neem. Opsionele bykomstighede is soortgelyk aan die SADT SM500-model. Vir besonderhede, laai asseblief produkkatalogus af vanaf die skakel hierbo.

​

Metallurgiese mikroskoop SADT Model XJP-6A : Hierdie metalloskoop kan maklik in fabrieke, skole, wetenskaplike navorsingsinstellings gebruik word om die mikrostruktuur van alle soorte metale en legerings te identifiseer en te ontleed. Dit is die ideale hulpmiddel om metaalmateriaal te toets, die kwaliteit van gietstukke te verifieer en die metallografiese struktuur van die gemetalliseerde materiale te ontleed.

​

Omgekeerde metallografiese mikroskoop SADT Model SM400 : Die ontwerp maak dit moontlik om korrels van metallurgiese monsters te inspekteer. Maklike installasie by die produksielyn en maklik om te dra. Die SM400 is geskik vir kolleges en fabrieke. 'n Adapter vir die heg van digitale kamera aan die driehoekige buis is ook beskikbaar. Hierdie modus benodig MI van die metallografiese beelddrukwerk met vaste groottes. Ons het 'n verskeidenheid CCD-adapters vir rekenaaruitdruk met standaardvergroting en meer as 60% waarnemingsaansig.

​

Omgekeerde metallografiese mikroskoop SADT Model SD300M : Oneindige fokusoptika bied hoë resolusie beelde. Langafstand-kykobjektief, 20 mm wye gesigsveld, drie-plaat meganiese verhoog wat byna enige monstergrootte aanvaar, swaar vragte en laat nie-vernietigende mikroskoopondersoek van groot komponente toe. Die drie-plaat struktuur bied die mikroskoop stabiliteit en duursaamheid. Die optika bied hoë NA en lang kykafstand, wat helder, hoë-resolusie beelde lewer. Die nuwe optiese deklaag van SD300M is stof- en vogbestand.

​

Vir besonderhede en ander soortgelyke toerusting, besoek asseblief ons toerustingwebwerf: http://www.sourceindustrialsupply.com