Päällystyksen ja pinnan arvioinnin testausinstrumentteihimme kuuluvat PINNOITTELUVASUUSMITTARIT, PINNAN KARKEUSMITTARIT, KIILTOMITTARIT, VÄRILUKUJAT, VÄRIEROT, VÄRIEROT, ALL.PÄÄLLYSTEOLLISUUSMITTARI. Pääpainopisteemme on TUHOAMATTOMAT TESTIMENETELMÄT. Meillä on korkealaatuisia merkkejä, kuten SADTand MITECH.

 

Suuri osa kaikista ympärillämme olevista pinnoista on pinnoitettu. Pinnoitteet palvelevat monia tarkoituksia, mukaan lukien hyvän ulkonäön, suojan ja tietyn halutun toiminnallisuuden, kuten vettä hylkivän, tehostetun kitkan, kulumisen ja hankauskestävyyden... jne. Siksi on erittäin tärkeää pystyä mittaamaan, testaamaan ja arvioimaan pinnoitteiden ja tuotteiden pintojen ominaisuuksia ja laatua. Pinnoitteet voidaan luokitella laajasti kahteen pääryhmään, jos paksuuden otetaan huomioon: _CC781905-5CDE-3194-BB3B-136BAD5CF58D_THICK FILM_CC781905-5CDE-3194-BB3B-136BAD5CF58D_AND_CC781905-5CDE-3194BB36B36B36B36B36 BB36B3194

​

Lataa luettelo SADT-tuotemerkin metrologioista ja testauslaitteistamme NAPSAUTA TÄSTÄ.  Tästä luettelosta löydät joitain näistä laitteista pintojen ja pinnoitteiden arviointiin.

​

Lataa esite pinnoitteen paksuusmittarista Mitech Model MCT200 NAPSAUTA TÄSTÄ.

​

Jotkut tällaisiin tarkoituksiin käytetyistä instrumenteista ja tekniikoista ovat:

 

PINNOITTEEN PAKSUUSMITTARI : Erityyppiset pinnoitteet vaativat erityyppisiä pinnoitteiden testauslaitteita. Eri tekniikoiden perusymmärrys on siis välttämätöntä, jotta käyttäjä voi valita oikean laitteen. Kohdassa Magnetic Induktio Menetelmä pinnoitteen paksuuden mittaamiseksi mittaamme ei-magneettisia pinnoitteita ei-magneettisten substraattien päälle ja ei-magneettisten yhteispintojen päälle. Koetin sijoitetaan näytteen päälle ja pintaa koskettavan anturin kärjen ja pohjasubstraatin välinen lineaarinen etäisyys mitataan. Mittapään sisällä on käämi, joka synnyttää muuttuvan magneettikentän. Kun anturi asetetaan näytteen päälle, tämän kentän magneettivuon tiheys muuttuu magneettisen pinnoitteen paksuuden tai magneettisen substraatin läsnäolon vuoksi. Magneettisen induktanssin muutos mitataan anturin toisiokelalla. Toisiokäämin lähtö siirretään mikroprosessoriin, jossa se näkyy pinnoitteen paksuuden mittana digitaalisella näytöllä. Tämä pikatesti soveltuu nestemäisille tai jauhemaaleille, pinnoituksille, kuten kromi-, sinkki-, kadmium- tai fosfaattipinnoille teräs- tai rauta-alustalle. Tähän menetelmään soveltuvat pinnoitteet, kuten maali tai jauhe, joiden paksuus on yli 0,1 mm. Magneettinen induktiomenetelmä ei sovellu hyvin nikkelin päälle teräspinnoitteille nikkelin osittaisen magneettisen ominaisuuden vuoksi. Näille pinnoitteille sopii paremmin vaiheherkkä pyörrevirtamenetelmä. Toinen pinnoitetyyppi, jossa magneettinen induktiomenetelmä on altis epäonnistumiselle, on sinkkisinkitty teräs. Anturi lukee paksuuden, joka on yhtä suuri kuin kokonaispaksuus. Uudempien mallien instrumentit pystyvät kalibroimaan itseään havaitsemalla substraattimateriaalin pinnoitteen läpi. Tämä on tietysti erittäin hyödyllistä, kun paljaaa alustaa ei ole saatavilla tai kun alustamateriaalia ei tunneta. Halvemmat laiteversiot vaativat kuitenkin instrumentin kalibroinnin paljaalle ja pinnoittamattomalle alustalle. The Eddy Current Menetelmä pinnoitteen paksuuden mittaamiseen_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d.Measures coferusroconducting metallis substrating and coferrusferro on ei-johtavia ei-fermentiivisiä, ei-ferrorotiivisia pinnoitteita Se on samanlainen kuin aiemmin mainittu magneettiinduktiivinen menetelmä, joka sisältää kelan ja vastaavat anturit. Pyörrevirtamenetelmän kelalla on viritys- ja mittaustoiminto. Tätä anturin kelaa ohjaa korkeataajuinen oskillaattori, joka tuottaa vuorottelevan suurtaajuisen kentän. Kun se asetetaan metallijohtimen lähelle, johtimeen syntyy pyörrevirtoja. Impedanssin muutos tapahtuu anturin kelassa. Anturin käämin ja johtavan substraattimateriaalin välinen etäisyys määrittää impedanssin muutoksen määrän, joka voidaan mitata, korreloida pinnoitteen paksuuteen ja näyttää digitaalisena lukemana. Käyttökohteita ovat alumiinin ja ei-magneettisen ruostumattoman teräksen neste- tai jauhemaalaus sekä alumiinin anodisointi. Tämän menetelmän luotettavuus riippuu osan geometriasta ja pinnoitteen paksuudesta. Substraatti on tunnettava ennen lukemien ottamista. Pyörrevirtaantureita ei tule käyttää ei-magneettisten pinnoitteiden, kuten teräksen ja nikkelin, magneettisten alustojen ja alumiinialustojen pinnan mittaamiseen. Jos käyttäjien on mitattava pinnoitteita johtavien magneettisten tai ei-rautapitoisten alustojen päällä, heille on parasta käyttää kaksoismagneettisen induktio-/pyörrevirtamittaria, joka tunnistaa alustan automaattisesti. Kolmas menetelmä, nimeltään the Coulometric menetelmä pinnoitteen paksuuden mittaamiseksi, on tuhoava testausmenetelmä, jolla on monia tärkeitä toimintoja. Duplex-nikkelipinnoitteiden mittaus autoteollisuudessa on yksi sen tärkeimmistä sovelluksista. Kulonometrisessä menetelmässä metallipinnoitteen tunnetun kokoisen alueen paino määritetään paikallisen pinnoitteen anodisen kuorinnan avulla. Sitten lasketaan pinnoitteen paksuuden pinta-alan massa. Tämä pinnoitteen mittaus tehdään käyttämällä elektrolyysikennoa, joka on täytetty elektrolyytillä, joka on erityisesti valittu poistamaan tietty pinnoite. Testikennon läpi kulkee vakiovirta, ja koska pinnoitemateriaali toimii anodina, se tyhjenee. Virran tiheys ja pinta-ala ovat vakioita, joten pinnoitteen paksuus on verrannollinen pinnoitteen kuorimiseen ja poistamiseen kuluvaan aikaan. Tämä menetelmä on erittäin hyödyllinen mitattaessa sähköä johtavia pinnoitteita johtavalla alustalla. Coulometric-menetelmää voidaan käyttää myös useiden kerrosten pinnoitteen paksuuden määrittämiseen näytteestä. Esimerkiksi nikkelin ja kuparin paksuus voidaan mitata osasta, jossa on nikkelipäällyspinnoite ja kuparivälipinnoite teräsalustan päällä. Toinen esimerkki monikerroksisesta pinnoitteesta on kromi nikkelin päällä kuparin päällä muovisubstraatin päällä. Kulometrinen testimenetelmä on suosittu galvanoinnissa, joissa on pieni määrä satunnaisnäytteitä. Vielä neljäs menetelmä on the Beta Backscatter Method pinnoitteen paksuuden mittaamiseen. Beeta-emitoiva isotooppi säteilyttää testinäytteen beetahiukkasilla. Beetahiukkasten säde suunnataan aukon läpi päällystetyn komponentin päälle, ja osa näistä hiukkasista siroutuu takaisin odotetusti pinnoitteesta aukon läpi läpäisemään Geiger Muller -putken ohuen ikkunan. Geiger Muller -putken kaasu ionisoituu aiheuttaen hetkellisen purkauksen putken elektrodien poikki. Pulssin muodossa oleva purkaus lasketaan ja muunnetaan pinnoitteen paksuudeksi. Materiaalit, joilla on suuri atomiluku, sirottavat beetahiukkasia takaisin enemmän. Näytteessä, jossa substraattina on kupari ja 40 mikronin paksuinen kultapinnoite, beetahiukkaset hajoavat sekä substraatin että pinnoitemateriaalin toimesta. Jos kultapinnoitteen paksuus kasvaa, myös takaisinsirontanopeus kasvaa. Muutos siroteltujen hiukkasten nopeudessa on siksi pinnoitteen paksuuden mitta. Beta takaisinsirontamenetelmään soveltuvat sovellukset, joissa pinnoitteen ja alustan atomiluku eroaa 20 prosenttia. Näitä ovat elektroniikkakomponenttien kulta, hopea tai tina, työstökoneiden pinnoitteet, putkien koristepinnoitteet, elektroniikkakomponenttien, keramiikan ja lasin höyrysaostetut pinnoitteet, metallien orgaaniset pinnoitteet, kuten öljyt tai voiteluaineet. Beta takaisinsirontamenetelmä on hyödyllinen paksummille pinnoitteille sekä substraatti- ja pinnoiteyhdistelmille, joissa magneettinen induktio tai pyörrevirtamenetelmät eivät toimi. Muutokset lejeeringeissä vaikuttavat beetan takaisinsirontamenetelmään, ja eri isotooppeja ja useita kalibrointeja voidaan tarvita kompensoimiseksi. Esimerkkinä voisi olla tina/lyijy kuparin päällä tai tina fosforin/pronssin päällä, joka tunnetaan hyvin painetuissa piirilevyissä ja kosketusnastoissa, ja näissä tapauksissa seosten muutokset voitaisiin mitata paremmin kalliimmalla röntgenfluoresenssimenetelmällä. The Röntgenfluoresenssimenetelmä pinnoitteen paksuuden mittaamiseen on kosketukseton menetelmä, joka mahdollistaa kaikkien pienten, erittäin ohuiden monikerroksisten osien mittaamisen. Osat altistetaan röntgensäteilylle. Kollimaattori fokusoi röntgensäteet tarkalleen määritellylle näytteen alueelle. Tämä röntgensäteily aiheuttaa tunnusomaisen röntgensäteilyn (eli fluoresenssin) sekä koenäytteen pinnoitteesta että substraattimateriaaleista. Tämä tyypillinen röntgensäteily havaitaan energiaa hajottavalla ilmaisimella. Sopivaa elektroniikkaa käyttämällä on mahdollista rekisteröidä vain pinnoitemateriaalista tai alustasta tuleva röntgensäteily. On myös mahdollista havaita valikoivasti tietty pinnoite, kun välikerroksia on läsnä. Tätä tekniikkaa käytetään laajalti painetuissa piirilevyissä, koruissa ja optisissa komponenteissa. Röntgenfluoresenssi ei sovellu orgaanisille pinnoitteille. Mitatun pinnoitteen paksuus ei saa ylittää 0,5-0,8 mil. Toisin kuin beeta- takaisinsirontamenetelmä, röntgenfluoresenssi voi kuitenkin mitata pinnoitteita, joilla on samanlaiset atomiluvut (esimerkiksi nikkeli kuparin päällä). Kuten aiemmin mainittiin, eri metalliseokset vaikuttavat instrumentin kalibrointiin. Perusmateriaalin ja pinnoitteen paksuuden analysointi on kriittistä tarkkojen lukemien varmistamiseksi. Nykyiset järjestelmät ja ohjelmistot vähentävät useiden kalibrointien tarvetta laadusta tinkimättä. Lopuksi on syytä mainita, että on olemassa mittareita, jotka voivat toimia useissa yllä mainituissa tiloissa. Joissakin on irrotettavat anturit käytön joustavuuden vuoksi. Monet näistä nykyaikaisista laitteista tarjoavat tilastollisen analyysin ominaisuudet prosessin ohjaukseen ja minimaaliset kalibrointivaatimukset, vaikka niitä käytettäisiin erimuotoisilla pinnoilla tai eri materiaaleilla.

​

PINNAN EHDOTUSTESTAJAT : Pinnan karheus mitataan pinnan normaalivektorin suunnan poikkeamilla sen ihanteellisesta muodosta. Jos nämä poikkeamat ovat suuria, pintaa pidetään karkeana; jos ne ovat pieniä, pintaa pidetään sileänä. Pinnan karheuden mittaamiseen ja tallentamiseen käytetään kaupallisesti saatavia laitteita, joita kutsutaan nimellä SURFACE PROFILOMETERS_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d. Yhdessä yleisesti käytetyssä instrumentissa on timanttikynä, joka kulkee suoraa linjaa pitkin pinnan yli. Äänityslaitteet pystyvät kompensoimaan kaiken pinnan aaltoilun ja osoittamaan vain karheutta. Pinnan karheutta voidaan tarkkailla a.) Interferometrialla ja b.) Optisella mikroskopialla, pyyhkäisyelektronimikroskoopilla, laser- tai atomivoimamikroskopialla (AFM). Mikroskooppitekniikat ovat erityisen hyödyllisiä kuvattaessa erittäin sileitä pintoja, joiden piirteitä ei voida siepata vähemmän herkillä instrumenteilla. Stereoskooppiset valokuvat ovat hyödyllisiä pintojen 3D-näkymiin, ja niitä voidaan käyttää pinnan karheuden mittaamiseen. 3D-pintamittaukset voidaan suorittaa kolmella menetelmällä. Light from an optical-interference microscope shines against a reflective surface and records the interference fringes resulting from the incident and reflected waves. Laser profilometers_cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_käytetään pintojen mittaamiseen joko interferometrisilla tekniikoilla tai siirtämällä objektiivilinssiä tasaisen polttovälin ylläpitämiseksi pinnalla. Linssin liike on tällöin pinnan mitta. Lopuksi kolmatta menetelmää, nimittäin atomic-force mikroskooppia, käytetään erittäin sileiden pintojen mittaamiseen atomiasteikolla. Toisin sanoen tällä laitteistolla voidaan erottaa jopa atomit pinnalla. Tämä hienostunut ja suhteellisen kallis laite skannaa alle 100 mikronin neliöalueita näytepinnoilla.

​

KIILTOMITTARIT, VÄRILUKIJAT, VÄRIEROT MITTARI : A GLOSS heijastaa pinnan kiiltoa. Kiillon mitta saadaan projisoimalla kiinteän intensiteetin ja kulman omaava valonsäde pinnalle ja mittaamalla heijastunut määrä samassa mutta vastakkaisessa kulmassa. Kiiltomittareita käytetään erilaisiin materiaaleihin, kuten maaliin, keramiikkaan, paperiin, metalliin ja muovituotepintoihin. Kiillon mittaaminen voi auttaa yrityksiä varmistamaan tuotteidensa laadun. Hyvät valmistustavat edellyttävät prosessien johdonmukaisuutta, mikä sisältää tasaisen pinnan ja ulkonäön. Kiiltomittauksia suoritetaan useilla eri geometrioilla. Tämä riippuu pintamateriaalista. Esimerkiksi metalleilla on korkea heijastustaso ja siksi kulmariippuvuus on pienempi verrattuna ei-metalleihin, kuten pinnoitteisiin ja muoveihin, joissa kulmariippuvuus on suurempi diffuusin sironnan ja absorption vuoksi. Valonlähteen ja havainnoinnin vastaanottokulmien konfiguraatio mahdollistaa mittauksen pienellä kokonaisheijastuskulman alueella. Kiiltomittarin mittaustulokset liittyvät määritellyn taitekertoimen omaavasta mustasta lasistandardista heijastuneen valon määrään. Heijastuneen valon suhde tulevaan valoon testinäytteelle verrattuna kiiltostandardin suhteeseen, kirjataan kiiltoyksikköinä (GU). Mittauskulmalla tarkoitetaan tulevan ja heijastuneen valon välistä kulmaa. Useimmissa teollisuuspinnoitteissa käytetään kolmea mittauskulmaa (20°, 60° ja 85°).

​

Kulma valitaan odotetun kiiltoalueen perusteella ja seuraavat toimenpiteet suoritetaan mittauksesta riippuen:

 

Kiiltoalue........60° Arvo.......Toiminta

 

High Gloss............>70 GU.........Jos mittaus ylittää 70 GU, muuta testiasetus 20° mittaustarkkuuden optimoimiseksi.

 

Keskikiilto......10 - 70 GU

 

Matalakiilto.............<10 GU.........Jos mittaus on alle 10 GU, muuta testiasetus 85° mittaustarkkuuden optimoimiseksi.

​

Kolmen tyyppisiä instrumentteja on saatavilla kaupallisesti: 60° yksikulmaiset instrumentit, kaksoiskulmatyyppi, jossa yhdistyvät 20° ja 60°, ja kolmikulmainen tyyppi, jossa yhdistyvät 20°, 60° ja 85°. Muissa materiaaleissa käytetään kahta lisäkulmaa, 45°:n kulma on määritetty keramiikan, kalvojen, tekstiilien ja anodisoidun alumiinin mittaukseen, kun taas mittauskulma 75° paperille ja painomateriaaleille. A COLOR READER or also referred to as COLORIMETER is a device that measures the absorbance of particular wavelengths of light by tietty ratkaisu. Kolorimetrejä käytetään yleisimmin määrittämään tunnetun liuenneen aineen pitoisuus tietyssä liuoksessa Beer-Lambertin lain mukaan, jonka mukaan liuenneen aineen pitoisuus on verrannollinen absorbanssiin. Kannettavia värilukijoitamme voidaan käyttää myös muovi-, maalaus-, pinnoitus-, tekstiili-, painatus-, värjäys-, elintarvikkeissa, kuten voissa, ranskalaisissa, kahvissa, leivonnaisissa ja tomaateissa jne. Niitä voivat käyttää amatöörit, joilla ei ole ammatillista tietoa väreistä. Koska värilukijoita on monenlaisia, sovelluksia on loputtomasti. Laadunvalvonnassa niitä käytetään pääasiassa varmistamaan, että näytteet ovat käyttäjän asettamien väritoleranssien sisällä. Esimerkkinä voidaan mainita, että on olemassa kädessä pidettäviä tomaattikolorimetriä, jotka käyttävät USDA:n hyväksymää indeksiä mittaamaan ja luokittelemaan käsiteltyjen tomaattituotteiden väriä. Vielä yksi esimerkki ovat kädessä pidettävät kahvin kolorimetrit, jotka on erityisesti suunniteltu mittaamaan kokonaisten vihreiden papujen, paahdettujen papujen ja paahdetun kahvin väriä alan standardimittauksilla. Meidän VÄRIEROT METERS näytä värierot suoraan E*ab, CIE_a*L_h,*c, CIE_a*L_h*c. Vakiopoikkeama on E*ab0.2:n sisällä. Ne toimivat kaikilla väreillä ja testaus kestää vain sekunteja.

​

METALLURGICAL MICROSCOPES and INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPE : Metallurgical microscope is usually an optical microscope, but differs from others in the method of the specimen illumination. Metallit ovat läpinäkymättömiä aineita ja siksi ne on valaistava etuvalolla. Siksi valon lähde sijaitsee mikroskoopin putken sisällä. Putkeen on asennettu tavallinen lasiheijastin. Tyypilliset metallurgisten mikroskooppien suurennokset ovat välillä x50 – x1000. Kirkasta kenttävalaistusta käytetään kuvien tuottamiseen kirkkaalla taustalla ja tummilla ei-litteillä rakenneominaisuuksilla, kuten huokosilla, reunoilla ja syövytetyillä raerajoilla. Tumman kentän valaistusta käytetään kuvien tuottamiseen, joissa on tumma tausta ja kirkkaat ei-tasaiset rakenneominaisuudet, kuten huokoset, reunat ja syövytetyt raerajat. Polarisoitua valoa käytetään sellaisten metallien katseluun, joilla on ei-kuutiokiteinen rakenne, kuten magnesium, alfa-titaani ja sinkki, jotka reagoivat ristipolarisoituneeseen valoon. Polarisoitua valoa tuottaa polarisaattori, joka sijaitsee ennen valaisinta ja analysaattoria ja asetetaan okulaarin eteen. Nomarsky-prismaa käytetään differentiaaliseen interferenssikontrastijärjestelmään, joka mahdollistaa piirteiden havaitsemisen, jotka eivät näy kirkkaassa kentässä. INVERTED METALLOGRAAFISET MIKROSKOPIT_cc781905-5cde-31914f3 niiden valolähteen päällä6-bbba-31905-5cde-31905 , lavan yläpuolella alaspäin, kun taas objektiivit ja torni ovat lavan alapuolella osoittaen ylöspäin. Käänteiset mikroskoopit ovat hyödyllisiä suuren astian pohjan piirteiden tarkkailuun luonnollisemmissa olosuhteissa kuin lasilevyllä, kuten tavanomaisessa mikroskoopissa. Käänteisiä mikroskooppeja käytetään metallurgisissa sovelluksissa, joissa kiillotettuja näytteitä voidaan asettaa lavan päälle ja katsella alhaalta heijastavien objektiivien avulla, ja myös mikromanipulaatiosovelluksissa, joissa näytteen yläpuolella tarvitaan tilaa manipulointimekanismeille ja niissä oleville mikrotyökaluille.

​

Tässä on lyhyt yhteenveto joistakin pintojen ja pinnoitteiden arviointiin tarkoitetuista testilaitteistamme. Voit ladata niiden tiedot yllä olevista tuoteluettelolinkeistä.

​

Pinnankarheusmittari SADT RoughScan : Tämä on kannettava, akkukäyttöinen laite pinnan karheuden tarkistamiseen digitaalisessa lukemassa näkyvän mittausarvon avulla. Instrumentti on helppokäyttöinen ja sitä voidaan käyttää laboratoriossa, valmistusympäristöissä, liikkeissä ja kaikkialla, missä tarvitaan pinnan karheuden testausta.

​

SADT GT -SARJAN kiiltomittarit : GT-sarjan kiiltomittarit on suunniteltu ja valmistettu kansainvälisten standardien ISO2813, ASTMD523 ja DIN67530 mukaisesti. Tekniset parametrit ovat JJG696-2002:n mukaisia. GT45 kiiltomittari on suunniteltu erityisesti muovikalvojen ja keramiikan, pienten alueiden ja kaarevien pintojen mittaamiseen.

​

SADT GMS/GM60-SARJAN Kiiltomittarit : Nämä kiiltomittarit on suunniteltu ja valmistettu kansainvälisten standardien ISO2813, ISO7668, ASTM D523, ASTM D2457 mukaisesti. Myös tekniset parametrit ovat JJG696-2002:n mukaisia. GM-sarjan kiiltomittarimme sopivat hyvin maalauksen, pinnoitteen, muovin, keramiikan, nahkatuotteiden, paperin, painomateriaalien, lattianpäällysteiden jne. mittaamiseen. Siinä on houkutteleva ja käyttäjäystävällinen muotoilu, kolmen kulman kiiltotiedot näytetään samanaikaisesti, suuri muisti mittaustiedoille, uusin bluetooth-toiminto ja irrotettava muistikortti tiedonsiirtoon kätevästi, erityinen kiiltoohjelmisto tietojen analysointiin, akun varaustaso ja muisti täynnä indikaattori. Sisäisen Bluetooth-moduulin ja USB-liitännän kautta GM-kiiltomittarit voivat siirtää tietoja PC:lle tai viedä tulostimelle tulostusliitännän kautta. Valinnaisten SD-korttien muistia voidaan laajentaa tarpeen mukaan.

​

Tarkka värinlukija SADT SC 80 : Tätä värilukijaa käytetään enimmäkseen muovien, maalausten, pinnoitteiden, tekstiilien ja pukujen, painotuotteiden ja värien valmistusteollisuudessa. Se pystyy suorittamaan värianalyysin. 2,4 tuuman värinäyttö ja kannettava muotoilu tarjoavat mukavan käytön. Kolme erilaista valonlähdettä käyttäjän valintaa varten, SCI- ja SCE-tilan kytkin ja metamerismianalyysi täyttävät testitarpeesi erilaisissa työolosuhteissa. Toleranssiasetus, värieroarvojen automaattinen arviointi ja väripoikkeamafunktiot tekevät värin määrittämisestä helppoa, vaikka sinulla ei olisikaan ammatillista tietoa väreistä. Ammattimaisen värianalyysiohjelmiston avulla käyttäjät voivat suorittaa väritietojen analyysin ja tarkkailla värieroja tulostuskaavioissa. Valinnaisen minitulostimen avulla käyttäjät voivat tulostaa väritiedot paikan päällä.

​

Kannettava värieromittari SADT SC 20 : Tätä kannettavaa värieromittaria käytetään laajasti muovi- ja painotuotteiden laadunvalvonnassa. Sitä käytetään värien sieppaamiseen tehokkaasti ja tarkasti. Helppokäyttöinen, näyttää värierot E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h., standardipoikkeama sisällä E*ab0.2, se voidaan liittää tietokoneeseen USB-laajennuksen kautta käyttöliittymä ohjelmiston tarkastukseen.

​

Metallurginen mikroskooppi SADT SM500 : Se on itsenäinen kannettava metallurginen mikroskooppi, joka sopii ihanteellisesti metallien metallografiseen arviointiin laboratoriossa tai in situ. Kannettava muotoilu ja ainutlaatuinen magneettinen jalusta, SM500 voidaan kiinnittää suoraan rautametallien pintaan missä tahansa kulmassa, tasaisessa, kaareutuvassa ja pinnan monimutkaisessa tilassa tuhoamatonta tutkimusta varten. SADT SM500:ta voidaan käyttää myös digitaalikameran tai CCD-kuvankäsittelyjärjestelmän kanssa metallurgisten kuvien lataamiseen PC:lle tiedonsiirtoa, analysointia, tallennusta ja tulostusta varten. Se on pohjimmiltaan kannettava metallurginen laboratorio, jossa on paikan päällä näytteenvalmistus, mikroskooppi, kamera ja jossa ei tarvita vaihtovirtalähdettä kentällä. Luonnolliset värit ilman tarvetta vaihtaa valoa himmentämällä LED-valoa tarjoavat parhaan mahdollisen kuvan milloin tahansa. Tässä instrumentissa on valinnaisia lisävarusteita, kuten lisäteline pienille näytteille, digitaalikamerasovitin okulaarilla, CCD liitännällä, okulaari 5x/10x/15x/16x, objektiivi 4x/5x/20x/25x/40x/100x, minihiomakone, elektrolyyttinen kiillotuskone, sarja pyöränpäitä, kiillotuskangaspyörä, replikakalvo, suodatin (vihreä, sininen, keltainen), polttimo.

​

Kannettava metallurgrafinen mikroskooppi SADT malli SM-3 : Tämä instrumentti tarjoaa erityisen magneettisen alustan, joka kiinnittää yksikön tiukasti työkappaleisiin, se soveltuu laajamittaiseen rullatestiin ja suoraan tarkkailuun, ei leikkaa ja näytteenotto tarvitaan, LED-valaistus, tasainen värilämpötila, ei lämmitystä, eteenpäin / taaksepäin ja vasemmalle / oikealle liikkuva mekanismi, kätevä tarkastuspisteen säätö, adapteri digitaalikameroiden liittämiseen ja tallenteiden tarkkailuun suoraan PC:llä. Valinnaiset lisävarusteet ovat samanlaisia kuin SADT SM500 -mallissa. Jos haluat lisätietoja, lataa tuoteluettelo yllä olevasta linkistä.

​

Metallurginen mikroskooppi SADT-malli XJP-6A : Tätä metalloskooppia voidaan käyttää helposti tehtaissa, kouluissa ja tieteellisissä tutkimuslaitoksissa kaikenlaisten metallien ja metalliseosten mikrorakenteen tunnistamiseen ja analysointiin. Se on ihanteellinen työkalu metallimateriaalien testaamiseen, valukappaleiden laadun tarkistamiseen ja metalloitujen materiaalien metallografisen rakenteen analysointiin.

​

Käänteinen metallografinen mikroskooppi SADT Malli SM400 : Suunnittelu mahdollistaa metallurgisten näytteiden rakeiden tarkastamisen. Helppo asennus tuotantolinjalle ja helppo kuljettaa. SM400 sopii korkeakouluihin ja tehtaisiin. Saatavilla on myös sovitin digitaalikameran kiinnittämiseksi trinokulaariputkeen. Tämä tila vaatii metallografisen kuvan tulostuksen kiinteillä kooilla. Meillä on valikoima CCD-sovittimia tietokonetulostukseen vakiosuurennuksella ja yli 60 %:n havaintonäkymällä.

​

Käänteinen metallografinen mikroskooppi SADT-malli SD300M : Ääretön tarkennusoptiikka tarjoaa korkearesoluutioisia kuvia. Pitkän matkan katseluobjektiivi, 20 mm leveä näkökenttä, kolmen levyn mekaaninen taso, joka hyväksyy melkein minkä tahansa näytekoon, raskaat kuormat ja mahdollistaa suurten komponenttien mikroskooppitutkimuksen. Kolmilevyinen rakenne tarjoaa mikroskoopille vakauden ja kestävyyden. Optiikka tarjoaa korkean NA:n ja pitkän katseluetäisyyden, mikä tuottaa kirkkaita ja korkearesoluutioisia kuvia. SD300M:n uusi optinen pinnoite on pölyn- ja kosteudenkestävä.

​

Lisätietoja ja muita vastaavia laitteita löydät laitesivustoltamme: http://www.sourceindustrialsupply.com