The industrial CHEMICAL ANALYZERS we provide are: CHROMATOGRAPHS, MASS SPECTROMETERS, RESIDUAL GAS ANALYZERS, GAS DETECTORS, MOISTURE ANALYZER, DIGITAL GRAIN AND WOOD MOISTURE મીટર, વિશ્લેષણાત્મક બેલેન્સ

​

The industrial PYHSICAL ANALYSIS INSTRUMENTS we offer are: SPECTROPHOTOMETERS, POLARIMETER, REFRACTOMETER, LUX METER, ગ્લોસ મીટર, કલર રીડર્સ, કલર ડિફરન્સ મીટર,ડિજિટલ લેસર ડિસ્ટન્સ મીટર, લેસર રેન્જફાઇન્ડર, અલ્ટ્રાસોનિક કેબલ હાઇટ મીટર, સાઉન્ડ લેવલ મીટર, અલ્ટ્રાસોનિક ડિસ્ટન્સ મીટર ,_cc781905-5cde-3194-bb3b-136fcd58bad5ડિજિટલ અલ્ટ્રાસોનિક ખામી ડિટેક્ટર , હાર્ડનેસ ટેસ્ટર , ધાતુશાસ્ત્રીય માઇક્રોસ્કોપ , સરફેસ રફનેસ ટેસ્ટર, અલ્ટ્રાસોનિક જાડાઈ ગેજ , વાઇબ્રેશન મીટર, ટેકોમીટર.

 

પ્રકાશિત ઉત્પાદનો માટે, કૃપા કરીને સંબંધિત રંગીન ટેક્સ્ટ above પર ક્લિક કરીને અમારા સંબંધિત પૃષ્ઠોની મુલાકાત લો.

​

The ENVIRONMENTAL ANALYZERS we provide are: TEMPERATURE & HUMIDITY CYCLING CHAMBERS, ENVIRONMENTAL TESTING CHAMBERS.

​

અમારી SADT બ્રાન્ડ મેટ્રોલોજી અને પરીક્ષણ સાધનોની સૂચિ ડાઉનલોડ કરવા માટે, કૃપા કરીને અહીં ક્લિક કરો. તમને ઉપરોક્ત સૂચિબદ્ધ સાધનોના કેટલાક મોડેલો અહીં મળશે.

​

CHROMATOGRAPHY  એ વિભાજનની ભૌતિક પદ્ધતિ છે જે ઘટકોને બે તબક્કાઓ વચ્ચે વિભાજિત કરે છે, એક સ્થિર (સ્થિર તબક્કો), બીજો (મોબાઈલ તબક્કો) ચોક્કસ દિશામાં આગળ વધે છે. બીજા શબ્દોમાં કહીએ તો, તે મિશ્રણને અલગ કરવા માટે પ્રયોગશાળા તકનીકોનો સંદર્ભ આપે છે. મિશ્રણને મોબાઈલ ફેઝ તરીકે ઓળખાતા પ્રવાહીમાં ઓગળવામાં આવે છે, જે તેને સ્થિર તબક્કો તરીકે ઓળખાતી અન્ય સામગ્રી ધરાવતી રચના દ્વારા વહન કરે છે. મિશ્રણના વિવિધ ઘટકો જુદી જુદી ઝડપે મુસાફરી કરે છે, જેના કારણે તેઓ અલગ પડે છે. વિભાજન મોબાઇલ અને સ્થિર તબક્કાઓ વચ્ચેના વિભેદક પાર્ટીશન પર આધારિત છે. સંયોજનના પાર્ટીશન ગુણાંકમાં નાના તફાવતો સ્થિર તબક્કામાં વિભેદક જાળવણીમાં પરિણમે છે અને આમ વિભાજન બદલાય છે. ક્રોમેટોગ્રાફીનો ઉપયોગ શુદ્ધિકરણ જેવા વધુ અદ્યતન ઉપયોગ માટે મિશ્રણના ઘટકોને અલગ કરવા માટે અથવા મિશ્રણમાં વિશ્લેષકો (જે ક્રોમેટોગ્રાફી દરમિયાન અલગ કરવાનો પદાર્થ છે)ના સંબંધિત પ્રમાણને માપવા માટે કરી શકાય છે. કેટલીક ક્રોમેટોગ્રાફિક પદ્ધતિઓ અસ્તિત્વમાં છે, જેમ કે પેપર ક્રોમેટોગ્રાફી, ગેસ ક્રોમેટોગ્રાફી અને હાઇ પરફોર્મન્સ લિક્વિડ ક્રોમેટોગ્રાફી. એક નમૂનો. ક્રોમેટોગ્રામમાં વિવિધ શિખરો અથવા પેટર્ન અલગ કરેલ મિશ્રણના વિવિધ ઘટકોને અનુરૂપ હોય છે. એક શ્રેષ્ઠ સિસ્ટમમાં દરેક સિગ્નલ અનુરૂપ વિશ્લેષકની સાંદ્રતાના પ્રમાણસર હોય છે જે અલગ કરવામાં આવ્યા હતા.  CHROMATOGRAPH  નામનું સાધન એક અત્યાધુનિક વિભાજનને સક્ષમ કરે છે. મોબાઇલ તબક્કાની ભૌતિક સ્થિતિ અનુસાર વિશિષ્ટ પ્રકારો છે જેમ કે GAS CHROMATOGRAPHS and_3bcf58d_136bad5cf58d_and_3cbHS5d_5cd-5cd-5cd-136bd5cd-136bad5cf58s ગેસ ક્રોમેટોગ્રાફી (GC), જેને ક્યારેક ગેસ-લિક્વિડ ક્રોમેટોગ્રાફી (GLC) પણ કહેવામાં આવે છે, તે એક અલગ કરવાની તકનીક છે જેમાં મોબાઇલ તબક્કો ગેસ છે. ગેસ ક્રોમેટોગ્રાફ્સમાં વપરાતું ઊંચું તાપમાન તેને ઉચ્ચ મોલેક્યુલર વજનના બાયોપોલિમર્સ અથવા બાયોકેમિસ્ટ્રીમાં મળેલા પ્રોટીન માટે અયોગ્ય બનાવે છે કારણ કે ગરમી તેમને ડિનેચર કરે છે. જોકે પેટ્રોકેમિકલ, પર્યાવરણીય દેખરેખ, રાસાયણિક સંશોધન અને ઔદ્યોગિક કેમિકલ ક્ષેત્રોમાં ઉપયોગ માટે આ ટેકનિક સારી રીતે અનુકૂળ છે. બીજી તરફ, લિક્વિડ ક્રોમેટોગ્રાફી (LC) એ એક અલગ કરવાની તકનીક છે જેમાં મોબાઇલ તબક્કો પ્રવાહી છે.

​

વ્યક્તિગત પરમાણુઓની લાક્ષણિકતાઓને માપવા માટે, a MASS SPECTROMETER વિદ્યુતક્ષેત્રમાં રૂપાંતરિત થઈ શકે છે અને તેમને વિદ્યુત ક્ષેત્રોમાં ફેરવી શકે છે. માસ સ્પેક્ટ્રોમીટરનો ઉપયોગ ઉપર વર્ણવેલ ક્રોમેટોગ્રાફ્સમાં તેમજ અન્ય વિશ્લેષણ સાધનોમાં થાય છે. લાક્ષણિક માસ સ્પેક્ટ્રોમીટરના સંકળાયેલ ઘટકો છે:

 

આયન સ્ત્રોત: એક નાનો નમૂનો આયનોઈઝ્ડ હોય છે, સામાન્ય રીતે ઈલેક્ટ્રોનની ખોટ દ્વારા કેશનમાં.

 

માસ વિશ્લેષક: આયનોને તેમના સમૂહ અને ચાર્જ અનુસાર વર્ગીકૃત અને અલગ કરવામાં આવે છે.

 

ડિટેક્ટર: વિભાજિત આયનો માપવામાં આવે છે અને પરિણામો ચાર્ટ પર પ્રદર્શિત થાય છે.

 

આયનો ખૂબ જ પ્રતિક્રિયાશીલ અને અલ્પજીવી હોય છે, તેથી તેમની રચના અને મેનીપ્યુલેશન શૂન્યાવકાશમાં થવી જોઈએ. જે દબાણ હેઠળ આયનો નિયંત્રિત થઈ શકે છે તે આશરે 10-5 થી 10-8 ટોર છે. ઉપર સૂચિબદ્ધ ત્રણ કાર્યો અલગ અલગ રીતે પૂર્ણ કરી શકાય છે. એક સામાન્ય પ્રક્રિયામાં, આયનીકરણ ઇલેક્ટ્રોનના ઉચ્ચ ઉર્જા બીમ દ્વારા પ્રભાવિત થાય છે, અને બીમમાં આયનોને વેગ આપીને અને કેન્દ્રિત કરીને આયન વિભાજન પ્રાપ્ત થાય છે, જે પછી બાહ્ય ચુંબકીય ક્ષેત્ર દ્વારા વળેલું હોય છે. આયનો પછી ઇલેક્ટ્રોનિક રીતે શોધી કાઢવામાં આવે છે અને પરિણામી માહિતી કોમ્પ્યુટરમાં સંગ્રહિત અને વિશ્લેષણ કરવામાં આવે છે. સ્પેક્ટ્રોમીટરનું હૃદય આયન સ્ત્રોત છે. અહીં નમૂનાના અણુઓ પર ગરમ ફિલામેન્ટમાંથી નીકળતા ઇલેક્ટ્રોન દ્વારા બોમ્બમારો કરવામાં આવે છે. આને ઇલેક્ટ્રોન સ્ત્રોત કહેવામાં આવે છે. વાયુઓ અને અસ્થિર પ્રવાહીના નમૂનાઓને જળાશયમાંથી આયન સ્ત્રોતમાં લીક કરવાની મંજૂરી આપવામાં આવે છે અને બિન-અસ્થિર ઘન અને પ્રવાહી સીધા દાખલ થઈ શકે છે. ઈલેક્ટ્રોન બોમ્બાર્ડમેન્ટ દ્વારા બનેલા કેશન્સ ચાર્જ્ડ રિપેલર પ્લેટ દ્વારા દૂર ધકેલાઈ જાય છે (આયનોને તેની તરફ આકર્ષિત કરવામાં આવે છે), અને અન્ય ઈલેક્ટ્રોડ તરફ વેગ આપવામાં આવે છે, જેમાં સ્લિટ્સ હોય છે જેના દ્વારા આયનો બીમ તરીકે પસાર થાય છે. આમાંના કેટલાક આયન નાના કેશન અને તટસ્થ ટુકડાઓમાં વિભાજિત થાય છે. એક લંબરૂપ ચુંબકીય ક્ષેત્ર એક ચાપમાં આયન બીમને વિચલિત કરે છે જેની ત્રિજ્યા દરેક આયનના સમૂહના વિપરિત પ્રમાણમાં હોય છે. હળવા આયનો ભારે આયનો કરતાં વધુ વિચલિત થાય છે. ચુંબકીય ક્ષેત્રની શક્તિમાં ફેરફાર કરીને, વિવિધ સમૂહના આયનોને ઉચ્ચ શૂન્યાવકાશ હેઠળ વક્ર ટ્યુબના અંતમાં નિશ્ચિત ડિટેક્ટર પર ક્રમશઃ ધ્યાન કેન્દ્રિત કરી શકાય છે. એક માસ સ્પેક્ટ્રમ વર્ટિકલ બાર ગ્રાફ તરીકે પ્રદર્શિત થાય છે, દરેક બાર ચોક્કસ માસ-ટુ-ચાર્જ ગુણોત્તર (m/z) ધરાવતા આયનનું પ્રતિનિધિત્વ કરે છે અને બારની લંબાઈ આયનની સંબંધિત વિપુલતા દર્શાવે છે. સૌથી તીવ્ર આયનને 100 ની વિપુલતા સોંપવામાં આવે છે, અને તેને આધાર શિખર તરીકે ઓળખવામાં આવે છે. સામૂહિક સ્પેક્ટ્રોમીટરમાં બનેલા મોટાભાગના આયનોમાં એક જ ચાર્જ હોય છે, તેથી m/z મૂલ્ય પોતે જ માસની સમકક્ષ હોય છે. આધુનિક માસ સ્પેક્ટ્રોમીટર ખૂબ ઊંચા રીઝોલ્યુશન ધરાવે છે અને માત્ર એક અણુ સમૂહ એકમ (amu) દ્વારા અલગ અલગ આયનોને સરળતાથી પારખી શકે છે.

​

A RESIDUAL GAS ANALYZER (RGA)  એ એક નાનું અને કઠોર માસ સ્પેક્ટ્રોમીટર છે. અમે ઉપર માસ સ્પેક્ટ્રોમીટર સમજાવ્યા છે. આરજીએ વેક્યૂમ સિસ્ટમમાં પ્રક્રિયા નિયંત્રણ અને દૂષણની દેખરેખ માટે રચાયેલ છે જેમ કે સંશોધન ચેમ્બર, સપાટી વિજ્ઞાન સેટઅપ્સ, એક્સિલરેટર્સ, સ્કેનિંગ માઇક્રોસ્કોપ. ક્વાડ્રપોલ ટેક્નોલોજીનો ઉપયોગ કરીને, ઓપન આયન સોર્સ (OIS) અથવા બંધ આયન સ્ત્રોત (CIS) નો ઉપયોગ કરીને બે અમલીકરણો છે. RGA નો ઉપયોગ મોટા ભાગના કિસ્સાઓમાં શૂન્યાવકાશની ગુણવત્તા પર દેખરેખ રાખવા માટે થાય છે અને પૃષ્ઠભૂમિ હસ્તક્ષેપની ગેરહાજરીમાં સબ-ppm ડિટેક્ટેબિલિટી ધરાવતી અશુદ્ધિઓના મિનિટના નિશાન સરળતાથી શોધી શકાય છે. આ અશુદ્ધિઓને (10)Exp -14 Torr સ્તર સુધી માપી શકાય છે, શેષ ગેસ વિશ્લેષકોનો ઉપયોગ સંવેદનશીલ ઇન-સીટુ, હિલીયમ લીક ડિટેક્ટર તરીકે પણ થાય છે. શૂન્યાવકાશ પ્રણાલીઓને પ્રક્રિયા શરૂ કરવામાં આવે તે પહેલાં નીચા સ્તરે હવાના લિક અને દૂષકો માટે વેક્યૂમ સીલની અખંડિતતા અને શૂન્યાવકાશની ગુણવત્તાની તપાસ જરૂરી છે. આધુનિક શેષ ગેસ વિશ્લેષકો ક્વાડ્રપોલ પ્રોબ, ઇલેક્ટ્રોનિક્સ કંટ્રોલ યુનિટ અને રીઅલ-ટાઇમ વિન્ડોઝ સોફ્ટવેર પેકેજ સાથે પૂર્ણ થાય છે જેનો ઉપયોગ ડેટા સંપાદન અને વિશ્લેષણ અને ચકાસણી નિયંત્રણ માટે થાય છે. જ્યારે એક કરતાં વધુ RGA ની જરૂર હોય ત્યારે કેટલાક સોફ્ટવેર બહુવિધ હેડ ઓપરેશનને સપોર્ટ કરે છે. થોડી સંખ્યામાં ભાગો સાથેની સરળ ડિઝાઇન આઉટગેસિંગને ઘટાડે છે અને તમારી વેક્યૂમ સિસ્ટમમાં અશુદ્ધિઓ દાખલ કરવાની શક્યતા ઘટાડે છે. સ્વ-સંરેખિત ભાગોનો ઉપયોગ કરીને ચકાસણી ડિઝાઇન સફાઈ કર્યા પછી સરળતાથી ફરીથી એસેમ્બલ થવાની ખાતરી કરશે. આધુનિક ઉપકરણો પરના LED સૂચકાંકો ઇલેક્ટ્રોન ગુણક, ફિલામેન્ટ, ઇલેક્ટ્રોનિક્સ સિસ્ટમ અને ચકાસણીની સ્થિતિ પર ત્વરિત પ્રતિસાદ આપે છે. લાંબા આયુષ્ય, સરળતાથી બદલી શકાય તેવા ફિલામેન્ટ્સનો ઉપયોગ ઇલેક્ટ્રોન ઉત્સર્જન માટે થાય છે. વધેલી સંવેદનશીલતા અને ઝડપી સ્કેન દરો માટે, વૈકલ્પિક ઈલેક્ટ્રોન ગુણક ક્યારેક ઓફર કરવામાં આવે છે જે 5 × (10)Exp -14 Torr સુધીના આંશિક દબાણને શોધી કાઢે છે. શેષ ગેસ વિશ્લેષકોની અન્ય આકર્ષક વિશેષતા એ બિલ્ટ-ઇન ડિગાસિંગ સુવિધા છે. ઇલેક્ટ્રોન ઇમ્પેક્ટ ડિસોર્પ્શનનો ઉપયોગ કરીને, આયન સ્ત્રોતને સંપૂર્ણપણે સાફ કરવામાં આવે છે, જે પૃષ્ઠભૂમિ અવાજમાં આયનાઇઝરના યોગદાનને મોટા પ્રમાણમાં ઘટાડે છે. મોટી ગતિશીલ શ્રેણી સાથે વપરાશકર્તા એકસાથે નાના અને મોટા ગેસ સાંદ્રતાનું માપન કરી શકે છે.

​

A MOISTURE ANALYZER  સૂકવણીની પ્રક્રિયા પછી બાકીના શુષ્ક સમૂહને નિર્ધારિત કરે છે જે આપણે અગાઉના મૂળ ઇન્ફ્રારેડ દ્રવ્ય સાથે મૂળ દ્રવ્ય છે. ભેજની ગણતરી ભીના પદાર્થના વજનના સંબંધમાં કરવામાં આવે છે. સૂકવણીની પ્રક્રિયા દરમિયાન, સામગ્રીમાં ભેજનો ઘટાડો ડિસ્પ્લે પર બતાવવામાં આવે છે. ભેજ વિશ્લેષક ભેજ અને શુષ્ક સમૂહની માત્રા તેમજ અસ્થિર અને સ્થિર પદાર્થોની સુસંગતતા ઉચ્ચ ચોકસાઈ સાથે નક્કી કરે છે. ભેજ વિશ્લેષકની વજન સિસ્ટમ આધુનિક બેલેન્સના તમામ ગુણધર્મો ધરાવે છે. આ મેટ્રોલોજી ટૂલ્સનો ઉપયોગ ઔદ્યોગિક ક્ષેત્રમાં પેસ્ટ, લાકડું, એડહેસિવ સામગ્રી, ધૂળ વગેરેનું વિશ્લેષણ કરવા માટે થાય છે. એવી ઘણી એપ્લિકેશનો છે જ્યાં ઉત્પાદન અને પ્રક્રિયા ગુણવત્તા ખાતરી માટે ભેજ માપન જરૂરી છે. પ્લાસ્ટિક, ફાર્માસ્યુટિકલ્સ અને હીટ ટ્રીટમેન્ટ પ્રક્રિયાઓ માટે ઘન પદાર્થોમાં ટ્રેસ ભેજને નિયંત્રિત કરવો આવશ્યક છે. વાયુઓ અને પ્રવાહીમાં રહેલા ભેજને માપવા અને નિયંત્રિત કરવાની પણ જરૂર છે. ઉદાહરણોમાં સૂકી હવા, હાઇડ્રોકાર્બન પ્રોસેસિંગ, શુદ્ધ સેમિકન્ડક્ટર વાયુઓ, બલ્ક શુદ્ધ વાયુઓ, પાઇપલાઇનમાં કુદરતી ગેસ વગેરેનો સમાવેશ થાય છે. ડ્રાયિંગ ટાઈપ વિશ્લેષકોના નુકસાનમાં સેમ્પલ ટ્રે અને આસપાસના હીટિંગ એલિમેન્ટ સાથે ઈલેક્ટ્રોનિક બેલેન્સ સામેલ છે. જો ઘન પદાર્થની અસ્થિર સામગ્રી મુખ્યત્વે પાણી હોય, તો LOD તકનીક ભેજનું પ્રમાણ સારું માપ આપે છે. પાણીની માત્રા નક્કી કરવા માટેની એક સચોટ પદ્ધતિ કાર્લ ફિશર ટાઇટ્રેશન છે, જે જર્મન રસાયણશાસ્ત્રી દ્વારા વિકસાવવામાં આવી છે. આ પદ્ધતિ ફક્ત પાણીને જ શોધી કાઢે છે, સૂકવણી પરના નુકસાનથી વિપરીત, જે કોઈપણ અસ્થિર પદાર્થોને શોધી કાઢે છે. તેમ છતાં કુદરતી ગેસ માટે ભેજ માપવા માટેની વિશિષ્ટ પદ્ધતિઓ છે, કારણ કે કુદરતી ગેસમાં ઘન અને પ્રવાહી દૂષકો તેમજ વિવિધ સાંદ્રતામાં કાટરોધક પદાર્થોના ખૂબ ઊંચા સ્તરો હોવાને કારણે અનન્ય પરિસ્થિતિ ઊભી થાય છે.

​

MOISTURE METERS પદાર્થ અથવા સામગ્રીમાં પાણીની ટકાવારી માપવા માટેના પરીક્ષણ સાધનો છે. આ માહિતીનો ઉપયોગ કરીને, વિવિધ ઉદ્યોગોમાં કામદારો નિર્ધારિત કરે છે કે શું સામગ્રી ઉપયોગ માટે તૈયાર છે, ખૂબ ભીની છે અથવા ખૂબ સૂકી છે. પરિમાણ અને વજન સહિતના ભૌતિક ગુણધર્મો ભેજની સામગ્રીથી ખૂબ પ્રભાવિત થાય છે. જો તમે વજન દ્વારા મોટા પ્રમાણમાં લાકડું ખરીદતા હોવ તો, કિંમત વધારવા માટે તે જાણીજોઈને પાણીયુક્ત નથી તેની ખાતરી કરવા માટે ભેજનું પ્રમાણ માપવું એ એક સમજદારીભરી બાબત છે. સામાન્ય રીતે બે મૂળભૂત પ્રકારના ભેજ મીટર ઉપલબ્ધ હોય છે. એક પ્રકાર સામગ્રીના વિદ્યુત પ્રતિકારને માપે છે, જે તેની ભેજનું પ્રમાણ વધવાથી વધુને વધુ નીચું થતું જાય છે. વિદ્યુત પ્રતિકાર પ્રકારના ભેજ મીટર સાથે, સામગ્રીમાં બે ઇલેક્ટ્રોડ ચલાવવામાં આવે છે અને વિદ્યુત પ્રતિકાર ઉપકરણના ઇલેક્ટ્રોનિક આઉટપુટ પર ભેજ સામગ્રીમાં અનુવાદિત થાય છે. બીજા પ્રકારનું ભેજ મીટર સામગ્રીના ડાઇલેક્ટ્રિક ગુણધર્મો પર આધાર રાખે છે, અને તેની સાથે માત્ર સપાટીના સંપર્કની જરૂર છે.

​

The ANALYTICAL BALANCE  જથ્થાત્મક પૃથ્થકરણમાં મૂળભૂત સાધન છે, જેનો ઉપયોગ નમૂનાના માપનની પૂર્વધારણા માટે થાય છે. એક સામાન્ય સંતુલન 0.1 મિલિગ્રામના સમૂહમાં તફાવત નક્કી કરવા માટે સક્ષમ હોવું જોઈએ. સૂક્ષ્મ વિશ્લેષણમાં સંતુલન લગભગ 1,000 ગણું વધુ સંવેદનશીલ હોવું જોઈએ. વિશેષ કાર્ય માટે, તેનાથી પણ વધુ સંવેદનશીલતાનું સંતુલન ઉપલબ્ધ છે. વિશ્લેષણાત્મક સંતુલનનું માપન પાન દરવાજાવાળા પારદર્શક બિડાણની અંદર હોય છે જેથી ધૂળ એકઠી ન થાય અને ઓરડામાં હવાના પ્રવાહો સંતુલનની કામગીરીને અસર ન કરે. ત્યાં એક સરળ અશાંતિ-મુક્ત એરફ્લો અને વેન્ટિલેશન છે જે સંતુલન વધઘટને અટકાવે છે અને વધઘટ અથવા ઉત્પાદનની ખોટ વિના 1 માઇક્રોગ્રામ સુધીના માસના માપને અટકાવે છે. સમગ્ર ઉપયોગી ક્ષમતા દરમિયાન સાતત્યપૂર્ણ પ્રતિસાદ જાળવી રાખવા માટે સંતુલન બીમ પર સતત ભાર જાળવવા દ્વારા પ્રાપ્ત થાય છે, આમ ફૂલક્રમ, બીમની તે જ બાજુના દળને બાદ કરીને જેમાં નમૂના ઉમેરવામાં આવે છે. ઇલેક્ટ્રોનિક વિશ્લેષણાત્મક સંતુલન વાસ્તવિક સમૂહનો ઉપયોગ કરવાને બદલે માપવામાં આવતા સમૂહનો સામનો કરવા માટે જરૂરી બળને માપે છે. તેથી ગુરુત્વાકર્ષણના તફાવતોની ભરપાઈ કરવા માટે તેમની પાસે માપાંકન ગોઠવણો હોવી આવશ્યક છે. વિશ્લેષણાત્મક બેલેન્સ માપવામાં આવતા નમૂનાનો સામનો કરવા માટે બળ પેદા કરવા માટે ઇલેક્ટ્રોમેગ્નેટનો ઉપયોગ કરે છે અને સંતુલન હાંસલ કરવા માટે જરૂરી બળને માપીને પરિણામ આઉટપુટ કરે છે.

​

SPECTROPHOTOMETRY is the quantitative measurement of the reflection or transmission properties of a material as a function of wavelength, and SPECTROPHOTOMETER is the test equipment used for this હેતુ સ્પેક્ટ્રલ બેન્ડવિડ્થ (પરીક્ષણ નમૂના દ્વારા તે પ્રસારિત કરી શકે તેવા રંગોની શ્રેણી), નમૂના-પ્રસારણની ટકાવારી, નમૂના-શોષણની લઘુગણક શ્રેણી અને પ્રતિબિંબ માપનની ટકાવારી સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટર માટે મહત્વપૂર્ણ છે. આ પરીક્ષણ સાધનોનો વ્યાપકપણે ઓપ્ટિકલ કમ્પોનન્ટ ટેસ્ટિંગમાં ઉપયોગ થાય છે જ્યાં ઓપ્ટિકલ ફિલ્ટર્સ, બીમ સ્પ્લિટર્સ, રિફ્લેક્ટર, મિરર્સ...વગેરેને તેમની કામગીરી માટે મૂલ્યાંકન કરવાની જરૂર છે. સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટરની અન્ય ઘણી એપ્લિકેશનો છે જેમાં ફાર્માસ્યુટિકલ અને મેડિકલ સોલ્યુશન, રસાયણો, રંગો, રંગો…… વગેરેના ટ્રાન્સમિશન અને પ્રતિબિંબ ગુણધર્મોનું માપન સામેલ છે. આ પરીક્ષણો ઉત્પાદનમાં બેચથી બેચ સુધી સુસંગતતાની ખાતરી કરે છે. સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટર, નિયંત્રણ અથવા કેલિબ્રેશનના આધારે, અવલોકન કરેલ તરંગલંબાઇનો ઉપયોગ કરીને ગણતરી દ્વારા લક્ષ્યમાં કયા પદાર્થો હાજર છે અને તેમની માત્રા નક્કી કરવામાં સક્ષમ છે. વિવિધ નિયંત્રણો અને માપાંકનનો ઉપયોગ કરીને આવરી લેવામાં આવતી તરંગલંબાઇની શ્રેણી સામાન્ય રીતે 200 nm - 2500 nm ની વચ્ચે હોય છે. પ્રકાશની આ શ્રેણીની અંદર, રસની તરંગલંબાઇ માટે ચોક્કસ ધોરણોનો ઉપયોગ કરીને મશીન પર માપાંકનની જરૂર છે. સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટરના બે મુખ્ય પ્રકાર છે, સિંગલ બીમ અને ડબલ બીમ. ડબલ બીમ સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટર બે પ્રકાશ પાથ વચ્ચે પ્રકાશની તીવ્રતાની તુલના કરે છે, એક પાથ સંદર્ભ નમૂના ધરાવતો અને બીજો પાથ જેમાં પરીક્ષણ નમૂનાનો સમાવેશ થાય છે. બીજી તરફ સિંગલ-બીમ સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટર પરીક્ષણ નમૂના દાખલ કર્યા પહેલા અને પછી બીમની સંબંધિત પ્રકાશની તીવ્રતાને માપે છે. જો કે ડબલ-બીમ સાધનોમાંથી માપની સરખામણી કરવી સરળ અને વધુ સ્થિર છે, સિંગલ-બીમ સાધનોમાં મોટી ગતિશીલ શ્રેણી હોઈ શકે છે અને તે ઓપ્ટીકલી સરળ અને વધુ કોમ્પેક્ટ હોય છે. સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટર અન્ય સાધનો અને સિસ્ટમોમાં પણ ઇન્સ્ટોલ કરી શકાય છે જે વપરાશકર્તાઓને ઉત્પાદન દરમિયાન ઇન-સીટુ માપન કરવામાં મદદ કરી શકે છે... વગેરે. આધુનિક સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટરમાં ઘટનાઓના લાક્ષણિક ક્રમનો સારાંશ આ રીતે કરી શકાય છે: સૌપ્રથમ નમૂના પર પ્રકાશનો સ્ત્રોત ઇમેજ કરવામાં આવે છે, પ્રકાશનો અપૂર્ણાંક નમૂનામાંથી પ્રસારિત અથવા પ્રતિબિંબિત થાય છે. પછી નમૂનામાંથી પ્રકાશને મોનોક્રોમેટરના પ્રવેશદ્વાર પર ઇમેજ કરવામાં આવે છે, જે પ્રકાશની તરંગલંબાઇને અલગ કરે છે અને તેમાંથી દરેકને ફોટોડિટેક્ટર પર ક્રમિક રીતે ફોકસ કરે છે. સૌથી સામાન્ય સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટર્સ છે. UV & VISIBLE SPECTROPHOTOMETERS_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d0m અને તરંગની શ્રેણીમાં તેમાંના કેટલાક નજીકના ઇન્ફ્રારેડ પ્રદેશને પણ આવરી લે છે. બીજી તરફ,  IR SPECTROPHOTOMETERS  ટેક્નિકલ આવશ્યકતાઓમાં માળખાકીય જરૂરિયાતોને કારણે વધુ જટિલ અને ખર્ચાળ છે. ઇન્ફ્રારેડ ફોટોસેન્સર્સ વધુ મૂલ્યવાન છે અને ઇન્ફ્રારેડ માપન પણ પડકારજનક છે કારણ કે લગભગ દરેક વસ્તુ થર્મલ રેડિયેશન તરીકે IR પ્રકાશનું ઉત્સર્જન કરે છે, ખાસ કરીને લગભગ 5 મીટરથી વધુની તરંગલંબાઇ પર. કાચ અને પ્લાસ્ટિક જેવા અન્ય પ્રકારના સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટરમાં વપરાતી ઘણી સામગ્રી ઇન્ફ્રારેડ પ્રકાશને શોષી લે છે, જે તેમને ઓપ્ટિકલ માધ્યમ તરીકે અયોગ્ય બનાવે છે. આદર્શ ઓપ્ટિકલ સામગ્રી પોટેશિયમ બ્રોમાઇડ જેવા ક્ષાર છે, જે મજબૂત રીતે શોષી શકતી નથી.

​

A POLARIMETER  ઑપ્ટિકલી સક્રિય ધ્રુવીકૃત સામગ્રીમાંથી પસાર થતા પરિભ્રમણના કોણને માપે છે. કેટલીક રાસાયણિક સામગ્રી ઓપ્ટીકલી સક્રિય હોય છે અને જ્યારે તેમાંથી પસાર થાય ત્યારે ધ્રુવીકૃત (યુનિડાયરેક્શનલ) પ્રકાશ ડાબી બાજુ (ઘડિયાળની વિરુદ્ધ દિશામાં) અથવા જમણી તરફ (ઘડિયાળની દિશામાં) ફરે છે. પ્રકાશને જે માત્રામાં ફેરવવામાં આવે છે તેને પરિભ્રમણનો કોણ કહેવામાં આવે છે. ખોરાક, પીણા અને ફાર્માસ્યુટિકલ ઉદ્યોગોમાં ઉત્પાદન અથવા ઘટકની ગુણવત્તા નક્કી કરવા માટે એક લોકપ્રિય એપ્લિકેશન, એકાગ્રતા અને શુદ્ધતા માપન કરવામાં આવે છે. કેટલાક નમૂનાઓ કે જે ચોક્કસ પરિભ્રમણ દર્શાવે છે જેની ગણતરી પોલારીમીટર વડે શુદ્ધતા માટે કરી શકાય છે તેમાં સ્ટેરોઇડ્સ, એન્ટિબાયોટિક્સ, નાર્કોટિક્સ, વિટામિન્સ, એમિનો એસિડ, પોલિમર, સ્ટાર્ચ, ખાંડનો સમાવેશ થાય છે. ઘણા રસાયણો એક વિશિષ્ટ વિશિષ્ટ પરિભ્રમણ દર્શાવે છે જેનો ઉપયોગ તેમને અલગ પાડવા માટે કરી શકાય છે. જો અન્ય ચલો જેમ કે સેમ્પલ સેલની સાંદ્રતા અને લંબાઈ નિયંત્રિત હોય અથવા ઓછામાં ઓછા જાણીતા હોય તો તેના આધારે પોલરીમીટર અજાણ્યા નમુનાઓને ઓળખી શકે છે. બીજી બાજુ, જો નમૂનાનું ચોક્કસ પરિભ્રમણ પહેલાથી જ જાણીતું હોય, તો તેમાં સમાવિષ્ટ દ્રાવણની સાંદ્રતા અને/અથવા શુદ્ધતાની ગણતરી કરી શકાય છે. એકવાર વપરાશકર્તા દ્વારા વેરિયેબલ્સ પર કેટલાક ઇનપુટ દાખલ કરવામાં આવે ત્યારે સ્વચાલિત પોલરીમીટર આની ગણતરી કરે છે.

​

A REFRACTOMETER  એ રીફ્રેક્શનના સૂચકાંકના માપન માટે ઓપ્ટિકલ પરીક્ષણ સાધનોનો એક ભાગ છે. આ સાધનો એ માપન કરે છે કે પ્રકાશ કેટલી હદે વળેલો છે, એટલે કે જ્યારે તે હવામાંથી નમૂનામાં જાય છે ત્યારે વક્રીભવન થાય છે અને સામાન્ય રીતે નમૂનાઓના પ્રત્યાવર્તન સૂચકાંકને નિર્ધારિત કરવા માટે વપરાય છે. રિફ્રેક્ટોમીટરના પાંચ પ્રકાર છે: પરંપરાગત હેન્ડહેલ્ડ રીફ્રેક્ટોમીટર્સ, ડિજિટલ હેન્ડહેલ્ડ રીફ્રેક્ટોમીટર્સ, લેબોરેટરી અથવા એબે રીફ્રેક્ટોમીટર્સ, ઇનલાઇન પ્રોસેસ રીફ્રેક્ટોમીટર્સ અને છેલ્લે વાયુઓના રીફ્રેક્ટિવ સૂચકાંકોને માપવા માટે રેલેગ રીફ્રેક્ટોમીટર્સ. રીફ્રેક્ટોમીટરનો ઉપયોગ ખનિજ વિજ્ઞાન, દવા, પશુચિકિત્સા, ઓટોમોટિવ ઉદ્યોગ….. વગેરે જેવા વિવિધ વિષયોમાં રત્ન, રક્તના નમૂનાઓ, ઓટો શીતક, ઔદ્યોગિક તેલ જેવા વિવિધ ઉત્પાદનોની તપાસ કરવા માટે વ્યાપકપણે થાય છે. રીફ્રેક્ટિવ ઇન્ડેક્સ એ પ્રવાહી નમૂનાઓનું વિશ્લેષણ કરવા માટેનું ઓપ્ટિકલ પરિમાણ છે. તે નમૂનાના પ્રત્યાવર્તન સૂચકાંકને જાણીતા મૂલ્યો સાથે સરખાવીને તેની ઓળખને ઓળખવા અથવા તેની પુષ્ટિ કરવા માટે સેવા આપે છે, શુદ્ધ પદાર્થના મૂલ્ય સાથે તેના રીફ્રેક્ટિવ ઇન્ડેક્સની તુલના કરીને નમૂનાની શુદ્ધતાનું મૂલ્યાંકન કરવામાં મદદ કરે છે, દ્રાવણમાં દ્રાવ્યની સાંદ્રતા નક્કી કરવામાં મદદ કરે છે. સોલ્યુશનના રીફ્રેક્ટિવ ઇન્ડેક્સને પ્રમાણભૂત વળાંક સાથે સરખાવીને. ચાલો આપણે રીફ્રેક્ટોમીટરના પ્રકારો પર સંક્ષિપ્તમાં જઈએ: TRADITIONAL REFRACTOMETERS tax ના સિદ્ધાંતો પર એક નાના પ્રોજેક્ટનો ફાયદો થાય છે જે એક નાની લાઈન પર આધારિત છે. નમૂનો નાની કવર પ્લેટ અને માપન પ્રિઝમ વચ્ચે મૂકવામાં આવે છે. જે બિંદુએ પડછાયા રેખા સ્કેલને પાર કરે છે તે વાંચન સૂચવે છે. સ્વચાલિત તાપમાન વળતર છે, કારણ કે તાપમાનના આધારે રીફ્રેક્ટિવ ઇન્ડેક્સ બદલાય છે. માપનનો સમય ખૂબ જ ટૂંકો હોય છે અને માત્ર બે થી ત્રણ સેકન્ડની રેન્જમાં હોય છે. પ્રિન્ટઆઉટ લો. લેબોરેટરી રીફ્રેક્ટોમીટર્સ હેન્ડહેલ્ડ રીફ્રેક્ટોમીટર કરતાં વિશાળ શ્રેણી અને ઉચ્ચ ચોકસાઈ પ્રદાન કરે છે. તેઓ કોમ્પ્યુટર સાથે કનેક્ટ થઈ શકે છે અને બહારથી નિયંત્રિત થઈ શકે છે. INLINE પ્રક્રિયા REFRACTOMETERS_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58 રૂપાંતરિત સામગ્રીને ફરીથી એકત્રિત કરી શકાય છે. માઇક્રોપ્રોસેસર કંટ્રોલ કમ્પ્યુટર પાવર પ્રદાન કરે છે જે આ ઉપકરણોને બહુમુખી, સમય-બચત અને આર્થિક બનાવે છે. છેલ્લે, the RAYLEIGH REFRACTOMETER  નો ઉપયોગ અપક્રિયાના રેફ્રેક્ટિવને માપવા માટે થાય છે.

​

કાર્યસ્થળ, ફેક્ટરી ફ્લોર, હોસ્પિટલો, ક્લિનિક્સ, શાળાઓ, જાહેર ઇમારતો અને અન્ય ઘણા સ્થળોએ પ્રકાશની ગુણવત્તા ખૂબ જ મહત્વપૂર્ણ છે. તેજ). ખાસ ઓપ્ટિક ફિલ્ટર માનવ આંખની સ્પેક્ટ્રલ સંવેદનશીલતા સાથે મેળ ખાય છે. પ્રકાશની તીવ્રતા ફુટ-કેન્ડલ અથવા લક્સ (lx) માં માપવામાં આવે છે અને તેની જાણ કરવામાં આવે છે. એક લક્સ ચોરસ મીટર દીઠ એક લ્યુમેન બરાબર છે અને એક ફૂટ-મીણબત્તી ચોરસ ફૂટ દીઠ એક લ્યુમેન બરાબર છે. આધુનિક લક્સ મીટર માપને રેકોર્ડ કરવા માટે આંતરિક મેમરી અથવા ડેટા લોગરથી સજ્જ છે, ઘટના પ્રકાશના કોણનું કોસાઇન કરેક્શન અને રીડિંગ્સનું વિશ્લેષણ કરવા માટે સોફ્ટવેર. યુવીએ રેડિયેશનને માપવા માટે લક્સ મીટર છે. હાઇ એન્ડ વર્ઝન લક્સ મીટર CIE, ગ્રાફિક ડિસ્પ્લે, આંકડાકીય વિશ્લેષણ કાર્યો, 300 klx સુધીની મોટી માપન શ્રેણી, મેન્યુઅલ અથવા સ્વચાલિત શ્રેણી પસંદગી, USB અને અન્ય આઉટપુટને પહોંચી વળવા માટે વર્ગ A સ્થિતિ પ્રદાન કરે છે.

​

A LASER RANGEFINDER  એ એક પરીક્ષણ સાધન છે જે ઑબ્જેક્ટનું અંતર નક્કી કરવા માટે લેસર બીમનો ઉપયોગ કરે છે. મોટા ભાગના લેસર રેન્જફાઇન્ડર ઓપરેશન ફ્લાઇટના સિદ્ધાંતના સમય પર આધારિત છે. લેસર પલ્સ વસ્તુ તરફ સાંકડી બીમમાં મોકલવામાં આવે છે અને પલ્સ દ્વારા લક્ષ્યથી પ્રતિબિંબિત થવામાં અને મોકલનારને પરત કરવામાં જે સમય લાગે છે તે માપવામાં આવે છે. આ સાધન ઉચ્ચ ચોકસાઇ સબ-મિલિમીટર માપન માટે યોગ્ય નથી. કેટલાક લેસર રેન્જફાઈન્ડર ઓબ્જેક્ટ રેન્જફાઈન્ડર તેમજ ઓબ્જેક્ટની ઝડપ તરફ આગળ વધી રહ્યું છે કે દૂર તે નક્કી કરવા માટે ડોપ્લર ઈફેક્ટ ટેકનિકનો ઉપયોગ કરે છે. લેસર રેન્જફાઇન્ડરની ચોકસાઇ લેસર પલ્સ અને રીસીવરની ઝડપના ઉદય કે પતન સમય દ્વારા નક્કી કરવામાં આવે છે. રેન્જફાઇન્ડર કે જે ખૂબ જ તીક્ષ્ણ લેસર પલ્સ અને ખૂબ જ ઝડપી ડિટેક્ટરનો ઉપયોગ કરે છે તે ઑબ્જેક્ટનું અંતર થોડા મિલીમીટરની અંદર માપવામાં સક્ષમ છે. લેસર બીમના વિચલનને કારણે લેસર બીમ આખરે લાંબા અંતર સુધી ફેલાશે. હવામાં હવાના પરપોટાને કારણે થતી વિકૃતિઓ ખુલ્લા અને અસ્પષ્ટ ભૂપ્રદેશમાં 1 કિમીથી વધુ લાંબા અંતર પર અને ભેજવાળા અને ધુમ્મસવાળા સ્થળોએ પણ ઓછા અંતર પર કોઈ વસ્તુના અંતરનું સચોટ વાંચન મેળવવાનું મુશ્કેલ બનાવે છે. હાઇ એન્ડ મિલિટરી રેન્જફાઇન્ડર 25 કિમી સુધીની રેન્જમાં કામ કરે છે અને તેને દૂરબીન અથવા મોનોક્યુલર સાથે જોડવામાં આવે છે અને તે વાયરલેસ રીતે કમ્પ્યુટર્સ સાથે કનેક્ટ થઈ શકે છે. લેસર રેન્જફાઇન્ડરનો ઉપયોગ 3-D ઑબ્જેક્ટ ઓળખ અને મોડેલિંગમાં થાય છે, અને કમ્પ્યુટર વિઝન-સંબંધિત ક્ષેત્રોની વિશાળ વિવિધતા જેમ કે ફ્લાઇટના સમયના 3D સ્કેનર્સ ઉચ્ચ-ચોકસાઇવાળી સ્કેનિંગ ક્ષમતાઓ પ્રદાન કરે છે. એક ઑબ્જેક્ટના બહુવિધ ખૂણાઓમાંથી મેળવેલ શ્રેણી ડેટાનો ઉપયોગ શક્ય તેટલી ઓછી ભૂલ સાથે સંપૂર્ણ 3-D મોડલ બનાવવા માટે થઈ શકે છે. કોમ્પ્યુટર વિઝન એપ્લીકેશનમાં ઉપયોગમાં લેવાતા લેસર રેન્જફાઈન્ડર મિલીમીટરના દસમા ભાગ અથવા તેનાથી ઓછા ઊંડાઈના રીઝોલ્યુશન ઓફર કરે છે. લેસર રેન્જફાઇન્ડર માટે અન્ય ઘણા એપ્લિકેશન ક્ષેત્રો અસ્તિત્વમાં છે, જેમ કે રમતગમત, બાંધકામ, ઉદ્યોગ, વેરહાઉસ મેનેજમેન્ટ. આધુનિક લેસર માપન સાધનોમાં સરળ ગણતરીઓ કરવાની ક્ષમતા જેવા કાર્યોનો સમાવેશ થાય છે, જેમ કે રૂમનો વિસ્તાર અને વોલ્યુમ, શાહી અને મેટ્રિક એકમો વચ્ચે સ્વિચ કરવું.

​

An ULTRASONIC DISTANCE METER  લેસર અંતરના સમાન સિદ્ધાંત પર કામ કરે છે, પરંતુ તે માનવ અવાજને બદલે લાઇટર પિઅરનો ઉપયોગ કરે છે. ધ્વનિની ઝડપ પ્રતિ સેકન્ડના કિમીના માત્ર 1/3 જેટલી છે, તેથી સમય માપન સરળ છે. અલ્ટ્રાસાઉન્ડમાં લેસર ડિસ્ટન્સ મીટરના ઘણા સમાન ફાયદા છે, એટલે કે એક વ્યક્તિ અને એક હાથે ઓપરેશન. વ્યક્તિગત રીતે લક્ષ્ય સુધી પહોંચવાની જરૂર નથી. જો કે અલ્ટ્રાસાઉન્ડ અંતર મીટર આંતરિક રીતે ઓછા સચોટ હોય છે, કારણ કે લેસર પ્રકાશ કરતાં ધ્વનિ પર ધ્યાન કેન્દ્રિત કરવું વધુ મુશ્કેલ છે. ચોકસાઈ સામાન્ય રીતે કેટલાક સેન્ટિમીટર અથવા તેનાથી પણ ખરાબ હોય છે, જ્યારે લેસર અંતર મીટર માટે તે થોડા મિલીમીટર હોય છે. અલ્ટ્રાસાઉન્ડને લક્ષ્ય તરીકે મોટી, સરળ, સપાટ સપાટીની જરૂર છે. આ એક ગંભીર મર્યાદા છે. તમે સાંકડી પાઇપ અથવા સમાન નાના લક્ષ્યોને માપી શકતા નથી. અલ્ટ્રાસાઉન્ડ સિગ્નલ મીટરમાંથી શંકુમાં ફેલાય છે અને માર્ગમાંની કોઈપણ વસ્તુઓ માપમાં દખલ કરી શકે છે. લેસર ધ્યેય સાથે પણ, કોઈ ખાતરી કરી શકતું નથી કે જે સપાટી પરથી ધ્વનિ પ્રતિબિંબ શોધી કાઢવામાં આવે છે તે લેસર ડોટ દર્શાવતી સપાટી સમાન છે. આનાથી ભૂલો થઈ શકે છે. શ્રેણી દસ મીટર સુધી મર્યાદિત છે, જ્યારે લેસર અંતર મીટર સેંકડો મીટર માપી શકે છે. આ બધી મર્યાદાઓ હોવા છતાં, અલ્ટ્રાસોનિક અંતર મીટરની કિંમત ઘણી ઓછી છે.

​

હેન્ડહેલ્ડ ULTRASONIC CABLE HEIGHT METER  એ એક પરીક્ષણ સાધન છે જે જમીનને માપવા અને માપવા માટે યોગ્ય માપન કરી શકાય તેવું પરીક્ષણ છે. કેબલની ઊંચાઈ માપવા માટે તે સૌથી સલામત પદ્ધતિ છે કારણ કે તે કેબલના સંપર્ક અને ભારે ફાઈબર ગ્લાસ થાંભલાઓનો ઉપયોગ દૂર કરે છે. અન્ય અલ્ટ્રાસોનિક ડિસ્ટન્સ મીટરની જેમ, કેબલ હાઇટ મીટર એ એક વ્યક્તિનું સરળ ઓપરેશન ડિવાઇસ છે જે અલ્ટ્રાસાઉન્ડ તરંગોને લક્ષ્યમાં મોકલે છે, ઇકો માટે સમય માપે છે, અવાજની ગતિના આધારે અંતરની ગણતરી કરે છે અને હવાના તાપમાન માટે પોતાને સમાયોજિત કરે છે.

​

A SOUND LEVEL METER  એ એક પરીક્ષણ સાધન છે જે ધ્વનિ દબાણ સ્તરને માપે છે. ધ્વનિ સ્તરના મીટર વિવિધ પ્રકારના અવાજના પ્રમાણ માટે ધ્વનિ પ્રદૂષણ અભ્યાસમાં ઉપયોગી છે. ધ્વનિ પ્રદૂષણનું માપન બાંધકામ, એરોસ્પેસ અને અન્ય ઘણા ઉદ્યોગોમાં મહત્વપૂર્ણ છે. અમેરિકન નેશનલ સ્ટાન્ડર્ડ ઇન્સ્ટિટ્યૂટ (ANSI) ધ્વનિ સ્તર મીટરને ત્રણ અલગ-અલગ પ્રકારો તરીકે નિર્દિષ્ટ કરે છે, એટલે કે 0, 1 અને 2. સંબંધિત ANSI ધોરણો ચોકસાઇના ત્રણ સ્તરો અનુસાર પ્રદર્શન અને ચોકસાઈ સહિષ્ણુતા નક્કી કરે છે: પ્રકાર 0 પ્રયોગશાળાઓમાં વપરાય છે, પ્રકાર 1 છે. ક્ષેત્રમાં ચોકસાઇ માપ માટે વપરાય છે, અને પ્રકાર 2 નો ઉપયોગ સામાન્ય હેતુના માપ માટે થાય છે. અનુપાલન હેતુઓ માટે, ANSI ટાઈપ 2 સાઉન્ડ લેવલ મીટર અને ડોસીમીટર સાથેના રીડિંગ્સને ±2 dBA ની ચોકસાઈ માનવામાં આવે છે, જ્યારે પ્રકાર 1 ઈન્સ્ટ્રુમેન્ટમાં ±1 dBA ની ચોકસાઈ હોય છે. પ્રકાર 2 મીટર અવાજ માપન માટે OSHA દ્વારા ન્યૂનતમ આવશ્યકતા છે, અને સામાન્ય હેતુના અવાજ સર્વેક્ષણ માટે તે સામાન્ય રીતે પર્યાપ્ત છે. વધુ સચોટ પ્રકાર 1 મીટર ખર્ચ-અસરકારક અવાજ નિયંત્રણોની ડિઝાઇન માટે બનાવાયેલ છે. ફ્રિક્વન્સી વેઇટિંગ, પીક સાઉન્ડ પ્રેશર લેવલ વગેરે સંબંધિત આંતરરાષ્ટ્રીય ઉદ્યોગ ધોરણો તેમની સાથે સંકળાયેલ વિગતોને કારણે અહીં અવકાશની બહાર છે. ચોક્કસ સાઉન્ડ લેવલ મીટર ખરીદતા પહેલા, અમે સલાહ આપીએ છીએ કે તમે તમારા કાર્યસ્થળને કયા ધોરણોનું પાલન કરવાની જરૂર છે તે જાણવાની ખાતરી કરો અને પરીક્ષણ સાધનના ચોક્કસ મોડેલની ખરીદીમાં યોગ્ય નિર્ણય લો.

​

ENVIRONMENTAL ANALYZERS like TEMPERATURE & HUMIDITY CYCLING CHAMBERS, ENVIRONMENTAL TESTING CHAMBERS come in a variety of sizes, configurations and functions depending on the area of application, ચોક્કસ ઔદ્યોગિક ધોરણોનું પાલન જરૂરી છે અને અંતિમ વપરાશકર્તાઓની જરૂરિયાતો. તેઓ કસ્ટમ જરૂરિયાતો અનુસાર રૂપરેખાંકિત અને ઉત્પાદન કરી શકાય છે. તમારા ઉત્પાદન માટે સૌથી યોગ્ય તાપમાન ભેજ પ્રોફાઇલ નક્કી કરવામાં મદદ કરવા માટે MIL-STD, SAE, ASTM જેવા પરીક્ષણ વિશિષ્ટતાઓની વ્યાપક શ્રેણી છે. તાપમાન / ભેજ પરીક્ષણ સામાન્ય રીતે આ માટે કરવામાં આવે છે:

​

એક્સિલરેટેડ એજિંગ: જ્યારે સામાન્ય ઉપયોગ હેઠળ વાસ્તવિક આયુષ્ય અજાણ હોય ત્યારે ઉત્પાદનના જીવનનો અંદાજ લગાવે છે. ત્વરિત વૃદ્ધત્વ ઉત્પાદનના અપેક્ષિત આયુષ્ય કરતાં પ્રમાણમાં ટૂંકા સમયમર્યાદામાં નિયંત્રિત તાપમાન, ભેજ અને દબાણના ઊંચા સ્તરે ઉત્પાદનને ખુલ્લું પાડે છે. ઉત્પાદનની આયુષ્ય જોવા માટે લાંબા સમય અને વર્ષોની રાહ જોવાને બદલે, વ્યક્તિ આ ચેમ્બરનો ઉપયોગ કરીને ખૂબ ટૂંકા અને વાજબી સમયમાં આ પરીક્ષણોનો ઉપયોગ કરીને તે નક્કી કરી શકે છે.

​

એક્સિલરેટેડ વેધરિંગ: ભેજ, ઝાકળ, ગરમી, યુવી….વગેરેના સંપર્કનું અનુકરણ કરે છે. વેધરિંગ અને યુવી એક્સપોઝર કોટિંગ, પ્લાસ્ટિક, શાહી, કાર્બનિક પદાર્થો, ઉપકરણો... વગેરેને નુકસાન પહોંચાડે છે. લુપ્ત થવું, પીળું પડવું, ક્રેકીંગ, છાલ, બરડપણું, તાણ શક્તિ ગુમાવવી અને લાંબા સમય સુધી યુવી એક્સપોઝર હેઠળ ડિલેમિનેશન થાય છે. એક્સિલરેટેડ વેધરિંગ ટેસ્ટ એ નિર્ધારિત કરવા માટે ડિઝાઇન કરવામાં આવ્યા છે કે ઉત્પાદનો સમયની કસોટી પર ઊતરશે કે નહીં.

​

હીટ સોક/એક્સપોઝર

​

થર્મલ શોક: તાપમાનમાં અચાનક થતા ફેરફારોનો સામનો કરવા માટે સામગ્રી, ભાગો અને ઘટકોની ક્ષમતા નક્કી કરવાનો હેતુ છે. થર્મલ શોક ચેમ્બરો ઘણી બધી થર્મલ વિસ્તરણ અને સંકોચનની અસર જોવા માટે ગરમ અને ઠંડા તાપમાન ઝોન વચ્ચે ઉત્પાદનોને ઝડપથી ચક્રમાં ફેરવે છે, જેમ કે પ્રકૃતિ અથવા ઔદ્યોગિક વાતાવરણમાં ઘણી બધી ઋતુઓ અને વર્ષો દરમિયાન થાય છે.

 

પૂર્વ અને પોસ્ટ કન્ડીશનીંગ: સામગ્રી, કન્ટેનર, પેકેજો, ઉપકરણો... વગેરેના કન્ડીશનીંગ માટે

​

વિગતો અને અન્ય સમાન સાધનો માટે, કૃપા કરીને અમારી સાધનોની વેબસાઇટની મુલાકાત લો: http://www.sourceindustrialsupply.com