Ënnert eisen Testinstrumenter fir Beschichtung an Uewerflächevaluatioun sinn COATING THICKNESS METER, SURFACE RAUGHNESS TESTERS, GLOSS METER, COLOR READERS, COLOR DIFFERENCE METER, MALLICRODIFERENSC METER, MIC. Eis Haaptfokus ass op NON-DESTRUCTIVE TESTMETHODEN. Mir droen héichqualitativ Marken wéi SADTand MITECH.

 

E grousse Prozentsaz vun all Flächen ronderëm eis sinn Beschichtete. Beschichtungen déngen vill Zwecker inklusiv gutt Erscheinung, Schutz a ginn Produkter gewësse gewënschte Funktionalitéit wéi Waasserabweisend, verstäerkte Reibung, Verschleiß- a Abrasiounsbeständegkeet ... etc. Dofir ass et vu vital Wichtegkeet fäeg ze sinn d'Eegeschafte an d'Qualitéit vu Beschichtungen an Surfaces vu Produkter ze moossen, ze testen an ze evaluéieren. Beschichtungen kënnen breed an zwou Haaptgruppen kategoriséiert ginn, wann d'Dicke berécksiichtegt ginn: THICK FILM_cc781905-5cde-3194-bb3b-136_9cf758d_581905-136_9_ccf581d300005cf58d3000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000001

​

Fir de Katalog fir eis SADT Mark Metrologie an Testausrüstung erofzelueden, KLICKT HEI.  An dësem Katalog fannt Dir e puer vun dësen Instrumenter fir d'Bewäertung vun Flächen a Beschichtungen.

​

Fir d'Broschüre fir d'Beschichtung Dicke Gauge Mitech Model MCT200 erofzelueden, KLICKT HEI.

​

E puer vun den Instrumenter an Techniken, déi fir sou Zwecker benotzt ginn, sinn:

 

COATING THICKNESS METER : Verschidden Zorte vu Beschichtungen erfuerderen verschidden Aarte vu Beschichtungstester. E Basisverständnis vun de verschiddenen Techniken ass also essentiell fir de Benotzer déi richteg Ausrüstung ze wielen. Am Magnetic Induction Method of coating thickness measurement mir moossen netmagnéitesch Beschichtungen iwwer Eisenbeschichtungssubstrater a magnetesche Beschichtungssubstrater. D'Sond ass op der Probe positionéiert an d'linear Distanz tëscht dem Sondespëtz, deen d'Uewerfläch an de Basissubstrat kontaktéiert, gëtt gemooss. Bannen an der Messsonde ass eng Spule déi e verännert Magnéitfeld generéiert. Wann d'Sond op d'Probe gesat gëtt, gëtt d'magnetesch Fluxdicht vun dësem Feld duerch d'Dicke vun enger magnetescher Beschichtung oder d'Präsenz vun engem magnetesche Substrat geännert. D'Verännerung vun der magnetescher Induktioun gëtt vun enger sekundärer Spule op der Sonde gemooss. Den Ausgang vun der sekundärer Spule gëtt op e Mikroprozessor transferéiert, wou et als Beschichtungsdickemessung um digitalen Display ugewise gëtt. Dëse Schnelltest ass gëeegent fir Flëssegkeets- oder Pulverbeschichtungen, Platten wéi Chrom, Zink, Kadmium oder Phosphat iwwer Stahl- oder Eisensubstrater. Beschichtungen wéi Faarwen oder Pudder méi déck wéi 0,1 mm si fir dës Method gëeegent. D'magnetesch Induktiounsmethod ass net gutt gëeegent fir Nickel iwwer Stahlbeschichtungen wéinst der deelweiser magnetescher Eegeschafte vum Nickel. Phaseempfindlech Eddy Stroummethod ass méi gëeegent fir dës Beschichtungen. Eng aner Zort Beschichtung wou d'magnetesch Induktiounsmethod ufälleg ass fir Versoen ass zink galvaniséierte Stol. D'Sond liest eng Dicke gläich mat der Gesamtdicke. Méi nei Modellinstrumenter si fäeg fir Selbstkalibratioun ze maachen andeems d'Substratmaterial duerch d'Beschichtung z'entdecken. Dëst ass natierlech ganz hëllefräich wann e bloe Substrat net verfügbar ass oder wann d'Substratmaterial onbekannt ass. Méi bëlleg Ausrüstungsversioune erfuerderen awer Kalibrierung vum Instrument op engem bloen an onbeschichtete Substrat. The Eddy Current Method of coating thickness measurement measures nonconductive coatings on nonconductive coatings on nonconductive metal coatings on nonconductive metal coatings on nonconductive metal coatings on nonferrous nonferrous nonferrous nonferrous metal coatings on conductive metal coatings on conductives nonferrous nonferrous metal coatings on conductive metal coatings on nonferrous nonferrous nonconductive coatings on nonconductive metal coatings on nonferrous nonferrous on conductive metal coatings on conductive metal coatings on nonferrous nonferrous nonferrous Et ass ähnlech wéi déi magnetesch induktiv Method, déi virdru erwähnt ass, déi eng Spule an ähnlech Sonden enthält. D'Spiral an der Eddy aktueller Method huet déi duebel Funktioun vun der Excitatioun a Miessung. Dës Sondespiral gëtt vun engem Héichfrequenz Oszillator ugedriwwe fir en alternéierend Héichfrequenzfeld ze generéieren. Wann se no bei engem metalleschen Dirigent plazéiert sinn, ginn Eddystroum am Dirigent generéiert. Impedanzännerung fënnt an der Sondespiral statt. D'Distanz tëscht der Sondespiral an dem konduktiven Substratmaterial bestëmmt de Betrag vun der Impedanzännerung, déi gemooss ka ginn, korreléiert mat enger Beschichtungsdicke an a Form vun enger digitaler Liesung ugewisen. Uwendungen enthalen flësseg oder Pudderbeschichtung op Aluminium an netmagnetescht Edelstol, an anodiséieren iwwer Aluminium. D'Zouverlässegkeet vun dëser Method hänkt vun der Geometrie vum Deel an der Dicke vun der Beschichtung of. De Substrat muss bekannt sinn ier Dir d'Liesunge maacht. Eddy Stroumsonde sollen net benotzt ginn fir netmagnetesch Beschichtungen iwwer magnetesche Substrate wéi Stol an Néckel iwwer Aluminiumsubstrater ze moossen. Wann d'Benotzer Beschichtungen iwwer magnetesch oder net-ferrous konduktiv Substrate moosse mussen, gi se am beschten mat enger duebeler magnetescher Induktioun / Eddy Stroum Gage zerwéiert, déi de Substrat automatesch erkennt. Eng drëtt Method, genannt the Coulometresch Method fir Beschichtungdickemiessung, ass eng destruktiv Testmethod déi vill wichteg Funktiounen huet. D'Messung vun den Duplex Nickelbeschichtungen an der Automobilindustrie ass eng vun hiren Haaptapplikatiounen. An der coulometrescher Method gëtt d'Gewiicht vun engem Gebitt vu bekannter Gréisst op enger metallescher Beschichtung duerch lokaliséiert anodesch Strippen vun der Beschichtung bestëmmt. D'Mass pro Eenheet Beräich vun der Beschichtungsdicke gëtt dann berechent. Dës Messung op der Beschichtung gëtt mat enger Elektrolysezelle gemaach, déi mat engem Elektrolyt gefüllt ass, dee speziell ausgewielt gëtt fir déi bestëmmte Beschichtung ze strippen. E konstante Stroum leeft duerch d'Testzell, a well d'Beschichtungsmaterial als Anode déngt, gëtt et deplatéiert. Déi aktuell Dicht an d'Uewerfläch sinn konstant, an dofir ass d'Beschichtungsdicke proportional zu der Zäit déi et hëlt fir d'Beschichtung ze strippen an ofzehuelen. Dës Method ass ganz nëtzlech fir elektresch konduktiv Beschichtungen op engem konduktiven Substrat ze moossen. D'Coulometresch Method kann och benotzt ginn fir d'Beschichtungsdicke vu ville Schichten op enger Probe ze bestëmmen. Zum Beispill kann d'Dicke vum Nickel a Kupfer op engem Deel mat enger Topbeschichtung vum Nickel an enger Zwëschenkofferbeschichtung op engem Stahlsubstrat gemooss ginn. En anert Beispill vun enger Multilayer Beschichtung ass Chrom iwwer Néckel iwwer Kupfer uewen op engem Plastikssubstrat. Coulometresch Testmethod ass populär bei Elektroplatéierungsanlagen mat enger klenger Unzuel vun zoufällegem Proben. Awer eng véiert Method ass d' Beta Backscatter Method fir d'Beschichtungsdicke ze moossen. E Beta-emittéierend Isotop bestraalt eng Testprobe mat Beta-Partikelen. E Strahl vu Beta-Partikel gëtt duerch eng Ouverture op de Beschichtete Bestanddeel geriicht, an en Undeel vun dëse Partikele ginn zréckstreet wéi erwaart vun der Beschichtung duerch d'Ëffnung fir an d'dënn Fënster vun engem Geiger Muller-Röhre ze penetréieren. De Gas am Geiger Muller Röhre ioniséiert, wat zu enger momentaner Entladung iwwert d'Röhreelektroden verursaacht. D'Entladung, déi a Form vun engem Puls ass, gëtt gezielt an an eng Beschichtungsdicke iwwersat. Materialer mat héijen Atomzuelen réckelen d'Beta-Partikel méi zréck. Fir eng Probe mat Kupfer als Substrat an enger Goldbeschichtung vu 40 Mikron déck sinn d'Beta-Partikele souwuel vum Substrat wéi och vum Beschichtungsmaterial verstreet. Wann d'Goldbeschichtungsdicke eropgeet, erhéicht d'Réckscatterrate och. D'Ännerung vum Taux vun de verspreete Partikel ass dofir eng Moossnam vun der Beschichtungsdicke. Uwendungen, déi fir d'Beta Backscatter Method gëeegent sinn, sinn déi, wou d'Atomzuel vun der Beschichtung an dem Substrat ëm 20 Prozent ënnerscheeden. Dozou gehéieren Gold, Sëlwer oder Zinn op elektronesche Komponenten, Beschichtungen op Maschinnen, Dekoratiounsbeschichtungen op Sanitär Ariichtungen, Dampbeschichtungen op elektronesche Komponenten, Keramik a Glas, organesch Beschichtungen wéi Ueleg oder Schmierstoff iwwer Metaller. D'Beta Backscatter Method ass nëtzlech fir décke Beschichtungen a fir Substrat & Beschichtungskombinatiounen wou magnetesch Induktioun oder Eddy aktuell Methoden net funktionnéieren. Ännerungen an Legierungen beaflossen d'Beta-Backscatter-Methode, a verschidde Isotopen a verschidde Kalibratioune kënnen erfuerderlech sinn fir ze kompenséieren. E Beispill wier Zinn / Bläi iwwer Kupfer, oder Zinn iwwer Phosphor / Bronze bekannt a gedréckte Circuitboards a Kontaktstiften, an an dëse Fäll wieren d'Verännerungen an Legierungen besser gemooss mat der méi deier Röntgenfluoreszenzmethod. The Röntgenfluoreszenzmethod fir d'Messung vun der Beschichtungdicke ass eng net-kontakt Method déi d'Miessung vun all klengen Deeler a ganz komplexe Beschichtungen erlaabt. Deeler sinn op Röntgenstrahlung ausgesat. E Kollimator konzentréiert d'Röntgenstrahlen op e genee definéiert Gebitt vum Testprobe. Dës Röntgenstrahlung verursaacht charakteristesch Röntgenstrahlung (dh Fluoreszenz) vu béide Beschichtung an de Substratmaterialien vum Testexemplar. Dës charakteristesch Röntgen Emissioun gëtt mat engem Energie dispersive Detektor festgestallt. Mat der entspriechender Elektronik ass et méiglech nëmmen d'Röntgen Emissioun vum Beschichtungsmaterial oder Substrat ze registréieren. Et ass och méiglech eng spezifesch Beschichtung selektiv z'entdecken wann Zwëschenschichten präsent sinn. Dës Technik gëtt vill op gedréckte Circuitboards, Bijouen an opteschen Komponenten benotzt. D'Röntgenfluoreszenz ass net gëeegent fir organesch Beschichtungen. D'Dicke vun der gemoosser Beschichtung däerf net méi wéi 0,5-0,8 Mills sinn. Wéi och ëmmer, am Géigesaz zu der Beta Backscatter Method, kann Röntgenfluoreszenz Beschichtungen mat ähnlechen Atomzuelen moossen (zum Beispill Nickel iwwer Kupfer). Wéi virdru scho gesot, beaflossen verschidden Legierungen d'Kalibrierung vun engem Instrument. Analyse vun der Basismaterial an der Beschichtungsdicke si kritesch fir Präzisiounslesungen ze garantéieren. Haut Systemer a Software Programmer reduzéieren de Besoin fir Multiple Kalibratiounen ouni Qualitéit Affer. Schlussendlech ass et derwäert ze ernimmen datt et Gages sinn déi a verschiddene vun den uewe genannte Modi funktionnéiere kënnen. E puer hunn eraushuelbare Sonden fir Flexibilitéit beim Gebrauch. Vill vun dëse modernen Instrumenter bidden statistesch Analysefäegkeeten fir Prozesskontrolle a minimale Kalibrierungsufuerderunge och wann se op ënnerschiddlech geformte Flächen oder verschiddene Materialien benotzt ginn.

​

SURFACE ROUGHNESS TESTERS : D'Uewerflächenrauheet gëtt quantifizéiert duerch d'Ofwäichungen an d'Richtung vum normale Vektor vun enger Uewerfläch vu senger idealer Form. Wann dës Ofwäichunge grouss sinn, gëtt d'Uewerfläch als rau ugesinn; wa se kleng sinn, gëtt d'Uewerfläch als glat ugesinn. Kommerziell verfügbar Instrumenter genannt SURFACE PROFILOMETERS  gi benotzt fir d'Uewerflächenrauheet ze moossen an ze notéieren. Ee vun den allgemeng benotzten Instrumenter weist en Diamant Stylus laanscht eng riicht Linn iwwer d'Uewerfläch reest. D'Opnaminstrumenter si fäeg fir all Surface Waviness ze kompenséieren an nëmmen Rauhegkeet ze weisen. Surface Rauhegkeet kann duerch a.) Interferometrie a b.) Optesch Mikroskopie, Scannen-Elektronenmikroskopie, Laser oder Atomkraaftmikroskopie (AFM) observéiert ginn. Mikroskopietechnike si besonnesch nëtzlech fir ganz glat Flächen ze bilden, fir déi Features net vu manner sensibel Instrumenter erfaasst kënne ginn. Stereoskopesch Fotoe si nëtzlech fir 3D Vue vun Flächen a kënne benotzt ginn fir d'Uewerflächenrauheet ze moossen. 3D Uewerfläch Miessunge kënnen duerch dräi Methoden ausgefouert ginn. Light from an optical-interference microscope shines against a reflective surface and records the interference fringes resulting from the incident and reflected waves. Laser profilometers_cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ ginn benotzt fir Flächen duerch entweder interferometresch Techniken ze moossen oder andeems en objektiv Objektiv beweegt fir eng konstant Brennwäit iwwer eng Uewerfläch ze halen. D'Bewegung vun der Lens ass dann e Mooss vun der Uewerfläch. Schlussendlech gëtt déi drëtt Method, nämlech de atomic-force Mikroskop, benotzt fir extrem glat Flächen op der atomarer Skala ze moossen. An anere Wierder mat dëser Ausrüstung kënne souguer Atomer op der Uewerfläch ënnerscheeden. Dës raffinéiert a relativ deier Ausrüstung scannt Beräicher vu manner wéi 100 Mikron Quadrat op Exemplarflächen.

​

GLOSSMETER, COLOR READERS, COLOR DIFFERENCE METER : A GLOSSMETER d'Spemea Reflexiounsfläche. Eng Mooss fir Glanz gëtt kritt andeems e Liichtstrahl mat fixer Intensitéit a Wénkel op eng Uewerfläch projizéiert an de reflektéierte Betrag an engem gläiche, awer entgéintgesate Wénkel moosst. Glossmeter gi benotzt op verschidde Materialien wéi Faarwen, Keramik, Pabeier, Metall a Plastikproduktoberflächen. Glanzmessung kann Firmen déngen fir d'Qualitéit vun hire Produkter ze garantéieren. Gutt Fabrikatiounspraktiken erfuerderen Konsistenz a Prozesser an dëst enthält konsequent Uewerflächefinanz an Erscheinung. Glanzmiessunge gi bei enger Rei vu verschiddene Geometrie duerchgefouert. Dëst hänkt vum Uewerflächmaterial of. Zum Beispill Metaller hunn héich Reflexiounsniveauen an dofir ass d'Wénkelofhängegkeet manner am Verglach mat Net-Metaller wéi Beschichtungen a Plastik, wou Wénkelofhängegkeet méi héich ass wéinst diffuser Streuung an Absorptioun. Beliichtung Quell an Observatioun Empfang Wénkel Configuratioun erlaabt Miessunge iwwer eng kleng Gamme vun der allgemeng Reflexioun Wénkel. D'Miessresultater vun engem Glanzmeter si mat der Quantitéit u reflektéiertem Liicht aus engem schwaarze Glasstandard mat engem definéierte Brechungsindex verbonnen. De Verhältnis vum reflektéierte Liicht zum Incident Liicht fir d'Testprobe, am Verglach zum Verhältnis fir de Glanzstandard, gëtt als Glanzunitéiten (GU) opgeholl. Miesswénkel bezitt sech op de Wénkel tëscht dem Tëschefall a reflektéiertem Liicht. Dräi Miesswénkel (20 °, 60 ° an 85 °) gi fir déi meescht industriell Beschichtungen benotzt.

​

De Wénkel gëtt ausgewielt baséiert op der erwaart Glanzbereich an déi folgend Aktiounen ginn ofhängeg vun der Messung geholl:

 

Glanzbereich..........60° Wäert.......Aktioun

 

Héichglanz............>70 GU..........Wann d'Messung méi wéi 70 GU ass, ännert d'Testopstellung op 20° fir d'Messgenauegkeet ze optimiséieren.

 

Mëttelglanz........10 - 70 GU

 

Niddereg Glanz.............<10 GU..........Wann d'Miessung manner wéi 10 GU ass, ännert d'Testopstellung op 85° fir d'Messgenauegkeet ze optimiséieren.

​

Dräi Zorte vun Instrumenter sinn kommerziell sinn: 60 ° Single Wénkel Instrumenter, eng duebel-Wénkel Typ datt kombinéiert 20 ° an 60 ° an engem Triple-Wénkel Typ datt kombinéiert 20 °, 60 ° an 85 °. Zwee zousätzlech Wénkel gi fir aner Materialien benotzt, de Wénkel vu 45 ° gëtt fir d'Messung vu Keramik, Filmer, Textilien an anodiséiertem Aluminium spezifizéiert, während de Messwinkel 75 ° fir Pabeier a gedréckte Materialien spezifizéiert ass. A COLOR READER or also referred to as COLORIMETER is a device that measures the absorbance of particular wavelengths of light by eng spezifesch Léisung. Colorimeters gi meeschtens benotzt fir d'Konzentratioun vun enger bekannter Léisung an enger bestëmmter Léisung ze bestëmmen duerch d'Applikatioun vum Beer-Lambert Gesetz, wat seet datt d'Konzentratioun vun engem Solut proportional zu der Absorptioun ass. Eis portable Faarf Lieser kënnen och op Plastik, Molerei, Plating, Textilien, Dréckerei, Faarf maachen, Liewensmëttel wéi Botter, Fritten, Kaffi, Bäckereien an Tomaten ... asw. Si kënne vun Amateuren benotzt ginn, déi keng berufflech Wëssen iwwer Faarwen hunn. Well et vill Aarte vu Faarflieser sinn, sinn d'Applikatiounen endlos. An der Qualitéitskontroll gi se haaptsächlech benotzt fir ze garantéieren datt Proben bannent Faarftoleranze falen vum Benotzer. Fir Iech e Beispill ze ginn, ginn et Handheld Tomate Kolorimeter déi en USDA guttgeheescht Index benotze fir d'Faarf vu veraarbechte Tomateprodukter ze moossen an ze klasséieren. Nach en anert Beispill sinn Handheld Kaffi Colorimeter speziell entwéckelt fir d'Faarf vu ganz grénge Bounen, geréischterte Bounen a geréischten Kaffi mat Industriestandard Miessunge ze moossen. Our COLOR DIFFERENCE METERS display direkt Faarfdifferenz duerch E*ab, L*a*b*c*c*IE, CIE_a*b, CIE_A Standarddeviatioun ass bannent E * ab0.2 Si schaffen op all Faarf an Testen dauert nëmmen Sekonnen Zäit.

​

METALLURGICAL MICROSCOPES and INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPE : Metallurgical microscope is usually an optical microscope, but differs from others in the method of the specimen illumination. Metaller sinn opak Substanzen an dofir musse se duerch frontal Beliichtung beliicht ginn. Dofir ass d'Quell vum Liicht am Mikroskopröhre lokaliséiert. Am Röhre installéiert ass en einfachen Glasreflektor. Typesch Vergréisserunge vu metallurgesche Mikroskope sinn am x50 - x1000 Beräich. Hell Feldbeleuchtung gëtt benotzt fir Biller mat hellem Hannergrond an donkelen net-flacher Strukturfeatures wéi Poren, Kanten an Ätzte Kärgrenzen ze produzéieren. Däischter Feldbeleuchtung gëtt benotzt fir Biller mat donkelen Hannergrond an helle net-flaache Strukturfeatures wéi Poren, Kanten an Ätze Kärgrenzen ze produzéieren. Polariséiert Liicht gëtt benotzt fir Metaller mat net-kubescher Kristallstruktur ze gesinn wéi Magnesium, Alpha-Titan an Zink, reagéiert op Kräizpolariséiert Liicht. Polariséiert Liicht gëtt produzéiert vun engem Polarisator, dee virum Illuminator an dem Analysator läit a virun dem Okular plazéiert ass. E Nomarsky Prisma gëtt fir Differentialinterferenzkontrastsystem benotzt, wat et méiglech mécht Features ze beobachten, déi net am helle Feld siichtbar sinn. INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPES_cc781905-5cde-3b-f dens Source on top , iwwer d'Bühn weist no ënnen, während d'Ziler an den Turret ënner der Bühn weisen. Inverted Mikroskope sinn nëtzlech fir Features um Buedem vun engem grousse Container ënner méi natierleche Bedéngungen ze beobachten wéi op engem Glas Rutsch, sou wéi et de Fall ass mat engem konventionelle Mikroskop. Inverted Mikroskope ginn a metallurgeschen Uwendungen benotzt, wou poléiert Proben uewen op der Bühn plazéiert kënne ginn a vun ënnen mat reflektéierten Objektiver gekuckt ginn an och a Mikromanipulatiounsapplikatiounen, wou Plaz iwwer dem Exemplar erfuerderlech ass fir Manipulatormechanismen an d'Mikrotools déi se halen.

​

Hei ass e kuerze Resumé vun e puer vun eisen Testinstrumenter fir d'Evaluatioun vun Flächen a Beschichtungen. Dir kënnt d'Detailer vun dësen eroflueden aus de Produktkataloglinks hei uewen.

​

Surface Roughness Tester SADT RoughScan : Dëst ass e portable, Batterie-ugedriwwen Instrument fir d'Uewerflächenrauheet ze kontrolléieren mat de gemoossene Wäerter, déi op enger digitaler Liesung ugewise ginn. D'Instrument ass einfach ze benotzen a kann am Labo, Fabrikatiounsëmfeld, a Geschäfter benotzt ginn, a wou och ëmmer Uewerflächenrauheetstestung erfuerderlech ass.

​

SADT GT SERIES Glanz Meter : GT Serie Glanz Meter sinn entworf a fabrizéiert no international Normen ISO2813, ASTMD523 an DIN67530. Déi technesch Parameter entspriechen JJG696-2002. De GT45 Glanzmeter ass speziell entwéckelt fir Plastikfilmer a Keramik ze moossen, kleng Flächen a kromme Flächen.

​

SADT GMS/GM60 SERIES Glanzmeter : Dës Glanzmeter sinn entworf a fabrizéiert no internationale Standarden ISO2813, ISO7668, ASTM D523, ASTM D2457. Déi technesch Parameter entspriechen och JJG696-2002. Eis GM Serie Glanzmeter si gutt gëeegent fir Molerei, Beschichtung, Plastik, Keramik, Liederprodukter, Pabeier, gedréckte Materialien, Buedembedeckungen ... asw. Et huet en attraktiven a userfrëndlechen Design, dräi Wénkel Glanzdaten ginn gläichzäiteg ugewisen, grousst Gedächtnis fir Miessdaten, lescht Bluetooth Funktioun an eraushuelbare Memory Card fir Daten bequem ze vermëttelen, speziell Glanzsoftware fir Datenausgang ze analyséieren, niddereg Batterie a Gedächtnisvoll Indikator. Duerch intern Bluetooth Modul an USB Interface kënnen GM Glanzmeter Daten op PC transferéieren oder op Drécker exportéiert iwwer Dréckerinterface. Wann Dir optional SD Kaarten benotzt, kann d'Erënnerung sou vill wéi néideg verlängert ginn.

​

Precise Color Reader SADT SC 80 : Dëse Faarfleser gëtt meeschtens op Plastik, Biller,, Platen, Textilien & Kostümer, gedréckte Produkter an an der Faarffabrikatiounsindustrie benotzt. Et ass fäeg Faarfanalyse auszeféieren. Den 2,4 Zoll Faarfbildschierm a portable Design bitt bequem Benotzung. Dräi Aarte vu Liichtquellen fir Benotzerauswiel, SCI an SCE Modusschalter a Metamerismusanalyse erfëllen Är Testbedürfnisser ënner verschiddenen Aarbechtsbedingungen. Toleranzastellung, Auto-Riichter Faarfdifferenzwäerter a Faarfdeviatiounsfunktiounen maachen Iech d'Faarf einfach ze bestëmmen, och wann Dir kee beruffleche Wëssen iwwer Faarwen hutt. Mat professionelle Faarfanalysesoftware kënnen d'Benotzer d'Faarfdatenanalyse ausféieren a Faarfdifferenzen op den Ausgangsdiagrammer beobachten. Optional Mini Drécker erlaabt d'Benotzer d'Faarfdaten op der Plaz auszedrécken.

​

Portable Faarfdifferenz Meter SADT SC 20 : Dëse portable Faarfdifferenzmeter gëtt wäit an der Qualitéitskontroll vu Plastiks- a Drockprodukter benotzt. Et gëtt benotzt fir Faarf effizient a präzis opzehuelen. Einfach ze bedreiwen, weist Faarfdifferenz duerch E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h., Standardabweichung bannent E*ab0.2, et kann mam Computer duerch d'USB-Expansioun verbonne sinn Interface fir Inspektioun duerch Software.

​

Metallurgesch Mikroskop SADT SM500 : Et ass e selbstänneg portable metallurgesche Mikroskop ideal fir metallographesch Evaluatioun vu Metaller am Labo oder op der Plaz. Portable Design an eenzegaartege magnetesche Stand, de SM500 kann direkt géint d'Uewerfläch vu Ferrometalle bei all Wénkel, Flaachheet, Krümmung an Uewerflächkomplexitéit fir net-zerstéierend Untersuchung befestegt ginn. De SADT SM500 kann och mat Digitalkamera oder CCD Bildveraarbechtungssystem benotzt ginn fir metallurgesch Biller op PC erofzelueden fir Datentransfer, Analyse, Lagerung an Drock. Et ass am Fong e portable metallurgesche Laboratoire, mat Probepräparatioun op der Plaz, Mikroskop, Kamera a kee Besoin fir AC Energieversuergung am Feld. Natierlech Faarwen ouni d'Bedierfnes fir d'Liicht z'änneren andeems d'LED Beliichtung dimmt gëtt dat bescht Bild dat zu all Moment observéiert gëtt. Dëst Instrument huet optional Accessoiren inklusiv zousätzlech Stand fir kleng Proben, Digital Kamera Adapter mat Okular, CCD mat Interface, Okular 5x/10x/15x/16x, Objektiv 4x/5x/20x/25x/40x/100x, Mini Grinder, Elektrolytesch Polier, eng Rei vun Rad Kapp, poléieren Stoff Rad, Replica Film, Filter (gréng, blo, giel), Knollen.

​

Portable Metallurgraphesch Mikroskop SADT Modell SM-3 : Dëst Instrument bitt eng speziell magnetesch Basis, fixéiert d'Eenheet fest op d'Aarbechtsstécker, et ass gëeegent fir grouss Rollentest an direkt Observatioun, kee Schneiden an Echantillon néideg, LED Beliichtung, eenheetlech Faarf Temperatur, keng Heizung, no vir / zréck a lénks / riets Beweegungsmechanismus, praktesch fir Upassung vum Inspektiounspunkt, Adapter fir Digitalkameraen ze verbannen an d'Opzeechnunge direkt op PC ze observéieren. Optional Accessoiren sinn ähnlech wéi de SADT SM500 Modell. Fir Detailer, download w.e.g. Produktkatalog vum Link hei uewen.

​

Metallurgesche Mikroskop SADT Modell XJP-6A : Dëse Metalloskop kann einfach an Fabriken, Schoulen, wëssenschaftleche Fuerschungsinstituter benotzt ginn fir d'Mikrostruktur vun all Zorte vu Metaller an Legierungen z'identifizéieren an ze analyséieren. Et ass dat idealt Tool fir Metallmaterialien ze testen, d'Qualitéit vu Guss z'iwwerpréiwen an d'metallographesch Struktur vun de metalliséierte Materialien ze analyséieren.

​

Inverted Metallographic Microscope SADT Model SM400 : Den Design mécht méiglech Inspektioun vu Käre vu metallurgesche Proben. Einfach Installatioun an der Produktiounslinn an einfach ze droen. De SM400 ass gëeegent fir Colleges a Fabriken. En Adapter fir d'Digitalkamera un den Trinokuläre Röhre ze befestigen ass och verfügbar. Dëse Modus brauch MI vun der metallographic Bild Dréckerei mat fixen Gréissten. Mir hunn eng Auswiel vun CCD adapters fir Computer Drécken mat Standard Vergréisserung an iwwer 60% Observatioun Vue.

​

Inverted Metallographic Microscope SADT Model SD300M : Onendlech Fokusoptik liwwert héichopléisende Biller. Laang Distanz Gesiichtsobjektiv, 20 mm breet Gesiichtsfeld, dräi-Plack mechanesch Bühn akzeptéiert bal all Probegréisst, schwéier Lasten an erlaabt net-destruktiv Mikroskopuntersuchung vu grousse Komponenten. D'Drei-Plack Struktur bitt de Mikroskop Stabilitéit an Haltbarkeet. D'Optik bitt héich NA a laang Siichtdistanz, liwwert helle, héichopléisende Biller. Déi nei optesch Beschichtung vum SD300M ass Staub- a Feuchtbeständeg.

​

Fir Detailer an aner ähnlech Ausrüstung, besicht w.e.g. eis Equipement Websäit: http://www.sourceindustrialsupply.com