Antara instrumen ujian kami untuk salutan dan penilaian permukaan ialah METER KETEBALAN PELAPATAN, PENGUJI KEKASAR PERMUKAAN, METER KILAAN, PEMBACA WARNA, METER PERBEZAAN WARNA, MICROSCOT COATING METER, MICROSCOURTED METER. Fokus utama kami ialah pada KAEDAH UJIAN TIDAK MEROSAK. Kami membawa jenama berkualiti tinggi seperti SADTand MITECH.

 

Peratusan besar semua permukaan di sekeliling kita bersalut. Salutan mempunyai banyak tujuan termasuk penampilan yang baik, perlindungan dan memberikan produk fungsi tertentu yang diingini seperti menghalau air, geseran yang dipertingkatkan, rintangan haus dan lelasan….dsb. Oleh itu adalah amat penting untuk berkebolehan untuk mengukur, menguji dan menilai sifat dan kualiti salutan dan permukaan produk. Salutan boleh dikategorikan secara amnya kepada dua kumpulan utama jika ketebalan diambil kira: THICK FILM_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d19d58d_90d38d_90d_90d_90d_90d_bd58d_90d_bd13d5d1bd5d1bd1bd5d1bd5bd5bf

​

Untuk memuat turun katalog untuk metrologi dan peralatan ujian jenama SADT kami, sila KLIK DI SINI.  Dalam katalog ini anda akan menemui beberapa instrumen ini untuk penilaian permukaan dan salutan.

​

Untuk memuat turun risalah Coating Thickness Gauge Mitech Model MCT200, sila KLIK DI SINI.

​

Beberapa instrumen dan teknik yang digunakan untuk tujuan tersebut ialah:

 

METER KETEBALAN LAPUTAN : Jenis salutan yang berbeza memerlukan jenis penguji salutan yang berbeza. Oleh itu, pemahaman asas tentang pelbagai teknik adalah penting bagi pengguna untuk memilih peralatan yang betul. Dalam the Kaedah Aruhan Magnetik ukuran ketebalan salutan kami mengukur salutan bukan magnetik ke atas substrat bukan magnetik ferus dan substrat bukan magnetik Probe diletakkan pada sampel dan jarak linear antara hujung probe yang menyentuh permukaan dan substrat asas diukur. Di dalam probe pengukuran adalah gegelung yang menghasilkan medan magnet yang berubah-ubah. Apabila probe diletakkan pada sampel, ketumpatan fluks magnet medan ini diubah oleh ketebalan salutan magnetik atau kehadiran substrat magnetik. Perubahan dalam kearuhan magnet diukur oleh gegelung sekunder pada probe. Output gegelung sekunder dipindahkan ke mikropemproses, di mana ia ditunjukkan sebagai ukuran ketebalan salutan pada paparan digital. Ujian pantas ini sesuai untuk salutan cecair atau serbuk, penyaduran seperti krom, zink, kadmium atau fosfat di atas substrat keluli atau besi. Salutan seperti cat atau serbuk yang lebih tebal daripada 0.1 mm sesuai untuk kaedah ini. Kaedah aruhan magnet tidak sesuai untuk salutan nikel atas keluli kerana sifat magnet separa nikel. Kaedah arus Eddy peka fasa lebih sesuai untuk salutan ini. Satu lagi jenis salutan di mana kaedah aruhan magnet terdedah kepada kegagalan ialah keluli tergalvani zink. Probe akan membaca ketebalan yang sama dengan jumlah ketebalan. Instrumen model yang lebih baru mampu penentukuran sendiri dengan mengesan bahan substrat melalui salutan. Ini sudah tentu sangat membantu apabila substrat kosong tidak tersedia atau apabila bahan substrat tidak diketahui. Versi peralatan yang lebih murah memerlukan penentukuran instrumen pada substrat kosong dan tidak bersalut. The Eddy Current Kaedah pengukuran ketebalan salutan measures salutan bukan konduktif pada salutan bukan konduktif logam bukan ferus pada substrat bukan konduktif logam bukan ferus pada substrat bukan konduktif logam, bukan ferus. Ia adalah serupa dengan kaedah induktif magnet yang dinyatakan sebelum ini yang mengandungi gegelung dan probe yang serupa. Gegelung dalam kaedah arus Eddy mempunyai fungsi dwi pengujaan dan pengukuran. Gegelung probe ini digerakkan oleh pengayun frekuensi tinggi untuk menjana medan frekuensi tinggi berselang-seli. Apabila diletakkan berhampiran konduktor logam, arus pusar dijana dalam konduktor. Perubahan impedans berlaku dalam gegelung probe. Jarak antara gegelung probe dan bahan substrat konduktif menentukan jumlah perubahan impedans, yang boleh diukur, dikaitkan dengan ketebalan salutan dan dipaparkan dalam bentuk bacaan digital. Aplikasi termasuk salutan cecair atau serbuk pada aluminium dan keluli tahan karat bukan magnetik, dan anodize pada aluminium. Kebolehpercayaan kaedah ini bergantung pada geometri bahagian dan ketebalan salutan. Substrat perlu diketahui sebelum mengambil bacaan. Kuar arus pusar tidak boleh digunakan untuk mengukur salutan bukan magnet ke atas substrat magnet seperti keluli dan nikel ke atas substrat aluminium. Jika pengguna mesti mengukur salutan di atas substrat konduktif magnetik atau bukan ferus, ia akan disediakan dengan sebaik-baiknya dengan aruhan magnet dwi/ tolok arus Eddy yang mengecam substrat secara automatik. Kaedah ketiga, yang dipanggil the Coulometrik kaedah pengukuran ketebalan lapisan, ialah kaedah ujian yang merosakkan yang mempunyai banyak fungsi penting. Mengukur salutan nikel dupleks dalam industri automotif adalah salah satu aplikasi utamanya. Dalam kaedah coulometrik, berat kawasan yang diketahui saiznya pada salutan logam ditentukan melalui pelucutan anodik setempat salutan. Kawasan jisim per unit ketebalan salutan kemudiannya dikira. Pengukuran pada salutan ini dibuat menggunakan sel elektrolisis, yang diisi dengan elektrolit yang dipilih khusus untuk menanggalkan salutan tertentu. Arus malar mengalir melalui sel ujian, dan oleh kerana bahan salutan berfungsi sebagai anod, ia akan berkurangan. Ketumpatan arus dan luas permukaan adalah malar, dan oleh itu ketebalan salutan adalah berkadar dengan masa yang diperlukan untuk menanggalkan dan menanggalkan salutan. Kaedah ini sangat berguna untuk mengukur salutan konduktif elektrik pada substrat konduktif. Kaedah Coulometrik juga boleh digunakan untuk menentukan ketebalan salutan berbilang lapisan pada sampel. Sebagai contoh, ketebalan nikel dan kuprum boleh diukur pada bahagian dengan salutan atas nikel dan salutan kuprum perantaraan pada substrat keluli. Satu lagi contoh salutan berbilang lapisan ialah krom atas nikel atas tembaga di atas substrat plastik. Kaedah ujian koulometri adalah popular dalam loji penyaduran elektrik dengan sebilangan kecil sampel rawak. Namun kaedah keempat ialah kaedah Beta Backscatter untuk mengukur ketebalan salutan. Isotop pemancar beta menyinari sampel ujian dengan zarah beta. Pancaran zarah beta diarahkan melalui apertur ke komponen bersalut, dan sebahagian daripada zarah ini diserakkan ke belakang seperti yang dijangkakan daripada salutan melalui apertur untuk menembusi tingkap nipis tiub Geiger Muller. Gas dalam tiub Geiger Muller terion, menyebabkan pelepasan seketika merentasi elektrod tiub. Nyahcas yang dalam bentuk nadi dikira dan diterjemahkan kepada ketebalan salutan. Bahan dengan nombor atom yang tinggi menyerakkan kembali zarah beta lebih banyak. Untuk sampel dengan kuprum sebagai substrat dan salutan emas setebal 40 mikron, zarah beta diserakkan oleh kedua-dua substrat dan bahan salutan. Jika ketebalan lapisan emas meningkat, kadar serakan belakang juga meningkat. Oleh itu, perubahan dalam kadar zarah yang bertaburan adalah ukuran ketebalan salutan. Aplikasi yang sesuai untuk kaedah serakan balik beta ialah aplikasi yang nombor atom salutan dan substrat berbeza sebanyak 20 peratus. Ini termasuk emas, perak atau timah pada komponen elektronik, salutan pada alatan mesin, saduran hiasan pada lekapan paip, salutan terdeposit wap pada komponen elektronik, seramik dan kaca, salutan organik seperti minyak atau pelincir di atas logam. Kaedah beta backscatter berguna untuk salutan yang lebih tebal dan untuk gabungan substrat & salutan yang kaedah aruhan magnet atau arus Eddy tidak akan berfungsi. Perubahan dalam aloi menjejaskan kaedah serakan balik beta, dan isotop yang berbeza dan penentukuran berbilang mungkin diperlukan untuk mengimbangi. Contohnya ialah timah/plumbum di atas kuprum, atau timah di atas fosforus/gangsa yang terkenal dalam papan litar bercetak dan pin sesentuh, dan dalam kes ini perubahan dalam aloi akan lebih baik diukur dengan kaedah pendarfluor sinar-X yang lebih mahal. The Kaedah pendarfluor sinar-X untuk mengukur ketebalan salutan merupakan kaedah tidak bersentuhan berbilang lapisan yang membenarkan ukuran salutan yang sangat nipis dan kompleks. Bahagian terdedah kepada sinaran X. Kolimator memfokuskan sinar-X pada kawasan spesimen ujian yang ditakrifkan dengan tepat. Sinaran-X ini menyebabkan pancaran sinar-X berciri (iaitu, pendarfluor) daripada kedua-dua salutan dan bahan substrat bagi spesimen ujian. Pelepasan sinar-X ciri ini dikesan dengan pengesan penyebaran tenaga. Menggunakan elektronik yang sesuai, adalah mungkin untuk mendaftarkan hanya pelepasan sinar-X daripada bahan salutan atau substrat. Ia juga mungkin untuk mengesan salutan tertentu secara terpilih apabila terdapat lapisan perantaraan. Teknik ini digunakan secara meluas pada papan litar bercetak, barang kemas dan komponen optik. Pendarfluor sinar-X tidak sesuai untuk salutan organik. Ketebalan salutan yang diukur tidak boleh melebihi 0.5-0.8 mil. Walau bagaimanapun, tidak seperti kaedah serakan balik beta, pendarfluor sinar-X boleh mengukur salutan dengan nombor atom yang serupa (contohnya nikel atas kuprum). Seperti yang dinyatakan sebelum ini, aloi yang berbeza mempengaruhi penentukuran instrumen. Menganalisis bahan asas dan ketebalan salutan adalah penting untuk memastikan bacaan ketepatan. Sistem dan program perisian masa kini mengurangkan keperluan untuk penentukuran berbilang tanpa mengorbankan kualiti. Akhir sekali, perlu dinyatakan bahawa terdapat tolok yang boleh beroperasi dalam beberapa mod yang disebutkan di atas. Sesetengahnya mempunyai probe boleh tanggal untuk fleksibiliti dalam penggunaan. Kebanyakan instrumen moden ini menawarkan keupayaan analisis statistik untuk kawalan proses dan keperluan penentukuran minimum walaupun digunakan pada permukaan berbentuk berbeza atau bahan berbeza.

​

PENGUJI KEKASARAN PERMUKAAN : Kekasaran permukaan dikira dengan sisihan ke arah vektor normal permukaan daripada bentuk idealnya. Jika sisihan ini besar, permukaan dianggap kasar; jika mereka kecil, permukaannya dianggap licin. Instrumen tersedia secara komersial dipanggil PROFILOMETER PERMUKAAN digunakan untuk mengukur dan merekod kekasaran permukaan. Salah satu instrumen yang biasa digunakan mempunyai stylus berlian yang bergerak sepanjang garis lurus di atas permukaan. Instrumen rakaman mampu mengimbangi sebarang gelombang permukaan dan hanya menunjukkan kekasaran. Kekasaran permukaan boleh diperhatikan melalui a.) Interferometri dan b.) Mikroskopi optik, mikroskopi-elektron pengimbasan, laser atau mikroskopi daya atom (AFM). Teknik mikroskop amat berguna untuk pengimejan permukaan yang sangat licin yang ciri-cirinya tidak dapat ditangkap oleh instrumen yang kurang sensitif. Gambar stereoskopik berguna untuk paparan 3D permukaan dan boleh digunakan untuk mengukur kekasaran permukaan. Pengukuran permukaan 3D boleh dilakukan dengan tiga kaedah. Light from an optical-interference microscope shines against a reflective surface and records the interference fringes resulting from the incident and reflected waves. Laser profilometers_cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_digunakan untuk mengukur permukaan sama ada melalui teknik interferometrik atau dengan menggerakkan kanta objektif untuk mengekalkan jarak fokus yang tetap di atas permukaan. Pergerakan kanta kemudiannya adalah ukuran permukaan. Akhir sekali, kaedah ketiga, iaitu the atomic-force microscope, digunakan untuk mengukur permukaan yang sangat licin pada skala atom. Dalam erti kata lain dengan peralatan ini walaupun atom di permukaan boleh dibezakan. Peralatan yang canggih dan agak mahal ini mengimbas kawasan kurang daripada 100 mikron persegi pada permukaan spesimen.

​

METER GLOSS, PEMBACA WARNA, METER PERBEZAAN WARNA : A ukuran pantulan specular bagi permukaan GLOSSMETER Ukuran kilauan diperoleh dengan memancarkan pancaran cahaya dengan keamatan dan sudut tetap pada permukaan dan mengukur jumlah pantulan pada sudut yang sama tetapi bertentangan. Glossmeters digunakan pada pelbagai bahan seperti cat, seramik, kertas, logam dan permukaan produk plastik. Mengukur gloss boleh memberi perkhidmatan kepada syarikat dalam memastikan kualiti produk mereka. Amalan pembuatan yang baik memerlukan konsistensi dalam proses dan ini termasuk kemasan dan penampilan permukaan yang konsisten. Pengukuran kilauan dijalankan pada beberapa geometri yang berbeza. Ini bergantung kepada bahan permukaan. Contohnya logam mempunyai tahap pantulan yang tinggi dan oleh itu kebergantungan sudut adalah kurang berbanding dengan bukan logam seperti salutan dan plastik di mana kebergantungan sudut lebih tinggi disebabkan oleh serakan dan penyerapan yang meresap. Sumber pencahayaan dan konfigurasi sudut penerimaan pemerhatian membolehkan pengukuran pada julat kecil sudut pantulan keseluruhan. Hasil pengukuran glossmeter adalah berkaitan dengan jumlah cahaya yang dipantulkan daripada standard kaca hitam dengan indeks biasan yang ditentukan. Nisbah cahaya yang dipantulkan kepada cahaya kejadian untuk spesimen ujian, berbanding nisbah untuk standard gloss, direkodkan sebagai unit gloss (GU). Sudut pengukuran merujuk kepada sudut antara kejadian dan cahaya yang dipantulkan. Tiga sudut ukuran (20°, 60°, dan 85°) digunakan untuk kebanyakan salutan industri.

​

Sudut dipilih berdasarkan julat gloss yang dijangkakan dan tindakan berikut diambil bergantung pada pengukuran:

 

Julat Gloss..........60° Nilai.......Tindakan

 

Gloss Tinggi............>70 GU..........Jika ukuran melebihi 70 GU, tukar persediaan ujian kepada 20° untuk mengoptimumkan ketepatan pengukuran.

 

Kilat Sederhana........10 - 70 GU

 

Kilauan Rendah.............<10 GU..........Jika ukuran kurang daripada 10 GU, tukar persediaan ujian kepada 85° untuk mengoptimumkan ketepatan pengukuran.

​

Tiga jenis instrumen boleh didapati secara komersil: 60° instrumen sudut tunggal, jenis dua sudut yang menggabungkan 20° dan 60° dan jenis tiga sudut yang menggabungkan 20°, 60° dan 85°. Dua sudut tambahan digunakan untuk bahan lain, sudut 45° ditentukan untuk pengukuran seramik, filem, tekstil dan aluminium anodized, manakala sudut ukuran 75° ditentukan untuk kertas dan bahan bercetak. A COLOR READER or also referred to as COLORIMETER is a device that measures the absorbance of particular wavelengths of light by penyelesaian tertentu. Colorimeters paling biasa digunakan untuk menentukan kepekatan zat terlarut yang diketahui dalam larutan tertentu dengan menggunakan hukum Beer-Lambert, yang menyatakan bahawa kepekatan zat terlarut adalah berkadar dengan penyerapan. Pembaca warna mudah alih kami juga boleh digunakan pada plastik, lukisan, penyaduran, tekstil, percetakan, pembuatan pewarna, makanan seperti mentega, kentang goreng, kopi, produk bakar dan tomato….dsb. Ia boleh digunakan oleh amatur yang tidak mempunyai pengetahuan profesional tentang warna. Oleh kerana terdapat banyak jenis pembaca warna, aplikasinya tidak berkesudahan. Dalam kawalan kualiti ia digunakan terutamanya untuk memastikan sampel berada dalam toleransi warna yang ditetapkan oleh pengguna. Untuk memberi anda contoh, terdapat colorimeter tomato pegang tangan yang menggunakan indeks yang diluluskan USDA untuk mengukur dan menggredkan warna produk tomato yang diproses. Satu lagi contoh ialah kolorimeter kopi pegang tangan yang direka khusus untuk mengukur warna keseluruhan kacang hijau, kacang panggang dan kopi panggang menggunakan ukuran standard industri. Our METER PERBEZAAN WARNA memaparkan terus perbezaan warna oleh E*ab, L*a*b*, CIE_L*a*, CIE*h*a* Sisihan piawai berada dalam E*ab0.2 Ia berfungsi pada sebarang warna dan ujian mengambil masa beberapa saat sahaja.

​

METALLURGICAL MICROSCOPES and INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPE : Metallurgical microscope is usually an optical microscope, but differs from others in the method of the specimen illumination. Logam adalah bahan legap dan oleh itu ia mesti diterangi oleh pencahayaan hadapan. Oleh itu sumber cahaya terletak di dalam tiub mikroskop. Dipasang di dalam tiub adalah pemantul kaca biasa. Pembesaran biasa mikroskop metalurgi adalah dalam julat x50 – x1000. Pencahayaan medan terang digunakan untuk menghasilkan imej dengan latar belakang terang dan ciri struktur tidak rata yang gelap seperti liang, tepi dan sempadan butiran terukir. Pencahayaan medan gelap digunakan untuk menghasilkan imej dengan latar belakang gelap dan ciri struktur tidak rata yang terang seperti liang, tepi dan sempadan butiran terukir. Cahaya terkutub digunakan untuk melihat logam dengan struktur kristal bukan padu seperti magnesium, alfa-titanium dan zink, bertindak balas kepada cahaya terkutub silang. Cahaya terkutub dihasilkan oleh polarizer yang terletak di hadapan iluminator dan penganalisis dan diletakkan di hadapan kanta mata. Prisma Nomarsky digunakan untuk sistem kontras gangguan pembezaan yang memungkinkan untuk memerhatikan ciri yang tidak kelihatan dalam medan terang. MICROSCOPES METALLOGRAFIK TERBALIK_cc781905-5cde-bbbad_5chaden5cde-bb_3b94f pada bahagian atasnya , di atas pentas menunjuk ke bawah, manakala objektif dan turet berada di bawah pentas menunjuk ke atas. Mikroskop terbalik berguna untuk memerhati ciri-ciri di bahagian bawah bekas besar di bawah keadaan yang lebih semula jadi daripada pada slaid kaca, seperti halnya dengan mikroskop konvensional. Mikroskop terbalik digunakan dalam aplikasi metalurgi di mana sampel yang digilap boleh diletakkan di atas pentas dan dilihat dari bawah menggunakan objektif pemantulan dan juga dalam aplikasi mikromanipulasi di mana ruang di atas spesimen diperlukan untuk mekanisme manipulator dan alat mikro yang dipegangnya.

​

Berikut ialah ringkasan ringkas beberapa instrumen ujian kami untuk penilaian permukaan dan salutan. Anda boleh memuat turun butiran ini daripada pautan katalog produk yang disediakan di atas.

​

Penguji Kekasaran Permukaan SADT RoughScan : Ini ialah alat mudah alih berkuasa bateri untuk memeriksa kekasaran permukaan dengan nilai terukur dipaparkan pada bacaan digital. Instrumen ini mudah digunakan dan boleh digunakan di makmal, persekitaran pembuatan, di kedai, dan di mana-mana ujian kekasaran permukaan diperlukan.

​

SADT GT SERIES Gloss Meters : Meter kilauan siri GT direka dan dikilangkan mengikut piawaian antarabangsa ISO2813, ASTMD523 dan DIN67530. Parameter teknikal mematuhi JJG696-2002. Meter gloss GT45 direka khas untuk mengukur filem plastik dan seramik, kawasan kecil dan permukaan melengkung.

​

SADT GMS/GM60 SERIES Gloss Meters : Glosmeters ini direka bentuk dan dikilangkan mengikut piawaian antarabangsa ISO2813, ISO7668, ASTM D523, ASTM D2457. Parameter teknikal juga mematuhi JJG696-2002. Meter gloss Siri GM kami sangat sesuai untuk mengukur lukisan, salutan, plastik, seramik, produk kulit, kertas, bahan bercetak, penutup lantai...dsb. Ia mempunyai reka bentuk yang menarik dan mesra pengguna, data gloss tiga sudut dipaparkan serentak, memori besar untuk data pengukuran, fungsi bluetooth terkini dan kad memori boleh tanggal untuk menghantar data dengan mudah, perisian gloss khas untuk menganalisis output data, bateri lemah dan memori penuh penunjuk. Melalui modul bluetooth dalaman dan antara muka USB, meter gloss GM boleh memindahkan data ke PC atau dieksport ke pencetak melalui antara muka percetakan. Menggunakan memori kad SD pilihan boleh dilanjutkan seberapa banyak yang diperlukan.

​

Pembaca Warna Tepat SADT SC 80 : Pembaca warna ini kebanyakannya digunakan pada plastik, lukisan, penyaduran, tekstil & pakaian, produk bercetak dan dalam industri pembuatan pewarna. Ia mampu melakukan analisis warna. Skrin warna 2.4” dan reka bentuk mudah alih menawarkan penggunaan yang selesa. Tiga jenis sumber cahaya untuk pemilihan pengguna, suis mod SCI dan SCE dan analisis metamerisme memenuhi keperluan ujian anda di bawah keadaan kerja yang berbeza. Tetapan toleransi, nilai perbezaan warna auto-hakim dan fungsi sisihan warna menjadikan anda menentukan warna dengan mudah walaupun anda tidak mempunyai pengetahuan profesional tentang warna. Menggunakan perisian analisis warna profesional, pengguna boleh melakukan analisis data warna dan memerhati perbezaan warna pada gambar rajah output. Pencetak mini pilihan membolehkan pengguna mencetak data warna di tapak.

​

Meter Perbezaan Warna Mudah Alih SADT SC 20 : Meter perbezaan warna mudah alih ini digunakan secara meluas dalam kawalan kualiti produk plastik dan percetakan. Ia digunakan untuk menangkap warna dengan cekap dan tepat. Mudah dikendalikan, memaparkan perbezaan warna mengikut E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h., sisihan piawai dalam E*ab0.2, ia boleh disambungkan ke komputer melalui pengembangan USB antara muka untuk pemeriksaan oleh perisian.

​

Mikroskop Metalurgi SADT SM500 : Ia adalah mikroskop metalurgi mudah alih serba lengkap yang sesuai untuk penilaian metalografik logam di makmal atau di situ. Reka bentuk mudah alih dan pendirian magnet yang unik, SM500 boleh dipasang terus pada permukaan logam ferus pada sebarang sudut, kerataan, kelengkungan dan kerumitan permukaan untuk pemeriksaan yang tidak merosakkan. SADT SM500 juga boleh digunakan dengan kamera digital atau sistem pemprosesan imej CCD untuk memuat turun imej metalurgi ke PC untuk pemindahan data, analisis, penyimpanan dan cetakan. Ia pada asasnya adalah makmal metalurgi mudah alih, dengan penyediaan sampel di tapak, mikroskop, kamera dan tidak memerlukan bekalan kuasa AC di lapangan. Warna semula jadi tanpa perlu menukar cahaya dengan memalapkan lampu LED memberikan imej terbaik yang diperhatikan pada bila-bila masa. Alat ini mempunyai aksesori pilihan termasuk pendirian tambahan untuk sampel kecil, penyesuai kamera digital dengan kanta mata, CCD dengan antara muka, kanta mata 5x/10x/15x/16x, objektif 4x/5x/20x/25x/40x/100x, pengisar mini, penggilap elektrolitik, satu set kepala roda, roda kain penggilap, filem replika, penapis (hijau, biru, kuning), mentol.

​

Mikroskop Metalurgi Mudah Alih Model SADT SM-3 : Alat ini menawarkan tapak magnet khas, membetulkan unit dengan kukuh pada kepingan kerja, ia sesuai untuk ujian gulung berskala besar dan pemerhatian langsung, tanpa pemotongan dan pensampelan diperlukan, pencahayaan LED, suhu warna seragam, tiada pemanasan, mekanisme bergerak ke hadapan / ke belakang dan kiri / kanan, mudah untuk pelarasan titik pemeriksaan, penyesuai untuk menyambungkan kamera digital dan memerhati rakaman secara langsung pada PC. Aksesori pilihan adalah serupa dengan model SADT SM500. Untuk butiran, sila muat turun katalog produk dari pautan di atas.

​

Mikroskop Metalurgi SADT Model XJP-6A : Metalloskop ini boleh digunakan dengan mudah di kilang, sekolah, institusi penyelidikan saintifik untuk mengenal pasti dan menganalisis struktur mikro semua jenis logam dan aloi. Ia adalah alat yang ideal untuk menguji bahan logam, mengesahkan kualiti tuangan dan menganalisis struktur metalografi bahan logam.

​

Mikroskop Metalografi Terbalik Model SADT SM400 : Reka bentuk ini membolehkan anda memeriksa butiran sampel metalurgi. Pemasangan mudah di barisan pengeluaran dan mudah dibawa. SM400 sesuai untuk kolej dan kilang. Penyesuai untuk memasang kamera digital pada tiub trinokular juga tersedia. Mod ini memerlukan MI pencetakan imej metalografi dengan saiz tetap. Kami mempunyai pilihan penyesuai CCD untuk cetakan komputer dengan pembesaran standard dan lebih 60% paparan pemerhatian.

​

Mikroskop Metalografi Terbalik Model SADT SD300M : Optik pemfokusan tak terhingga menyediakan imej resolusi tinggi. Objektif tontonan jarak jauh, bidang pandangan lebar 20 mm, peringkat mekanikal tiga plat menerima hampir semua saiz sampel, beban berat dan membenarkan pemeriksaan mikroskop tidak merosakkan komponen besar. Struktur tiga plat memberikan kestabilan dan ketahanan mikroskop. Optik menyediakan NA yang tinggi dan jarak tontonan yang panjang, memberikan imej yang terang dan beresolusi tinggi. Salutan optik baharu SD300M adalah kalis habuk dan lembap.

​

Untuk butiran dan peralatan lain yang serupa, sila lawati tapak web peralatan kami: http://www.sourceindustrialsuply.com