Search Results

Global Product Finder Locator for Off Shelf Products AGS-TECH, Inc. သည် သင်၏ ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာ စိတ်ကြိုက်ထုတ်လုပ်သူ၊ ပေါင်းစည်းသူ၊ စုစည်းသူ၊ ဝန်ဆောင်မှုပေးသည့် ပါတနာ။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ကုန်ထုတ်လုပ်မှု၊ ဖန်တီးမှု၊ အင်ဂျင်နီယာ၊ စုစည်းမှု၊ ပြင်ပအရင်းအမြစ်များအတွက် သင်၏ တစ်ခုတည်းသော အရင်းအမြစ်ဖြစ်သည်။ If you exactly know the product you are searching, please fill out the table below If filling out the form below is not possible or too difficult, we do accept your request by email also. Simply write us at sales@agstech.net Get a Price Quote on a known brand, model, part number....etc. First name Last name Email Phone Product Name Product Make or Brand Please Enter Manufacturer Part Number if Known Please Enter SKU Code if You Know: Your Application for the Product Quantity Needed Do You have a price target ? If so, please let us know: Give us more details if you want: Condition of Product Needed New Used Does Not Matter If you have any, upload product relevant files by clicking at the below link. Don't worry, the link below will pop up a new window for downloading your files. You will not navigate away from this current window. After uploading your files, close ONLY the Dropbox Window, but not this page. Make sure to fill out all spaces and click the submit button below. CLICK HERE TO UPLOAD FILES Request a Quote Thanks! We’ll send you a price quote shortly. PREVIOUS PAGE ကျွန်ုပ်တို့သည် AGS-TECH Inc.၊ ထုတ်လုပ်ရေးနှင့် ထုတ်လုပ်ရေးနှင့် အင်ဂျင်နီယာပိုင်း၊ ပြင်ပအရင်းအမြစ်နှင့် စုစည်းမှုအတွက် သင်၏ တစ်နေရာတည်းသော အရင်းအမြစ်ဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်စိတ်ကြိုက်ထုတ်လုပ်ခြင်း၊ အစုအဝေးခွဲခြင်း၊ ထုတ်ကုန်များ တပ်ဆင်ခြင်းနှင့် အင်ဂျင်နီယာဝန်ဆောင်မှုများကို ပေးဆောင်သည့် ကမ္ဘာ့အကွဲပြားဆုံးသော အင်ဂျင်နီယာပေါင်းစပ်ပေးသူဖြစ်သည်။

Custom Made Products Data Entry, Custom Manufactured Parts, Assemblies, Plastic Molds, Casting, CNC Machining, Extrusion, Metal Forging, Spring Manufacturing, Products Assembly, PCBA, PCB AGS-TECH, Inc. သည် သင်၏ ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာ စိတ်ကြိုက်ထုတ်လုပ်သူ၊ ပေါင်းစည်းသူ၊ စုစည်းသူ၊ ဝန်ဆောင်မှုပေးသည့် ပါတနာ။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ကုန်ထုတ်လုပ်မှု၊ ဖန်တီးမှု၊ အင်ဂျင်နီယာ၊ စုစည်းမှု၊ ပြင်ပအရင်းအမြစ်များအတွက် သင်၏ တစ်ခုတည်းသော အရင်းအမြစ်ဖြစ်သည်။ Fill In your info if you you need custom design & development & prototyping & mass production: If filling out the form below is not possible or too difficult, we do accept your request by email also. Simply write us at sales@agstech.net Get a Price Quote on a custom designed, developed, prototyped or manufactured product. First name Last name Email Phone Product Name Your Application for the Product Quantity Needed Do you have a price target ? If you do have, please let us know your expected price: Give us more details if you want: Do you accept offshore manufacturing ? YES NO If you have any, upload product relevant files by clicking at the below link. Don't worry, the link below will pop up a new window for downloading your files. You will not navigate away from this current window. After uploading your files, close ONLY the Dropbox Window, but not this page. Make sure to fill out all spaces and click the submit button below. Files that will help us quote your specially tailored product are technical drawings, bill of materials, photos, sketches....etc. You can download more than one file. CLICK HERE TO UPLOAD FILES Request a Quote Thanks! We’ll send you a price quote shortly. PREVIOUS PAGE ကျွန်ုပ်တို့သည် AGS-TECH Inc.၊ ထုတ်လုပ်ရေးနှင့် ထုတ်လုပ်ရေးနှင့် အင်ဂျင်နီယာပိုင်း၊ ပြင်ပအရင်းအမြစ်နှင့် စုစည်းမှုအတွက် သင်၏ တစ်နေရာတည်းသော အရင်းအမြစ်ဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်စိတ်ကြိုက်ထုတ်လုပ်ခြင်း၊ အစုအဝေးခွဲခြင်း၊ ထုတ်ကုန်များ တပ်ဆင်ခြင်းနှင့် အင်ဂျင်နီယာဝန်ဆောင်မှုများကို ပေးဆောင်သည့် ကမ္ဘာ့အကွဲပြားဆုံးသော အင်ဂျင်နီယာပေါင်းစပ်ပေးသူဖြစ်သည်။

Solar Power Modules - Rigid - Flexible Panels - Thin Film - Monocrystalline - Polycrystalline - Solar Connector available from AGS-TECH Inc. စိတ်ကြိုက်နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးစနစ်များ ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် တပ်ဆင်ခြင်း။ ကျွန်ုပ်တို့ ထောက်ပံ့ပေးသည်- • နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးဆဲလ်များနှင့် အကန့်များ၊ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး စက်ကိရိယာများနှင့် အစားထိုးစွမ်းအင်ကို ဖန်တီးရန်အတွက် စိတ်ကြိုက်စုဝေးမှုများ။ ဝေးလံခေါင်သီသောနေရာများတွင်ရှိသော စက်ကိရိယာများ သို့မဟုတ် စက်ပစ္စည်းများကို ကိုယ်တိုင်ပါဝါပေးခြင်းဖြင့် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးဆဲလ်များသည် အကောင်းဆုံးဖြေရှင်းချက်ဖြစ်သည်။ ဘက်ထရီ အစားထိုးခြင်းကြောင့် မြင့်မားသော ထိန်းသိမ်းမှု ဖယ်ရှားခြင်း၊ သင့်စက်ပစ္စည်းများကို ပင်မဓာတ်အားလိုင်းများနှင့် ချိတ်ဆက်ရန် ပါဝါကြိုးများ တပ်ဆင်ခြင်း လိုအပ်ခြင်းများကို ဖယ်ရှားခြင်းသည် သင့်ထုတ်ကုန်များအတွက် စျေးကွက်ချဲ့ထွင်မှု ကြီးမားလာစေနိုင်ပါသည်။ ဝေးလံခေါင်သီသော ဒေသများတွင် တစ်ယောက်တည်း သီးသန့်သုံးပစ္စည်းများကို ဒီဇိုင်းဆွဲသည့်အခါ ၎င်းကို စဉ်းစားကြည့်ပါ။ ထို့အပြင် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သည် ဝယ်ယူထားသော လျှပ်စစ်စွမ်းအင်အပေါ် မှီခိုအားထားမှုကို လျှော့ချခြင်းဖြင့် သင့်အား ငွေကုန်သက်သာစေနိုင်သည်။ ဆိုလာစွမ်းအင်ဆဲလ်များသည် ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ် သို့မဟုတ် မာကျောနိုင်သည်ကို သတိရပါ။ ဆိုလာဆဲလ်များကို ပက်ဖြန်းပေးခြင်းဖြင့် အလားအလာရှိသော သုတေသနကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်နေပါသည်။ ဆိုလာစက်များမှ ထုတ်ပေးသော စွမ်းအင်ကို ယေဘုယျအားဖြင့် ဘက်ထရီများတွင် သိမ်းဆည်းထား သို့မဟုတ် မျိုးဆက်ပြီးတိုင်း ချက်ချင်းအသုံးပြုသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်အား ဆိုလာဆဲလ်များ၊ ပြားများ၊ ဆိုလာဘက်ထရီများ၊ အင်ဗာတာများ၊ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊ ကေဘယ်ကြိုးများ တပ်ဆင်မှုများ၊ သင့်ပရောဂျက်များအတွက် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးကိရိယာအစုံအလင်ကို သင့်အား ပေးဆောင်နိုင်ပါသည်။ သင့်နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး ကိရိယာ၏ ဒီဇိုင်းအဆင့်တွင် သင့်အား ကျွန်ုပ်တို့လည်း ကူညီနိုင်ပါသည်။ မှန်ကန်သောအစိတ်အပိုင်းများကိုရွေးချယ်ခြင်းဖြင့်၊ မှန်ကန်သောဆိုလာဆဲလ်အမျိုးအစားနှင့် optical မှန်ဘီလူးများ၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် ဆိုလာဆဲလ်များမှ ထုတ်ပေးသော ပါဝါပမာဏကို အများဆုံး မြှင့်တင်နိုင်သည်။ သင့်စက်ပေါ်ရှိ မျက်နှာပြင်များကို အကန့်အသတ်ဖြင့်ရရှိနိုင်သောအခါ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်ကို အမြင့်ဆုံးမြှင့်တင်ခြင်းသည် စိန်ခေါ်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဒါကိုအောင်မြင်ဖို့အတွက် ကျွန်တော်တို့မှာ မှန်ကန်တဲ့ ကျွမ်းကျင်မှုနဲ့ အလင်းပြန်တဲ့ ဒီဇိုင်းကိရိယာတွေ ရှိပါတယ်။ ကျွန်ုပ်တို့အတွက် ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ မိတ်ဖက်ပြုခြင်း အစီအစဉ်ကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။ စင်အောက်ရှိ ထုတ်ကုန်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ ပြည့်စုံသော လျှပ်စစ်နှင့် အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်း ကတ်တလောက်ကို ဤနေရာကို နှိပ်၍ ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ . ဤကတ်တလောက်တွင် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊ ဘက်ထရီများ၊ ပြောင်းစက်များနှင့် သင့်နေရောင်ခြည်ဆိုင်ရာ ပရောဂျက်များအတွက် အခြားအရာများ ပါဝင်သည်။ ၎င်းကို ထိုနေရာတွင် ရှာမတွေ့ပါက ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပြီး ကျွန်ုပ်တို့ ရရှိနိုင်သည့် အချက်အလက်များကို သင့်ထံ ပေးပို့ပါမည်။ ဆိုလာစနစ်များအပါအဝင် ကျွန်ုပ်တို့၏ ကြီးမားသောပြည်တွင်း သို့မဟုတ် အသုံးဝင်မှုစကေး ပြန်လည်ပြည့်ဖြိုးမြဲစွမ်းအင်ထုတ်ကုန်များနှင့် စနစ်များကို သင်အများစုစိတ်ဝင်စားပါက၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စွမ်းအင် site သို့လာရောက်ကြည့်ရှုရန် သင့်ကိုဖိတ်ခေါ်ပါသည်။http://www.ags-energy.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Hardness Tester - Rockwell - Brinell - Vickers - Leeb - Microhardness - Universal - AGS-TECH Inc. - New Mexico - USA မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများ AGS-TECH Inc. တွင် ROCKWELL၊ BRINELL၊ VICKERS၊ LEEB၊ KNOOP၊ MICROHARDNESS TESTERS နှင့် UNIVERSAL ဆော့ဖ်ဝဲလ်တိုင်းတာမှုစနစ်များအတွက် ဆော့ဖ်ဝဲ၊ ရယူခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း၊ စမ်းသပ်ပိတ်ဆို့ခြင်း၊ အင်တင်းများ၊ anvils နှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ။ ကျွန်ုပ်တို့ရောင်းချနေသော ကုန်အမှတ်တံဆိပ်အမည်ခံ မာကျောမှုစမ်းသပ်သူအချို့မှာ SADT, SINOAGE and and_cc781905-5c781905-5. ကျွန်ုပ်တို့၏ SADT အမှတ်တံဆိပ် တိုင်းတာမှုနှင့် စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန်၊ ကျေးဇူးပြု၍ ဤနေရာကို နှိပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ သယ်ဆောင်ရနိုင်သော မာကျောမှုစမ်းသပ်သူ MITECH MH600 အတွက် ဘရိုရှာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန်၊ ကျေးဇူးပြု၍ ဤနေရာကို နှိပ်ပါ MITECH မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများအကြား ထုတ်ကုန်နှိုင်းယှဉ်မှုဇယားကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် ဤနေရာကို နှိပ်ပါ။ ပစ္စည်းများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် အသုံးအများဆုံး စမ်းသပ်မှုတစ်ခုမှာ မာကျောမှု စမ်းသပ်ခြင်း ဖြစ်သည်။ ပစ္စည်းတစ်ခု၏ မာကျောမှုသည် အမြဲတမ်း အင်တင်းအား ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ မာကျောမှုသည် ခြစ်ရာနှင့် ဝတ်ဆင်ရန် ခံနိုင်ရည်ရှိသော ပစ္စည်းတစ်ခုဟုလည်း ဆိုနိုင်သည်။ ဂျီဩမေတြီများနှင့် ပစ္စည်းအမျိုးမျိုးကို အသုံးပြု၍ ပစ္စည်းများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာရန် နည်းပညာများစွာ ရှိပါသည်။ တိုင်းတာမှုရလဒ်များသည် အကြွင်းမဲ့မဟုတ်ပါ၊ ၎င်းတို့သည် နှိုင်းရနှိုင်းယှဥ်ပြချက်တစ်ခုသာဖြစ်သည်၊ ရလဒ်များသည် indenter ၏ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် ထည့်သွင်းထားသောဝန်ပေါ်တွင်မူတည်သောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ သယ်ဆောင်ရနိုင်သော မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများသည် ယေဘုယျအားဖြင့် အထက်တွင်ဖော်ပြထားသော မည်သည့် မာကျောမှုစမ်းသပ်မှုကိုမဆို လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ ၎င်းတို့ကို အပေါက်အတွင်းပိုင်း၊ ဂီယာသွားများကဲ့သို့သော သီးခြားဂျီဩမေတြီအင်္ဂါရပ်များနှင့် ပစ္စည်းများအတွက် ပြင်ဆင်သတ်မှတ်နိုင်သည်။ အမျိုးမျိုးသော မာကျောမှုစမ်းသပ်နည်းများကို အကျဉ်းချုပ်ကြည့်ကြပါစို့။ BRINELL TEST - ဤစမ်းသပ်မှုတွင်၊ အချင်း 10 မီလီမီတာရှိသော သံမဏိ သို့မဟုတ် တန်စတင်ကာဗိုက်ဘောလုံးကို 500၊ 1500 သို့မဟုတ် 3000 Kg အလေးချိန်ရှိသော မျက်နှာပြင်နှင့် ဖိထားသည်။ Brinell hardness နံပါတ်သည် ဝန်၏ ကွေးညွှတ်ဧရိယာနှင့် အချိုးဖြစ်သည်။ Brinell စမ်းသပ်မှုတစ်ခုသည် စမ်းသပ်ထားသော ပစ္စည်း၏ အခြေအနေပေါ် မူတည်၍ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အမျိုးမျိုးသော အထင်အမြင်များကို ချန်ထားခဲ့သည် ။ ဥပမာအားဖြင့်၊ အအေးခံထားသော ပစ္စည်းများတွင် လုံးဝန်းသော ပရိုဖိုင်ကို ချန်ထားသော်လည်း၊ အအေးခံထားသော ပစ္စည်းများပေါ်တွင် ချွန်ထက်သော ပရိုဖိုင်ကို ကျွန်ုပ်တို့ သတိပြုမိပါသည်။ Tungsten carbide indenter balls များကို 500 ထက်မြင့်သော Brinell hardness နံပါတ်များအတွက် အကြံပြုထားပါသည်။ ပိုမိုခက်ခဲသော workpiece ပစ္စည်းများအတွက် 1500 Kg သို့မဟုတ် 3000 Kg load ကို တိကျစွာတိုင်းတာရန်အတွက် နောက်ကျကျန်ခဲ့သော impressions များသည် လုံလောက်စွာကြီးမားစေရန် အကြံပြုအပ်ပါသည်။ မတူညီသောဝန်များတွင်တူညီသောအင်တင်းမှပြုလုပ်သော impressions များသည်ဂျီဩမေတြီအရတူညီခြင်းမရှိသောကြောင့် Brinell hardness နံပါတ်သည်အသုံးပြုသော load ပေါ်တွင်မူတည်သည်။ ထို့ကြောင့် စာမေးပွဲရလဒ်များတွင် အလုပ်ခန့်ထားသော ဝန်ကို အမြဲသတိပြုသင့်သည်။ Brinell test သည် မာကျောမှုနည်းသော အလယ်အလတ်ကြားရှိ ပစ္စည်းများအတွက် သင့်လျော်ပါသည်။ ROCKWELL TEST - ဤစမ်းသပ်မှုတွင် ထိုးဖောက်မှုအတိမ်အနက်ကို တိုင်းတာသည်။ Indenter ကို အစပိုင်းတွင် minor load နှင့် major load ဖြင့် မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ဖိထားသည်။ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှုကြွေးမြီ ကွာခြားချက်သည် မာကျောမှုအတိုင်းအတာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Rockwell မာကျောမှုစကေးများစွာသည် မတူညီသောဝန်များ၊ အတွင်းပိုင်းပစ္စည်းများနှင့် ဂျီသြမေတြီများကို အသုံးပြုထားသည်။ Rockwell hardness နံပါတ်ကို စမ်းသပ်စက်ပေါ်ရှိ ဒိုင်ခွက်မှ တိုက်ရိုက်ဖတ်သည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ hardness နံပါတ် 55 ဖြစ်ပါက C scale ကို အသုံးပြု၍ ၎င်းကို 55 HRC အဖြစ် ရေးထားသည်။ VICKERS TEST - တစ်ခါတစ်ရံတွင် the DIAMOND မှစိန်ပုံသဏ္ဌာန် PYRAMID HARDNESS a Tramid1 မှ 10% အထိ စိန်ကို အသုံးပြုပါသည်။ Vickers မာကျောမှုနံပါတ်ကို HV=1.854P/square L ဖြင့်ပေးပါသည်။ L သည် စိန်ပိရမစ်၏ထောင့်ဖြတ်အရှည်ဖြစ်သည်။ Vickers test သည် ဝန်မည်မျှပင်ဖြစ်စေ အခြေခံအားဖြင့် တူညီသော မာကျောမှုနံပါတ်ကိုပေးသည်။ Vickers Test သည် အလွန်မာကျောသောပစ္စည်းများ အပါအဝင် ကျယ်ပြန့်သော မာကျောမှုရှိသော ပစ္စည်းများ စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ KNOOP TEST - ဤစမ်းသပ်မှုတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် ရှည်လျားသောပိရမစ်ပုံသဏ္ဍာန်ရှိ စိန် indenter ကိုအသုံးပြုပြီး 25g မှ 5 Kg အကြားတင်ပါသည်။ Knoop မာကျောမှုနံပါတ်ကို HK=14.2P / စတုရန်း L အဖြစ်ပေးထားသည်။ ဤနေရာတွင် စာလုံး L သည် ရှည်လျားသောထောင့်ဖြတ်၏အရှည်ဖြစ်သည်။ Knoop စမ်းသပ်မှုများတွင် ရေးထိုးထားသော အရွယ်အစားသည် 0.01 မှ 0.10 မီလီမီတာ အကွာအဝေးတွင် သေးငယ်သည်။ ဤသေးငယ်သောအရေအတွက်ကြောင့် ပစ္စည်းအတွက် မျက်နှာပြင်ပြင်ဆင်မှုသည် အလွန်အရေးကြီးပါသည်။ ရရှိသော မာကျောမှု နံပါတ်သည် ထည့်သွင်းထားသော ဝန်ပေါ်တွင် မူတည်သောကြောင့် စမ်းသပ်မှုရလဒ်များသည် အသုံးပြုထားသော ဝန်ကို ကိုးကားထားသင့်သည်။ ပေါ့ပါးသောဝန်များကိုအသုံးပြုထားသောကြောင့် Knoop စမ်းသပ်မှုကို a MICROHARDNESS TEST ဟုယူဆပါသည်။ ထို့ကြောင့် Knoop စမ်းသပ်မှုသည် အလွန်သေးငယ်သော၊ ပါးလွှာသောနမူနာများ၊ ကျောက်မျက်ရတနာများ၊ ဖန်နှင့် ကာဗိုက်များကဲ့သို့သော ကြွပ်ဆတ်သောပစ္စည်းများနှင့် သတ္တုတစ်ခုစီရှိ အစေ့အဆန်များ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာရန်အတွက်ပင် သင့်လျော်ပါသည်။ LEEB HARDNESS TEST - ၎င်းသည် Leeb ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာသည့် ပြန်လှန်နည်းပညာကို အခြေခံထားသည်။ ၎င်းသည် လွယ်ကူပြီး စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် ရေပန်းစားသော နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤအိတ်ဆောင်နည်းလမ်းကို 1 ကီလိုဂရမ်အထက် လုံလောက်သောကြီးမားသော workpieces များကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အများအားဖြင့် အသုံးပြုပါသည်။ မာကျောသောသတ္တုစမ်းသပ်မှုထိပ်ဖျားပါသည့် အကျိုးသက်ရောက်မှုကိုယ်ထည်ကို workpiece မျက်နှာပြင်ကို စပရိန်တွန်းအားဖြင့် တွန်းပို့သည်။ သက်ရောက်မှုကိုယ်ထည်သည် အလုပ်ခွင်ကိုထိသည့်အခါ၊ မျက်နှာပြင်ပုံသဏ္ဍာန်ဖြစ်ပေါ်ပြီး အရွေ့စွမ်းအင်ဆုံးရှုံးသွားမည်ဖြစ်သည်။ အလျင်တိုင်းတာမှုများသည် အရွေ့စွမ်းအင်တွင် ဤဆုံးရှုံးမှုကို ဖော်ပြသည်။ ထိခိုက်မှုကိုယ်ထည်သည် မျက်နှာပြင်မှ တိကျသောအကွာအဝေးတွင် ကွိုင်ကိုဖြတ်သန်းသောအခါ၊ စမ်းသပ်မှု၏သက်ရောက်မှုနှင့် ပြန်လည်ပတ်မှုအဆင့်များအတွင်း အချက်ပြဗို့အားကို လှုံ့ဆော်ပေးသည်။ ဤဗို့အားများသည် အလျင်နှင့် အချိုးကျပါသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အချက်ပြမှု လုပ်ဆောင်ခြင်းကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် ပြသမှုမှ Leeb မာကျောမှုတန်ဖိုးကို ရရှိသည်။ Our PORTABLE HARDNESS TESTERS from SADT / HARTIP HARDNESS TESTER SADT HARTIP2000/HARTIP2000 D&DL - ၎င်းသည် HARTIP 2000 ကို universal hardness tester (UA) အကျိုးသက်ရောက်မှုရှိစေသည့် ဆန်းသစ်သော ခရီးဆောင် Leeb hardness tester တစ်ခုဖြစ်သည်။ တိုင်းတာခြင်းများကို မည်သည့်ထောင့်တွင်မဆို ပြုလုပ်သည့်အခါ အကျိုးသက်ရောက်မှု ဦးတည်ချက်ကို သတ်မှတ်ရန် မလိုအပ်ပါ။ ထို့ကြောင့်၊ HARTIP 2000 သည် ထောင့်လျော်ကြေးပေးသည့်နည်းလမ်းနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက linear တိကျမှုကို ပေးပါသည်။ HARTIP 2000 သည် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာစေသော မာကျောမှုစမ်းသပ်သူဖြစ်ပြီး အခြားအင်္ဂါရပ်များစွာရှိသည်။ HARTIP2000 DL တွင် SADT ထူးခြားသော D နှင့် DL 2-in-1 probe တပ်ဆင်ထားသည်။ SADT HARTIP1800 Plus/1800 Plus D&DL - ဤစက်ပစ္စည်းသည် အင်္ဂါရပ်များစွာဖြင့် အဆင့်မြင့် လက်ဝါးအရွယ် သတ္တုမာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာဖြစ်သည်။ မူပိုင်ခွင့်နည်းပညာကိုအသုံးပြု၍ SADT HARTIP1800 Plus သည် မျိုးဆက်သစ်ထုတ်ကုန်တစ်ခုဖြစ်သည်။ မြင့်မားသောစာချုပ် OLED မျက်နှာပြင်နှင့် ကျယ်ပြန့်သောပတ်ဝန်းကျင်အပူချိန်အကွာအဝေး (-40ºC~60ºC) ပါရှိသော မြင့်မားသောတိကျမှု +/-2 HL (သို့မဟုတ် 0.3% @HL800) ရှိသည်။ 360k ဒေတာပါရှိသော ဘလောက် 400 တွင် ကြီးမားသောအမှတ်တရများအပြင် HARTIP1800 Plus သည် တိုင်းတာထားသောဒေတာကို PC သို့ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပြီး USB အပေါက်ဖြင့် ပရင်တာအသေးစားသို့ ပရင့်ထုတ်နိုင်ပြီး အတွင်းပိုင်း blue-tooth module ဖြင့် ကြိုးမဲ့စနစ်ဖြင့် လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ ဘက်ထရီကို USB အပေါက်ကနေ ရိုးရိုးအားသွင်းနိုင်ပါတယ်။ ၎င်းတွင် ဖောက်သည်ပြန်လည်ချိန်ညှိခြင်းနှင့် statics လုပ်ဆောင်ချက်ပါရှိသည်။ HARTIP 1800 plus D&DL တွင် two-in-one probe တပ်ဆင်ထားပါသည်။ ထူးခြားသော two-in-one probe ဖြင့် HARTIP1800plus D&DL သည် ထိခိုက်မှုကိုယ်ထည်ကို ပြောင်းလဲခြင်းဖြင့် probe D နှင့် probe DL ကြားသို့ ပြောင်းလဲနိုင်သည်။ တစ်ဦးချင်းဝယ်တာထက် ပိုသက်သာပါတယ်။ ၎င်းတွင် two-in-one probe မှလွဲ၍ HARTIP1800 plus နှင့် တူညီသောဖွဲ့စည်းပုံရှိသည်။ SADT HARTIP1800 Basic/1800 Basic D&DL - ဤသည်မှာ HARTIP1800plus အတွက် အခြေခံမော်ဒယ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ HARTIP1800 plus ၏ အဓိကလုပ်ဆောင်ချက်အများစုနှင့် စျေးနှုန်းသက်သာစွာဖြင့်၊ HARTIP1800 Basic သည် အကန့်အသတ်ရှိသော ဘတ်ဂျက်ရှိသော သုံးစွဲသူများအတွက် ကောင်းမွန်သောရွေးချယ်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ HARTIP1800 Basic ကိုလည်း ကျွန်ုပ်တို့၏ထူးခြားသော D/DL two-in-one impact device ဖြင့် တပ်ဆင်နိုင်ပါသည်။ SADT HARTIP 3000 - ၎င်းသည် မြင့်မားသောတိကျမှု၊ ကျယ်ပြန့်သောတိုင်းတာမှုအကွာအဝေးနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူသောအဆင့်မြင့်လက်ကိုင်ဒစ်ဂျစ်တယ်သတ္တုမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာဖြစ်သည်။ ပါဝါ၊ ရေနံဓာတု၊ အာကာသယာဉ်၊ မော်တော်ယာဥ်နှင့် စက်တည်ဆောက်ရေးလုပ်ငန်းများတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုနေသည့် ကြီးမားသောဖွဲ့စည်းပုံနှင့် တပ်ဆင်ထားသော အစိတ်အပိုင်းများအတွက် အထူးသဖြင့် သတ္တုများအားလုံး၏ မာကျောမှုကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ SADT HARTIP1500/HARTIP1000 - ၎င်းသည် ပေါင်းစပ်ကိရိယာ (စုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်း) နှင့် ပရိုဆက်ဆာကို ယူနစ်တစ်ခုအဖြစ် ပေါင်းစပ်ထားသည့် ပေါင်းစပ်လက်ကိုင်သတ္တုမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာဖြစ်သည်။ HARTIP 1500/1000 သည် ပုံမှန်တိုင်းတာမှုအခြေအနေများကိုသာမက ကျဉ်းမြောင်းသောနေရာများတွင်ပါ တိုင်းတာနိုင်စေသည့် အရွယ်အစားထက် များစွာသေးငယ်ပါသည်။ HARTIP 1500/1000 သည် သံဓာတ်နှင့် သတ္တုမဟုတ်သော ပစ္စည်းအားလုံးနီးပါး၏ မာကျောမှုကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ ၎င်း၏နည်းပညာအသစ်ဖြင့်၊ ၎င်း၏တိကျမှုကို စံအမျိုးအစားထက် ပိုမိုမြင့်မားသောအဆင့်သို့ မြှင့်တင်ထားသည်။ HARTIP 1500/1000 သည် ၎င်း၏အတန်းတွင် စီးပွားရေးအမာကျောဆုံး စမ်းသပ်သူများထဲမှ တစ်ခုဖြစ်သည်။ BRINELL ခက်ခက်ခဲခဲ ဖတ်ရှုခြင်း အလိုအလျောက် တိုင်းတာခြင်းစနစ် / SADT HB SCALER - HB Scaler သည် Bllrine ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာခြင်း နှင့် Bllrine ၏ အရွယ်အစားကို အလိုအလျောက် တိုင်းတာပေးသည့် အလင်းပိုင်း တိုင်းတာသည့် စနစ်ဖြစ်သည်။ တန်ဖိုးများနှင့် ညွှန်ပြထားသော ပုံအားလုံးကို PC တွင် သိမ်းဆည်းနိုင်ပါသည်။ ဆော့ဖ်ဝဲလ်ဖြင့်၊ တန်ဖိုးအားလုံးကို အစီရင်ခံစာအဖြစ် ထုတ်ယူနိုင်ပြီး ပုံနှိပ်ထုတ်ဝေနိုင်သည်။ Our BENCH HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HR-150A ROCKWELL HARDNESS TESTER - ကိုယ်တိုင်လုပ်ဆောင်သည့် HR-150A Rockwell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် ၎င်း၏ပြီးပြည့်စုံမှုနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူမှုအတွက် လူသိများသည်။ ဤစက်သည် နိုင်ငံတကာ Rockwell စံနှုန်းနှင့်အညီ 10kgf နှင့် ပင်မဝန် 60/100/150 ကီလိုဂရမ်ကို အသုံးပြုထားသည်။ စမ်းသပ်မှုတစ်ခုစီပြီးနောက်၊ HR-150A သည် ဒိုင်ခွက်အညွှန်းတွင် Rockwell B သို့မဟုတ် Rockwell C မာကျောမှုတန်ဖိုးကို ပြသသည်။ ပဏာမစမ်းသပ်မှုအားကို ကိုယ်တိုင်အသုံးပြုရမည်ဖြစ်ပြီး၊ ၎င်းနောက် မာကျောမှုစမ်းသပ်သူ၏ညာဘက်ခြမ်းရှိ လီဗာဖြင့် ပင်မဝန်ကို အသုံးချပြီးဖြစ်သည်။ ထုတ်ယူပြီးနောက်၊ ဒိုင်ခွက်သည် မြင့်မားသောတိကျမှုနှင့် ထပ်တလဲလဲနိုင်မှုတို့ဖြင့် တောင်းဆိုထားသော မာကျောမှုတန်ဖိုးကို တိုက်ရိုက်ညွှန်ပြသည်။ SADT HR-150DT MOTORIZED ROCKWELL HARDNESS TESTER - ဤမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာစီးရီးများသည် ၎င်းတို့၏ တိကျမှုနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူမှုတို့အတွက် အသိအမှတ်ပြုထားပြီး၊ နိုင်ငံတကာ ရော့ဝဲလ်စံနှုန်းနှင့်အညီ လုပ်ဆောင်နိုင်မှု အပြည့်အဝရှိသည်။ Indenter အမျိုးအစားနှင့် စုစုပေါင်းစမ်းသပ်မှုအား ပေါင်းစပ်မှုပေါ်မူတည်၍ Rockwell စကေးတစ်ခုစီအတွက် ထူးခြားသောသင်္ကေတတစ်ခုကို ပေးထားသည်။ HR-150DT နှင့် HRM-45DT သည် ဒိုင်ခွက်ပေါ်တွင် HRC နှင့် HRB ၏ သီးခြား Rockwell စကေးနှစ်ခုစလုံးကို ပါရှိသည်။ စက်၏ညာဘက်ခြမ်းရှိ ဒိုင်ခွက်ကိုအသုံးပြု၍ သင့်လျော်သောတွန်းအားကို ကိုယ်တိုင်ချိန်ညှိသင့်သည်။ ပဏာမအင်အားကို အသုံးပြုပြီးနောက်၊ HR150DT နှင့် HRM-45DT တို့သည် အပြည့်အဝ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်ခြင်းနှင့်အတူ ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါမည်- တင်ခြင်း၊ စောင့်ဆိုင်းခြင်း၊ ဖြုတ်ချခြင်းနှင့် အဆုံးတွင် မာကျောမှုကို ပြသပါမည်။ SADT HRS-150 DIGITAL ROCKWELL HARDNESS TESTER - HRS-150 ဒစ်ဂျစ်တယ် Rockwell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် အသုံးပြုရလွယ်ကူပြီး လည်ပတ်မှုဘေးကင်းစေရန်အတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ ၎င်းသည် နိုင်ငံတကာ Rockwell စံနှုန်းနှင့် ကိုက်ညီသည်။ Indenter အမျိုးအစားနှင့် စုစုပေါင်းစမ်းသပ်မှုအား ပေါင်းစပ်မှုပေါ်မူတည်၍ Rockwell စကေးတစ်ခုစီအတွက် ထူးခြားသောသင်္ကေတတစ်ခုကို ပေးထားသည်။ HRS-150 သည် LCD ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် သတ်မှတ်ထားသော Rockwell စကေးတစ်ခု၏ ရွေးချယ်မှုကို အလိုအလျောက်ပြသမည်ဖြစ်ပြီး မည်သည့်ဝန်ကို အသုံးပြုနေကြောင်း ညွှန်ပြမည်ဖြစ်သည်။ ပေါင်းစည်းထားသော အော်တိုဘရိတ်ယန္တရားသည် အမှားအယွင်းဖြစ်နိုင်ခြေမရှိဘဲ ပဏာမစမ်းသပ်မှုစွမ်းအားကို ကိုယ်တိုင်အသုံးပြုရန် ခွင့်ပြုသည်။ ပဏာမအင်အားကို အသုံးပြုပြီးနောက်၊ HRS-150 သည် အပြည့်အ၀ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်မှုတစ်ခုအနေဖြင့် ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါမည်- Loading, dwell time, unloading, and computation of hardness value and its display. RS232 အထွက်မှတစ်ဆင့် ပါဝင်သော ပရင်တာသို့ ချိတ်ဆက်ထားသောကြောင့် ရလဒ်အားလုံးကို ပရင့်ထုတ်ရန် ဖြစ်နိုင်သည်။ Our BENCH TYPE SUPERFICIAL ROCKWELL HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HRM-45DT မော်တော်ယာဥ် SUPERFICIAL ROCKWELL HARDNESS TESTER - ဤစီးရီး မာကျောမှု စမ်းသပ်သူများသည် ၎င်းတို့၏ တိကျမှုနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူမှုအတွက် အသိအမှတ်ပြုထားပြီး၊ နိုင်ငံတကာ Rock စံနှုန်းအတိုင်း အပြည့်အဝ လုပ်ဆောင်ပါသည်။ Indenter အမျိုးအစားနှင့် စုစုပေါင်းစမ်းသပ်မှုအား ပေါင်းစပ်မှုပေါ်မူတည်၍ Rockwell စကေးတစ်ခုစီအတွက် ထူးခြားသောသင်္ကေတတစ်ခုကို ပေးပါသည်။ HR-150DT နှင့် HRM-45DT သည် ဒိုင်ခွက်ပေါ်တွင် သီးခြား Rockwell စကေး HRC နှင့် HRB နှစ်ခုလုံးကို ပါရှိသည်။ စက်၏ညာဘက်ခြမ်းရှိ ဒိုင်ခွက်ကိုအသုံးပြု၍ သင့်လျော်သောတွန်းအားကို ကိုယ်တိုင်ချိန်ညှိသင့်သည်။ ပဏာမအင်အားကို အသုံးပြုပြီးနောက်၊ HR150DT နှင့် HRM-45DT သည် အပြည့်အ၀ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်ဖြင့် ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါမည်- တင်ခြင်း၊ နေရာချထားခြင်း၊ ဖြုတ်ချခြင်းနှင့် အဆုံးတွင် မာကျောမှုကို ပြသပါမည်။ SADT HRMS-45 SUPERFICIAL ROCKWELL HARDNESS TESTER : HRMS-45 Digital Superficial Rockwell Hardness Tester သည် အဆင့်မြင့်စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် အီလက်ထရွန်နစ်နည်းပညာများ ပေါင်းစပ်ထားသော ဆန်းသစ်သောထုတ်ကုန်တစ်ခုဖြစ်သည်။ LCD နှင့် LED ဒစ်ဂျစ်တယ်ဒိုင်အိုဒစ်များ၏ မျက်နှာပြင်နှစ်ခုသည် ၎င်းကို စံအမျိုးအစားအပေါ်ယံ Rockwell စမ်းသပ်သူ၏ အဆင့်မြှင့်တင်ထားသော ထုတ်ကုန်ဗားရှင်းတစ်ခုဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ပေးသည်။ ၎င်းသည် သံဓာတ်၊ သတ္တုမဟုတ်သော သတ္တုများနှင့် မာကျောသောပစ္စည်းများ၊ ကာဗူရီပြုလုပ်ထားသော နှင့် နိုက်ထရစ်အလွှာများနှင့် အခြားသော ဓာတုဗေဒနည်းဖြင့် ကုသထားသော အလွှာများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာသည်။ ပါးလွှာသောအပိုင်းများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာရာတွင်လည်း အသုံးပြုသည်။ SADT XHR-150 ပလပ်စတစ် ROCKWELL HARDNESS TESTER : XHR-150 ပလတ်စတစ်များကို Rockwell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် မော်တာဖြင့်စမ်းသပ်သည့်နည်းလမ်းကိုအသုံးပြုသည်၊ စမ်းသပ်မှုအင်အားကို တင်ဆောင်နိုင်ပြီး အလိုအလျောက် ဖြုတ်ချနိုင်သည်။ လူသားအမှားကို လျှော့ချပြီး လုပ်ဆောင်ရန် လွယ်ကူသည်။ မာကျောသော ပလတ်စတစ်များ၊ ရော်ဘာကြမ်းများ၊ အလူမီနီယံ၊ သံဖြူ၊ ကြေးနီ၊ အပျော့စား သံမဏိ၊ ဓာတု resins၊ tribologic ပစ္စည်းများ စသည်တို့ကို တိုင်းတာရန် အသုံးပြုသည်။ Our BENCH TYPE VICKERS HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HVS-10/50 LOW LOAD VICKERS HARDNESS TESTER - ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖန်သားပြင်နှင့်အတူ ဤဝန်အားနည်းပါးသော Vicker ၏ မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် နည်းပညာမြင့်နည်းပညာသုံး ထုတ်ကုန်အသစ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ ရိုးရာသေးငယ်သော Vicker ၏ မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများအတွက် အစားထိုးအနေဖြင့် ၎င်းသည် မျက်နှာပြင်အပေါ်ယံလွှာပြီးနောက် သေးငယ်သော၊ ပါးလွှာသောနမူနာများ သို့မဟုတ် အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသည့် လွယ်ကူသောလုပ်ဆောင်ချက်နှင့် ကောင်းမွန်သောယုံကြည်စိတ်ချရမှုတို့ပါဝင်သည်။ သုတေသနအင်စတီကျုများ၊ စက်မှုဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် QC ဌာနများအတွက် သင့်လျော်သည်၊ ၎င်းသည် သုတေသနနှင့် တိုင်းတာခြင်းရည်ရွယ်ချက်များအတွက် စံပြမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် ကွန်ပျူတာ ပရိုဂရမ်းမင်းနည်းပညာ၊ ကြည်လင်ပြတ်သားမှု မြင့်မားသော optical တိုင်းတာရေးစနစ်နှင့် ဓာတ်ပုံလျှပ်စစ်နည်းပညာ၊ soft key ထည့်သွင်းမှု၊ အလင်းရင်းမြစ် ချိန်ညှိမှု၊ ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်မှုပုံစံ၊ ပြောင်းလဲခြင်းဇယားများ၊ ဖိအားကိုင်ချိန်၊ ဖိုင်နံပါတ်ထည့်သွင်းမှုနှင့် ဒေတာသိမ်းဆည်းခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်များကို ပေါင်းစပ်ပေးပါသည်။ ၎င်းတွင် စမ်းသပ်မှုမော်ဒယ်၊ စမ်းသပ်မှုဖိအား၊ အညွှန်းအရှည်၊ မာကျောမှုတန်ဖိုးများ၊ ဖိအားထိန်းချိန်နှင့် စစ်ဆေးမှုနံပါတ်များကို ပြသရန် ကြီးမားသော LCD မျက်နှာပြင်ပါရှိသည်။ RS232 အင်တာဖေ့စ်မှတဆင့် ရက်စွဲမှတ်တမ်းတင်ခြင်း၊ စမ်းသပ်မှုရလဒ်များကို မှတ်တမ်းတင်ခြင်းနှင့် ဒေတာလုပ်ဆောင်ခြင်း၊ ပရင့်ထုတ်ခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်တို့ကိုလည်း ကမ်းလှမ်းထားပါသည်။ SADT HV-10/50 LOW LOAD VICKERS HARDNESS TESTER - ဤဝန်အားနည်းပါးသော Vickers မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများသည် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် ဓါတ်ပုံဆိုင်ရာနည်းပညာများပေါင်းစပ်ထားသော အဆင့်မြင့်နည်းပညာသုံး ထုတ်ကုန်အသစ်များဖြစ်သည်။ ဤစမ်းသပ်သူများသည် မျက်နှာပြင်အပေါ်ယံလွှာပြီးနောက် သေးငယ်ပြီး ပါးလွှာသော နမူနာများနှင့် အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားပါသည်။ သုတေသနဌာနများ၊ စက်မှုဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် QC ဌာနများအတွက် သင့်လျော်သည်။ သော့ချက်အင်္ဂါရပ်များနှင့် လုပ်ဆောင်ချက်များမှာ မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာထိန်းချုပ်မှု၊ ဆော့ဖ်ဝဲခလုတ်များမှတစ်ဆင့် အလင်းရင်းမြစ်ကို ချိန်ညှိမှု၊ ဖိအားထိန်းချိန်နှင့် LED/LCD မျက်နှာပြင် ချိန်ညှိမှု၊ ၎င်း၏ထူးခြားသော တိုင်းတာမှုပြောင်းလဲခြင်းကိရိယာနှင့် ထူးခြားသော မိုက်ခရိုမျက်မှန်တစ်ချပ်ကို တစ်ကြိမ်တည်း တိုင်းတာမှု ဖတ်ရှုနိုင်သည့် ကိရိယာဖြစ်သည်။ SADT HV-30 VICKERS HARDNESS TESTER - HV-30 မော်ဒယ် Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာသည် မျက်နှာပြင်အပေါ်ယံလွှာပြီးနောက် သေးငယ်ပြီး ပါးလွှာသော နမူနာများနှင့် အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ သုတေသနအင်စတီကျုများ၊ စက်ရုံဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် QC ဌာနများအတွက် သင့်လျော်သည်၊ ၎င်းတို့သည် သုတေသနနှင့် စမ်းသပ်မှုရည်ရွယ်ချက်များအတွက် စံပြမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာများဖြစ်သည်။ အဓိကအင်္ဂါရပ်များနှင့် လုပ်ဆောင်ချက်များမှာ မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာထိန်းချုပ်မှု၊ အလိုအလျောက်တင်ခြင်းနှင့် ဖြုတ်ချခြင်းယန္တရား၊ ဟာ့ဒ်ဝဲမှတစ်ဆင့် အလင်းရောင်အရင်းအမြစ်ကို ချိန်ညှိခြင်း၊ ဖိအားထိန်းထားချိန် (0 ~ 30s)၊ ထူးခြားသောတိုင်းတာမှုအဖြစ်ပြောင်းလဲခြင်းကိရိယာနှင့် ထူးခြားသော micro eyepiece တစ်ကြိမ်တည်းဖြင့် တိုင်းတာခြင်းဖတ်ရှုခြင်းကိရိယာ၊ လွယ်ကူကြောင်း သေချာစေပါသည်။ အသုံးပြုမှုနှင့် မြင့်မားသော တိကျမှု။ Our BENCH TYPE MICRO HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HV-1000 MICRO HARDNESS TESTER / HVS-1000 DIGITAL MICRO HARDNESS TESTER - ဤထုတ်ကုန်သည် သေးငယ်သော၊ ပါးလွှာသော ကြွေထည်ပစ္စည်းများ၊ သတ္တုပြားနမူနာများကဲ့သို့ မြင့်မားသောတိကျမာကျောမှုစမ်းသပ်ခြင်း၊ မာကျောသောအလွှာများ။ ကျေနပ်လောက်သော အရိပ်အယောင်ကို သေချာစေရန်၊ HV1000 / HVS1000 တွင် အလိုအလျောက် တင်ခြင်းနှင့် ဖြုတ်ချခြင်း လုပ်ဆောင်ချက်များ၊ အလွန်တိကျသော ဝန်တင်ယန္တရားနှင့် ကြံ့ခိုင်သော လီဗာစနစ်တို့ပါရှိသည်။ မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာ ထိန်းချုပ်မှုစနစ်သည် ချိန်ညှိနိုင်သော နေထိုင်ချိန်နှင့်အတူ လုံးဝတိကျသော မာကျောမှုတိုင်းတာမှုကို သေချာစေသည်။ SADT DHV-1000 MICRO HARDNESS TESTER / DHV-1000Z DIGITAL VICKERS HARDNESS TESTER - ဤမိုက်ခရို Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် ပိုမိုတိကျပြတ်သားသော ဒီဇိုင်းဖြင့် ပြုလုပ်ထားသော ဤမိုက်ခရို Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာများ။ 20 × မှန်ဘီလူးနှင့် 40 × မှန်ဘီလူးဖြင့် တူရိယာသည် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော တိုင်းတာမှုနယ်ပယ်နှင့် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော အသုံးချမှုအကွာအဝေးရှိသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်းဖြင့် တပ်ဆင်ထားပြီး၊ ၎င်း၏ LCD ဖန်သားပြင်တွင် တိုင်းတာမှုနည်းလမ်းများ၊ စမ်းသပ်မှု အင်အား၊ ညွှန်ပြမှု အလျား၊ မာကျောမှုတန်ဖိုး၊ စမ်းသပ်မှု အင်အား၏ နေထိုင်ချိန်နှင့် တိုင်းတာမှုအရေအတွက်တို့ကို ပြသထားသည်။ ထို့အပြင် ၎င်းတွင် ဒစ်ဂျစ်တယ်ကင်မရာနှင့် CCD ဗီဒီယိုကင်မရာနှင့် ချိတ်ဆက်ထားသည့် အင်တာဖေ့စ်ကို တပ်ဆင်ထားသည်။ ဤစမ်းသပ်ကိရိယာအား သံသတ္တုများ၊ သံမဟုတ်သောသတ္တုများ၊ IC ပါးလွှာသောအပိုင်းများ၊ အပေါ်ယံပိုင်း၊ ဖန်၊ ကြွေထည်များ၊ အဖိုးတန်ကျောက်များ၊ ခိုင်မာသောအလွှာများနှင့် အခြားအရာများကို တိုင်းတာရန်အတွက် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုပါသည်။ SADT DXHV-1000 DIGITAL MICRO HARDNESS TESTER - ထူးခြားတိကျသော မိုက်ခရို Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် ပိုမိုရှင်းလင်းသော အင်တင်းကို ထုတ်လုပ်နိုင်ပြီး ထို့ကြောင့် ပိုမိုတိကျသော တိုင်းတာမှုများ ပြုလုပ်နိုင်သည်။ 20 × မှန်ဘီလူးနှင့် 40 × မှန်ဘီလူးများဖြင့် စမ်းသပ်သူသည် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော တိုင်းတာမှုအကွက်နှင့် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော အသုံးချပရိုဂရမ်အကွာအဝေးရှိသည်။ အလိုအလျောက်လှည့်သည့်ကိရိယာ (အလိုအလျောက်လှည့်သည့်တိုင်တံ) ဖြင့် လည်ပတ်မှုပိုမိုလွယ်ကူလာသည်။ threaded interface ဖြင့်၎င်းကို ဒစ်ဂျစ်တယ်ကင်မရာနှင့် CCD ဗီဒီယိုကင်မရာနှင့် ချိတ်ဆက်နိုင်သည်။ ပထမဦးစွာ စက်ပစ္စည်းသည် LCD ထိတွေ့မျက်နှာပြင်ကို အသုံးပြုခွင့်ပေးပြီး လုပ်ဆောင်ချက်ကို လူသားတို့ ပိုမိုထိန်းချုပ်နိုင်စေပါသည်။ စက်ပစ္စည်းတွင် တိုင်းတာချက်များကို တိုက်ရိုက်ဖတ်ရှုခြင်း၊ မာကျောမှုစကေးများကို လွယ်ကူစွာပြောင်းလဲခြင်း၊ ဒေတာသိမ်းဆည်းခြင်း၊ ပုံနှိပ်ခြင်းနှင့် RS232 ကြားခံချိတ်ဆက်ခြင်းတို့ကဲ့သို့သော စွမ်းရည်များရှိသည်။ ဤစမ်းသပ်ကိရိယာကို သံသတ္တုများ၊ သံမဟုတ်သောသတ္တုများ၊ IC ပါးလွှာသောအပိုင်းများ၊ အပေါ်ယံပိုင်း၊ ဖန်၊ ကြွေထည်များ၊ ပါးလွှာသော ပလပ်စတစ်အပိုင်းများ၊ မာကျောသော အလွှာများနှင့် အခြားအရာများကို ဖယ်ရှားပါ။ Our BENCH TYPE BRINELL HARDNESS TESTER / MULTI-PURPOSE HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HD9-45 SUPERFICIAL ROCKWELL & VICKERS OPTICAL HARDNESS TESTER - ဤကိရိယာသည် သတ္တုများ၊ မာကျောသော သတ္တုနှင့် သတ္တုမဟုတ်သော အလွှာများနှင့် သတ္တုများကို ပြုပြင်ထားသော အလွှာများနှင့် ပါးလွှာသော အလွှာများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာသည့် ရည်ရွယ်ချက်ဖြင့် ဆောင်ရွက်ပါသည်။ SADT HBRVU-187.5 BRINELL ROCKWELL နှင့် VICKERS OPTICAL HARDNESS TESTER BRINELL ROCKWELL နှင့် VICKERS OPTICAL HARDNESS TESTER - ဤတူရိယာသည် Brinell၊ Rockwell နှင့် Vickers မာကျောသော သတ္တုအလွှာ၊ ဖာရိုရိုဆက်စထရိအလွှာများ၊ အပင်များ၊ သိပ္ပံနှင့် သုတေသနဌာနများ၊ ဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် ကောလိပ်များတွင် အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ SADT HBRV-187.5 BRINELL ROCKWELL နှင့် VICKERS HARDNESS TESTER (NOT OPTICAL) - ဤတူရိယာသည် Brinell၊ Rockwell နှင့် Vickers သတ္တုအမာခံမဟုတ်သော carburrosus သတ္တုအလွှာ၊ ဓာတုနည်းဖြင့် ကုသသော အလွှာများ။ စက်ရုံများ၊ သိပ္ပံနှင့် သုတေသနဌာနများ၊ ဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် ကောလိပ်များတွင် အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ ၎င်းသည် optical type hardness tester မဟုတ်ပါ။ SADT HBE-3000A BRINELL HARDNESS TESTER - ဤအလိုအလျောက် Brinell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် 3000 Kgf အထိ တိကျမှုမြင့်မားသော စံချိန်စံညွှန်းနှင့်ကိုက်ညီသော ကျယ်ပြန့်သောတိုင်းတာမှုအတိုင်းအတာတစ်ခုပါရှိသည်။ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်မှုစက်ဝန်းအတွင်း DIN 50351 စံနှုန်းနှင့်အညီ အလုပ်အပိုင်းအပေါ် အဆက်မပြတ်တွန်းအားကို အာမခံသည့် အပိတ်အဝိုင်းစနစ်ဖြင့် အသုံးချအင်အားကို ထိန်းချုပ်မည်ဖြစ်သည်။ HBE-3000A သည် ကျယ်ပြောသောအချက် 20X နှင့် 0.005 မီလီမီတာ မိုက်ခရိုမီတာ ကြည်လင်ပြတ်သားမှု ပါရှိသော စာဖတ်အဏုကြည့်မှန်ခရိုစကုပ်ပါရှိသည်။ SADT HBS-3000 DIGITAL BRINELL HARDNESS TESTER - ဤဒစ်ဂျစ်တယ် Brinell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် မျိုးဆက်သစ် ခေတ်မီသည့် စက်ပစ္စည်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ သတ္တုနှင့် သံမဏိမဟုတ်သော သတ္တုများ၏ Brinell မာကျောမှုကို ဆုံးဖြတ်ရန် ၎င်းကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ စမ်းသပ်သူသည် အီလက်ထရွန်းနစ်အလိုအလျောက်တင်ခြင်း၊ ကွန်ပျူတာဆော့ဖ်ဝဲပရိုဂရမ်ရေးဆွဲခြင်း၊ စွမ်းအားမြင့် အလင်းကြည့်တိုင်းတာခြင်း၊ ဓာတ်ပုံဆင်ဆာနှင့် အခြားအင်္ဂါရပ်များကို ပေးဆောင်သည်။ လုပ်ငန်းဆောင်ရွက်မှု လုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုစီနှင့် စမ်းသပ်မှုရလဒ်တစ်ခုစီကို ၎င်း၏ကြီးမားသော LCD ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် ပြသနိုင်သည်။ စာမေးပွဲရလဒ်များကို ရိုက်နှိပ်နိုင်ပါသည်။ စက်ပစ္စည်းသည် ထုတ်လုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်၊ ကောလိပ်များနှင့် သိပ္ပံဆိုင်ရာအဖွဲ့အစည်းများအတွက် သင့်လျော်သည်။ SADT MHB-3000 ဒီဂျစ်တယ်အီလက်ထရွန်းနစ် BRINELL HARDNESS TESTER ဤကိရိယာသည် အလင်း၊ စက်နှင့် အီလက်ထရွန်နစ်နည်းပညာများကို ပေါင်းစပ်ထားသော ထုတ်ကုန်တစ်ခုဖြစ်သည်။ တိကျသောအပိတ်စနစ်နှင့် ထိန်းချုပ်ထားသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာပုံစံကို အသုံးပြုထားသည်။ ကိရိယာသည် စမ်းသပ်မှုစွမ်းအားကို ၎င်း၏မော်တာဖြင့် တင်ဆောင်ပြီး ဖြုတ်ချသည်။ အချက်အလက်များကို တုံ့ပြန်ရန်နှင့် ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် CPU ကို တုံ့ပြန်ရန် 0.5% တိကျမှု ဖိသိပ်မှုအာရုံခံကိရိယာကို အသုံးပြု၍ တူရိယာသည် မတူညီသော စမ်းသပ်မှုစွမ်းအားများအတွက် အလိုအလျောက် လျော်ကြေးပေးပါသည်။ တူရိယာပေါ်ရှိ ဒစ်ဂျစ်တယ်မိုက်ခရိုမျက်မှန်တပ်ထားသဖြင့်၊ အင်တင်းအလျားကို တိုက်ရိုက်တိုင်းတာနိုင်သည်။ စစ်ဆေးမှုနည်းလမ်း၊ စမ်းသပ်မှုတန်ဖိုး၊ စမ်းသပ်မှု၏ကြာချိန်၊ မာကျောမှုတန်ဖိုးနှင့် စမ်းသပ်မှုအင်အားကို LCD ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် ပြသနိုင်သည်။ indentation အတွက် ထောင့်ဖြတ်အရှည်၏တန်ဖိုးကို ထည့်သွင်းရန် မလိုအပ်ဘဲ မာကျောမှုဇယားမှ မာကျောမှုတန်ဖိုးကို ရှာဖွေရန် မလိုအပ်ပါ။ ထို့ကြောင့် ဒေတာဖတ်ခြင်းသည် ပိုမိုတိကျပြီး ဤကိရိယာ၏ လုပ်ဆောင်မှုမှာ ပိုမိုလွယ်ကူပါသည်။ အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Active Optical Components - Lasers - Photodetectors - LED Dies - Photomicrosensor - Fiber Optic - AGS-TECH Inc. - USA Active Optical Components များ ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် စည်းဝေးပွဲ The ACTIVE OPTICAL COMPONENTS we ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် ထောက်ပံ့ခြင်းများမှာ- • လေဆာများနှင့် ဓာတ်ပုံထောက်လှမ်းကိရိယာများ၊ PSD (Position Sensitive Detectors)၊ လေးထောင့်ဆဲလ်များ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ တက်ကြွသော အလင်းကြည့် အစိတ်အပိုင်းများသည် လှိုင်းအလျား ဧရိယာများ ကျယ်ဝန်းသည်။ သင့်လျှောက်လွှာသည် စက်မှုဖြတ်တောက်ခြင်း၊ တူးဖော်ခြင်း၊ ဂဟေဆော်ခြင်း... စသည်တို့အတွက် ပါဝါမြင့်လေဆာများ သို့မဟုတ် ခွဲစိတ်မှု သို့မဟုတ် ရောဂါရှာဖွေခြင်းအတွက် ဆေးဘက်ဆိုင်ရာလေဆာများ သို့မဟုတ် ITU ဂရစ်အတွက် သင့်လျော်သော တယ်လီဖုန်းဆက်သွယ်ရေးလေဆာများ သို့မဟုတ် ထောက်လှမ်းကိရိယာများဖြစ်ပါစေ၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင်၏ တစ်နေရာတည်းမှ အရင်းအမြစ်ဖြစ်သည်။ အောက်တွင် ကျွန်ုပ်တို့၏ စင်ပြင်ပရှိ အသုံးပြုနေသော optical အစိတ်အပိုင်းများနှင့် စက်အချို့အတွက် ဒေါင်းလုဒ်လုပ်နိုင်သော ဘရိုရှာများဖြစ်သည်။ သင်ရှာဖွေနေသည့်အရာကို သင်ရှာမတွေ့ပါက၊ ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပါ၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်အား ပေးဆောင်ရန် တစ်ခုခုရှိပါမည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်လျှောက်လွှာနှင့် လိုအပ်ချက်များအရ တက်ကြွသော optical အစိတ်အပိုင်းများနှင့် စည်းဝေးပွဲများကို စိတ်ကြိုက်ထုတ်လုပ်ပါသည်။ • ကျွန်ုပ်တို့၏ optical အင်ဂျင်နီယာများ၏ အောင်မြင်မှုများစွာထဲတွင် GS 600 လေဆာတူးခြင်းစနစ်အတွက် အယူအဆဒီဇိုင်း၊ optical နှင့် opto-mechanical ဒီဇိုင်းသည် GS 600 လေဆာတူးခြင်းစနစ်အတွက်ဖြစ်သည်။ စတင်မိတ်ဆက်ချိန်မှစ၍ GS600 မိသားစုသည် ကမ္ဘာတစ်ဝှမ်းရှိ ထိပ်တန်းထုတ်လုပ်သူအများအပြားအတွက် ရွေးချယ်စရာစနစ်တစ်ခု ဖြစ်လာခဲ့သည်။ ZEMAX နှင့် CodeV ကဲ့သို့သော optical ဒီဇိုင်းကိရိယာများကို အသုံးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့၏ optical အင်ဂျင်နီယာများသည် သင့်စိတ်ကြိုက်စနစ်များကို ဒီဇိုင်းရေးဆွဲရန် အသင့်ဖြစ်နေပါပြီ။ သင့်တွင် သင့်ဒီဇိုင်းအတွက် SOLIDWORKS ဖိုင်များသာရှိပါက စိတ်မပူပါနှင့်၊ ၎င်းတို့ကို ပေးပို့ပြီး ကျွန်ုပ်တို့သည် အလင်းအားဒီဇိုင်းဖိုင်များကို ဖန်တီးကာ အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင်၊ ပုံဖော်ကာ နောက်ဆုံးဒီဇိုင်းကို အတည်ပြုပေးပါမည်။ သင့်ထုတ်ကုန်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုလိုအပ်ချက်များကို ဂရုစိုက်ရန် ကိစ္စအများစုတွင် လက်ပုံကြမ်း၊ ပုံကြမ်း၊ နမူနာပုံစံ သို့မဟုတ် နမူနာသည်ပင် လုံလောက်ပါသည်။ အသက်ဝင်နေသော ဖိုက်ဘာအော့ပတစ် ထုတ်ကုန်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ဓာတ်ပုံအာရုံခံကိရိယာများအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ photomicrosensors အတွက်ကျွန်ုပ်တို့၏ catalog ကိုဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ဓါတ်ပုံဆင်ဆာများနှင့် ဓာတ်ပုံမိုက်ခရိုဆင်ဆာများအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ကတ်တလောက်များကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ LED အသေများနှင့် ချစ်ပ်များ၏ ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ စင်အောက်ရှိ ထုတ်ကုန်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် လျှပ်စစ်နှင့် အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်း ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့အတွက် ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ မိတ်ဖက်ပြုခြင်း အစီအစဉ်ကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။ R င ရည်ညွှန်းကုဒ်- OICASANLY CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Vibration Meter - Tachometer - Accelerometer -Vibrometer- Nondestructive Testing - SADT-Mitech- AGS-TECH Inc. - NM - USA တုန်ခါမှုမီတာများ၊ တာတိုမီတာများ VIBRATION METERS and NON-CONTACT TACHOMETERS NON-CONTACT TACHOMETERS_cc754bb6d3-ဓာတ်ခွဲခန်းတွင်အသုံးပြုသော၊ ကျယ်ပြန့်စွာထုတ်လုပ်ခြင်း နှင့် Rspect154bb6d3c3 ကျွန်ုပ်တို့၏ SADT အမှတ်တံဆိပ် တိုင်းတာမှုနှင့် စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန်၊ ကျေးဇူးပြု၍ ဤနေရာကို နှိပ်ပါ။ ဤကတ်တလောက်တွင် အရည်အသွေးမြင့် တုန်ခါမှုမီတာနှင့် တာတိုမီတာအချို့ကို သင်တွေ့လိမ့်မည်။ စက်များ၊ တပ်ဆင်မှုများ၊ ကိရိယာများ သို့မဟုတ် အစိတ်အပိုင်းများတွင် တုန်ခါမှုနှင့် တုန်ခါမှုများကို တိုင်းတာရန်အတွက် တုန်ခါမှုမီတာကို အသုံးပြုသည်။ တုန်ခါမှုမီတာ၏ တိုင်းတာမှုများသည် အောက်ပါဘောင်များကို ပံ့ပိုးပေးသည်- တုန်ခါမှုအရှိန်၊ တုန်ခါမှုအလျင်နှင့် တုန်ခါမှုနေရာပြောင်းခြင်း။ ဤနည်းဖြင့် တုန်ခါမှုကို အလွန်တိကျစွာ မှတ်တမ်းတင်သည်။ ၎င်းတို့သည် အများအားဖြင့် သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော စက်ပစ္စည်းများဖြစ်ပြီး စာဖတ်မှုများကို သိမ်းဆည်းကာ နောက်ပိုင်းတွင် အသုံးပြုရန်အတွက် ပြန်လည်ထုတ်ယူနိုင်သည်။ ပျက်စီးမှု သို့မဟုတ် စိတ်အနှောင့်အယှက်ဖြစ်စေနိုင်သည့် အရေးကြီးသော ကြိမ်နှုန်းများကို တုန်ခါမှုမီတာကို အသုံးပြု၍ ရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် SINOAGE, SADT အပါအဝင် တုန်ခါမှုမီတာနှင့် အဆက်အသွယ်မရှိသော တာချာမီတာ အမှတ်တံဆိပ်များစွာကို ကျွန်ုပ်တို့ ရောင်းချပြီး ဝန်ဆောင်မှုပေးပါသည်။ ဤစမ်းသပ်ကိရိယာများ၏ ခေတ်မီဗားရှင်းများသည် အပူချိန်၊ စိုထိုင်းဆ၊ ဖိအား၊ 3-ဝင်ရိုးအရှိန်နှင့် အလင်းကဲ့သို့သော ဘောင်အမျိုးမျိုးကို တစ်ပြိုင်နက် တိုင်းတာနိုင်ပြီး မှတ်တမ်းတင်နိုင်စွမ်းရှိသည်။ ၎င်းတို့၏ ဒေတာလော့ဂ်ဂါသည် တိုင်းတာသည့်တန်ဖိုးများ သန်းနှင့်ချီ၍ မှတ်တမ်းတင်ထားပြီး၊ တိုင်းတာမှုတန်ဖိုး တစ်ဘီလီယံကျော်ကိုပင် မှတ်တမ်းတင်နိုင်သည့် ရွေးချယ်နိုင်သော microSD ကတ်များရှိသည်။ အများအပြားတွင် ရွေးချယ်နိုင်သော ကန့်သတ်ချက်များ၊ အိမ်ရာများ၊ ပြင်ပအာရုံခံကိရိယာများနှင့် USB-မျက်နှာပြင်များ ရှိသည်။ WIRELESS တုန်ခါမှု METERS_cc781905-5cde-3194-bb3b-1358badride ၏ စမ်းသပ်မှုမှ စက်ဆီသို့ ကြိုးမဲ့ဒေတာကို လက်ခံရရှိရန် နှင့် သက်သာရာရစေသော ဒေတာကို လက်ခံရယူရန် analysis. VIBRATION TRANSMITTERS စဉ်ဆက်မပြတ်စောင့်ကြည့်ခြင်းအတွက် ပြီးပြည့်စုံသောအဖြေများ။ အဝေးထိန်း သို့မဟုတ် အန္တရာယ်ရှိသော နေရာများတွင် စက်ကိရိယာများ၏ တုန်ခါမှုကို စောင့်ကြည့်ရန်အတွက် တုန်ခါမှုထုတ်လွှင့်သည့်ကိရိယာကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ ၎င်းတို့ကို အကြမ်းခံသော NEMA 4 အဆင့်သတ်မှတ်ထားသော အိတ်များတွင် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ Programmable ဗားရှင်းကို ရရှိနိုင်ပါသည်။ Other versions include the POCKET ACCELEROMETER to measure vibration velocity in machines and installations. MULTICHANNEL VIBRATION METERS to perform vibration နေရာများစွာကို တစ်ချိန်တည်းတွင် တိုင်းတာခြင်း။ ကျယ်ပြန့်သောကြိမ်နှုန်းတွင် တုန်ခါမှုအလျင်၊ အရှိန်နှင့် ချဲ့ထွင်မှုကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ တုန်ခါမှုအာရုံခံကိရိယာများ၏ ကေဘယ်ကြိုးများသည် ရှည်လျားသောကြောင့် တုန်ခါမှုတိုင်းတာသည့်ကိရိယာသည် စမ်းသပ်မည့်အစိတ်အပိုင်း၏ မတူညီသောနေရာများတွင် တုန်ခါမှုများကို မှတ်တမ်းတင်နိုင်သည်။ တုန်ခါမှုအမြန်နှုန်း၊ တုန်ခါမှုအလျင်နှင့် တုန်ခါမှုနေရာရွှေ့ပြောင်းမှုကို ဖော်ပြသည့် စက်များနှင့် တပ်ဆင်မှုများတွင် တုန်ခါမှုများကို ဆုံးဖြတ်ရန်အတွက် တုန်ခါမှုမီတာများစွာကို အဓိကအားဖြင့် အသုံးပြုပါသည်။ အဆိုပါတုန်ခါမှုမီတာများ၏အကူအညီဖြင့်၊ နည်းပညာရှင်များသည် စက်၏လက်ရှိအခြေအနေနှင့် တုန်ခါမှုဖြစ်စေသောအကြောင်းရင်းများကို လျင်မြန်စွာဆုံးဖြတ်နိုင်ကာ လိုအပ်သောချိန်ညှိမှုများပြုလုပ်ကာ နောက်ပိုင်းအခြေအနေအသစ်များကို အကဲဖြတ်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ သို့ရာတွင် အချို့သောတုန်ခါမှုမီတာမော်ဒယ်များကို တူညီသောနည်းလမ်းဖြင့်အသုံးပြုနိုင်သော်လည်း ၎င်းတို့တွင် FAST FOURIER TRANSFORM (FFT) FAST FOURIER TRANSFORM (FFT)_cc781905-5cde-3194-bb3b5andfqu68 အတိအကျဖော်ပြမည်ဆိုပါက၊ တုန်ခါမှုအတွင်း။ စက်များနှင့် တပ်ဆင်မှုများကို စုံစမ်းစစ်ဆေးရန် သို့မဟုတ် စမ်းသပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်တွင် အချိန်အတိုင်းအတာတစ်ခုအထိ တိုင်းတာမှုပြုလုပ်ရန် ၎င်းတို့ကို ပိုမိုကောင်းမွန်စွာအသုံးပြုသည်။ Fast Fourier Transform (FFT) မော်ဒယ်များသည် 'Harmonics' ကို လွယ်ကူတိကျစွာ ဆုံးဖြတ်နိုင်ပြီး ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာနိုင်သည်။ တုန်ခါမှုမီတာများကို စက်ယန္တရားများ၏ ထိန်းချုပ်လည်ပတ်ဝင်ရိုးအတွက် ပုံမှန်အားဖြင့် အသုံးပြုထားသောကြောင့် နည်းပညာရှင်များသည် ဝင်ရိုးတစ်ခု၏ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုကို တိကျစွာဆုံးဖြတ်နိုင်ပြီး အကဲဖြတ်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ အရေးပေါ်အခြေအနေများတွင်၊ စက်ခေတ္တရပ်ထားချိန်တွင် ဝင်ရိုးကို ပြုပြင်ပြီး ပြောင်းလဲနိုင်သည်။ အကြောင်းအရင်းများစွာသည် ဟောင်းနွမ်းနေသော bearings နှင့် couplings များ၊ ဖောင်ဒေးရှင်းပျက်စီးမှု၊ ကျိုးနေသော mounting bolts များ၊ ချိန်ညှိမှုမှားယွင်းခြင်းနှင့် ဟန်ချက်မညီခြင်းကဲ့သို့သော လည်ပတ်နေသောစက်ပစ္စည်းများတွင် အလွန်အကျွံတုန်ခါမှုကို ဖြစ်စေနိုင်သည်။ ကောင်းမွန်စွာ စီစဉ်ထားသော တုန်ခါမှုတိုင်းတာခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်သည် ပြင်းထန်သောစက်ပြဿနာများမပေါ်ပေါက်မီတွင် အဆိုပါချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေဖော်ထုတ်ပြီး ဖယ်ရှားရှင်းလင်းရန် ကူညီပေးပါသည်။ A TACHOMETER (တော်လှန်ရေး-ကောင်တာဟုလည်းခေါ်သည်၊ RPM gauge) သည် စက်၏အမြန်နှုန်းကို တိုင်းတာသည့် ဒစ်ခ်တစ်ခု သို့မဟုတ် စက်တစ်ခုအဖြစ် ရောနှောသည့်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် ချိန်ညှိထားသော analogue သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ် ဒိုင်ခွက် သို့မဟုတ် မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် တစ်မိနစ်လျှင် တော်လှန်ရေးများ (RPM) ကို ပြသသည်။ tachometer ဟူသော အသုံးအနှုန်းကို များသောအားဖြင့် အတိုင်းအတာတစ်ခုအတွင်း လှည့်ပတ်မှုအရေအတွက်ကို ရေတွက်ပြီး ကြားကာလအတွက် ပျမ်းမျှတန်ဖိုးများကိုသာ ညွှန်ပြသည့် စက်များထက် တစ်မိနစ်လျှင် တော်လှန်ရေးအမြန်နှုန်းကို ညွှန်ပြသော စက် သို့မဟုတ် လျှပ်စစ်တူရိယာများတွင် ကန့်သတ်ထားသည်။ There are CONTACT TACHOMETERS as well as NON-CONTACT TACHOMETERS (also referred to as a_cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_PHOTO TACHOMETER or LASER TACHOMETER or INFRARED TACHOMETER depending on the light အသုံးပြုထားသော အရင်းအမြစ်)။ အချို့သောအခြားသူများကို as COMBINATION TACHOMETERS အဆက်အသွယ်တစ်ခုနှင့် ဓာတ်ပုံယူနစ်တစ်ခုကို ပေါင်းစပ်၍ tachometer ခေတ်မီပေါင်းစပ် tachometers များသည် အဆက်အသွယ် သို့မဟုတ် ဓာတ်ပုံမုဒ်ပေါ် မူတည်၍ ပြခန်းတွင် ပြောင်းပြန်အက္ခရာများကို ပြသသည်၊ ပစ်မှတ်မှ လက်မအတော်ကြာ အကွာအဝေးကို ဖတ်ရန် မြင်နိုင်သောအလင်းရောင်ကို အသုံးပြုပါ၊ မန်မိုရီ/စာဖတ်ခြင်းခလုတ်သည် နောက်ဆုံးဖတ်ရှုခြင်းကို ထိန်းထားပြီး min/max ဖတ်ရှုမှုများကို ပြန်လည်သိမ်းဆည်းသည်။ တုန်ခါမှုမီတာကဲ့သို့ပင်၊ နေရာအများအပြားတွင် အမြန်နှုန်းတိုင်းတာရန်အတွက် လိုင်းပေါင်းစုံတူရိယာများ အပါအဝင် tachometers မော်ဒယ်များစွာ၊ ဝေးလံခေါင်သီသောနေရာများမှ အချက်အလက်များကို ပံ့ပိုးပေးရန်အတွက် ကြိုးမဲ့ဗားရှင်းများ စသည်တို့ဖြစ်သည်။ ခေတ်မီတူရိယာများအတွက် RPM အပိုင်းအခြားများသည် RPM အနည်းငယ်မှ RPM တန်ဖိုးများ ရာနှင့်ချီအထိ ကွဲပြားသည်၊ ၎င်းတို့သည် အလိုအလျောက် အကွာအဝေးရွေးချယ်မှု၊ အလိုအလျောက်-သုည ချိန်ညှိမှု၊ +/- 0.05% တိကျမှုကဲ့သို့သော တန်ဖိုးများကို ပေးဆောင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏တုန်ခါမှုမီတာနှင့် အဆက်အသွယ်မရှိသော တာချာမီတာများမှ SADT are- သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသောတုန်ခါမှုမီတာ SADT မော်ဒယ် EMT220 - ပေါင်းစပ်တုန်ခါမှု transducer၊ annular shear type acceleration transducer (ပေါင်းစပ်အမျိုးအစားအတွက်သာ)၊ သီးခြား၊ တပ်ဆင်ပါရှိသော လျှပ်စစ်အားသွင်းအသံချဲ့စက် ( shear type) အတွက် သီးခြား transducer အမျိုးအစား၊ ၊ အပူချိန် transducer၊ type K သာမိုလျှပ်စစ်စုံတွဲ transducer (အပူချိန်တိုင်းခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်ပါရှိသော EMT220 အတွက်သာ)။ စက်တွင် root mean square detector ပါရှိသည်၊ ရွှေ့ပြောင်းခြင်းအတွက် တုန်ခါမှုတိုင်းတာမှုစကေးသည် 0.001~1.999 mm (အထွတ်အထိပ်မှ အထွတ်အထိပ်) ဖြစ်ပြီး အလျင်သည် 0.01~19.99 cm/s (rms တန်ဖိုး)၊ အရှိန်အတွက် 0.1~199.9 m/s2 (အမြင့်ဆုံးတန်ဖိုး) တုန်ခါမှုအရှိန်သည် 199.9 m/s2 (အမြင့်ဆုံးတန်ဖိုး) ဖြစ်သည်။ အပူချိန်တိုင်းတာမှုစကေးသည် -20~400°C (အပူချိန်တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်ပါရှိသော EMT220 အတွက်သာ)။ တုန်ခါမှုတိုင်းတာခြင်းအတွက် တိကျမှု- ±5% အတိုင်းအတာတန်ဖိုး ±2 ဂဏန်းများ။ အပူချိန်တိုင်းတာခြင်း- ±1% တိုင်းတာမှုတန်ဖိုး ±1 ဂဏန်း၊ တုန်ခါမှုအကြိမ်ရေ အကွာအဝေး- 10~1 kHz (ပုံမှန်အမျိုးအစား) 5~1 kHz (နိမ့်သောကြိမ်နှုန်းအမျိုးအစား) 1~15 kHz (အရှိန်မြှင့်ရန်အတွက် "HI" အနေအထားတွင်သာ)။ မျက်နှာပြင်သည် အရည်ပုံဆောင်ခဲပြကွက် (LCD)၊ နမူနာကာလ- 1 စက္ကန့်၊ တုန်ခါမှုတိုင်းတာခြင်းတန်ဖိုး ဖတ်ရှုခြင်း- ရွှေ့ပြောင်းမှု- အထွတ်အထိပ်မှ အထွတ်အထိပ်တန်ဖိုး (rms×2squareroot2)၊ အလျင်- အမြစ်အဓိပ္ပာယ်စတုရန်း (rms)၊ အရှိန်-အမြင့်ဆုံးတန်ဖိုး (rms×squareroot 2 ), Readout-keeping လုပ်ဆောင်ချက်- တုန်ခါမှု/အပူချိန်တန်ဖိုးကို တိုင်းတာမှုကီး (Vibration/Temperature Switch), အထွက်အချက်ပြစနစ်- 2V AC (အမြင့်ဆုံးတန်ဖိုး) (တိုင်းတာမှုစကေးအပြည့်တွင် 10 k အထက်တွင် ဝန်ခံနိုင်ရည်ရှိသည်)၊ ပါဝါ၊ ထောက်ပံ့မှု- 6F22 9V ရောင်ခြယ်ဆဲလ်၊ စဉ်ဆက်မပြတ်အသုံးပြုရန်အတွက် နာရီ 30 ခန့် ဘက်ထရီသက်တမ်း၊ ပါဝါဖွင့်/ပိတ်- Measure Key (တုန်ခါမှု/အပူချိန် ခလုတ်) ကိုနှိပ်သောအခါ ပါဝါတက်သည်)၊ Measure Key ကို တစ်မိနစ်ကြာအောင်ထုတ်ပြီးနောက် ပါဝါအလိုအလျောက်ပိတ်သွားသည်၊၊ လည်ပတ်မှုအခြေအနေများ- အပူချိန်- 0~50°C၊ စိုထိုင်းဆ- 90% RH၊ အတိုင်းအတာ-185mm×68mm×30mm၊ အသားတင်အလေးချိန်-200g အိတ်ဆောင် Optical Tachometer SADT မော်ဒယ် EMT260 - ထူးခြားသော ergonomic ဒီဇိုင်းသည် မျက်နှာပြင်နှင့် ပစ်မှတ်ကို တိုက်ရိုက်မြင်နိုင်စေသည်၊ အလွယ်တကူ ဖတ်နိုင်သော ဂဏန်း 5 LCD မျက်နှာပြင်၊ ပစ်မှတ်နှင့် အနိမ့်ဘက်ထရီ ညွှန်ပြချက်၊ အမြင့်ဆုံး၊ လည်ပတ်မှုအမြန်နှုန်း၊ ကြိမ်နှုန်း၊ သံသရာ၊ မျဉ်းဖြောင့်အမြန်နှုန်းနှင့် တန်ပြန်၏ နောက်ဆုံးတိုင်းတာမှု။ အရှိန်အပိုင်းများ- လှည့်နှုန်း- 1~99999r/min၊ ကြိမ်နှုန်း- 0.0167~1666.6Hz၊ သံသရာ- 0.6~60000ms၊ ကောင်တာ-1~99999၊ လိုင်းအမြန်နှုန်း-0.1~3000.0m/min၊ 0.00666~16. စာဖတ်ခြင်း၏ ±0.005%၊ မျက်နှာပြင်- 5 ဂဏန်း LCD မျက်နှာပြင်၊ အဝင်အချက်ပြ: 1-5VP-P Pulse Input၊ အထွက်အချက်ပြမှု- TTL တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော Pulse Output၊ ပါဝါ- 2x1.5V ဘက်ထရီများ၊ အတိုင်းအတာ (LxWxH): 128mmx58mmx26mm၊ အသားတင်အလေးချိန်: 90g အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Test Equipment for Testing Paper & Packaging Products, Adhesive Tape Peel Test Machine, Carton Compressive Tester, Foam Compression Hardness Tester, Zero Drop Test Machine, Package Incline Impact Tester အီလက်ထရွန်းနစ် စမ်းသပ်သူများ အီလက်ထရွန်းနစ်စမ်းသပ်စက် ဟူသော အသုံးအနှုန်းဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့သည် လျှပ်စစ်နှင့် အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် စနစ်များကို စမ်းသပ်ခြင်း၊ စစ်ဆေးခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအတွက် အဓိကအသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာများကို ရည်ညွှန်းပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် လူကြိုက်အများဆုံးများကို ကမ်းလှမ်းသည်- ပါဝါထောက်ပံ့မှုများနှင့် အမှတ်အသားပေးစက်များ- ပါဝါထောက်ပံ့မှု၊ သင်္ကေတထုတ်ပေးသည့်စက်၊ ကြိမ်နှုန်းစံညှိကိရိယာ၊ လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာ၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာ၊ PULSE GENERATOR၊ သင်္ကေတအင်ဂျယ်တာ မီတာများ- ဒစ်ဂျစ်တယ်မာလ်တီမီတာများ၊ LCR မီတာ၊ EMF မီတာ၊ စွမ်းရည်မြှင့်မီတာ၊ တံတားကိရိယာ၊ ကလစ်မီတာ၊ GAUSSMETER/TESLAMETER/ MAGNETOMETER၊ မြေပြင်ခုခံမှုမီတာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ- OSCILLOSCOPES၊ ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ အလင်းတန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ ပရိုတိုကော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၊ Vector Signal Analyzer၊ TIME-DOMAIN ရောင်ပြန်ဟပ်စက်၊ SEMICONDUCTOR မျဉ်းကြောင်းခြေရာခံ၊ ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်မှု ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ PHASETER အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com လုပ်ငန်းခွင်တစ်လျှောက် နေ့စဉ်အသုံးပြုနေသည့် ဤစက်ပစ္စည်းအချို့ကို အတိုချုပ်ပြောကြပါစို့။ တိုင်းတာမှုဆိုင်ရာရည်ရွယ်ချက်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့ပေးဆောင်သော လျှပ်စစ်ပါဝါထောက်ပံ့မှုသည် သီးခြား၊ ခုံတန်းလျားနှင့် သီးခြားစက်ပစ္စည်းများဖြစ်သည်။ ချိန်ညှိနိုင်သော စည်းမျဉ်းသတ်မှတ်ထားသော လျှပ်စစ်ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများသည် ၎င်းတို့၏ အထွက်တန်ဖိုးများကို ချိန်ညှိနိုင်ပြီး ၎င်းတို့၏ အထွက်ဗို့အား သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းသည် အဝင်ဗို့အား သို့မဟုတ် ဝန်လျှပ်စီးကြောင်းတွင် ကွဲပြားမှုများရှိနေသော်လည်း ၎င်းတို့၏ အထွက်ဗို့အား (သို့) လျှပ်စီးကြောင်းအား ထိန်းထားနိုင်သောကြောင့် ရေပန်းအစားဆုံးအချို့ဖြစ်သည်။ သီးခြားပါဝါထောက်ပံ့မှုများတွင် ၎င်းတို့၏ ပါဝါသွင်းအားစုများမှ လျှပ်စစ်ဖြင့် သီးခြားကင်းသော ပါဝါအထွက်များရှိသည်။ ၎င်းတို့၏ ပါဝါကူးပြောင်းမှုနည်းလမ်းပေါ်မူတည်၍ LINEAR နှင့် SWITCHING POWER SUPPLIES များရှိပါသည်။ linear power supply များသည် input power ကို linear regions တွင် အလုပ်လုပ်သော ၎င်းတို့၏ active power converting components များအားလုံးနှင့် တိုက်ရိုက် process လုပ်သည်၊၊ switching power supply တွင် components များသည် non-linear modes (transistor ကဲ့သို့သော transistor များကဲ့သို့) နှင့် power convert မလုပ်မီ AC သို့မဟုတ် DC pulses သို့ ပါဝါမပြောင်းပါ။ လုပ်ဆောင်နေသည်။ ပါဝါပြောင်းခြင်းများသည် ပုံမှန်အားဖြင့် linear ထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများထက် ပိုမိုထိရောက်မှုရှိပြီး ၎င်းတို့၏ အစိတ်အပိုင်းများသည် linear လည်ပတ်မှုဒေသများတွင် အသုံးပြုသည့်အချိန်တိုတောင်းသောကြောင့် ပါဝါလျော့နည်းသွားသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ လျှောက်လွှာပေါ်မူတည်၍ DC သို့မဟုတ် AC ပါဝါကို အသုံးပြုသည်။ အခြားရေပန်းစားသော စက်ပစ္စည်းများမှာ RS232 သို့မဟုတ် GPIB ကဲ့သို့သော analog input သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ်အင်တာဖေ့စ်မှတဆင့် ဗို့အား၊ လက်ရှိ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်းကို အဝေးမှထိန်းချုပ်နိုင်သည့် ပရိုဂရမ်မာဘလက်ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့အများစုတွင် လုပ်ငန်းဆောင်ရွက်မှုများကို စောင့်ကြည့်ထိန်းချုပ်ရန် အဓိကကျသော မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာတစ်ခုရှိသည်။ ထိုသို့သောတူရိယာများသည် အလိုအလျောက်စမ်းသပ်ခြင်းရည်ရွယ်ချက်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။ အချို့သော အီလက်ထရွန်နစ် ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများသည် ဝန်ပိုနေချိန်တွင် ဓာတ်အားဖြတ်တောက်မည့်အစား လက်ရှိကန့်သတ်ချက်ကို အသုံးပြုသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ် ကန့်သတ်ခြင်းကို ဓာတ်ခွဲခန်း ခုံတန်းလျား အမျိုးအစားတူရိယာများတွင် အသုံးများသည်။ SIGNAL GENERATORS များသည် ဓာတ်ခွဲခန်းနှင့် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် အသုံးများသော တူရိယာများဖြစ်ပြီး ထပ်ခါတလဲလဲ သို့မဟုတ် ထပ်တလဲလဲ မဟုတ်သော analog သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ် အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ တနည်းအားဖြင့် ၎င်းတို့ကို လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာများ၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာများ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်း ဂျင်နရေတာများဟုလည်း ခေါ်သည်။ Function ဂျင်နရေတာများသည် sine waves၊ step pulses၊ square & triangular နှင့် arbitrary waveforms ကဲ့သို့သော ရိုးရှင်းသော ထပ်တလဲလဲလှိုင်းပုံစံများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ Arbitrary waveform generators ဖြင့် အသုံးပြုသူသည် ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေး၊ တိကျမှုနှင့် အထွက်အဆင့် ကန့်သတ်ချက်များအတွင်း မတရားသော လှိုင်းပုံစံများကို ဖန်တီးနိုင်သည်။ ရိုးရှင်းသော လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန်တစ်ခုအတွက် ကန့်သတ်ထားသည့် လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာများနှင့် မတူဘဲ၊ မတရားသော လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန် ဂျင်နရေတာသည် သုံးစွဲသူအား နည်းလမ်းအမျိုးမျိုးဖြင့် အရင်းအမြစ်လှိုင်းပုံစံကို သတ်မှတ်ရန် ခွင့်ပြုသည်။ RF နှင့် MICROWAVE SIGNAL GENERATORများကို ဆယ်လူလာဆက်သွယ်ရေး၊ WiFi၊ GPS၊ ထုတ်လွှင့်မှု၊ ဂြိုလ်တုဆက်သွယ်ရေးနှင့် ရေဒါများကဲ့သို့သော အက်ပ်များတွင် အစိတ်အပိုင်းများ၊ လက်ခံကိရိယာများနှင့် စနစ်များကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။ RF အချက်ပြမီးစက်များသည် ယေဘူယျအားဖြင့် အနည်းငယ် kHz မှ 6 GHz ကြားတွင် အလုပ်လုပ်ကြပြီး၊ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ် အချက်ပြမီးစက်များသည် 1 MHz ထက်နည်းသော အနည်းဆုံး 20 GHz နှင့် အထူးဟာ့ဒ်ဝဲကို အသုံးပြုထားသော ရာနှင့်ချီသော GHz အကွာအဝေးအထိ ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းအတွင်း လုပ်ဆောင်နေပါသည်။ RF နှင့် microwave signal generator များကို analog သို့မဟုတ် vector signal generator များအဖြစ် ထပ်မံခွဲခြားနိုင်ပါသည်။ AUDIO-FREQUENCY SIGNAL GENERATORS များသည် အသံ-ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးနှင့် အထက်တွင် အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ ၎င်းတို့တွင် အသံပစ္စည်းကိရိယာများ၏ ကြိမ်နှုန်းတုံ့ပြန်မှုကို စစ်ဆေးသည့် အီလက်ထရွန်းနစ်ဓာတ်ခွဲခန်းအက်ပ်များရှိသည်။ Vector SIGNAL GENERATORများ၊ တစ်ခါတစ်ရံ DIGITAL SIGNAL GENERATOR များဟုလည်း ရည်ညွှန်းပြီး ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်ဖြင့် ပြုပြင်ထားသော ရေဒီယိုအချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးနိုင်စွမ်းရှိသည်။ Vector signal generator များသည် GSM၊ W-CDMA (UMTS) နှင့် Wi-Fi (IEEE 802.11) ကဲ့သို့သော လုပ်ငန်းစံနှုန်းများအပေါ် အခြေခံ၍ အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးနိုင်သည်။ LOGIC SIGNAL GENERATORများကို ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာ ဟုခေါ်သည်။ ဤဂျင်နရေတာများသည် သမားရိုးကျဗို့အားအဆင့်ပုံစံဖြင့် logic 1s နှင့် 0s ဖြစ်သည့် logic signals အမျိုးအစားများကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ လော့ဂျစ်အချက်ပြမီးစက်များကို ဒစ်ဂျစ်တယ် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များနှင့် မြှုပ်သွင်းထားသော စနစ်များ၏ လုပ်ဆောင်မှုဆိုင်ရာ တရားဝင်အတည်ပြုခြင်းနှင့် စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် လှုံ့ဆော်မှုအရင်းအမြစ်များအဖြစ် အသုံးပြုပါသည်။ အထက်ဖော်ပြပါ စက်ပစ္စည်းများသည် ယေဘူယျအသုံးပြုရန်အတွက်ဖြစ်သည်။ သို့သော် စိတ်ကြိုက် သီးခြားအက်ပ်လီကေးရှင်းများအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော အခြားသော signal generator များစွာရှိပါသည်။ SIGNAL INJECTOR သည် ဆားကစ်တစ်ခုအတွင်း အချက်ပြခြေရာခံခြင်းအတွက် အလွန်အသုံးဝင်ပြီး အမြန်ပြဿနာဖြေရှင်းရေးကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ နည်းပညာရှင်များသည် ရေဒီယိုလက်ခံကိရိယာကဲ့သို့သော စက်ပစ္စည်းတစ်ခု၏ အမှားအယွင်းအဆင့်ကို လျှင်မြန်စွာ ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ signal injector ကို speaker output သို့ အသုံးချနိုင်ပြီး signal သည် ကြားနိုင်လျှင် circuit ၏ ရှေ့အဆင့်သို့ ရွှေ့နိုင်သည်။ ဤအခြေအနေတွင် အသံချဲ့စက်တစ်ခုနှင့် ထိုးသွင်းထားသော အချက်ပြသံကို ထပ်မံကြားရပါက အချက်ပြမှုအား ပတ်လမ်းကြောင်း၏ အဆင့်များအထိ ရွှေ့နိုင်သည်။ ၎င်းသည် ပြဿနာ၏တည်နေရာကို ရှာဖွေခြင်း၏ ရည်ရွယ်ချက်ကို ဆောင်ရွက်ပေးမည်ဖြစ်သည်။ MULTIMETER သည် ယူနစ်တစ်ခုတွင် တိုင်းတာမှုများစွာကို ပေါင်းစပ်ထားသော အီလက်ထရွန်နစ် တိုင်းတာရေးကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ယေဘုယျအားဖြင့် multimeters များသည် ဗို့အား၊ လျှပ်စီးကြောင်းနှင့် ခုခံမှုကို တိုင်းတာသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ်နှင့် analog ဗားရှင်းနှစ်မျိုးစလုံးကို ရရှိနိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော လက်ကိုင်မာလ်တီမီတာယူနစ်များအပြင် ဓာတ်ခွဲခန်းအဆင့် မော်ဒယ်များကို အသိအမှတ်ပြု စံကိုက်ညှိပေးပါသည်။ ခေတ်မီမာလ်တီမီတာများသည် ဗို့အား (AC/DC နှစ်ခုလုံး)၊ ဗို့များ၊ လက်ရှိ (AC/DC နှစ်ခုလုံး)၊ amperes ၊ ခံနိုင်ရည်ရှိသော ohms ကဲ့သို့သော အတိုင်းအတာများစွာကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ ထို့အပြင်၊ အချို့သော multimeters များသည် အတိုင်းအတာ- farads တွင် စွမ်းဆောင်ရည်၊ siemens တွင် conductance၊ Decibels၊ ရာခိုင်နှုန်းအဖြစ် Duty cycle၊ hertz ရှိ ကြိမ်နှုန်း၊ henries တွင် Inductance၊ အပူချိန် ဒီဂရီစင်တီဂရိတ် သို့မဟုတ် ဖာရင်ဟိုက်တွင် အပူချိန် စမ်းသပ်ကိရိယာကို အသုံးပြုထားသည်။ အချို့သော multimeter များလည်း ပါဝင်သည်- Continuity tester; ဆားကစ်တစ်ခုလုပ်ဆောင်သည့်အခါ အသံများ၊ Diodes (ရှေ့သို့ diode လမ်းဆုံများကို တိုင်းတာခြင်း)၊ ထရန်စစ္စတာများ (လက်ရှိရရှိမှုကို တိုင်းတာခြင်းနှင့် အခြားကန့်သတ်ချက်များ)၊ ဘက်ထရီစစ်ဆေးခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်၊ အလင်းအဆင့်တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်၊ အချဉ်ဓာတ်နှင့် အယ်လ်ကာလီနစ် (pH) တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်နှင့် နှိုင်းရစိုထိုင်းဆ တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်။ ခေတ်မီမာလ်တီမီတာများသည် များသောအားဖြင့် ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်သည်။ ခေတ်မီ ဒစ်ဂျစ်တယ် မာလ်တီမီတာများသည် မက်ထရိုဗေဒနှင့် စမ်းသပ်မှုတွင် အလွန်အစွမ်းထက်သော ကိရိယာများ ဖန်တီးရန် မြှပ်နှံထားသော ကွန်ပျူတာများ ရှိတတ်သည်။ ၎င်းတို့တွင် အောက်ပါကဲ့သို့သော အင်္ဂါရပ်များ ပါဝင်သည်။ • စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော ပမာဏအတွက် မှန်ကန်သောအကွာအဝေးကို ရွေးချယ်ပေးသော အလိုအလျောက်ချိန်ညှိခြင်း ၊ သို့မှသာ အထူးခြားဆုံးသော ဂဏန်းများကို ပြသနိုင်မည်ဖြစ်သည်။ • တိုက်ရိုက်-လက်ရှိဖတ်ရှုခြင်းအတွက် အလိုအလျောက်ဝင်ပေါက်၊ အသုံးချဗို့အားသည် အပြုသဘော သို့မဟုတ် အနှုတ်ရှိမရှိကို ပြသသည်။ • စမ်းသပ်ဆဲပတ်လမ်းမှ ကိရိယာကို ဖယ်ရှားပြီးနောက် စစ်ဆေးမှုအတွက် နောက်ဆုံးဖတ်ရှုခြင်းအား နမူနာနှင့် ဖိထားပါမည်။ • ဆီမီးကွန်ဒတ်တာလမ်းဆုံများတစ်လျှောက် ဗို့အားကျဆင်းမှုအတွက် လက်ရှိစမ်းသပ်မှုများ။ ထရန်စစ္စတာစမ်းသပ်သူအတွက် အစားထိုးခြင်းမဟုတ်သော်လည်း၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်မာလ်တီမီတာများ၏ ဤအင်္ဂါရပ်သည် စမ်းသပ်ခြင်း diodes နှင့် transistor ကို လွယ်ကူချောမွေ့စေသည်။ • တိုင်းတာထားသောတန်ဖိုးများတွင် လျင်မြန်သောပြောင်းလဲမှုများကို ပိုမိုကောင်းမွန်စွာမြင်ယောင်နိုင်စေရန် စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော ပမာဏ၏ ဘားဂရပ်ကို ကိုယ်စားပြုခြင်း။ • Bandwidth နည်းသော oscilloscope။ • မော်တော်ယာဥ်အချိန်ကိုက်ခြင်းနှင့် နေထိုင်အချက်ပြမှုများကို စမ်းသပ်မှုများပါရှိသော မော်တော်ယာဥ်ပတ်လမ်းစမ်းသပ်သူများ။ • သတ်မှတ်ကာလတစ်ခုအတွင်း အများဆုံးနှင့် အနိမ့်ဆုံးဖတ်ရှုမှုများကို မှတ်တမ်းတင်ရန်နှင့် သတ်မှတ်ထားသော ကြားကာလတွင် နမူနာများစွာကို ရယူရန် ဒေတာရယူခြင်း အင်္ဂါရပ်။ •ပေါင်းစပ် LCR မီတာ။ အချို့သော multimeter များသည် ကွန်ပျူတာများနှင့် ဆက်သွယ်နိုင်ပြီး အချို့က တိုင်းတာမှုများကို သိမ်းဆည်းနိုင်ပြီး ၎င်းတို့ကို ကွန်ပျူတာသို့ အပ်လုဒ်လုပ်နိုင်သည်။ အခြားအလွန်အသုံးဝင်သောကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည့် LCR METER သည် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု၏ inductance (L)၊ capacitance (C) နှင့် ခံနိုင်ရည် (R) ကို တိုင်းတာရန်အတွက် မက်ထရိုဗေဒကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ impedance ကို အတွင်းပိုင်း တိုင်းတာပြီး သက်ဆိုင်ရာ capacitance သို့မဟုတ် inductance တန်ဖိုးသို့ ပြသရန်အတွက် ပြောင်းလဲသည်။ စမ်းသပ်ဆဲ capacitor သို့မဟုတ် inductor တွင် impedance ၏ သိသာထင်ရှားသော ခံနိုင်ရည်ရှိသော အစိတ်အပိုင်း မရှိပါက စာဖတ်ခြင်းသည် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာ တိကျပါလိမ့်မည်။ အဆင့်မြင့် LCR မီတာများသည် စစ်မှန်သော inductance နှင့် capacitance တို့ကို တိုင်းတာသည့်အပြင် capacitors များ၏ စီးရီးခုခံမှုနှင့် inductive အစိတ်အပိုင်းများ၏ Q အချက်ကိုလည်း တိုင်းတာသည်။ စမ်းသပ်ဆဲ ကိရိယာသည် AC ဗို့အား ရင်းမြစ်တစ်ခုတွင် တပ်ဆင်ထားပြီး မီတာသည် စမ်းသပ်ထားသော ကိရိယာမှတဆင့် လက်ရှိ ဗို့အားကို တိုင်းတာသည်။ မီတာသည် ဗို့အားအချိုးမှ လက်ရှိ impedance ကိုဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ ဗို့အားနှင့်လျှပ်စီးကြောင်းကြားရှိ အဆင့်ထောင့်ကိုလည်း အချို့သောကိရိယာများတွင် တိုင်းတာသည်။ စမ်းသပ်ထားသော စက်၏ impedance နှင့် ညီမျှသော capacitance သို့မဟုတ် inductance နှင့် resistance ကို တွက်ချက်ပြီး ပြသနိုင်သည်။ LCR မီတာများတွင် ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်ကြိမ်နှုန်းများ 100 Hz၊ 120 Hz၊ 1 kHz၊ 10 kHz နှင့် 100 kHz ။ Benchtop LCR မီတာများတွင် ပုံမှန်အားဖြင့် 100 kHz ထက်ပို၍ ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်နိုင်သော ကြိမ်နှုန်းများရှိသည်။ ၎င်းတို့တွင် AC တိုင်းတာခြင်းအချက်ပြမှုတွင် DC ဗို့အား သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းကို ခြုံငုံမိစေရန် ဖြစ်နိုင်ခြေများ မကြာခဏ ပါဝင်သည်။ အချို့မီတာများသည် အဆိုပါ DC ဗို့အားများ သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းများကို ပြင်ပမှ ပံ့ပိုးပေးနိုင်သော်လည်း အခြားစက်ပစ္စည်းများက ၎င်းတို့အား အတွင်းပိုင်းမှ ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ EMF METER သည် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများ (EMF) ကို တိုင်းတာရန်အတွက် စမ်းသပ်မှုနှင့် တိုင်းတာမှုကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့ထဲမှ အများစုသည် လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများ သိပ်သည်းဆ (DC အကွက်များ) သို့မဟုတ် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများ (AC အကွက်များ) ပြောင်းလဲမှုတို့ကို တိုင်းတာသည်။ ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်းနှင့် သုံးဝင်ရိုးတူရိယာဗားရှင်းများ ရှိပါသည်။ ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်းမီတာသည် tri-ဝင်ရိုးမီတာထက် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာသော်လည်း မီတာသည် အကွက်၏အတိုင်းအတာတစ်ခုသာတိုင်းတာသောကြောင့် စမ်းသပ်မှုတစ်ခုပြီးမြောက်ရန် ပိုကြာပါသည်။ တိုင်းတာမှုတစ်ခုပြီးမြောက်ရန်အတွက် ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်း EMF မီတာကို စောင်းပြီး axis သုံးခုလုံးကို ဖွင့်ရပါမည်။ တစ်ဖက်တွင်၊ ဝင်ရိုးသုံးမီတာသည် ဝင်ရိုးသုံးခုလုံးကို တစ်ပြိုင်နက်တိုင်းတာသော်လည်း ပို၍စျေးကြီးသည်။ EMF မီတာသည် လျှပ်စစ်ဝါယာကြိုးများကဲ့သို့သော ရင်းမြစ်များမှ ထွက်လာသည့် AC လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများကို တိုင်းတာနိုင်ပြီး GAUSSMETERS/TESLAMETERS သို့မဟုတ် MAGNETOMETERS သည် တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းရှိသည့် အရင်းအမြစ်များမှ ထုတ်လွှတ်သော DC အကွက်များကို တိုင်းတာသည်။ EMF မီတာအများစုကို US နှင့် Europe ပင်မလျှပ်စစ်ဓာတ်အား၏ကြိမ်နှုန်းနှင့်သက်ဆိုင်သော 50 နှင့် 60 Hz အလှည့်ကျအကွက်များကိုတိုင်းတာရန် ချိန်ညှိထားသည်။ အနိမ့်ဆုံး 20 Hz အထိ လှည့်ကွက်များကို တိုင်းတာနိုင်သော အခြားမီတာများလည်း ရှိပါသည်။ EMF တိုင်းတာမှုများသည် ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းများ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်မှု စောင့်ကြည့်ခြင်း၏ ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးမှသာလျှင် broadband ဖြစ်နိုင်သည်။ CAPACITANCE METER သည် discrete capacitors အများစု၏ capacitance ကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ အချို့မီတာများသည် capacitance ကိုသာပြသကြပြီး အချို့မီတာများသည် ယိုစိမ့်မှု၊ ညီမျှသောစီးရီးခံနိုင်ရည်နှင့် inductance ကိုပြသသည်။ အဆင့်မြင့်စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် တံတားပတ်လမ်းထဲသို့ ကာပတ်စီတာအောက်-စမ်းသပ်မှုထည့်သွင်းခြင်းကဲ့သို့သော နည်းစနစ်များကို အသုံးပြုသည်။ တံတားကို ဟန်ချက်ညီစေရန်အတွက် တံတားရှိ အခြားခြေထောက်များ၏ တန်ဖိုးများကို ကွဲပြားစေခြင်းဖြင့် အမည်မသိ capacitor ၏ တန်ဖိုးကို သတ်မှတ်ပေးပါသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် ပိုမိုတိကျသေချာစေသည်။ တံတားသည် ဆက်တိုက်ခံနိုင်ရည်နှင့် inductance ကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ picofarads မှ farads အထိအကွာအဝေးတစ်ခုကျော် Capacitors များကိုတိုင်းတာနိုင်သည်။ Bridge circuit များသည် leakage current ကို မတိုင်းတာသော်လည်း DC ဘက်လိုက်ဗို့အားကို အသုံးချနိုင်ပြီး ယိုစိမ့်မှုကို တိုက်ရိုက်တိုင်းတာနိုင်သည်။ BRIDGE တူရိယာအများအပြားကို ကွန်ပျူတာများနှင့် ချိတ်ဆက်နိုင်ပြီး ဖတ်ရှုမှုများကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် သို့မဟုတ် တံတားကို ပြင်ပတွင် ထိန်းချုပ်ရန် ဒေတာဖလှယ်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ ထိုသို့သောတံတားတူရိယာများသည် လျင်မြန်သောထုတ်လုပ်မှုနှင့် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်တွင် စမ်းသပ်မှုများကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ရန်အတွက် သွား/သွားစမ်းသပ်ခြင်းများကို ပေးပါသည်။ သို့တိုင်၊ အခြားစမ်းသပ်ကိရိယာ၊ CLAMP METER သည် ကလစ်အမျိုးအစား လက်ရှိမီတာနှင့် voltmeter တို့ကို ပေါင်းစပ်ထားသော လျှပ်စစ်စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Clamp Meter ၏ ခေတ်မီဗားရှင်းအများစုသည် ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်သည်။ ခေတ်မီ ကုပ်မီတာများသည် Digital Multimeter ၏ အခြေခံလုပ်ဆောင်ချက် အများစုတွင် ပါ၀င်သော်လည်း ထုတ်ကုန်တွင် တည်ဆောက်ထားသော လက်ရှိ transformer ၏ ထပ်လောင်းအင်္ဂါရပ်ဖြင့် ဖြစ်သည်။ ကြီးမားသော ac လျှပ်စီးကြောင်းကို သယ်ဆောင်သည့် စပယ်ယာတစ်ဝိုက်တွင် တူရိယာ၏ “မေးရိုး” ကို ကုပ်လိုက်သောအခါ၊ ထိုလျှပ်စီးကြောင်းကို ပါဝါထရန်စဖော်မာ၏ သံအူတိုင်နှင့် ဆင်တူသော မေးရိုးများမှတဆင့် ချိတ်ဆက်ကာ မီတာ၏ထည့်သွင်းမှုအစွန်းတစ်ဖက်တွင် ချိတ်ဆက်ထားသည့် ဒုတိယအကွေ့အကောက်တစ်ခုအဖြစ်သို့ ချိတ်ဆက်ထားသည်။ Transformer နှင့် များစွာတူသော လည်ပတ်မှုနိယာမ။ အလယ်တန်းအကွေ့အကောက်များ အရေအတွက်နှင့် အူတိုင်ပတ်ပတ်လည်တွင် ပတ်ထားသော ပင်မအကွေ့အကောက်အရေအတွက်နှင့် အချိုးအစားကြောင့် ပိုမိုသေးငယ်သော လျှပ်စီးကြောင်းကို မီတာ၏ထည့်သွင်းမှုသို့ ပေးပို့သည်။ ပင်မအား မေးရိုးကို ကုပ်ထားသော စပယ်ယာတစ်ခုဖြင့် ကိုယ်စားပြုသည်။ အလယ်တန်းတွင် အကွေ့အကောက်များ 1000 ပါပါက၊ အလယ်တန်းလျှပ်စီးကြောင်းသည် ပင်မတွင်စီးဆင်းနေသော လျှပ်စီးကြောင်း 1/1000 သို့မဟုတ် ဤအခြေအနေတွင် စပယ်ယာကို တိုင်းတာသည်။ ထို့ကြောင့် တိုင်းတာနေသော conductor မှ 1 amps သည် meter ၏ input တွင် 0.001 amps လျှပ်စီးကြောင်းကို ထုတ်ပေးမည်ဖြစ်ပါသည်။ ကုပ်မီတာများဖြင့် အလယ်တန်းအကွေ့အကောက်များတွင် အလှည့်အပြောင်းအရေအတွက်ကို တိုးမြှင့်ခြင်းဖြင့် ပိုမိုကြီးမားသော ရေစီးကြောင်းများကို အလွယ်တကူ တိုင်းတာနိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏စမ်းသပ်ကိရိယာအများစုကဲ့သို့ပင်၊ အဆင့်မြင့်ကုပ်မီတာများသည် သစ်ခုတ်ခြင်းစွမ်းရည်ကို ပေးစွမ်းနိုင်သည်။ မြေကြီးလျှပ်ကူးပစ္စည်းနှင့် မြေဆီလွှာခံနိုင်ရည်အား စမ်းသပ်ရန်အတွက် မြေပြင်ခုခံမှုစမ်းသပ်ကိရိယာများကို အသုံးပြုသည်။ တူရိယာလိုအပ်ချက်များသည် အသုံးချမှုအကွာအဝေးပေါ် မူတည်သည်။ ခေတ်မီမြေပြင်စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် မြေပြင်ကွင်းပတ်စစ်ဆေးခြင်းကို ရိုးရှင်းစေပြီး ယိုစိမ့်ခြင်းမရှိသော လက်ရှိတိုင်းတာမှုများကို လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့ရောင်းချသည့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများထဲတွင် OSCILLOSCOPES သည် အသုံးများဆုံးကိရိယာများထဲမှတစ်ခုဖြစ်သည်ကို သံသယမရှိပါ ။ OSCILLOGRAPH ဟုလည်း ခေါ်သော Oscilloscope သည် အချိန်၏ လုပ်ဆောင်မှုအဖြစ် တစ်ခု သို့မဟုတ် တစ်ခုထက်ပိုသော အချက်ပြမှုများ၏ နှစ်ဘက်မြင် ကွက်ကွက်တစ်ခုအဖြစ် အဆက်မပြတ် ပြောင်းလဲနေသော အချက်ပြဗို့အားများကို စောင့်ကြည့်ခွင့်ပြုသည့် အီလက်ထရွန်းနစ် စမ်းသပ်ကိရိယာ အမျိုးအစားဖြစ်သည်။ အသံနှင့် တုန်ခါမှုကဲ့သို့သော လျှပ်စစ်မဟုတ်သော အချက်ပြမှုများကို ဗို့အားအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲနိုင်ပြီး oscilloscopes တွင် ပြသနိုင်သည်။ Oscilloscopes များသည် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ လျှပ်စစ်အချက်ပြပြောင်းလဲမှုကို စောင့်ကြည့်ရန်၊ ဗို့အားနှင့် အချိန်တို့သည် ချိန်ကိုက်သည့်စကေးနှင့် ဆက်တိုက်ဂရပ်ဖစ်သည့် ပုံသဏ္ဍာန်တစ်ခုကို ဖော်ပြသည်။ လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန်ကို စူးစမ်းလေ့လာခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းသည် ကျယ်ဝန်းမှု၊ ကြိမ်နှုန်း၊ အချိန်ကြားကာလ၊ မြင့်တက်ချိန်နှင့် ပုံပျက်ခြင်းကဲ့သို့သော ဂုဏ်သတ္တိများကို ကျွန်ုပ်တို့အား ဖော်ပြသည်။ Oscilloscopes များကို ချိန်ညှိနိုင်ပြီး ထပ်တလဲလဲ အချက်ပြမှုများကို ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် စဉ်ဆက်မပြတ် ပုံသဏ္ဍာန်အဖြစ် မှတ်သားနိုင်သည်။ oscilloscope အများအပြားတွင် တစ်ခုတည်းသောဖြစ်ရပ်များကို တူရိယာမှဖမ်းယူနိုင်ပြီး အချိန်အတော်ကြာအောင်ပြသနိုင်စေသည့် သိုလှောင်မှုလုပ်ဆောင်ချက်ပါရှိသည်။ ယင်းက ကျွန်ုပ်တို့ကို တိုက်ရိုက်မြင်နိုင်လောက်အောင် မြန်ဆန်လွန်းသော အဖြစ်အပျက်များကို ကြည့်ရှုနိုင်စေပါသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes များသည် ပေါ့ပါးပြီး ကျစ်လစ်ပြီး သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော တူရိယာများဖြစ်သည်။ လယ်ကွင်းဝန်ဆောင်မှုအပလီကေးရှင်းများအတွက် သေးငယ်သော ဘက်ထရီစွမ်းအင်သုံး တူရိယာများလည်း ရှိပါသည်။ ဓာတ်ခွဲခန်းအဆင့် oscilloscopes များသည် ယေဘုယျအားဖြင့် ခုံတန်းလျားပေါ်ရှိ ကိရိယာများဖြစ်သည်။ oscilloscopes နှင့်အသုံးပြုရန်အတွက် ကျယ်ပြန့်သော probes နှင့် input cable များရှိပါသည်။ သင့်အပလီကေးရှင်းတွင် မည်သည့်အရာကိုအသုံးပြုရမည်နှင့်ပတ်သက်၍ အကြံဉာဏ်များလိုအပ်ပါက ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပါ။ ဒေါင်လိုက်ထည့်သွင်းမှုနှစ်ခုပါရှိသော Oscilloscope ကို dual-trace oscilloscopes ဟုခေါ်သည်။ single-beam CRT ကို အသုံးပြု၍ ၎င်းတို့သည် သွင်းအားများကို ချဲ့ထွင်ကာ လမ်းကြောင်းနှစ်ခုကို တစ်ပြိုင်နက် ပြသရန် လုံလောက်သော မြန်ဆန်စွာ ကူးပြောင်းလေ့ရှိသည်။ နောက်ထပ်ခြေရာများပါရှိသော oscilloscopes များလည်းရှိပါသည်။ သွင်းအားစု လေးခုသည် ဤအရာများကြားတွင် အဖြစ်များသည်။ အချို့သော ခြေရာကောက် အများအပြားရှိသော oscilloscopes များသည် ပြင်ပအစပျိုးထည့်သွင်းမှုကို စိတ်ကြိုက်ရွေးချယ်နိုင်သော ဒေါင်လိုက်ထည့်သွင်းမှုအဖြစ် အသုံးပြုကြပြီး အချို့တွင် ထိန်းချုပ်မှုအနည်းငယ်သာရှိသော တတိယနှင့် စတုတ္ထချန်နယ်များရှိသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes များတွင် ဗို့အားများအတွက် input အများအပြားပါရှိသောကြောင့် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု မတူညီသောဗို့အားနှင့် အခြားတစ်ခုအား ပုံဆွဲရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။ diodes ကဲ့သို့သော အစိတ်အပိုင်းများအတွက် IV မျဉ်းကွေးများ (လက်ရှိ နှင့် ဗို့အား လက္ခဏာများ) ကို ပုံဖော်ရန်အတွက် ဥပမာအားဖြင့် ၎င်းကို အသုံးပြုသည်။ မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများနှင့် မြန်ဆန်သော ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြမှုများဖြင့် ဒေါင်လိုက်အသံချဲ့စက်များ၏ bandwidth နှင့် sampling rate သည် လုံလောက်စွာမြင့်မားရပါမည်။ ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက်အတွက် အနည်းဆုံး 100 MHz bandwidth ကိုအသုံးပြုခြင်းသည် များသောအားဖြင့် လုံလောက်ပါသည်။ များစွာနိမ့်သော bandwidth သည် audio-frequency application များအတွက်သာလုံလောက်သည်။ ဖယ်ရှားခြင်း၏ အသုံးဝင်သောအကွာအဝေးသည် သင့်လျော်သော အစပျိုးခြင်းနှင့် နှောင့်နှေးမှုတို့ဖြင့် တစ်စက္ကန့်မှ 100 နာနိုစက္ကန့်အထိဖြစ်သည်။ တည်ငြိမ်သော ဖန်သားပြင်အတွက် ကောင်းမွန်စွာ ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော၊ တည်ငြိမ်သော၊ အစပျိုးဆားကစ်တစ်ခု လိုအပ်ပါသည်။ ကောင်းသော oscilloscopes များအတွက် trigger circuit ၏ အရည်အသွေးသည် အဓိကဖြစ်သည်။ နောက်ထပ်အဓိကသော့ရွေးချယ်မှုစံနှုန်းမှာ နမူနာမှတ်ဉာဏ်အတိမ်အနက်နှင့် နမူနာနှုန်းဖြစ်သည်။ အခြေခံအဆင့် ခေတ်မီ DSO များသည် ချန်နယ်တစ်ခုလျှင် နမူနာမှတ်ဉာဏ် 1MB သို့မဟုတ် ထို့ထက်ပို၍ ရှိသည်။ မကြာခဏဆိုသလို ဤနမူနာမှတ်ဉာဏ်ကို ချန်နယ်များကြားတွင် မျှဝေလေ့ရှိပြီး တစ်ခါတစ်ရံတွင် နမူနာနှုန်းနည်းပါးသော နှုန်းထားများဖြင့်သာ အပြည့်အဝရရှိနိုင်သည်။ အမြင့်ဆုံးနမူနာနှုန်းထားတွင် မမ်မိုရီကို 10 KB အနည်းငယ်သာ ကန့်သတ်ထားနိုင်သည်။ ခေတ်မီ ''အချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ'' နမူနာနှုန်း DSO သည် ပုံမှန်အားဖြင့် နမူနာနှုန်းတွင် ထည့်သွင်းမှုနှုန်း၏ 5-10 ဆ ရှိသည်။ ထို့ကြောင့် 100 MHz bandwidth DSO သည် 500 Ms/s - 1 Gs/s နမူနာနှုန်း ရှိမည်ဖြစ်သည်။ အလွန်များပြားသောနမူနာနှုန်းထားများသည် တစ်ခါတစ်ရံ ဒစ်ဂျစ်တယ်နယ်ပယ်များ၏ ပထမမျိုးဆက်တွင် တစ်ခါတစ်ရံတွင်ပါရှိသော မှားယွင်းသောအချက်ပြမှုများကို သိသိသာသာ ဖယ်ရှားပစ်လိုက်ပါသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes အများစုသည် ပြင်ပဆော့ဖ်ဝဲလ်မှ အဝေးထိန်းကိရိယာထိန်းချုပ်မှုကို ခွင့်ပြုရန် GPIB၊ Ethernet၊ အမှတ်စဉ်အပေါက်နှင့် USB ကဲ့သို့သော ပြင်ပအင်တာဖေ့စ်တစ်ခု သို့မဟုတ် တစ်ခုထက်ပိုသော ဘတ်စ်ကားများ သို့မဟုတ် ဘတ်စ်ကားများကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ ဤသည်မှာ မတူညီသော oscilloscope အမျိုးအစားများစာရင်းဖြစ်သည်။ CATHODE RAY OSCILLOSCOPE DUAL-BEAM OSCILLOSCOPE ANALOG STORAGE OSCILLOSCOPE ဒစ်ဂျစ်တယ် OSCILLOSCOPES ရောနှော-သင်္ကေတ OSCILLOSCOPES လက်ကိုင် OSCILLOSCOPES PC-based OSCILLOSCOPES LOGIC ANALYZER သည် ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ် သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ်ပတ်လမ်းမှ အချက်ပြများစွာကို ဖမ်းယူပြသပေးသည့် တူရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ လော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ဖမ်းယူထားသောဒေတာကို အချိန်ကိုက်ဇယားများ၊ ပရိုတိုကောကုဒ်များ၊ ပြည်နယ်စက်ခြေရာကောက်များ၊ စုစည်းမှုဘာသာစကားအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲနိုင်သည်။ Logic Analyzer များသည် အဆင့်မြင့်သော အစပျိုးနိုင်စွမ်းများ ရှိပြီး ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်ရှိ အချက်ပြများစွာကြား အချိန်ကိုက်ဆက်ဆံရေးကို အသုံးပြုသူမှ ကြည့်ရှုရန် လိုအပ်သောအခါတွင် အသုံးဝင်ပါသည်။ MODULAR LOGIC ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ကိုယ်ထည် သို့မဟုတ် ပင်မဘောင်နှင့် ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု မော်ဂျူးများ နှစ်ခုလုံး ပါဝင်သည်။ ကိုယ်ထည် သို့မဟုတ် ပင်မဘောင်တွင် မျက်နှာပြင်၊ ထိန်းချုပ်မှုများ၊ ထိန်းချုပ်သည့် ကွန်ပျူတာနှင့် ဒေတာဖမ်းယူသည့် ဟာ့ဒ်ဝဲကို တပ်ဆင်ထားသည့် အပေါက်များစွာပါရှိသည်။ မော်ဂျူးတစ်ခုစီတွင် သီးခြားချန်နယ်အရေအတွက်တစ်ခုရှိပြီး အလွန်မြင့်မားသောချန်နယ်အရေအတွက်ကိုရရှိရန် မော်ဂျူးများစွာကို ပေါင်းစပ်နိုင်သည်။ မြင့်မားသောချန်နယ်အရေအတွက်ကိုရရှိရန် မော်ဂျူးများစွာကို ပေါင်းစပ်နိုင်မှုနှင့် မော်ဂျူးလော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ၏ ယေဘုယျအားဖြင့် ပိုမိုမြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်သည် ၎င်းတို့ကို ပိုမိုစျေးကြီးစေသည်။ အလွန်အဆင့်မြင့်သော မော်ဂျူးလော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများအတွက်၊ အသုံးပြုသူများသည် ၎င်းတို့၏ကိုယ်ပိုင်အိမ်ရှင် PC ပေးဆောင်ရန် သို့မဟုတ် စနစ်နှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော မြှုပ်သွင်းထိန်းချုပ်ကိရိယာကို ဝယ်ယူရန် လိုအပ်နိုင်သည်။ သယ်ယူရလွယ်ကူသော ယုတ္တိဗေဒဆိုင်ရာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် စက်ရုံတွင် ထည့်သွင်းထားသော ရွေးချယ်စရာများနှင့်အတူ အရာအားလုံးကို အထုပ်တစ်ခုထဲသို့ ပေါင်းစပ်ထားသည်။ ၎င်းတို့သည် ယေဘုယျအားဖြင့် မော်ဂျူလာများထက် စွမ်းဆောင်ရည်နိမ့်သော်လည်း ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက် အမှားရှာပြင်ခြင်းအတွက် စျေးသက်သာသော တိုင်းတာရေးကိရိယာများဖြစ်သည်။ PC-based LOGIC ANALYZERS တွင်၊ ဟာ့ဒ်ဝဲသည် USB သို့မဟုတ် Ethernet ချိတ်ဆက်မှုမှတဆင့် ကွန်ပျူတာသို့ ချိတ်ဆက်ပြီး ဖမ်းယူထားသော အချက်ပြမှုများကို ကွန်ပျူတာပေါ်ရှိ ဆော့ဖ်ဝဲသို့ ပြန်လည်ပေးပို့သည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် များစွာသေးငယ်ပြီး စျေးနည်းသောကြောင့် ၎င်းတို့သည် ကိုယ်ပိုင်ကွန်ပျူတာ၏ရှိပြီးသားကီးဘုတ်၊ မျက်နှာပြင်နှင့် CPU ကိုအသုံးပြုသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ရှုပ်ထွေးသော ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်ရပ်များ၏ အစီအစဥ်ပေါ်တွင် အစပျိုးနိုင်ပြီး စမ်းသပ်ဆဲစနစ်များမှ ဒစ်ဂျစ်တယ်ဒေတာအများအပြားကို ဖမ်းယူနိုင်သည်။ ယနေ့ခေတ် အထူးပြုချိတ်ဆက်ကိရိယာများကို အသုံးပြုနေပါသည်။ လော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုစုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်းများ၏ ဆင့်ကဲပြောင်းလဲမှုသည် သုံးစွဲသူအများအပြားကို လွတ်လပ်ခွင့်ပေးသည့် ရောင်းချသူအများအပြားကို ပံ့ပိုးပေးသည့် ဘုံခြေရာကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်- Connectorless နည်းပညာသည် Compression Probing ကဲ့သို့သော ရောင်းချသူအလိုက် ကုန်သွယ်မှုအမည်များအဖြစ် ကမ်းလှမ်းထားသည့် Connectorless နည်းပညာ၊ နူးညံ့သောထိတွေ့မှု; D-Max ကို အသုံးပြုနေပါသည်။ ဤ probe များသည် probe နှင့် circuit board အကြား တာရှည်ခံ၊ ယုံကြည်စိတ်ချရသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် လျှပ်စစ်ချိတ်ဆက်မှုကို ပေးပါသည်။ SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် တူရိယာ၏ ကြိမ်နှုန်းအပြည့်အကွာအတွင်း အဝင်အချက်ပြလှိုင်းနှင့် ကြိမ်နှုန်း၏ပြင်းအားကို တိုင်းတာသည်။ အဓိကအသုံးပြုသည်မှာ အချက်ပြလှိုင်းများ၏ စွမ်းအားကို တိုင်းတာရန်ဖြစ်သည်။ optical နှင့် acoustical spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများလည်းရှိပါသည်၊ သို့သော် ဤနေရာတွင် လျှပ်စစ်ထည့်သွင်းမှုအချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာပြီး ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့် အီလက်ထရွန်နစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်ကိရိယာများကိုသာ ဆွေးနွေးပါမည်။ လျှပ်စစ်အချက်ပြမှုများမှရရှိသော spectra သည် ကျွန်ုပ်တို့အား ကြိမ်နှုန်း၊ ပါဝါ၊ ဟာမိုနီများ၊ လှိုင်းနှုန်း… အစရှိသည်တို့နှင့်ပတ်သက်သော အချက်အလက်များကို ပေးပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းကို အလျားလိုက်ဝင်ရိုးနှင့် ဒေါင်လိုက်ရှိ signal amplitude တွင် ပြသထားသည်။ ရေဒီယိုကြိမ်နှုန်း၊ RF နှင့် အသံအချက်ပြလှိုင်းများ၏ လှိုင်းနှုန်းစဉ်များကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်အတွက် ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို အီလက်ထရွန်းနစ်စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုကြသည်။ signal တစ်ခု၏ spectrum ကိုကြည့်ခြင်းအားဖြင့် signal ၏ element များနှင့်၎င်းတို့ကိုထုတ်လုပ်သည့် circuit ၏စွမ်းဆောင်ရည်ကိုဖော်ပြနိုင်သည်။ Spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် အတိုင်းအတာများစွာကို ပြုလုပ်နိုင်သည်။ signal တစ်ခု၏ spectrum ကိုရရှိရန်အသုံးပြုသည့်နည်းလမ်းများကိုကြည့်ခြင်းဖြင့် spectrum analyzer အမျိုးအစားများကို အမျိုးအစားခွဲနိုင်သည်။ - SWEPT-TUNED SPECTRUM Analyzer သည် input signal spectrum (ဗို့အားထိန်းချုပ်ထားသော oscillator နှင့် mixer ကိုအသုံးပြု၍) band-pass filter ၏ အလယ်ကြိမ်နှုန်းသို့ input signal spectrum ၏ အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုကို down-သို့ပြောင်းရန် superheterodyne receiver ကိုအသုံးပြုသည်။ superheterodyne ဗိသုကာဖြင့်၊ ဗို့အား-ထိန်းချုပ်ထားသော oscillator သည် တူရိယာ၏ ကြိမ်နှုန်းအပြည့်အဝကို အခွင့်ကောင်းယူပြီး ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးများမှတဆင့် ဖြတ်တောက်သည်။ Swept-tuned spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ရေဒီယိုလက်ခံစက်များမှ ဆင်းသက်သည်။ ထို့ကြောင့် ပွတ်သပ်ညှိပေးသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ချိန်ညှိထားသော-စစ်ထုတ်မှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ (TRF ရေဒီယိုနှင့် တူညီသော) သို့မဟုတ် superheterodyne ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများဖြစ်သည်။ အမှန်တော့၊ ၎င်းတို့၏ အရိုးရှင်းဆုံးပုံစံဖြင့်၊ သင်သည် အလိုအလျောက် ချိန်ညှိထားသော (swept) ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးရှိသော ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်မှု ဗို့မီတာတစ်ခုအဖြစ် swept-tuned spectrum analyzer ကို စဉ်းစားနိုင်သည်။ ၎င်းသည် sine wave တစ်ခု၏ rms တန်ဖိုးကိုပြသရန်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်သော ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်ထားသော၊ အထွတ်အထိပ်တုံ့ပြန်သည့် voltmeter ကို ချိန်ညှိပေးသည့် ပမာဏဖြစ်သည်။ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ရှုပ်ထွေးသောအချက်ပြမှုတစ်ခုအဖြစ် ပါဝင်သည့် ကြိမ်နှုန်းအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုချင်းစီကို ပြသနိုင်သည်။ သို့သော် ၎င်းသည် အဆင့်အချက်အလက်ကို မပေးဆောင်ဘဲ ပြင်းအားအချက်အလက်ကိုသာ ပေးသည်။ ခေတ်မီ swept-tuned ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ (အထူးသဖြင့် superheterodyne ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ) သည် တိုင်းတာမှုများစွာကို ပြုလုပ်နိုင်သည့် တိကျသောကိရိယာများဖြစ်သည်။ သို့သော်၊ ၎င်းတို့သည် ပေးထားသည့် အတိုင်းအတာတစ်ခုအတွင်း ကြိမ်နှုန်းအားလုံးကို တစ်ပြိုင်နက် မအကဲဖြတ်နိုင်သောကြောင့် တည်ငြိမ်သောအခြေအနေ သို့မဟုတ် ထပ်တလဲလဲ အချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာရန် ၎င်းတို့ကို အဓိကအသုံးပြုပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းအားလုံးကို တစ်ပြိုင်နက် အကဲဖြတ်နိုင်စွမ်းသည် အချိန်နှင့်တပြေးညီ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသာ ဖြစ်နိုင်သည်။ - အချိန်နှင့်တပြေးညီ SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည်- FFT SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် လှိုင်းပုံစံတစ်ခုအား ၎င်း၏ကြိမ်နှုန်း spectrum ၏အစိတ်အပိုင်းများအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲပေးသည့် သင်္ချာလုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုဖြစ်သည့် discrete Fourier transform (DFT) ကို တွက်ချက်သည်။ Fourier သို့မဟုတ် FFT spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် အခြားအချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု အကောင်အထည်ဖော်မှုဖြစ်သည်။ Fourier ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် input signal ကိုနမူနာယူရန်နှင့်၎င်းကိုကြိမ်နှုန်းဒိုမိန်းသို့ပြောင်းရန်အတွက်ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်းကိုအသုံးပြုသည်။ ဤပြောင်းလဲခြင်းအား Fast Fourier Transform (FFT) ကို အသုံးပြု၍ လုပ်ဆောင်ပါသည်။ FFT သည် အချိန်ဒိုမိန်းမှ အချက်အလက်များကို ကြိမ်နှုန်းဒိုမိန်းသို့ ပြောင်းလဲရန်အတွက် အသုံးပြုသည့် Discrete Fourier Transform ၏ အကောင်အထည်ဖော်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ အခြားအချိန်နှင့်တပြေးညီ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ အမျိုးအစားဖြစ်သည့် PARALLEL FILTER ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မတူညီသော bandpass ကြိမ်နှုန်းဖြင့် တစ်ခုချင်းစီကို bandpass filter အများအပြားကို ပေါင်းစပ်ထားသည်။ filter တစ်ခုစီသည် input နှင့် အချိန်တိုင်း ချိတ်ဆက်နေပါသည်။ ကနဦးဖြေရှင်းသည့်အချိန်ပြီးနောက်၊ parallel-filter ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၏တိုင်းတာမှုအကွာအဝေးအတွင်း အချက်ပြမှုများအားလုံးကို ချက်ချင်းသိရှိနိုင်ပြီး ပြသနိုင်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ parallel-filter analyzer သည် real-time signal analysis ကို ပေးသည်။ Parallel-filter analyzer သည် မြန်ဆန်သည်၊ ၎င်းသည် ယာယီနှင့် အချိန်-မူကွဲအချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာသည်။ သို့သော်၊ မျဉ်းပြိုင်-စစ်ထုတ်မှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၏ ကြိမ်နှုန်းကြည်လင်ပြတ်သားမှုသည် လှိုင်းဖြတ်ထားသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများစုထက် များစွာနိမ့်ကျသည်၊ အဘယ်ကြောင့်ဆိုသော် ကြည်လင်ပြတ်သားမှုကို bandpass filter များ၏ အကျယ်အားဖြင့် ဆုံးဖြတ်ထားသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ကြီးမားသော ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးထက် ကောင်းမွန်သော ကြည်လင်ပြတ်သားမှုရရှိရန်၊ ၎င်းကို ကုန်ကျစရိတ်များစွာနှင့် ရှုပ်ထွေးစေရန်အတွက် တစ်ဦးချင်းစီ filter များစွာ လိုအပ်ပါသည်။ ထို့ကြောင့် စျေးကွက်ရှိ အရိုးရှင်းဆုံးအရာများမှအပ parallel-filter ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများစုသည် ဈေးကြီးသည်။ - Vector SIGNAL ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု (VSA) : ယခင်က၊ swept-tuned နှင့် superheterodyne spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် အသံ၊ မိုက်ခရိုဝေ့မှ တဆင့် မီလီမီတာ ကြိမ်နှုန်းအထိ ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းများကို လွှမ်းခြုံထားသည်။ ထို့အပြင်၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်း (DSP) အရှိန်အဟုန်ပြင်းစွာ မြန်ဆန်သော Fourier အသွင်ပြောင်း (FFT) ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မြင့်မားသောကြည်လင်ပြတ်သားမှုရောင်စဉ်နှင့် ကွန်ရက်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို ပံ့ပိုးပေးခဲ့သော်လည်း analog-မှ-ဒစ်ဂျစ်တယ်ပြောင်းလဲခြင်းနှင့် အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်းနည်းပညာများ၏ ကန့်သတ်ချက်များကြောင့် ကြိမ်နှုန်းနည်းပါးသည်။ ယနေ့ခေတ်၏ ကျယ်ပြန့်သော ဘန်းဝဒ်၊ vector-modulated၊ အချိန်-ကွဲပြားသည့် အချက်ပြမှုများသည် FFT ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနှင့် အခြား DSP နည်းပညာများ၏ လုပ်ဆောင်နိုင်မှုများမှ များစွာအကျိုးရှိသည်။ Vector signal ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မြန်နှုန်းမြင့် ADC နှင့် အခြားသော DSP နည်းပညာများနှင့် ပေါင်းစပ်ကာ လျင်မြန်သော ပုံရိပ်ပြတ်သားမှု ရောင်စဉ်တိုင်းတာမှုများ၊ demodulation နှင့် အဆင့်မြင့် အချိန်ဒိုမိန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို ပေးဆောင်သည်။ VSA သည် ဆက်သွယ်ရေး၊ ဗီဒီယို၊ ထုတ်လွှင့်မှု၊ ဆိုနာ နှင့် အာထရာဆောင်း ပုံရိပ်ဖော်ခြင်း အပလီကေးရှင်းများတွင် အသုံးပြုသည့် ပေါက်ကွဲမှု၊ ယာယီ သို့မဟုတ် ပြုပြင်ထားသော အချက်ပြများကဲ့သို့သော ရှုပ်ထွေးသော အချက်ပြမှုများကို ပုံဖော်ရန်အတွက် အထူးအသုံးဝင်သည်။ ပုံစံအချက်များအရ၊ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများကို ခုံတန်းရှည်၊ သယ်ယူရလွယ်ကူသော၊ လက်ကိုင်နှင့် ကွန်ရက်များအဖြစ် အုပ်စုဖွဲ့ထားသည်။ Benchtop မော်ဒယ်များသည် ဓာတ်ခွဲခန်းပတ်ဝန်းကျင် သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုဧရိယာတွင်ကဲ့သို့ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအား AC ပါဝါသို့ ပလပ်ထိုးနိုင်သည့် အပလီကေးရှင်းများအတွက် အသုံးဝင်သည်။ Bench top spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် ခရီးဆောင် သို့မဟုတ် လက်ကိုင်ဗားရှင်းများထက် ပိုမိုကောင်းမွန်သော စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် သတ်မှတ်ချက်များကို ပေးဆောင်ပါသည်။ သို့သော် ၎င်းတို့သည် ယေဘူယျအားဖြင့် ပိုလေးပြီး အအေးခံရန်အတွက် ပန်ကာများစွာရှိသည်။ အချို့သော BENCHTOP SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ပင်မပလပ်ပေါက်မှ ဝေးရာသို့ အသုံးပြုနိုင်စေရန် ရွေးချယ်နိုင်သော ဘက်ထရီထုပ်များကို ပေးဆောင်သည်။ အဲဒါတွေကို အိတ်ဆောင်ရောင်စဉ် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအဖြစ် ရည်ညွှန်းပါတယ်။ အိတ်ဆောင်မော်ဒယ်များသည် တိုင်းတာမှုများပြုလုပ်ရန် သို့မဟုတ် အသုံးပြုနေစဉ်အတွင်းသယ်ဆောင်ရန် spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို အပြင်သို့ထုတ်ရန်လိုအပ်သည့်အပလီကေးရှင်းများအတွက်အသုံးဝင်သည်။ သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်ကိရိယာသည် အသုံးပြုသူအား ပါဝါပလပ်ပေါက်များမရှိသော နေရာများတွင် အလုပ်လုပ်နိုင်စေရန် ရွေးချယ်နိုင်သော ဘက်ထရီစွမ်းအင်သုံး လုပ်ဆောင်ချက်ကို ပေးစွမ်းနိုင်မည်ဖြစ်ပြီး တောက်ပသောနေရောင်၊ အမှောင် သို့မဟုတ် ဖုန်ထူသောအခြေအနေများတွင် စခရင်ကို အလင်းအမှောင်တွင် ဖတ်ရှုနိုင်စေရန် ရှင်းလင်းစွာကြည့်ရှုနိုင်သော မျက်နှာပြင်ပြသမှု။ လက်ကိုင်ရောင်စဉ်ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာစက်များသည် ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာကိရိယာသည် အလွန်ပေါ့ပါးပြီး သေးငယ်ရန် လိုအပ်သည့် အပလီကေးရှင်းများအတွက် အသုံးဝင်ပါသည်။ လက်ကိုင်ပိုင်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ပိုကြီးသောစနစ်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက အကန့်အသတ်ရှိသော စွမ်းရည်ကို ပေးဆောင်သည်။ Handheld Spectrum Analyzer များ၏ အားသာချက်များမှာ အသုံးပြုသူအား အပြင်သို့ လွတ်လွတ်လပ်လပ် ရွေ့လျားနိုင်စေရန်၊ အလွန်သေးငယ်သော အရွယ်အစားနှင့် ပေါ့ပါးသော အလေးချိန်တို့ရှိနေစဉ် ၎င်းတို့၏ ပါဝါသုံးစွဲမှု အလွန်နည်းပါးသော၊ ဘက်ထရီပါဝါဖြင့် လုပ်ဆောင်မှုဖြစ်သည်။ နောက်ဆုံးတွင်၊ NETWORKED SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မျက်နှာပြင်မပါဝင်ဘဲ ၎င်းတို့သည် ပထဝီဝင်ဆိုင်ရာ ဖြန့်ဝေထားသော ရောင်စဉ်စောင့်ကြည့်ခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဆိုင်ရာ အက်ပ်လီကေးရှင်းအသစ်ကို အသုံးပြုနိုင်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ အဓိက ရည်ညွှန်းချက်မှာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအား ကွန်ရက်တစ်ခုသို့ ချိတ်ဆက်နိုင်ပြီး ကွန်ရက်တစ်ခုရှိ ယင်းကိရိယာများကို စောင့်ကြည့်နိုင်မှုဖြစ်သည်။ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများအပြားတွင် ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် Ethernet port တစ်ခုရှိသော်လည်း၊ ၎င်းတို့သည် ပုံမှန်အားဖြင့် ထိရောက်သောဒေတာလွှဲပြောင်းမှုယန္တရားများမရှိ၍ ထိုသို့သောဖြန့်ဝေမှုပုံစံတွင် အသုံးပြုရန် အလွန်ကြီးမားပြီး/သို့မဟုတ် ဈေးကြီးသည်။ ထိုကိရိယာများ၏ ဖြန့်ဝေမှုသဘောသဘာဝသည် ထုတ်လွှင့်သည့်နေရာများ၏ ပထဝီဝင်တည်နေရာ၊ ဒိုင်နမစ်ရောင်စဉ်ဝင်ရောက်ခြင်းအတွက် ရောင်စဉ်တန်းစောင့်ကြည့်ခြင်းနှင့် အခြားထိုကဲ့သို့သော အပလီကေးရှင်းများစွာကို လုပ်ဆောင်ပေးသည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ၏ကွန်ရက်တစ်လျှောက်တွင် ဒေတာဖမ်းယူမှုများကို တစ်ပြိုင်တည်းလုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး ကုန်ကျစရိတ်သက်သာစွာဖြင့် ကွန်ရက်ထိရောက်သောဒေတာလွှဲပြောင်းခြင်းကို ဖွင့်နိုင်သည်။ PROTOCOL ANALYZER သည် ဆက်သွယ်ရေးလမ်းကြောင်းတစ်ခုမှ အချက်ပြများနှင့် ဒေတာလမ်းကြောင်းများကို ဖမ်းယူ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုသည့် ဟာ့ဒ်ဝဲနှင့်/သို့မဟုတ် ဆော့ဖ်ဝဲကို ပေါင်းစပ်ထားသည့် ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Protocol ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် စွမ်းဆောင်ရည်ကို တိုင်းတာခြင်းနှင့် ပြဿနာဖြေရှင်းခြင်းအတွက် အများအားဖြင့် အသုံးပြုကြသည်။ ၎င်းတို့သည် ကွန်ရက်ကို စောင့်ကြည့်ရန်နှင့် ပြဿနာဖြေရှင်းခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ဆောင်ချက်များကို အရှိန်မြှင့်ရန် အဓိက စွမ်းဆောင်ရည် အညွှန်းများကို တွက်ချက်ရန် ကွန်ရက်သို့ ချိတ်ဆက်ထားသည်။ NETWORK PROTOCOL ANALYZER သည် ကွန်ရက်စီမံခန့်ခွဲသူ၏ ကိရိယာအစုံ၏ အရေးကြီးသော အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကွန်ရက်ပရိုတိုကော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို ကွန်ရက်ဆက်သွယ်ရေး၏ ကျန်းမာရေးကို စောင့်ကြည့်ရန် အသုံးပြုသည်။ ကွန်ရက်စက်ပစ္စည်းတစ်ခုသည် အချို့သောနည်းလမ်းဖြင့် အဘယ်ကြောင့်လုပ်ဆောင်သည်ကို သိရှိရန်၊ စီမံခန့်ခွဲသူများသည် အသွားအလာများကို ရှူရှိုက်ရန်နှင့် ဝါယာကြိုးတစ်လျှောက်ဖြတ်သန်းသွားသော ဒေတာနှင့် ပရိုတိုကောများကို ဖော်ထုတ်ရန် ပရိုတိုကောခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာကိရိယာကို အသုံးပြုသည်။ Network protocol ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို အသုံးပြုသည်။ - ဖြေရှင်းရခက်သော ပြဿနာများကို ဖြေရှင်းပါ။ - အန္တရာယ်ရှိသောဆော့ဖ်ဝဲ / malware ကိုရှာဖွေဖော်ထုတ်ပါ။ ကျူးကျော်ဝင်ရောက်မှုကို ထောက်လှမ်းခြင်းစနစ် သို့မဟုတ် ပျားရည်အိုးဖြင့် လုပ်ဆောင်ပါ။ - အခြေခံအသွားအလာပုံစံများနှင့် ကွန်ရက်အသုံးချမှုမက်ထရစ်များကဲ့သို့သော အချက်အလက်များကို စုဆောင်းပါ။ - အသုံးမပြုသော ပရိုတိုကောများကို ကွန်ရက်မှ ဖယ်ရှားနိုင်စေရန် ခွဲခြားသတ်မှတ်ပါ။ - ထိုးဖောက်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် traffic ကိုဖန်တီးပါ။ - လမ်းကြောင်းပေါ်တွင် ခိုးနားထောင်ခြင်း (ဥပမာ၊ ခွင့်ပြုချက်မရှိဘဲ လက်ငင်းစာတိုပေးပို့ခြင်း အသွားအလာ သို့မဟုတ် ကြိုးမဲ့ဝင်ရောက်ခွင့်အချက်များကို ရှာဖွေပါ) TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (TDR) သည် အချိန်-ဒိုမိန်းရောင်ပြန်ဟပ်မှုကို အသုံးပြုသည့် သတ္တုကြိုးများဖြစ်သည့် လိမ်တွဲဝိုင်ယာကြိုးများနှင့် တွဲဆက်ကေဘယ်များ၊ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊ ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များ စသည်တို့ကဲ့သို့ သတ္တုကြိုးများအတွင်း ချို့ယွင်းချက်များကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန်နှင့် ရှာဖွေရန် အသုံးပြုသည့် တူရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Time-Domain Reflectometers များသည် conductor တစ်လျှောက် ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို တိုင်းတာသည်။ ၎င်းတို့ကို တိုင်းတာရန်အတွက် TDR သည် conductor ပေါ်သို့ အဖြစ်အပျက်အချက်ပြမှုကို ထုတ်လွှင့်ပြီး ၎င်း၏ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို ကြည့်ရှုသည်။ conductor သည် ယူနီဖောင်း impedance ရှိပြီး ကောင်းမွန်စွာ ရပ်စဲပါက၊ ထို့နောက် ရောင်ပြန်ဟပ်မှု မရှိတော့ဘဲ ကျန်ရှိနေသော အဖြစ်အပျက် signal ကို အဆုံးစွန်ထိ စုပ်ယူသွားပါမည်။ သို့သော်၊ တစ်နေရာရာတွင် impedance ကွဲလွဲမှုရှိပါက၊ အချို့သော အဖြစ်အပျက် signal ကို အရင်းအမြစ်သို့ ပြန်ပြောင်းပါမည်။ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများသည် အဖြစ်အပျက်အချက်ပြမှုနှင့် တူညီသောပုံသဏ္ဍာန်ရှိမည်ဖြစ်သော်လည်း ၎င်းတို့၏လက္ခဏာနှင့် ပြင်းအားသည် impedance အဆင့်ပြောင်းလဲမှုအပေါ် မူတည်သည်။ impedance တွင် ခြေလှမ်းတိုးလာပါက၊ reflection သည် အဖြစ်အပျက် signal နှင့် တူညီသော လက္ခဏာရှိမည်ဖြစ်ပြီး impedance တွင် ခြေလှမ်းလျော့သွားပါက၊ reflection သည် ဆန့်ကျင်ဘက်လက္ခဏာရှိမည်ဖြစ်သည်။ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို Time-Domain Reflectometer ၏ အထွက်/အဝင်တွင် တိုင်းတာပြီး အချိန်၏လုပ်ဆောင်ချက်အဖြစ် ပြသသည်။ တနည်းအားဖြင့်၊ ဖန်သားပြင်သည် ပေးထားသော ဂီယာကြားခံတစ်ခုအတွက် အချက်ပြပျံ့နှံ့မှု၏အမြန်နှုန်းသည် ကိန်းသေနီးပါးဖြစ်နေသောကြောင့် ကေဘယ်အလျား၏လုပ်ဆောင်ချက်အဖြစ် ထုတ်လွှင့်မှုနှင့် ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို ပြသနိုင်သည်။ TDR များကို cable impedances နှင့် lengths ၊ connector နှင့် splice ဆုံးရှုံးမှုများနှင့် တည်နေရာများကို ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ TDR impedance တိုင်းတာမှုများသည် ဒီဇိုင်နာများအား စနစ်အချင်းချင်းချိတ်ဆက်မှုများ၏ အချက်ပြခိုင်မာမှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို လုပ်ဆောင်ရန်နှင့် ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်စွမ်းဆောင်ရည်ကို တိကျစွာခန့်မှန်းရန် အခွင့်အရေးပေးပါသည်။ TDR တိုင်းတာမှုများကို board characterization လုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာ အသုံးပြုပါသည်။ ဆားကစ်ဘုတ်ဒီဇိုင်နာသည် ဘုတ်ခြေရာများ၏ လက္ခဏာရပ်များကို ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်၊ ဘုတ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် တိကျသောမော်ဒယ်များကို တွက်ချက်နိုင်ပြီး ဘုတ်၏စွမ်းဆောင်ရည်ကို ပိုမိုတိကျစွာ ခန့်မှန်းနိုင်သည်။ time-domain reflectometers အတွက် အသုံးချသည့် အခြားနယ်ပယ်များစွာရှိပါသည်။ SEMICONDUCTOR CURVE TRACER သည် diodes၊ transistors နှင့် thyristors ကဲ့သို့သော discrete semiconductor ကိရိယာများ၏ ဝိသေသလက္ခဏာများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကိရိယာသည် oscilloscope ပေါ်တွင် အခြေခံထားသော်လည်း စမ်းသပ်မှုအောက်တွင် စက်ပစ္စည်းကို လှုံ့ဆော်ရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည့် ဗို့အားနှင့် လက်ရှိအရင်းအမြစ်များပါရှိသည်။ သုတ်သင်ဗို့အားကို စမ်းသပ်နေသည့် စက်ပစ္စည်း၏ terminal နှစ်ခုတွင် သက်ရောက်ပြီး ဗို့အားတစ်ခုစီတွင် စီးဆင်းရန် စက်ခွင့်ပြုသည့် လျှပ်စီးကြောင်းပမာဏကို တိုင်းတာသည်။ VI (ဗို့အားနှင့် လျှပ်စီးကြောင်း) ဟုခေါ်သော ဂရပ်ကို oscilloscope မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ပြသထားသည်။ ဖွဲ့စည်းမှုတွင် ထည့်သွင်းထားသော အမြင့်ဆုံးဗို့အား၊ အသုံးချဗို့အား၏ ဝင်ရိုးစွန်း (အပြုသဘောနှင့် အနုတ်သဘောဝင်ရိုးစွန်းနှစ်ခုစလုံး၏ အလိုအလျောက် အသုံးချမှုအပါအဝင်) နှင့် စက်ပစ္စည်းနှင့်အတူ အတွဲလိုက်ထည့်သွင်းထားသော ခံနိုင်ရည်တို့ ပါဝင်ပါသည်။ diodes ကဲ့သို့သော terminal devices နှစ်ခုအတွက်၊ ၎င်းသည် ကိရိယာကို အပြည့်အဝ သတ်မှတ်ရန် လုံလောက်ပါသည်။ မျဉ်းကွေးခြေရာခံသည် diode ၏ရှေ့ဆက်ဗို့အား၊ ပြောင်းပြန်ယိုစိမ့်နေသောလျှပ်စီးကြောင်း၊ ပြောင်းပြန်ပြိုကွဲဗို့အား၊ စသည်တို့ကဲ့သို့သော စိတ်ဝင်စားဖွယ်ကောင်းသောဘောင်များကို ပြသနိုင်သည်။ ထရန်စစ္စတာနှင့် FET ကဲ့သို့သော ဂိတ်သုံး စက်ပစ္စည်းများသည် Base သို့မဟုတ် Gate terminal ကဲ့သို့သော စမ်းသပ်ထားသည့် စက်၏ ထိန်းချုပ်မှုဂိတ်သို့ ချိတ်ဆက်မှုကိုလည်း အသုံးပြုပါသည်။ ထရန်စစ္စတာများနှင့် အခြားလက်ရှိအခြေခံစက်ပစ္စည်းများအတွက်၊ အခြေခံ သို့မဟုတ် အခြားထိန်းချုပ်ရေးဂိတ်လျှပ်စီးကြောင်းကို အဆင့်မြှင့်ထားသည်။ Field Effect Transistors (FETs) အတွက် stepped voltage အစား stepped voltage ကို အသုံးပြုပါသည်။ configured main terminal voltages များ၏ ဗို့အားကို ဖြတ်၍ control signal ၏ ဗို့အားအဆင့်တိုင်းအတွက်၊ VI curves အုပ်စုကို အလိုအလျောက်ထုတ်ပေးပါသည်။ ဤမျဉ်းကွေးအုပ်စုများသည် ထရန်စစ္စတာ၏ အမြတ် သို့မဟုတ် thyristor သို့မဟုတ် TRIAC ၏ အစပျိုးဗို့အားကို ဆုံးဖြတ်ရန် အလွန်လွယ်ကူစေသည်။ ခေတ်မီ ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ မျဉ်းကွေး ခြေရာခံများသည် အလိုလိုသိနိုင်သော Windows အခြေပြု အသုံးပြုသူ အင်တာဖေ့စ်များ၊ IV၊ CV နှင့် pulse မျိုးဆက်နှင့် pulse IV၊ နည်းပညာတိုင်းအတွက် ပါဝင်သော အပလီကေးရှင်း စာကြည့်တိုက်များ အစရှိသည့် ဆွဲဆောင်မှုများစွာကို ပေးဆောင်ပါသည်။ Phase လှည့်ခြင်းစမ်းသပ်ခြင်း/ညွှန်ပြခြင်း- ဤအရာများသည် အဆင့်သုံးဆင့်စနစ်များနှင့် အဖွင့်/အားလျော့သည့်အဆင့်များတွင် အဆင့်အစီအစဥ်ကိုခွဲခြားသတ်မှတ်ရန် ကျစ်လစ်ပြီး အကြမ်းခံသောစမ်းသပ်ကိရိယာများဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့သည် လည်ပတ်နေသော စက်များ၊ မော်တာများ တပ်ဆင်ခြင်းနှင့် generator output ကို စစ်ဆေးခြင်းအတွက် စံပြဖြစ်သည်။ အပလီကေးရှင်းများထဲတွင် သင့်လျော်သော အဆင့်အစီအမံများကို ဖော်ထုတ်ခြင်း၊ ပျောက်ဆုံးနေသော ဝါယာကြိုးအဆင့်များကို ရှာဖွေခြင်း၊ စက်လည်ပတ်ခြင်းအတွက် သင့်လျော်သောချိတ်ဆက်မှုများကို ဆုံးဖြတ်ခြင်း၊ တိုက်ရိုက်ပတ်လမ်းများကို ထောက်လှမ်းခြင်းတို့ဖြစ်သည်။ FREQUENCY CountER သည် ကြိမ်နှုန်းတိုင်းတာရန်အတွက် အသုံးပြုသော စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် သတ်မှတ်ကာလတစ်ခုအတွင်း ဖြစ်ပွားသည့် ဖြစ်ရပ်အရေအတွက်ကို စုဆောင်းသည့် ကောင်တာကို အသုံးပြုသည်။ ရေတွက်ရမည့် အဖြစ်အပျက်သည် အီလက်ထရွန်းနစ်ပုံစံဖြစ်ပြီး၊ ကိရိယာနှင့် ရိုးရှင်းသော ချိတ်ဆက်မှုသည် လိုအပ်သည်။ ပိုများသော ရှုပ်ထွေးမှုရှိသော အချက်ပြများသည် ၎င်းတို့ကို ရေတွက်ရန် သင့်လျော်စေရန် အချို့သော အေးစက်မှုများ လိုအပ်နိုင်သည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာအများစုတွင် အသံချဲ့စက်၊ စစ်ထုတ်ခြင်းနှင့် ပုံသွင်းသည့် ဆားကစ်ပုံစံအချို့ရှိသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်မှု၊ အာရုံခံနိုင်စွမ်းထိန်းချုပ်မှုနှင့် hysteresis တို့သည် စွမ်းဆောင်ရည်ကိုမြှင့်တင်ရန် အခြားသောနည်းပညာများဖြစ်သည်။ သဘာဝတွင် မွေးရာပါ အီလက်ထရွန်းနစ်မဟုတ်သော အခြားအချိန်အပိုင်းအခြားအလိုက် ဖြစ်ရပ်များကို transducers များအသုံးပြု၍ ပြောင်းလဲရန် လိုအပ်ပါသည်။ RF ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ကြိမ်နှုန်းနိမ့်သော ကောင်တာများကဲ့သို့ တူညီသောမူများကို လုပ်ဆောင်သည်။ မလျှံမီ အပိုင်းအခြား ပိုများသည်။ အလွန်မြင့်မားသော မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်ကြိမ်နှုန်းများအတွက်၊ ဒီဇိုင်းများစွာသည် ပုံမှန်ဒစ်ဂျစ်တယ်ဆားကစ်များလည်ပတ်နိုင်သည့်အချက်ဆီသို့ အချက်ပြကြိမ်နှုန်းကို လျှော့ချရန်အတွက် မြန်နှုန်းမြင့် ကြိုတင်စကေးကိရိယာကို အသုံးပြုသည်။ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ကြိမ်နှုန်းများကို 100 GHz နီးပါးအထိ တိုင်းတာနိုင်သည်။ ဤမြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများအထက်တွင် တိုင်းတာရမည့် signal ကို local oscillator မှ signal နှင့် mixer တွင် ပေါင်းစပ်ထားပြီး၊ တိုက်ရိုက်တိုင်းတာရန်အတွက် လုံလောက်သောနည်းသော ကွာခြားမှုကြိမ်နှုန်းဖြင့် signal ကိုထုတ်ပေးပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများတွင် လူကြိုက်များသော အင်တာဖေ့စ်များသည် RS232၊ USB၊ GPIB နှင့် Ethernet တို့သည် အခြားသော ခေတ်မီကိရိယာများနှင့် ဆင်တူသည်။ တိုင်းတာမှုရလဒ်များ ပေးပို့ခြင်းအပြင်၊ အသုံးပြုသူသတ်မှတ်ထားသော အတိုင်းအတာကန့်သတ်ချက်ထက်ကျော်လွန်သည့်အခါ ကောင်တာတစ်ခုမှ သုံးစွဲသူအား အသိပေးနိုင်သည်။ အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com For other similar equipment, please visit our equipment website: http://www.sourceindustrialsupply.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Micro-Optics, Micro-Optical, Microoptical, Wafer Level Optics, Gratings, Fresnel Lenses, Lens Array, Micromirrors, Micro Reflectors, Collimators, Aspheres, LED Micro-Optics ထုတ်လုပ်မှု microfabrication တွင်ကျွန်ုပ်တို့ပါဝင်သည့်နယ်ပယ်များထဲမှတစ်ခုသည် MICRO-OPTICS MANUFACTURING။ Micro-optics သည် အလင်း၏ ခြယ်လှယ်မှုနှင့် ဖိုတွန်များကို micron နှင့် sub-micron စကေးဖွဲ့စည်းပုံများနှင့် အစိတ်အပိုင်းများဖြင့် စီမံခန့်ခွဲနိုင်စေပါသည်။ အချို့သော အပလီကေးရှင်းများ of MICRO-OPTICAL အစိတ်အပိုင်းများနှင့် SUBSYSTEMS are- သတင်းအချက်အလက်နည်းပညာ- မိုက်ခရိုပြကွက်များ၊ မိုက်ခရိုပရိုဂျက်တာများ၊ အလင်းပြန်ဒေတာသိုလှောင်မှု၊ မိုက်ခရိုကင်မရာများ၊ စကင်နာများ၊ ပရင်တာများ၊ မိတ္တူများ... စသည်တို့တွင် ဇီဝဆေးပညာ- ပြုစုစောင့်ရှောက်မှုဆိုင်ရာ ရောဂါရှာဖွေမှုများ၊ ကုသမှုစောင့်ကြည့်ခြင်း၊ မိုက်ခရိုပုံရိပ်အာရုံခံကိရိယာများ၊ အမြင်အာရုံခံ အစားထိုးထည့်သွင်းမှုများ၊ မိုက်ခရို-အင်ဒိုစကုပ်များ။ အလင်းရောင်- LEDs များနှင့် အခြားထိရောက်သောအလင်းရောင်အရင်းအမြစ်များအပေါ်အခြေခံသည့်စနစ်များ ဘေးကင်းရေးနှင့် လုံခြုံရေးစနစ်များ- မော်တော်ကားအပလီကေးရှင်းများအတွက် အနီအောက်ရောင်ခြည် ညအမြင်အာရုံစနစ်များ၊ အလင်းလက်ဗွေရာအာရုံခံကိရိယာများ၊ မျက်ကြည်လွှာစကင်နာများ။ Optical Communication နှင့် Telecommunication- photonic switches များတွင် passive fiber optic အစိတ်အပိုင်းများ၊ optical amplifiers၊ mainframe နှင့် personal computer interconnect systems စမတ်ကျသောဖွဲ့စည်းပုံများ- အလင်းဖိုက်ဘာအခြေခံ အာရုံခံစနစ်များနှင့် အခြားအရာများ ကျွန်ုပ်တို့ထုတ်လုပ်ပြီး ပံ့ပိုးပေးသော micro-optical အစိတ်အပိုင်းများနှင့် စနစ်ခွဲအမျိုးအစားများမှာ- - Wafer အဆင့် Optics - Refractive Optics - Diffractive Optics - စစ်ထုတ်မှုများ - ဆန်ခါများ - ကွန်ပျူတာမှထုတ်လုပ်ထားသော Hologram များ - Hybrid Microoptical အစိတ်အပိုင်းများ - အနီအောက်ရောင်ခြည် Micro-Optics - Polymer Micro-Optics - Optical MEMS - Monolithically နှင့် Discretely Integrated Micro-Optic စနစ်များ ကျွန်ုပ်တို့၏ အသုံးအများဆုံး မိုက်ခရိုအလင်း ထုတ်ကုန်အချို့မှာ- - Bi-convex နှင့် plano-convex မှန်ဘီလူးများ - Achromat မှန်ဘီလူးများ - ဘောလုံးမှန်ဘီလူး - Vortex မှန်ဘီလူး - Fresnel မှန်ဘီလူး - Multifocal မှန်ဘီလူး - Cylindrical မှန်ဘီလူး - အဆင့်အညွှန်းကိန်း (GRIN) မှန်ဘီလူး - Micro-Optical Prisms - Aspheres - Aspheres ၏ Arrays - Collimators - Micro-Lens Arrays - Diffraction Gratings - Wire-Grid Polarizers - Micro-Optic Digital Filters - Pulse Compression Gratings - LED မော်ဂျူးများ - Beam Shapers - Beam Sampler - Ring Generator - Micro-Optical Homogenizers/Diffusers - Multispot Beam Splitters - Dual Wavelength Beam ပေါင်းစပ်ကိရိယာများ - Micro-Optical အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှုများ - Intelligent Micro-Optics စနစ်များ - Microlenses ပုံရိပ်ဖော်ခြင်း။ - မိုက်ခရိုမှန်များ - Micro Reflectors - Micro-Optical Windows - Dielectric Mask - Iris Diaphragms ဤမိုက်ခရိုအလင်း ထုတ်ကုန်များနှင့် ၎င်းတို့၏ အပလီကေးရှင်းများအကြောင်း အခြေခံအချက်အလက်အချို့ကို သင့်အား ပေးပါရစေ။ BALL မှန်ဘီလူးများ- ဘောလုံးမှန်ဘီလူးများသည် အမျှင်များအတွင်းနှင့် အပြင်တွင် အလင်းတွဲရန် အသုံးများဆုံး လုံးလုံးလျားလျား မိုက်ခရိုအလင်းမှန်ဘီလူးများဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် micro-optic stock ball မှန်ဘီလူးများကို ထောက်ပံ့ပေးပြီး သင့်ကိုယ်ပိုင်သတ်မှတ်ချက်များနှင့်လည်း ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ quartz မှ စတော့ဘောမှန်ဘီလူးများသည် 185nm မှ >2000nm အကြားတွင် ကောင်းမွန်သော UV နှင့် IR ထုတ်လွှင့်မှုများပါရှိပြီး ကျွန်ုပ်တို့၏နီလာမှန်ဘီလူးများသည် ပိုမိုမြင့်မားသောအလင်းယိုင်ညွှန်းကိန်းရှိပြီး အလွန်တိုတောင်းသော focal length ကို အကောင်းဆုံးဖိုက်ဘာချိတ်ဆက်မှုအတွက် ခွင့်ပြုပေးပါသည်။ အခြားပစ္စည်းများနှင့် အချင်းများမှ မိုက်ခရိုအလင်းဘောလုံးမှန်ဘီလူးများကို ရရှိနိုင်ပါသည်။ ဖိုက်ဘာအချိတ်အဆက်အသုံးပြုမှုများအပြင်၊ မိုက်ခရိုအလင်းပြန်ဘောလုံးမှန်ဘီလူးများကို endoscopy၊ လေဆာတိုင်းတာမှုစနစ်များနှင့် ဘားကုဒ်စကင်န်ဖတ်ခြင်းများတွင် ရည်ရွယ်ချက်မှန်ဘီလူးများအဖြစ် အသုံးပြုပါသည်။ အခြားတစ်ဖက်တွင်၊ micro-optic half ball မှန်ဘီလူးများသည် တူညီသောအလင်းပျံ့လွင့်မှုကိုပေးစွမ်းပြီး LED display များနှင့် မီးပွိုင့်များတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုကြသည်။ MICRO-OPTICAL ASPHERES နှင့် ArrayS- Aspheric မျက်နှာပြင်များသည် စက်လုံးမဟုတ်သော ပရိုဖိုင်တစ်ခုရှိသည်။ အလိုရှိသော optical စွမ်းဆောင်ရည်သို့ရောက်ရှိရန် လိုအပ်သော optics အရေအတွက်ကို လျှော့ချနိုင်သည်။ ဆန်းကြယ်သော သို့မဟုတ် aspherical curvature ရှိသော micro-optical မှန်ဘီလူးခင်းကျင်းမှုများအတွက် လူကြိုက်များသောအသုံးချပရိုဂရမ်များသည် ပုံရိပ်ဖော်ခြင်းနှင့် အလင်းရောင်ပေးခြင်းနှင့် လေဆာအလင်း၏ထိရောက်သောပေါင်းစပ်မှုဖြစ်သည်။ ရှုပ်ထွေးသော multilens စနစ်အတွက် တစ်ခုတည်းသော aspheric microlens အခင်းအကျင်းကို အစားထိုးခြင်းသည် အရွယ်အစားသေးငယ်ခြင်း၊ အလေးချိန်ပိုပေါ့ပါးခြင်း၊ ကျစ်လစ်သော ဂျီသြမေတြီနှင့် အလင်းကြည့်စနစ်၏ ကုန်ကျစရိတ်သက်သာရုံသာမက ပိုမိုကောင်းမွန်သော ပုံရိပ်အရည်အသွေးကဲ့သို့သော ၎င်း၏ အလင်းပိုင်းဆိုင်ရာစွမ်းဆောင်ရည်ကိုပါ သိသာထင်ရှားစွာ မြှင့်တင်ပေးပါသည်။ သို့ရာတွင်၊ စိန်ကြိတ်ခွဲခြင်းနှင့် အပူပြန်စီးဆင်းခြင်းကဲ့သို့သော မက်ခရိုအရွယ်အစားရှိ သမရိုးကျနည်းပညာများသည် သေးငယ်သည့်ဧရိယာရှိ ရှုပ်ထွေးသောမိုက်ခရိုအလင်းမှန်ဘီလူးပရိုဖိုင်ကို အဓိပ္ပာယ်ဖွင့်ဆိုနိုင်စွမ်းမရှိသောကြောင့်၊ aspheric microlenses နှင့် microlens array များဖန်တီးခြင်းသည် စိန်ခေါ်မှုဖြစ်သည်။ ဆယ်ဂဏန်းအထိ။ femtosecond လေဆာများကဲ့သို့သော အဆင့်မြင့်နည်းပညာများကို အသုံးပြု၍ ထိုကဲ့သို့သော မိုက်ခရိုအလင်းဖွဲ့စည်းပုံများ ထုတ်လုပ်ခြင်းဆိုင်ရာ ကျွမ်းကျင်မှုရှိသည်။ MICRO-OPTICAL ACHROMAT မှန်ဘီလူးများ- ဤမှန်ဘီလူးများသည် အရောင်ပြင်ဆင်မှုလိုအပ်သော အပလီကေးရှင်းများအတွက် စံပြဖြစ်ပြီး၊ aspheric မှန်ဘီလူးများသည် စက်လုံးကွဲလွဲခြင်းကို ပြုပြင်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော်လည်း၊ Achromatic မှန်ဘီလူး သို့မဟုတ် achromat သည် chromatic နှင့် spherical aberration ၏သက်ရောက်မှုများကိုကန့်သတ်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် မှန်ဘီလူးတစ်ခုဖြစ်သည်။ Micro-optical achromatic မှန်ဘီလူးများသည် လှိုင်းအလျားနှစ်ခု (အနီနှင့် အပြာရောင်များကဲ့သို့) တူညီသော လေယာဉ်ပေါ်တွင် အာရုံစိုက်လာစေရန် ပြုပြင်မှုများ ပြုလုပ်သည်။ Cylindrical မှန်ဘီလူးများ- ဤမှန်ဘီလူးများသည် စက်လုံးပုံမှန်ဘီလူးကဲ့သို့ အလင်းကို အမှတ်အစား မျဉ်းတစ်ခုသို့ အာရုံစိုက်သည်။ ဆလင်ဒါမှန်ဘီလူး၏ ကွေးညွတ်သောမျက်နှာ သို့မဟုတ် မျက်နှာများသည် ဆလင်ဒါတစ်ခု၏ အပိုင်းများဖြစ်ပြီး ၎င်းကိုဖြတ်သွားသောပုံကို မှန်ဘီလူး၏မျက်နှာပြင်၏လမ်းဆုံနှင့် အပြိုင်မျဉ်းတစ်ခုအဖြစ် အာရုံစူးစိုက်ကာ ၎င်းနှင့်ဆက်စပ်နေသော လေယာဉ်တန်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဆလင်ဒါမှန်ဘီလူးသည် ပုံကို ဤမျဉ်းကြောင်းနှင့် ထောင့်မှန်ကျသော ဦးတည်ရာသို့ ချုံ့ပြီး ၎င်းနှင့် အပြိုင် ဦးတည်ရာသို့ မပြောင်းလဲဘဲ ထားလိုက်သည်။ ကျစ်လစ်သောအရွယ်အစား ဖိုက်ဘာအလင်း အစိတ်အပိုင်းများ၊ လေဆာစနစ်များ၊ နှင့် မိုက်ခရိုအလင်းကြည့်ကိရိယာများ လိုအပ်သည့် သေးငယ်သော အလင်းအမှောင် ဝန်းကျင်များတွင် အသုံးပြုရန် သင့်လျော်သည့် အသေးစား အလင်းပြန်သည့် ဗားရှင်းများကို ရရှိနိုင်ပါသည်။ MICRO-OPTICAL WINDOWS နှင့် FLATS- Milimetric micro-optical windows များသည် တင်းကျပ်စွာ သည်းခံနိုင်မှု လိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းပေးပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ၎င်းတို့ကို အလင်းတန်းမျက်မှန်များမှ သင့်သတ်မှတ်ချက်များနှင့် စိတ်ကြိုက်ထုတ်လုပ်နိုင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ပေါင်းစပ်ထားသော ဆီလီကာ၊ BK7၊ နီလာ၊ ဇင့်ဆာလ်ဖိုက်…စသဖြင့် အမျိုးမျိုးသော ပစ္စည်းများဖြင့် ပြုလုပ်ထားသည့် မိုက်ခရိုအလင်းပြတင်းပေါက်များကို ကျွန်ုပ်တို့ ပေးဆောင်ထားပါသည်။ UV မှ အလယ်အလတ် IR အကွာအဝေးသို့ ထုတ်လွှင့်မှုနှင့်အတူ။ ပုံရိပ်ဖော်မိုက်ခရိုလင်များ- မိုက်ခရိုမှန်များသည် ယေဘုယျအားဖြင့် အချင်းတစ်မီလီမီတာ (မီလီမီတာ) အောက်နှင့် 10 မိုက်ခရိုမီတာအထိ သေးငယ်သော မှန်ဘီလူးအသေးများဖြစ်သည်။ ပုံရိပ်ဖော်မှန်ဘီလူးများကို ပုံရိပ်ဖော်စနစ်များရှိ အရာဝတ္ထုများကိုကြည့်ရှုရန် အသုံးပြုသည်။ ပုံရိပ်ဖော်မှန်ဘီလူးများကို ကင်မရာအာရုံခံကိရိယာပေါ်သို့ ဆန်းစစ်ထားသော အရာဝတ္ထုတစ်ခု၏ ပုံကို အာရုံစိုက်ရန် ပုံရိပ်ဖော်စနစ်များတွင် အသုံးပြုသည်။ မှန်ဘီလူးပေါ်မူတည်၍ parallax သို့မဟုတ် perspective error ကိုဖယ်ရှားရန် ပုံရိပ်ဖော်မှန်ဘီလူးများကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ ၎င်းတို့သည် ချိန်ညှိနိုင်သော ချဲ့ထွင်မှု၊ မြင်ကွင်းနယ်ပယ်နှင့် ဆုံမှတ်အရှည်များကို ပေးဆောင်နိုင်သည်။ ဤမှန်ဘီလူးများသည် အချို့သောအပလီကေးရှင်းများတွင် နှစ်လိုဖွယ်ဖြစ်နိုင်သော အချို့သောအင်္ဂါရပ်များ သို့မဟုတ် ဝိသေသလက္ခဏာများကို သရုပ်ဖော်ရန် နည်းလမ်းများစွာဖြင့် အရာဝတ္တုအား ကြည့်ရှုနိုင်စေပါသည်။ MICROMIRRORS- Micromirror ကိရိယာများသည် အဏုကြည့်မှန်များပေါ်တွင် အခြေခံထားသည်။ မှန်များသည် Microelectromechanical systems (MEMS) ဖြစ်သည်။ ဤမိုက်ခရိုအလင်းစက်များ၏ အခြေအနေများကို မှန်ခင်းကျင်းများပတ်ပတ်လည်ရှိ လျှပ်ကူးပစ္စည်းနှစ်ခုကြားရှိ ဗို့အားကို အသုံးချခြင်းဖြင့် ထိန်းချုပ်ထားသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ် မိုက်ခရိုကြည့်ကိရိယာများကို ဗီဒီယိုပရိုဂျက်တာများတွင် အသုံးပြုကြပြီး အလင်းပြောင်းခြင်းနှင့် ထိန်းချုပ်ခြင်းအတွက် optics နှင့် micromirror ကိရိယာများကို အသုံးပြုပါသည်။ MICRO-OPTIC ကော်လံကိရိယာများနှင့် ကော်လံပုံသဏ္ဍာန်များ- မိုက်ခရိုအလင်း ကော်လီမာများ အမျိုးမျိုးကို စင်ပြင်ပတွင် ရရှိနိုင်ပါသည်။ လိုအပ်သော အသုံးချပရိုဂရမ်များအတွက် Micro-optical သေးငယ်သောအလင်းတန်းများ ပေါင်းစပ်ကိရိယာများကို လေဆာပေါင်းစပ်နည်းပညာကို အသုံးပြု၍ ထုတ်လုပ်ပါသည်။ ဖိုက်ဘာအဆုံးကို မှန်ဘီလူး၏အလင်းဗဟိုသို့ တိုက်ရိုက်ပေါင်းစပ်ထားပြီး၊ ထို့ကြောင့် optical လမ်းကြောင်းအတွင်း epoxy ကိုဖယ်ရှားသည်။ ထို့နောက် micro-optic collimator မှန်ဘီလူးမျက်နှာပြင်ကို စံပြပုံသဏ္ဍာန်၏ တစ်လက်မ၏ သန်းပုံတစ်ပုံအတွင်း လေဆာဖြင့် ပွတ်တိုက်သည်။ သေးငယ်သော Beam collimator များသည် မီလီမီတာအောက်ရှိ beam ခါးများဖြင့် ပေါင်းစပ်ထားသော beam များကို ထုတ်လုပ်သည်။ Micro-optical သေးငယ်သော beam collimator များကို ပုံမှန်အားဖြင့် 1064၊ 1310 သို့မဟုတ် 1550 nm လှိုင်းအလျားတွင် အသုံးပြုသည်။ GRIN မှန်ဘီလူးကို အခြေခံထားသည့် မိုက်ခရို optic collimators များအပြင် ကော်လမ်တာ ခင်းကျင်းခြင်းနှင့် ကော်လမ်မာဖိုက်ဘာ အခင်းအကျင်းများ ကိုလည်း ရရှိနိုင်သည်။ MICRO-OPTICAL FRESNEL မှန်ဘီလူးများ- Fresnel မှန်ဘီလူးသည် သမားရိုးကျ ဒီဇိုင်းမှန်ဘီလူးတစ်ခုအတွက် လိုအပ်မည့် ပစ္စည်း၏ ထုထည်နှင့် ထုထည်မရှိဘဲ ကြီးမားသော အလင်းဝင်ပေါက်နှင့် တိုတောင်းသော အလင်းဝင်ပေါက်မှန်ဘီလူးများ တည်ဆောက်နိုင်စေရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် ကျစ်လစ်သော မှန်ဘီလူးအမျိုးအစားဖြစ်သည်။ Fresnel မှန်ဘီလူးသည် တခါတရံ ပြားချပ်ချပ်ပုံစံဖြင့် နှိုင်းယှဉ်နိုင်သော သမားရိုးကျမှန်ဘီလူးထက် များစွာပိုပါးနိုင်သည်။ Fresnel မှန်ဘီလူးသည် အလင်းရင်းမြစ်မှ အလင်းတန်းမှ အလင်းကို ပိုမိုဖမ်းယူနိုင်သောကြောင့် အလင်းအား ပိုကြီးသောအကွာအဝေးများတွင် မြင်နိုင်စေပါသည်။ Fresnel မှန်ဘီလူးသည် သမရိုးကျမှန်ဘီလူးများနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက လိုအပ်သော ပစ္စည်းပမာဏကို အာရုံစူးစိုက်နိုင်သော အဝိုင်းပုံအပိုင်းများအဖြစ် မှန်ဘီလူးကို ပိုင်းခြားပေးသည်။ အပိုင်းတစ်ခုစီတွင်၊ တူညီသော ရိုးရိုးမှန်ဘီလူးနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက အလုံးစုံအထူသည် လျော့နည်းသွားပါသည်။ ၎င်းကို စံမှန်ဘီလူးတစ်ခု၏ စဉ်ဆက်မပြတ်မျက်နှာပြင်ကို တူညီသောအကွေးအကွေးရှိသော မျက်နှာပြင်အစုတစ်ခုအဖြစ် ပိုင်းခြားကာ ၎င်းတို့ကြားတွင် အဆင့်ဆင့်ပြတ်တောက်သွားခြင်းဖြစ်သည်ဟု ရှုမြင်နိုင်သည်။ Micro-optic Fresnel မှန်ဘီလူးများသည် အာရုံကြောကွေးနေသော မျက်နှာပြင်အစုံတွင် အလင်းယိုင်မှုဖြင့် အလင်းကို အာရုံစိုက်သည်။ ဤမှန်ဘီလူးများကို အလွန်ပါးလွှာပြီး ပေါ့ပါးအောင် ပြုလုပ်နိုင်သည်။ Micro-optical Fresnel မှန်ဘီလူးများသည် ကြည်လင်ပြတ်သားမှုမြင့်မားသော Xray အပလီကေးရှင်းများအတွက် optics များတွင် အခွင့်အလမ်းများ ပေးစွမ်းနိုင်ပြီး၊ ဖြတ်၍ရသော optical အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှုစွမ်းရည်များကို ပေးပါသည်။ သင့်အပလီကေးရှင်းအတွက် အထူးပြုလုပ်ထားသော မိုက်ခရိုအလင်း Fresnel မှန်ဘီလူးများနှင့် အခင်းအကျင်းများကို ထုတ်လုပ်ရန်အတွက် micromolding နှင့် micromachining အပါအဝင် ထုတ်လုပ်ရေးနည်းလမ်းများစွာရှိသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် အပြုသဘောဆောင်သော Fresnel မှန်ဘီလူးကို ကော်မီတာ၊ စုဆောင်းသူ သို့မဟုတ် အကန့်အသတ်နှစ်ခုဖြင့် ဖန်တီးနိုင်သည်။ Micro-Optical Fresnel မှန်ဘီလူးများသည် များသောအားဖြင့် စက်လုံးပုံကွဲခြင်းများအတွက် ပြုပြင်ပေးပါသည်။ Micro-optic positive မှန်ဘီလူးများကို ဒုတိယ မျက်နှာပြင် အလင်းပြန်မှုအဖြစ် အသုံးပြုရန်အတွက် သတ္တုပြုလုပ်နိုင်ပြီး အနုတ်မှန်ဘီလူးများကို ပထမမျက်နှာပြင် ရောင်ပြန်မှုအဖြစ် အသုံးပြုရန်အတွက် သတ္တုပြုလုပ်နိုင်သည်။ MICRO-OPTICAL PRISMS- ကျွန်ုပ်တို့၏တိကျသောမိုက်ခရိုအလင်းလိုင်းတွင် စံ coated နှင့် uncoated micro prisms ပါဝင်သည်။ ၎င်းတို့သည် လေဆာရင်းမြစ်များနှင့် ပုံရိပ်ဖော်ခြင်းဆိုင်ရာ အက်ပ်လီကေးရှင်းများနှင့် အသုံးပြုရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ micro-optical prisms များတွင် submilimeter အတိုင်းအတာများရှိသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ coated micro-optical prisms ကို အဝင်အလင်းနှင့်စပ်လျဉ်း၍ မှန်ရောင်ပြန်များအဖြစ်လည်း အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ မွမ်းမံထားသော ပရစ်စင်များသည် အဖြစ်အပျက်အလင်းရောင်သည် ဟိုက်ပိုတက်နပ်တွင် လုံးလုံးလျားလျား အတွင်းပိုင်းထိ ထင်ဟပ်နေသောကြောင့် တိုတောင်းသော ဘေးတစ်ဖက်တစ်ချက်ရှိ အလင်းဖြစ်ပျက်မှုအတွက် မှန်များအဖြစ် လုပ်ဆောင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ micro-optical prism စွမ်းရည်များ ဥပမာများတွင် ထောင့်မှန်ပရစ်ဇမ်များ၊ အလင်းတန်းခွဲကိရိယာများ တပ်ဆင်မှုများ၊ Amici ပလပ်စတစ်များ၊ K-prisms၊ Dove prisms၊ Roof prisms၊ Cornercubes၊ Pentaprisms၊ Rhomboid ပလပ်စတစ်၊ Bauernfeind prisms၊ ကွဲလွဲနေသော ပရစ်ဆာများ၊ မီးချောင်းများနှင့် အလင်းအိမ်များ၊ LEDs များတွင် အပလီကေးရှင်းများအတွက် ပူဖောင်းဖောင်းထုတ်လုပ်သည့် လုပ်ငန်းစဉ်ဖြင့် acrylic၊ polycarbonate နှင့် အခြားသော ပလပ်စတစ်ပစ္စည်းများမှ ပြုလုပ်ထားသော အလင်းလမ်းပြခြင်းနှင့် တောက်ပနေသော optical micro-prisms များကိုလည်း ပေးဆောင်ထားပါသည်။ ၎င်းတို့သည် အလွန်ထိရောက်ပြီး တိကျသော ပရစ်ဇမ်မျက်နှာပြင်များကို လမ်းညွှန်ပေးသော အလင်းအားကောင်းပြီး အလင်းမရအောင် ရုံးစည်းမျဉ်းများကို ဖြည့်ဆည်းရန်အတွက် luminaries များကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ စိတ်ကြိုက် ပရစ်ဇမ်တည်ဆောက်ပုံများကို အပိုဆောင်းပြုလုပ်နိုင်သည်။ wafer အဆင့်ရှိ microprisms နှင့် microprism array များသည် microfabrication နည်းပညာများကို အသုံးပြု၍လည်း ဖြစ်နိုင်သည်။ DIFFRACTION GRATINGS- ကျွန်ုပ်တို့သည် diffractive micro-optical ဒြပ်စင်များ (DOEs) ကို ဒီဇိုင်းနှင့် ထုတ်လုပ်ပေးပါသည်။ Diffraction grating သည် အချိန်အပိုင်းအခြားအလိုက်ဖွဲ့စည်းပုံပါရှိသော optical အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်ပြီး၊ အလင်းအား ကွဲပြားသောလမ်းကြောင်းသို့သွားနေသည့် beam အများအပြားသို့ ကွဲထွက်ကာ ကွဲထွက်စေသည်။ ဤအလင်းတန်းများ၏ လမ်းညွှန်ချက်များသည် ဆန်ခါ၏အကွာအဝေးနှင့် အလင်း၏လှိုင်းအလျားပေါ်မူတည်၍ ဆန်ခါသည် ပြန့်ကျဲနေသောဒြပ်စင်အဖြစ် လုပ်ဆောင်နိုင်ရန်ဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် monochromators နှင့် spectrometers များတွင် အသုံးပြုရန် သင့်လျော်သောဒြပ်စင်ကို grating ပြုလုပ်စေသည်။ wafer-based lithography ကိုအသုံးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့သည် ထူးခြားသောအပူ၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် optical စွမ်းဆောင်ရည်လက္ခဏာများဖြင့် diffractive micro-optical ဒြပ်စင်များကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ Micro-optics ၏ Wafer အဆင့်ဖြင့် လုပ်ဆောင်ခြင်းသည် အလွန်ကောင်းမွန်သော ထုတ်လုပ်မှုကို ထပ်တလဲလဲ လုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး စီးပွားရေးထွက်ရှိမှုကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ diffractive micro-optical ဒြပ်စင်များအတွက် ရရှိနိုင်သော ပစ္စည်းအချို့မှာ crystal-quartz၊ fused-silica၊ glass၊ silicon နှင့် synthetic substrates တို့ဖြစ်သည်။ Diffraction gratings များသည် ရောင်စဉ်တန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း / spectroscopy၊ MUX/DEMUX/DWDM၊ optical encoders များကဲ့သို့သော တိကျသောရွေ့လျားမှုကို ထိန်းချုပ်ခြင်းကဲ့သို့သော အပလီကေးရှင်းများတွင် အသုံးဝင်ပါသည်။ Lithography နည်းပညာများသည် တင်းကျပ်စွာ ထိန်းချုပ်ထားသော groove အကွာအဝေးများဖြင့် တိကျသော micro-optical gratings များကို ဖန်တီးနိုင်စေသည်။ AGS-TECH သည် စိတ်ကြိုက်နှင့် စတော့ဒီဇိုင်းများ နှစ်မျိုးလုံးကို ပေးသည်။ VORTEX မှန်ဘီလူး- လေဆာအသုံးပြုမှုတွင် Gaussian အလင်းတန်းကို ဒိုးနပ်ပုံသဏ္ဍာန် စွမ်းအင်လက်စွပ်အဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲရန် လိုအပ်သည်။ Vortex မှန်ဘီလူးများကို အသုံးပြု၍ အောင်မြင်သည်။ အချို့သော application များသည် lithography နှင့် high-resolution microscopy တို့ဖြစ်သည်။ ဖန် Vortex အဆင့်ပြားများပေါ်တွင် Polymer ကိုလည်း ရရှိနိုင်သည်။ MICRO-OPTICAL HOMOGENIZERS / DIFFUSERS- ဖောင်းကြွခြင်း၊ အင်ဂျင်နီယာထုတ်ထားသော ပြတင်းပေါက်ရုပ်ရှင်များ၊ ထွင်းထုထားသော ဖြန့်ညှိပေးသည့်ကိရိယာများ၊ HiLAM ဖြန့်ကျက်ခြင်းများ အပါအဝင် ကျွန်ုပ်တို့၏ မိုက်ခရို-အလင်းပြန်ဖော်ခြင်းအတွက် နည်းပညာအမျိုးမျိုးကို အသုံးပြုပါသည်။ Laser Speckle သည် ပေါင်းစပ်အလင်းရောင်၏ ကျပန်းဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုမှ ထွက်ပေါ်လာသော optical ဖြစ်စဉ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤဖြစ်စဉ်ကို detector array များ၏ Modulation Transfer Function (MTF) ကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသည်။ Microlens diffusers များသည် အမှုန်အမွှားထုတ်လုပ်ရန်အတွက် ထိရောက်သော micro-optic ကိရိယာများဖြစ်ကြောင်း ပြသထားသည်။ BEAM ပုံသဏ္ဍာန်များ- micro-optic beam shaper သည် ပြင်းထန်မှု ဖြန့်ဖြူးမှုနှင့် လေဆာရောင်ခြည်၏ spatial ပုံသဏ္ဍာန် နှစ်ခုလုံးကို ပေးထားသည့် အပလီကေးရှင်းအတွက် ပိုမိုနှစ်သက်ဖွယ်အရာအဖြစ် ပြောင်းလဲပေးသည့် optic သို့မဟုတ် optics အစုတစ်ခုဖြစ်သည်။ မကြာခဏဆိုသလို၊ Gaussian ကဲ့သို့ သို့မဟုတ် တူညီသောမဟုတ်သော လေဆာရောင်ခြည်သည် ပြားချပ်ချပ်ချပ်ချပ်တစ်ခုအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲသွားလေ့ရှိသည်။ Beam shaper micro-optics ကို single mode နှင့် multi-mode လေဆာရောင်ခြည်များကို ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် ကိုင်တွယ်ရန် အသုံးပြုပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ beam shaper micro-optics သည် စက်ဝိုင်းပုံ၊ စတုရန်းပုံ၊ rectilinear၊ ဆဋ္ဌဂံပုံ သို့မဟုတ် မျဉ်းကြောင်းပုံစံများကို ပံ့ပိုးပေးပြီး အလင်းတန်း (အပြားအပေါ်ပိုင်း) ကို တစ်သားတည်းဖြစ်စေခြင်း သို့မဟုတ် လျှောက်လွှာ၏လိုအပ်ချက်အရ စိတ်ကြိုက်ပြင်းထန်မှုပုံစံကို ပေးဆောင်ပါ။ လေဆာရောင်ခြည်ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် တစ်သားတည်းဖြစ်တည်မှုအတွက် အလင်းယိုင်ခြင်း၊ အလင်းပြန်ခြင်းနှင့် ရောင်ပြန်ဟပ်နိုင်သော မိုက်ခရိုအလင်းဒြပ်စင်များကို ထုတ်လုပ်ခဲ့သည်။ ဘက်စုံသုံး မိုက်ခရိုအလင်းဒြပ်စင်များကို မတရားလေဆာအလင်းတန်းပရိုဖိုင်များ၊ တစ်သားတည်းဖြစ်နေသော အစက်အပြောက်အခင်းကျင်း သို့မဟုတ် လိုင်းပုံစံ၊ လေဆာအလင်းစာရွက် သို့မဟုတ် ပြားချပ်ချပ်ချပ်ချပ်ပရိုဖိုင်များကဲ့သို့သော ဂျီသြမေတြီအမျိုးမျိုးအဖြစ် ပုံဖော်ရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။ Fine beam အသုံးချပုံဥပမာများသည် ဖြတ်တောက်ခြင်းနှင့် သော့ပေါက်ဂဟေဆော်ခြင်း ဖြစ်သည်။ Broad beam အသုံးချပုံဥပမာများမှာ conduction welding၊ brazing၊ soldering၊ heat treatment၊ thin film ablation၊ laser peening တို့ဖြစ်သည်။ PULSE COMPRESSION GRATINGS: Pulse compression သည် pulse ကြာချိန်နှင့် spectral width အကြား ဆက်နွယ်မှုကို အခွင့်ကောင်းယူနိုင်သော အသုံးဝင်သောနည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် လေဆာစနစ်ရှိ optical အစိတ်အပိုင်းများမှ ချမှတ်ထားသော ပုံမှန်ပျက်စီးမှုကန့်သတ်ချက်များထက် လေဆာပဲမျိုးစုံကို ချဲ့ထွင်နိုင်စေပါသည်။ optical pulses ၏ကြာချိန်ကိုလျှော့ချရန်အတွက် linear နှင့် nonlinear နည်းပညာများရှိသည်။ optical pulses များကို ယာယီ compress/ shortening ပြုလုပ်ရန် နည်းလမ်းမျိုးစုံ ရှိသည်၊ ဆိုလိုသည်မှာ၊ pulse ကြာချိန်ကို လျှော့ချခြင်း ဖြစ်သည်။ ဤနည်းလမ်းများသည် ယေဘုယျအားဖြင့် picosecond သို့မဟုတ် femtosecond ဒေသတွင် စတင်သည်၊ ဆိုလိုသည်မှာ ultrashort pulses ၏အုပ်ချုပ်မှုတွင်ရှိပြီးသားဖြစ်သည်။ MultiSPOT BEAM SPLITTERS- ဒြပ်စင်တစ်ခုသည် အလင်းတန်းများစွာကို ထုတ်လုပ်ရန် လိုအပ်သောအခါ သို့မဟုတ် အလွန်တိကျသော optical power ပိုင်းခြားမှု လိုအပ်သည့်အခါတွင် ဒြပ်စင်တစ်ခုသည် အလင်းကွဲဒြပ်စင်များဖြင့် ခွဲခြမ်းခြင်းကို နှစ်သက်သည်။ ရှင်းရှင်းလင်းလင်းသတ်မှတ်ထားသောနှင့် တိကျသောအကွာအဝေးတွင် အပေါက်များဖန်တီးရန် တိကျသောနေရာချထားခြင်းကိုလည်း ဆောင်ရွက်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့တွင် Multi-Spot Elements၊ Beam Sampler Elements၊ Multi-Focus Element များရှိပါသည်။ ကွဲပြားသော ဒြပ်စင်ကို အသုံးပြု၍ ပေါင်းစပ်ထားသော အဖြစ်အပျက် အလင်းတန်းများကို များစွာသော အလင်းတန်းများအဖြစ် ကွဲသွားပါသည်။ ဤအလင်းတန်းများသည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု တူညီသော ပြင်းထန်မှုနှင့် တူညီသောထောင့်များရှိသည်။ ကျွန်ုပ်တို့တွင် တစ်ဖက်မြင်နှင့် နှစ်ဘက်မြင်ဒြပ်စင်များ ရှိသည်။ 1D ဒြပ်စင်များသည် မျဉ်းဖြောင့်တစ်လျှောက် အလင်းတန်းများကို ခွဲခြမ်းပြီး 2D ဒြပ်စင်များသည် ဥပမာ၊ 2 x 2 သို့မဟုတ် 3 x 3 အစက်အပြောက်များနှင့် ဆဋ္ဌဂံပုံစံ အစက်အပြောက်များရှိသော ဒြပ်စင်များကို မက်ထရစ်ဖြင့် စီစဉ်ပေးသည့် အလင်းတန်းများကို ထုတ်လုပ်သည်။ Micro-optical ဗားရှင်းများ ရရှိနိုင်ပါသည်။ BEAM နမူနာပစ္စည်းများ- ဤဒြပ်စင်များသည် ပါဝါမြင့်မားသော လေဆာများကို အတွင်းပိုင်းစောင့်ကြည့်ရန်အတွက် အသုံးပြုသော ဆန်ခါများဖြစ်သည်။ အလင်းတန်းတိုင်းတာခြင်းအတွက် ± ပထမဦးစွာ diffraction order ကိုသုံးနိုင်သည်။ ၎င်းတို့၏ ပြင်းအားသည် ပင်မအလင်းတန်းထက် သိသိသာသာ နိမ့်ကျပြီး စိတ်ကြိုက် ပုံစံထုတ်နိုင်သည်။ မြင့်မားသော diffraction အမှာစာများကို ပြင်းထန်မှုနည်းပါးသည့်တိုင် တိုင်းတာရန်အတွက်လည်း အသုံးပြုနိုင်သည်။ စွမ်းအားမြင့် လေဆာရောင်ခြည်များ၏ ပြင်းထန်မှုနှင့် အပြောင်းအလဲများ ကွဲပြားမှုများကို ဤနည်းလမ်းကို အသုံးပြု၍ အတွင်းလိုင်းတွင် ယုံကြည်စိတ်ချစွာ စောင့်ကြည့်နိုင်ပါသည်။ Multi-Focus ELEMENTS: ဤကွဲပြားသောဒြပ်စင်နှင့်အတူ အလင်းဝင်ရိုးတစ်လျှောက် ဆုံမှတ်အများအပြားကို ဖန်တီးနိုင်သည်။ ဤ optical ဒြပ်စင်များကိုအာရုံခံကိရိယာများ၊ မျက်စိပညာဆိုင်ရာ၊ ပစ္စည်းလုပ်ဆောင်ခြင်းတွင်အသုံးပြုသည်။ Micro-optical ဗားရှင်းများ ရရှိနိုင်ပါသည်။ MICRO-OPTICAL ချိတ်ဆက်မှုများ- Optical အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှုများသည် အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်သည့်အဆင့်ရှိ မတူညီသောအဆင့်များတွင် လျှပ်စစ်ကြေးနီကြိုးများကို အစားထိုးလျက်ရှိသည်။ micro-optics ဆက်သွယ်ရေး၏ အားသာချက်များကို ကွန်ပျူတာ backplane၊ ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်၊ inter-chip နှင့် on-chip အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှုအဆင့်သို့ သယ်ဆောင်လာရန် ဖြစ်နိုင်ခြေတစ်ခုမှာ၊ ပလပ်စတစ်ဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော မိုက်ခရိုအလင်းချိတ်ဆက်မှု module များကို အခမဲ့အသုံးပြုခြင်းပင်ဖြစ်သည်။ ဤ module များသည် တစ်စတုရန်းစင်တီမီတာ၏ခြေရာပေါ်တွင် point-to-point optical links ထောင်ပေါင်းများစွာမှတဆင့် မြင့်မားသောစုစည်းဆက်သွယ်ရေး bandwidth ကိုသယ်ဆောင်ပေးနိုင်သည်။ off-shelf အပြင် ကွန်ပြူတာ backplane၊ printed circuit board၊ inter-chip နှင့် on-chip အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှုအဆင့်များအတွက် စိတ်ကြိုက်အံဝင်ခွင်ကျရှိသော micro-optical အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှုများအတွက် ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပါ။ ဉာဏ်ရည်ဉာဏ်သွေး MICRO-OPTICS စနစ်များ- အနီအောက်ရောင်ခြည်အနီးရှိ အလင်းတန်းပုံဖော်ခြင်းအတွက် သေးငယ်သည့်ဖြေရှင်းချက်အဖြစ် LED flash အပလီကေးရှင်းများအတွက် စမတ်ဖုန်းများနှင့် စမတ်စက်ပစ္စည်းများတွင် အသုံးပြုသည့် ဉာဏ်ရည်ဉာဏ်သွေး MICRO-OPTICS စနစ်များ၊ စူပါကွန်ပြူတာများနှင့် ဆက်သွယ်ရေးပစ္စည်းကိရိယာများတွင် ဒေတာပို့ဆောင်ရန်အတွက် optical အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှုများ၊ အပလီကေးရှင်းများနှင့် သဘာဝအသုံးပြုသူ အင်တာဖေ့စ်များတွင် လက်ဟန်ခြေဟန်ထိန်းချုပ်မှုကို ပံ့ပိုးပေးသည်။ အာရုံခံ opto-အီလက်ထရွန်းနစ် မော်ဂျူးများကို စမတ်ဖုန်းများတွင် ပတ်ဝန်းကျင်အလင်းရောင်နှင့် အနီးကပ်အာရုံခံကိရိယာများကဲ့သို့သော ထုတ်ကုန်အပလီကေးရှင်းများစွာအတွက် အသုံးပြုပါသည်။ Intelligent imaging micro-optic စနစ်များကို အဓိက နှင့် ရှေ့မျက်နှာစာ ကင်မရာများအတွက် အသုံးပြုပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် မြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်နှင့် ထုတ်လုပ်နိုင်စွမ်းရှိသော စိတ်ကြိုက်ပြုပြင်ထားသော အသိဉာဏ်ရှိသော မိုက်ခရိုအလင်းစနစ်များကိုလည်း ပေးဆောင်ပါသည်။ LED MODULES- ကျွန်ုပ်တို့၏ page တွင် ကျွန်ုပ်တို့၏ LED ချစ်ပ်များ၊ အသေများနှင့် မော်ဂျူးများကို သင်ရှာတွေ့နိုင်ပါသည်။Lighting & Illumination Components Manufacturing ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ။ WIRE-GRID POLARIZERS- ၎င်းတို့တွင် အဖြစ်အပျက်အလင်းတန်းနှင့် ထောင့်မှန်ကျသော လေယာဉ်တွင် တပ်ဆင်ထားသော အပြိုင်အပြိုင် သတ္တုဝါယာကြိုးများ ပုံမှန်အခင်းအကျင်းများ ပါဝင်သည်။ polarization ဦးတည်ချက်သည် ဝါယာကြိုးများနှင့် ထောင့်မှန်ဖြစ်သည်။ ပုံစံတူ polarizers များတွင် polarmetry၊ interferometry၊ 3D display နှင့် optical data storage အတွက် အပလီကေးရှင်းများရှိသည်။ Wire-grid polarizer များကို အနီအောက်ရောင်ခြည် အသုံးပြုမှုတွင် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် အသုံးပြုကြသည်။ အခြားတစ်ဖက်တွင်မူ micropatterned wire-grid polarizer များသည် spatial resolution အကန့်အသတ်ရှိပြီး မြင်နိုင်သော wavelengths များတွင် စွမ်းဆောင်ရည် ညံ့ဖျင်းပြီး ချွတ်ယွင်းချက်များကို ခံနိုင်ရည်ရှိပြီး non-linear polarization များအထိ အလွယ်တကူ တိုးချဲ့မရနိုင်ပါ။ pixelated polarizers များသည် micro-patterned nanowire grid ၏ array ကိုအသုံးပြုသည်။ pixelated micro-optical polarizers များကို စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ polarizer ခလုတ်များမလိုအပ်ဘဲ ကင်မရာများ၊ လေယာဉ်အခင်းအကျင်းများ၊ interferometers နှင့် microbolometers များနှင့် ချိန်ညှိနိုင်ပါသည်။ မြင်သာသည့်နေရာအနှံ့အပြားရှိ polarizations များနှင့် IR လှိုင်းအလျားများကို ခွဲခြားသိမြင်နိုင်သော တက်ကြွသောရုပ်ပုံများကို အချိန်နှင့်တပြေးညီ မြန်ဆန်ပြီး ကြည်လင်ပြတ်သားသောရုပ်ပုံများကို ဖမ်းယူနိုင်မည်ဖြစ်သည်။ Pixelated micro-optical polarizers များသည် အလင်းရောင်နည်းပါးသောအခြေအနေများတွင်ပင် ကြည်လင်ပြတ်သားသော 2D နှင့် 3D ရုပ်ပုံများကို ဖွင့်ပေးသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် နှစ်၊ သုံး၊ နှင့် လေးပုံအဆင့် ပုံရိပ်ဖော်စက်များအတွက် ပုံစံတူ polarizer များကို ပေးဆောင်ထားပါသည်။ Micro-optical ဗားရှင်းများ ရရှိနိုင်ပါသည်။ အဆင့်လိုက် အညွှန်းကိန်း (GRIN) မှန်ဘီလူးများ- ပစ္စည်းတစ်ခု၏ အလင်းယိုင်ညွှန်းကိန်း (n) ၏ တစ်ဖြည်းဖြည်း ပြောင်းလဲမှုကို မျက်နှာပြင်ညီညာသော မှန်ဘီလူးများ ထုတ်လုပ်ရန် သို့မဟုတ် သမားရိုးကျ လုံးပတ်မှန်ဘီလူးများဖြင့် မကြာခဏ ကွဲလွဲမှုမရှိသော မှန်ဘီလူးများကို ထုတ်လုပ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။ Gradient-Index (GRIN) မှန်ဘီလူးများတွင် အလင်းယိုင်သည့်အရောင်အဆင်းရှိသော စက်ဝိုင်းပုံ၊ axial သို့မဟုတ် radial ရှိသည်။ အလွန်သေးငယ်သော micro-optical ဗားရှင်းများကို ရရှိနိုင်ပါသည်။ MICRO-OPTIC DIGITAL FILTERS- ဒစ်ဂျစ်တယ်ကြားနေသိပ်သည်းဆ စစ်ထုတ်မှုများကို အလင်းရောင်နှင့် ပရိုဖိုင်းစနစ်များ၏ ပြင်းထန်မှုပရိုဖိုင်များကို ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။ ဤမိုက်ခရိုအလင်း စစ်ထုတ်မှုများတွင် ပေါင်းစပ်ထားသော ဆီလီကာအလွှာပေါ်တွင် ကျပန်းခွဲဝေပေးသည့် ကောင်းစွာသတ်မှတ်ထားသော သတ္တုစုပ်ယူနိုင်သော မိုက်ခရိုဖွဲ့စည်းပုံများ ပါရှိသည်။ ဤမိုက်ခရိုအလင်း အစိတ်အပိုင်းများ၏ ဂုဏ်သတ္တိများမှာ တိကျမှု၊ ကြီးမားသော အလင်းဝင်ပေါက်၊ မြင့်မားသော ပျက်စီးမှုအဆင့်၊ DUV မှ IR လှိုင်းအလျားများအတွက် ဘရော့ဘန်းကို လျော့ချပေးခြင်း၊ တစ်ခု သို့မဟုတ် နှစ်ခု အတိုင်းအတာ ဂီယာပရိုဖိုင်များကို ကောင်းစွာသတ်မှတ်ထားသည်။ အချို့သော အပလီကေးရှင်းများသည် အလင်းဝင်ပေါက် ပျော့ပျောင်းမှု၊ အလင်းရောင် သို့မဟုတ် ပရိုဖိုင်းဆွဲစနစ်များတွင် ပြင်းထန်မှု ပရိုဖိုင်များကို တိကျစွာ ပြုပြင်ခြင်း၊ ပါဝါမြင့်သော မီးအိမ်များအတွက် ပြောင်းလဲနိုင်သော လျှော့နည်းခြင်း စစ်ထုတ်ခြင်းများနှင့် ချဲ့ထွင်ထားသော လေဆာရောင်ခြည်များ။ အပလီကေးရှင်းမှ လိုအပ်သော ဂီယာပရိုဖိုင်များကို တိကျစွာ ပြည့်မီစေရန် တည်ဆောက်ပုံများ၏ သိပ်သည်းဆနှင့် အရွယ်အစားကို စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်နိုင်ပါသည်။ MULTI-WAVELENGTH BEAM ပေါင်းစည်းမှုများ- လှိုင်းအလျားများစွာရှိသော အလင်းတန်းပေါင်းစပ်ကိရိယာများသည် မတူညီသော လှိုင်းအလျား၏ LED ပေါင်းစပ်မှုနှစ်ခုကို ပေါင်းစပ်ထားသော အလင်းတန်းတစ်ခုအဖြစ် ပေါင်းစပ်ထားသည်။ LED ကော်လမ်မာရင်းမြစ်နှစ်ခုထက်ပို၍ပေါင်းစပ်ရန် ပေါင်းစပ်ကိရိယာများစွာကို ခွဲထားနိုင်သည်။ Beam ပေါင်းစပ်ကိရိယာများကို လှိုင်းအလျားနှစ်ခုကို ပေါင်းစပ်ထားသည့် စွမ်းဆောင်ရည်မြင့် dichroic beam splitters များဖြင့် ပြုလုပ်ထားပြီး လှိုင်းအလျား 95% ထိရောက်မှုရှိသည်။ အလွန်သေးငယ်သော micro-optic ဗားရှင်းများကို ရရှိနိုင်ပါသည်။ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Mechanical Testing Instruments - Tension Tester - Torsion Test Machine - Bending Tester - Impact Test Device - Concrete Tester - Compression Testing Machine - H စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ စမ်းသပ်ကိရိယာများ A_CC781905-5cde-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b3bde-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b3b-bb3b-136B3b-136bad5CF588D_WEA , တင်းမာမှုစစ်ဆေးစက်များ, compression type စက်များ, torsion test questions, _cc781905-5cde-3194-bb3b-bb3b-bb3b-bb3b-136b3b-136b3b-136b3b-136b3b-136b3b-136b3b-136Bedness transfer, PRECISION ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုလက်ကျန်။ စာရင်းစျေးနှုန်းများအောက်တွင် ကျွန်ုပ်တို့၏ဖောက်သည်များအတွက် အရည်အသွေးအမှတ်တံဆိပ်များဖြစ်သည့် SADT၊ SINOAGE အစရှိသော ကျွန်ုပ်တို့၏ဖောက်သည်များကို ပေးဆောင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ SADT အမှတ်တံဆိပ် တိုင်းတာမှုနှင့် စမ်းသပ်ကိရိယာများ၏ ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန်၊ ကျေးဇူးပြု၍ ဤနေရာကို နှိပ်ပါ။ ဤတွင် သင်သည် ကွန်ကရစ်စမ်းသပ်ကိရိယာများနှင့် မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှုစမ်းသပ်ခြင်းကဲ့သို့သော စမ်းသပ်ကိရိယာအချို့ကို သင်တွေ့လိမ့်မည်။ ဤစမ်းသပ်ကိရိယာများကို အသေးစိတ်လေ့လာကြည့်ကြပါစို့။ SCHMIDT HAMMER / CONCRETE TESTER : This test instrument, also sometimes called a SWISS HAMMER or a REBOUND HAMMER, ကွန်ကရစ် သို့မဟုတ် ကျောက်၏ elastic ဂုဏ်သတ္တိများ သို့မဟုတ် ခိုင်ခံ့မှုကို တိုင်းတာရန်အတွက် အဓိကအားဖြင့် မျက်နှာပြင် မာကျောမှုနှင့် ထိုးဖောက်မှုခံနိုင်ရည်အား တိုင်းတာသည့်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ တူသည် နမူနာ၏ မျက်နှာပြင်အပေါ်သို့ သက်ရောက်နေသော စပရိန်တင်ထားသော ဒြပ်ထု၏ ပြန်အလာကို တိုင်းတာသည်။ စမ်းသပ်သော တူသည် ကွန်ကရစ်အား ကြိုတင်သတ်မှတ်ထားသော စွမ်းအင်ဖြင့် ထိလိမ့်မည်။ တူ၏ပြန်ထမှုသည် ကွန်ကရစ်၏ မာကျောမှုအပေါ် မူတည်ပြီး စမ်းသပ်ကိရိယာဖြင့် တိုင်းတာသည်။ ပြောင်းလဲခြင်းဇယားကို အကိုးအကားအဖြစ်ယူပြီး၊ တွန်းအားအား ဆုံးဖြတ်ရန် ပြန်ပြန်တန်ဖိုးကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ Schmidt hammer သည် 10 မှ 100 အတွင်း မထင်သလိုစကေးတစ်ခုဖြစ်သည်။ Schmidt တူတူများသည် မတူညီသော စွမ်းအင်အပိုင်းအခြားများစွာဖြင့် လာပါသည်။ ၎င်းတို့၏ စွမ်းအင်အပိုင်းအခြားများမှာ- (i) အမျိုးအစား L-0.735 Nm သက်ရောက်မှုစွမ်းအင်၊ (ii) အမျိုးအစား N-2.207 Nm သက်ရောက်မှုစွမ်းအင်၊ နှင့် (iii) အမျိုးအစား M-29.43 Nm သက်ရောက်မှုစွမ်းအင်။ နမူနာတွင် ဒေသဆိုင်ရာကွဲလွဲမှု။ နမူနာများတွင် ဒေသဆိုင်ရာကွဲလွဲမှုကို လျှော့ချရန် ဖတ်ရှုမှုရွေးချယ်မှုနှင့် ၎င်းတို့၏ ပျမ်းမျှတန်ဖိုးကို ယူရန် အကြံပြုထားသည်။ စမ်းသပ်ခြင်းမပြုမီတွင်၊ ထုတ်လုပ်သူမှပံ့ပိုးပေးသော ချိန်ညှိခြင်းစမ်းသပ်သည့်ပုံးကို အသုံးပြု၍ Schmidt တူကို ချိန်ညှိရန်လိုအပ်သည်။ စာဖတ်ခြင်း 12 ခုကို ယူသင့်ပြီး အမြင့်ဆုံးနှင့် အနိမ့်ဆုံးကို လျှော့ချပြီးနောက် ကျန်ရှိသော ဆယ်ခု၏ ပျမ်းမျှကို ထုတ်ယူပါ။ ဤနည်းလမ်းကို ပစ္စည်း၏ ကြံ့ခိုင်မှုကို သွယ်ဝိုက်တိုင်းတာခြင်းဟု ယူဆပါသည်။ နမူနာများကြား နှိုင်းယှဉ်ခြင်းအတွက် ၎င်းသည် မျက်နှာပြင်ဂုဏ်သတ္တိများအပေါ် အခြေခံ၍ ညွှန်ပြချက်တစ်ခု ပေးသည်။ ကွန်ကရစ်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် ဤစမ်းသပ်နည်းကို ASTM C805 မှ အုပ်ချုပ်သည်။ အခြားတစ်ဖက်တွင်၊ ASTM D5873 စံနှုန်းသည် ကျောက်တုံးစမ်းသပ်ခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ထုံးလုပ်နည်းကို ဖော်ပြသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ SADT အမှတ်တံဆိပ်ကတ်တလောက်၏အတွင်းတွင် အောက်ပါထုတ်ကုန်များကို တွေ့ရပါမည်- DIGITAL CONCRETE TEST HAMMER SADT မော်ဒယ်များ HT-225D/HT-75D/HT-20D_cc75c5-3dSA HT-225D သည် ဒေတာပရိုဆက်ဆာနှင့် စမ်းသပ်တူတူများကို တစ်ခုတည်းယူနစ်အဖြစ် ပေါင်းစပ်ထားသော ဒစ်ဂျစ်တယ်ကွန်ကရစ်စမ်းသပ်တူတူတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကွန်ကရစ်နှင့် ဆောက်လုပ်ရေးပစ္စည်းများကို မပျက်စီးစေသော အရည်အသွေးစစ်ဆေးမှုအတွက် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုသည်။ ၎င်း၏ ပြန်လှန်တန်ဖိုးမှ၊ ကွန်ကရစ်၏ တွန်းအားအား အလိုအလျောက် တွက်ချက်နိုင်သည်။ စမ်းသပ်မှုဒေတာအားလုံးကို မန်မိုရီတွင် သိမ်းဆည်းနိုင်ပြီး USB ကြိုးဖြင့် သို့မဟုတ် Bluetooth ဖြင့် ကြိုးမဲ့စနစ်ဖြင့် PC သို့ လွှဲပြောင်းနိုင်သည်။ HT-225D နှင့် HT-75D မော်ဒယ်များသည် တိုင်းတာမှုအကွာအဝေး 10 – 70N/mm2 ရှိပြီး မော်ဒယ် HT-20D တွင် 1 – 25N/mm2 သာရှိသည်။ HT-225D ၏ သက်ရောက်မှုစွမ်းအင်မှာ 0.225 Kgm ဖြစ်ပြီး သာမန်အဆောက်အဦနှင့် တံတားတည်ဆောက်မှုကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်ပြီး၊ HT-75D ၏ သက်ရောက်မှုစွမ်းအင်မှာ 0.075 Kgm ဖြစ်ပြီး ကွန်ကရစ်နှင့် အုတ်အတုများ၏ သေးငယ်၍ ထိခိုက်မှုဒဏ်ခံနိုင်သော အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်ပြီး နောက်ဆုံးတွင်၊ HT-20D ၏သက်ရောက်မှုစွမ်းအင်သည် 0.020Kgm ဖြစ်ပြီး အင်္ဂတေ သို့မဟုတ် ရွှံ့စေးထုတ်ကုန်များကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ သက်ရောက်မှုစမ်းသပ်မှုများ- ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းအများအပြားနှင့် ၎င်းတို့၏ဝန်ဆောင်မှုဘဝများအတွင်း၊ အစိတ်အပိုင်းများစွာသည် တင်ဆောင်ခြင်းကို သက်ရောက်မှုရှိရန် လိုအပ်ပါသည်။ သက်ရောက်မှုစမ်းသပ်မှုတွင်၊ အထစ်ရှိသောနမူနာကို သက်ရောက်မှုစမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုတွင် ထားရှိကာ လွှဲနေသောချိန်သီးဖြင့် ကျိုးသွားပါသည်။ ဤစမ်းသပ်မှု၏ အဓိက အမျိုးအစား နှစ်မျိုး ရှိသည်- The CHARPY TEST and the and the_cc781905-5cde3bEST Charpy စမ်းသပ်မှုအတွက် နမူနာအား အစွန်းနှစ်ဖက်စလုံးတွင် ပံ့ပိုးထားပြီး Izod စစ်ဆေးမှုအတွက် ၎င်းတို့အား cantilever beam ကဲ့သို့ တစ်ဖက်တွင်သာ ပံ့ပိုးထားသည်။ ချိန်သီး၏ရွေ့လျားမှုပမာဏမှနမူနာကိုချိုးဖျက်ရာတွင် လွင့်စင်သွားသောစွမ်းအင်ကိုရရှိသည်၊ ဤစွမ်းအင်သည် ပစ္စည်း၏အကျိုးသက်ရောက်မှု ခိုင်မာမှုဖြစ်သည်။ သက်ရောက်မှုစမ်းသပ်မှုများကို အသုံးပြု၍ ပစ္စည်းများ၏ ပျော့ပြောင်း-ကြွပ်ဆတ်သော အကူးအပြောင်း အပူချိန်ကို ကျွန်ုပ်တို့ ဆုံးဖြတ်နိုင်ပါသည်။ မြင့်မားသောသက်ရောက်မှုခံနိုင်ရည်ရှိသောပစ္စည်းများသည်ယေဘုယျအားဖြင့်မြင့်မားသောခိုင်ခံ့မှုနှင့် ductility ရှိသည်။ ဤစစ်ဆေးမှုများသည် မျက်နှာပြင်ချို့ယွင်းချက်များအတွက် ပစ္စည်းတစ်ခု၏ ထိခိုက်မှု ခံနိုင်ရည်အား အာရုံခံနိုင်စွမ်းကို ပြသပေးပါသည်။ အကြောင်းမှာ နမူနာရှိ notch သည် မျက်နှာပြင်ချို့ယွင်းချက်ဟု ယူဆနိုင်ပါသည်။ TENSION TESTER - ပစ္စည်းများ၏ ခိုင်ခံ့မှု ပုံသဏ္ဍာန်သွင်ပြင်လက္ခဏာများကို ဤစစ်ဆေးမှုကို အသုံးပြု၍ ဆုံးဖြတ်ပါသည်။ စမ်းသပ်နမူနာများကို ASTM စံနှုန်းအတိုင်း ပြင်ဆင်ထားပါသည်။ ပုံမှန်အားဖြင့်၊ အစိုင်အခဲနှင့် အဝိုင်းနမူနာများကို စမ်းသပ်သော်လည်း ပြားချပ်ချပ်များနှင့် ပြွန်နမူနာများကို tension test ဖြင့်လည်း စမ်းသပ်နိုင်သည်။ နမူနာတစ်ခု၏ မူလအရှည်သည် ၎င်းပေါ်ရှိ gage အမှတ်အသားများကြား အကွာအဝေးဖြစ်ပြီး ပုံမှန်အားဖြင့် 50 မီလီမီတာ ရှည်သည်။ lo ကိုရည်ညွှန်းသည်။ နမူနာများနှင့် ထုတ်ကုန်များပေါ်မူတည်၍ ပိုရှည် သို့မဟုတ် အတိုအရှည်များကို အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ မူလအခြမ်းကို Ao ဟု သတ်မှတ်သည်။ အင်ဂျင်နီယာစိတ်ဖိစီးမှု သို့မဟုတ် အမည်ခံစိတ်ဖိစီးမှုဟုလည်း ခေါ်ဝေါ်ကြပြီး၊ Sigma = P/Ao အင်ဂျင်နီယာ ဘာသာရပ်ကို အောက်ပါအတိုင်း ပေးထားပါသည်။ e = (l – lo) / lo မျဉ်းဖြောင့်မျှော့ဧရိယာတွင်၊ နမူနာသည် အချိုးကျကန့်သတ်ချက်အထိ ဝန်အား အချိုးကျ ရှည်စေသည်။ ဤကန့်သတ်ချက်ကိုကျော်လွန်၍ မျဉ်းကြောင်းအတိုင်းမဟုတ်သော်လည်း၊ နမူနာသည် အထွက်နှုန်းအမှတ် Y အထိ ဆက်လက်၍ ပျော့ပျောင်းစွာ ပုံပျက်နေပါမည်။ ဤ elastic ဒေသတွင်၊ ဝန်ကိုဖယ်ရှားပါက ပစ္စည်းသည် ၎င်း၏မူလအရှည်သို့ ပြန်သွားမည်ဖြစ်သည်။ Hooke's Law သည် ဤဒေသတွင် အကျုံးဝင်ပြီး Young's Modulus ကို ပေးသည်- E = Sigma / e ကျွန်ုပ်တို့သည် ဝန်ကို တိုးမြှင့်ပြီး အထွက်နှုန်းအမှတ် Y ကိုကျော်လွန်ပါက၊ ပစ္စည်းသည် အထွက်နှုန်းစတင်သည်။ တစ်နည်းဆိုရသော် နမူနာသည် ပလတ်စတစ်ပုံသဏ္ဍာန်ကို စတင်ခံစားရသည်။ Plastic deformation ဆိုသည်မှာ အမြဲတမ်း ပုံပျက်နေခြင်းကို ဆိုလိုသည်။ နမူနာ၏ ဖြတ်ပိုင်းဧရိယာသည် အမြဲတမ်းနှင့် တစ်ပုံစံတည်း လျော့နည်းသွားသည်။ ဤအချက်တွင် နမူနာများကို ဖြုတ်ထားပါက၊ မျဉ်းကွေးသည် အောက်ဘက်မျဉ်းဖြောင့်နှင့် elastic ဒေသရှိ မူလမျဉ်းနှင့် အပြိုင်ဖြစ်သည်။ ဝန်ပိုတိုးလာပါက၊ မျဉ်းကွေးသည် အမြင့်ဆုံးသို့ရောက်ရှိပြီး လျော့နည်းသွားမည်ဖြစ်သည်။ အမြင့်ဆုံးသော ဖိစီးမှုအမှတ်ကို ဆန့်နိုင်အား သို့မဟုတ် အဆုံးစွန်ဆန့်နိုင်အား ဟုခေါ်ပြီး UTS ဟု အဓိပ္ပါယ်ရသည်။ UTS ကို ပစ္စည်းများ၏ အလုံးစုံ ခွန်အားအဖြစ် အဓိပ္ပာယ်ဖွင့်ဆိုနိုင်သည်။ ဝန်သည် UTS ထက် ကြီးသောအခါ၊ နမူနာပေါ်တွင် လည်ပင်းဆွဲခြင်းသည် ဖြစ်ပေါ်ပြီး gage အမှတ်အသားများကြားတွင် ရှည်ထွက်မှုသည် တူညီတော့မည်မဟုတ်ပါ။ တစ်နည်းဆိုရသော် လည်ပင်းတွင် လည်ပင်းပေါက်သည့်နေရာ၌ နမူနာသည် ပါးလွှာလာသည်။ လည်ပင်းဆွဲစဉ်အတွင်း elastic stress ကျဆင်းသွားသည်။ စမ်းသပ်မှုကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါက၊ အင်ဂျင်နီယာဆိုင်ရာ ဖိစီးမှုမှာ ပိုမိုကျဆင်းလာပြီး လည်ပင်းနေရာရှိ နမူနာများ ကျိုးသွားပါသည်။ အရိုးကျိုးခြင်းတွင် ဖိစီးမှုအဆင့်သည် ကျိုးပဲ့ခြင်း၏ဖိစီးမှုဖြစ်သည်။ ကျိုးသွားသည့်နေရာတွင် strain သည် ductility ၏ညွှန်ပြချက်ဖြစ်သည်။ UTS အထိ strain ကို uniform strain အဖြစ် ရည်ညွှန်းပြီး fracture တွင် elongation ကို total elongation ဟုခေါ်သည်။ Elongation = ((lf – lo) / lo) x 100 ဧရိယာလျှော့ချခြင်း = ((Ao – Af) / Ao) x 100 ရှည်လျားခြင်းနှင့် ဧရိယာ လျှော့ချခြင်းသည် ပျော့ပျောင်းမှု၏ ကောင်းသော ညွှန်ပြချက်ဖြစ်သည်။ COMPRESSION TESTING MACHINE ( COMPRESSION TESTER ) - ဤစမ်းသပ်မှုတွင်၊ နမူနာအား တွန်းအားရှိသော ဆန့်နိုင်အားစမ်းသပ်မှု၏ဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်သော ဖိသိပ်ထားသောဝန်ကို သက်ရောက်စေပါသည်။ ယေဘုယျအားဖြင့်၊ အစိုင်အခဲ ဆလင်ဒါပုံနမူနာကို ပြားချပ်ချပ်နှစ်ခုကြားတွင် ချထားပြီး ဖိသိပ်ထားသည်။ ထိတွေ့မျက်နှာပြင်များတွင် ချောဆီများကို အသုံးပြု၍ barreling ဟုခေါ်သော ဖြစ်စဉ်ကို တားဆီးထားသည်။ Compression တွင် Engineering strain rate ကို အောက်ပါတို့က ပေးသည် ။ de /dt = - v /ho, where v is die speed, ho မူရင်းနမူနာအမြင့်။ အခြားတစ်ဖက်တွင် စစ်မှန်သော strain rate သည်- de = dt = - v/ h၊ h သည် လက်ငင်းနမူနာအမြင့်ဖြစ်သည်။ စမ်းသပ်နေစဉ်အတွင်း strain rate အစစ်အမှန်ကို ထိန်းထားရန်၊ စမ်းသပ်နေစဉ်အတွင်း နမူနာအမြင့် h လျော့နည်းသွားသည့်အတွက် cam plastometer မှတဆင့် cam action သည် v ၏ပြင်းအားကို အချိုးကျလျှော့ချပေးပါသည်။ ပစ္စည်းများ၏ compression test ductilities ကို အသုံးပြု၍ စည်ပိုင်း cylindrical မျက်နှာပြင်များပေါ်တွင် ဖြစ်ပေါ်နေသော အက်ကွဲကြောင်းများကို ကြည့်ရှုခြင်းဖြင့် ဆုံးဖြတ်သည်။ အသေနှင့် workpiece ဂျီသြမေတြီများတွင် ကွဲပြားမှုအချို့ရှိသည့် နောက်ထပ်စမ်းသပ်ချက်မှာ Y' ကဲ့သို့ ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်ဖော်ပြသော လေယာဉ် strain ရှိ ပစ္စည်း၏ ဖိအားကို ပေးဆောင်သည့် the PLANE-STRAIN COMPRESSION စမ်းသပ်ခြင်းဖြစ်သည်။ လေယာဉ်မျိုးကွဲရှိ ပစ္စည်းများ၏ အထွက်နှုန်းဖိအားကို ခန့်မှန်းနိုင်သည်- Y' = 1.15 Y TORSION စမ်းသပ်စက်များ (TORSIONAL TESTERS) - The TORSION ကျယ်ပြန့်စွာအသုံးပြုထားသောပစ္စည်း 19bd549490d5b-6b-190-549444964 အခြားနည်းလမ်းများ ကျယ်ပြန့်စွာအသုံးပြုသည် အလယ်အလတ်အပိုင်းပါရှိသည့် tubular နမူနာကို ဤစမ်းသပ်မှုတွင် အသုံးပြုသည်။ Shear stress, T က ပေးသည်- T = T/2 (Pi) (r စတုရန်းပုံ)t၊ ဤတွင် T သည် အသုံးပြုထားသော ရုန်းအားဖြစ်ပြီး r သည် ပျမ်းမျှအချင်းဝက်ဖြစ်ပြီး t သည် ပြွန်အလယ်ရှိ လျှော့ချထားသောအပိုင်း၏အထူဖြစ်သည်။ အခြားတစ်ဖက်တွင် Shear strain ကို ပေးသည်- ß = r Ø/ဌ ဤနေရာတွင် l သည် လျှော့ထားသောအပိုင်း၏ အရှည်ဖြစ်ပြီး Ø သည် ရေဒီယံဖြင့် လှည့်ပတ်ထောင့်ဖြစ်သည်။ elastic အကွာအဝေးအတွင်း၊ shear modulus (တင်းကျပ်မှု၏ moduleus) ကို ဖော်ပြသည်- G = T / ß Shear modulus နှင့် elasticity ၏ modulus တို့၏ ဆက်စပ်မှုသည်- G = E / 2( 1 + V ) torsion test ကို သတ္တုများ၏ စွန့်ပစ်နိုင်မှုကို ခန့်မှန်းရန် မြင့်မားသော အပူချိန်တွင် အစိုင်အခဲ အဝိုင်းဘားများကို အသုံးပြုသည်။ မအောင်မြင်ခင်မှာ ပစ္စည်းက ပိုလိမ်နေလေလေ၊ ဖောက်ပြန်နိုင်လေပါပဲ။ THREE & FOUR POINT BENDING TESTERS : For brittle materials, the BEND TEST (also called FLEXURE TEST) သင့်လျော်သည်။ စတုဂံပုံသဏ္ဍာန်နမူနာကို အစွန်းနှစ်ဖက်စလုံးတွင် ပံ့ပိုးထားပြီး ဝန်ကို ဒေါင်လိုက်အသုံးပြုသည်။ ဒေါင်လိုက် တွန်းအားအား အချက်သုံးချက် ကွေးခြင်း စမ်းသပ်သည့် ကိစ္စကဲ့သို့ တစ်နေရာ တွင် သို့မဟုတ် လေးမှတ် စမ်းသပ်စက် ကဲ့သို့ နှစ်မှတ်တွင် သက်ရောက်သည်။ ကွေးညွှတ်ရာတွင် ရိုးကျိုးနေသော ဖိစီးမှုကို ပေါက်ပြဲခြင်း သို့မဟုတ် ဖောက်ပြန်ကွဲအက်ခြင်း၏ အစိတ်အပိုင်းအဖြစ် ရည်ညွှန်းသည်။ ၎င်းကို ပေးအပ်သည်- Sigma = M c/I ဤတွင်၊ M သည် ကွေးညွှတ်သည့်အခိုက်အတန့်ဖြစ်ပြီး c သည် နမူနာအတိမ်အနက်၏ တစ်ဝက်တစ်ပျက်ဖြစ်ပြီး၊ ငါသည် အပိုင်းဖြတ်ပိုင်း၏ မတည်ငြိမ်သောအခိုက်အတန့်ဖြစ်သည်။ အခြားကန့်သတ်ဘောင်များအားလုံးကို မတည်မြဲနေသောအခါတွင် ဖိအား၏ပြင်းအားသည် တူညီသည် ။ လေးမှတ်စမ်းသပ်မှုသည် သုံးမှတ်စမ်းသပ်မှုနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ကွဲထွက်မှုနည်းပါးသော အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု ဖြစ်လာနိုင်ဖွယ်ရှိသည်။ သုံးမှတ်ကွေးစမ်းသပ်မှုထက် လေးမှတ်ကွေးစမ်းသပ်မှု၏ နောက်ထပ်ထူးခြားချက်မှာ ၎င်း၏ရလဒ်များသည် ကိန်းဂဏန်းတန်ဖိုးများ ကွဲလွဲမှုနည်းသော ရလဒ်များနှင့် ပိုမိုကိုက်ညီမှုရှိခြင်းပင်ဖြစ်သည်။ FATIGUE Test MACHINE- In FATIGUE TestING၊ နမူနာအား အမျိုးမျိုးသော ဖိစီးမှုအခြေအနေများတွင် ထပ်ခါတလဲလဲ ပြုလုပ်ထားသည်။ ဖိစီးမှုများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် တင်းမာမှု၊ ဖိသိပ်မှုနှင့် တင်းမာမှုတို့ ပေါင်းစပ်ထားသည်။ စမ်းသပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်သည် ဝိုင်ယာကြိုးတစ်စကို ဦးတည်ရာတစ်ခုသို့ အလှည့်ကျ ကွေးညွှတ်ကာ နောက်တစ်ခုသည် ကျိုးသွားသည်အထိ တူညီနိုင်သည်။ ဖိစီးမှုပမာဏကို ကွဲပြားနိုင်ပြီး “S” ဟု အဓိပ္ပါယ်ရသည်။ နမူနာ၏ စုစုပေါင်း ကျရှုံးမှုကို ဖြစ်စေသည့် သံသရာ အရေအတွက်ကို မှတ်တမ်းတင်ပြီး "N" ဟု အဓိပ္ပါယ်ရသည်။ Stress amplitude သည် နမူနာယူထားသော တင်းအားနှင့် ဖိသိပ်မှုတွင် အများဆုံးသော ဖိအားတန်ဖိုးဖြစ်သည်။ ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုစမ်းသပ်မှု၏ ပြောင်းလဲမှုတစ်ခုအား အဆက်မပြတ် အောက်ဝန်ဖြင့် လှည့်နေသောရိုးတံပေါ်တွင် လုပ်ဆောင်သည်။ ခံနိုင်ရည်ကန့်သတ်ချက် (ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုကန့်သတ်ချက်) ကို အမြင့်ဆုံးအဖြစ် သတ်မှတ်သည်။ ဖိစီးမှုတန်ဖိုးသည် သံသရာအရေအတွက်ကို မခွဲခြားဘဲ ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှု မအောင်မြင်ဘဲ ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ သတ္တုများ၏ ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုသည် ၎င်းတို့၏ အဆုံးစွန် ဆန့်နိုင်စွမ်းအား UTS နှင့် ဆက်စပ်နေသည်။ ပွတ်တိုက်မှု၏ COEFFICIENT TESTER - ဤစမ်းသပ်ကိရိယာသည် ထိတွေ့နေသောမျက်နှာပြင်နှစ်ခုသည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ဖြတ်သွားနိုင်သည့်လွယ်ကူမှုကို တိုင်းတာသည်။ ပွတ်တိုက်မှု၏ကိန်းဂဏန်းနှင့်ဆက်စပ်သော မတူညီသောတန်ဖိုးနှစ်ခုရှိသည်၊ ဆိုလိုသည်မှာ ပွတ်တိုက်မှု၏အငြိမ်နှင့် အရွေ့ကိန်း။ Static friction သည် မျက်နှာပြင်နှစ်ခုကြားတွင် ရွေ့လျားမှုကို အစပြုရန် လိုအပ်သော တွန်းအားနှင့် အကျုံးဝင်သည် နှင့် kinetic friction သည် မျက်နှာပြင်များ နှိုင်းယှဥ်ရွေ့လျားပြီးသည်နှင့် ချော်လဲခြင်းကို ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ စမ်းသပ်မှုမပြုမီနှင့် စမ်းသပ်မှုအတွင်း အညစ်အကြေးများ၊ အဆီနှင့် အခြားညစ်ညမ်းမှုများမှ ကင်းဝေးစေရန်အတွက် စစ်ဆေးမှုရလဒ်များကို ဆိုးရွားစွာထိခိုက်စေနိုင်သည့် အစီအမံများကို ပြုလုပ်ရန် လိုအပ်ပါသည်။ ASTM D1894 သည် ပွတ်တိုက်မှုစမ်းသပ်မှုစံနှုန်း၏ အဓိကကိန်းဂဏန်းဖြစ်ပြီး မတူညီသောအသုံးချပရိုဂရမ်များနှင့် ထုတ်ကုန်များဖြင့် စက်မှုလုပ်ငန်းအများအပြားတွင် အသုံးပြုသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်အား အသင့်တော်ဆုံး စမ်းသပ်ကိရိယာများကို ပေးဆောင်ရန် ဤနေရာတွင် ရှိနေပါသည်။ သင့်လျှောက်လွှာအတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်မှုတစ်ခု လိုအပ်ပါက၊ သင့်လိုအပ်ချက်များနှင့် လိုအပ်ချက်များကို ပြည့်မီစေရန်အတွက် လက်ရှိစက်ပစ္စည်းများကို ကျွန်ုပ်တို့မှ ပြင်ဆင်နိုင်ပါသည်။ HARDNESS TESTERS : ကျေးဇူးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဆက်စပ်စာမျက်နှာသို့ ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ။ အထူစမ်းသပ်သူ : ကျေးဇူးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဆက်စပ်စာမျက်နှာသို့ ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ။ မျက်နှာပြင်ကြမ်းကြမ်းစမ်းသပ်သူ : ကျေးဇူးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဆက်စပ်စာမျက်နှာသို့ ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ။ တုန်ခါမှု METERS : ကျေးဇူးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဆက်စပ်စာမျက်နှာသို့ ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ။ TACHOMETERS : ကျေးဇူးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဆက်စပ်စာမျက်နှာသို့ ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ။ အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Electron Beam Machining, EBM, E-Beam Machining & Cutting & Boring, Custom Manufacturing of Parts - AGS-TECH Inc. - NM - USA EBM Machining နှင့် Electron Beam Machining In ELECTRON-BEAM MACHINING (EBM) ကျွန်ုပ်တို့၌ သေးငယ်သောအလျင်ဖြင့် အီလက်ထရွန်များကို စုစည်းပြီး အလုပ်သို့ အာရုံစူးစိုက်နိုင်သော အရာအား ဖန်တီးပေးသည့် vapor များဆီသို့ ညွှန်ပေးသော အရှိန်မြင့်သော အီလက်ထရွန်များရှိသည်။ ထို့ကြောင့် EBM သည် HIGH-ENERGY-BEAM MACHINING technique တစ်မျိုးဖြစ်သည်။ Electron-Beam Machining (EBM) သည် သတ္တုအမျိုးမျိုးကို အလွန်တိကျစွာ ဖြတ်တောက်ခြင်း သို့မဟုတ် ငြီးငွေ့လာစေရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည်။ Surface finish သည် ပိုမိုကောင်းမွန်ပြီး kerf အကျယ်သည် အခြားသော အပူဖြတ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ပိုကျဉ်းပါသည်။ EBM-Machining စက်ပစ္စည်းများတွင် အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းများကို အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းသေနတ်ဖြင့် ထုတ်ပေးပါသည်။ EBM သည် လေဟာနယ်ကောင်းမွန်ရန် လိုအပ်သည်မှလွဲ၍ Electron-Beam Machining ၏အသုံးချပရိုဂရမ်များသည် Laser-Beam Machining နှင့်ဆင်တူသည်။ ထို့ကြောင့် ဤဖြစ်စဉ်နှစ်ခုကို electro-optical-thermal ဖြစ်စဉ်များအဖြစ် ခွဲခြားထားသည်။ EBM လုပ်ငန်းစဉ်ဖြင့် လည်ပတ်မည့် workpiece အား အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းအောက်တွင် တည်ရှိပြီး လေဟာနယ်အောက်တွင် ထားရှိထားပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ EBM စက်များရှိ အီလက်ထရွန် အလင်းတန်းသေနတ်များကို အလုပ်အပိုင်းနှင့် အလင်းတန်းညှိရန်အတွက် အလင်းပေးစနစ်များနှင့် မှန်ပြောင်းများပါရှိပါသည်။ သေနတ်၏ CNC ထိန်းချုပ်မှုနှင့် beam deflection လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို အသုံးပြု၍ မည်သည့်ပုံသဏ္ဍာန်၏အပေါက်များကိုမဆို စက်ဖြင့်ပြုလုပ်နိုင်ရန် CNC စားပွဲပေါ်တွင် တပ်ဆင်ထားသည်။ ပစ္စည်း၏ လျင်မြန်သော အငွေ့ပျံမှုရရှိရန်၊ အလင်းတန်းရှိ ပါဝါ၏ အလှည့်အပြောင်းသိပ်သည်းဆသည် တတ်နိုင်သမျှ မြင့်ရမည်ဖြစ်သည်။ သက်ရောက်မှုရှိသောနေရာတွင် 10exp7 W/mm2 အထိ ရရှိနိုင်သည်။ အီလက်ထရွန်များသည် ၎င်းတို့၏ အရွေ့စွမ်းအင်ကို အလွန်သေးငယ်သော ဧရိယာအတွင်း အပူအဖြစ်သို့ လွှဲပြောင်းပေးကာ အလင်းတန်းမှ သက်ရောက်မှုရှိသော အရာများကို အချိန်တိုအတွင်း အငွေ့ပျံသွားပါသည်။ အရှေ့ဘက်ထိပ်ရှိ သွန်းသောပစ္စည်းကို အောက်ပိုင်းရှိ မြင့်မားသောအငွေ့ဖိအားဖြင့် ဖြတ်တောက်သည့်ဇုန်မှ နှင်ထုတ်သည်။ EBM စက်ပစ္စည်းများကို အီလက်ထရွန်အလင်းတန်း ဂဟေဆော်စက်များနှင့် အလားတူတည်ဆောက်ထားသည်။ အီလက်ထရွန်-အလင်းတန်းစက်များသည် အများအားဖြင့် 50 မှ 200 kV အကွာအဝေးအတွင်း ဗို့အားများကို အသုံးပြု၍ အီလက်ထရွန်များကို အလင်းအမြန်နှုန်း၏ 50 မှ 80% ခန့် (200,000 km/s) သို့ အရှိန်မြှင့်ပေးသည်။ Lorentz တပ်ဖွဲ့များအပေါ် အခြေခံထားသော လုပ်ဆောင်မှုရှိသော သံလိုက်မှန်ဘီလူးများကို အလုပ်ခွင်၏မျက်နှာပြင်သို့ အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းကို အာရုံစိုက်ရန် အသုံးပြုသည်။ ကွန်ပြူတာအကူအညီဖြင့်၊ လျှပ်စစ်သံလိုက်ပြောင်းလွဲပြောင်းစနစ်သည် အလင်းတန်းကို လိုအပ်သလို နေရာချပေးသောကြောင့် မည်သည့်ပုံသဏ္ဍာန်၏အပေါက်များကို တူးနိုင်မည်နည်း။ တစ်နည်းဆိုရသော်၊ Electron-Beam-Machining စက်ပစ္စည်းရှိ သံလိုက်မှန်ဘီလူးများသည် အလင်းတန်းများကို ပုံသွင်းကာ ကွဲပြားမှုကို လျှော့ချပေးသည်။ အခြားတစ်ဖက်တွင် Apertures သည် convergent အီလက်ထရွန်များကိုသာ အစွန်းအဖျားများမှ ကွဲပြားသော စွမ်းအင်နိမ့်အီလက်ထရွန်များကို ဖြတ်ကျော်ပြီး ဖမ်းယူနိုင်စေပါသည်။ EBM-စက်များရှိ အလင်းဝင်ပေါက်နှင့် သံလိုက်မှန်ဘီလူးများသည် အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းများ၏ အရည်အသွေးကို မြှင့်တင်ပေးသည်။ EBM တွင် သေနတ်ကို ခုန်သောမုဒ်တွင် အသုံးပြုသည်။ သွေးခုန်နှုန်းတစ်ခုတည်းဖြင့် အပေါက်များကို ပါးလွှာသောစာရွက်များဖြင့် တူးနိုင်သည်။ သို့သော် ပိုထူသော ပန်းကန်ပြားများအတွက် ပဲမျိုးစုံ အများအပြား လိုအပ်မည်ဖြစ်သည်။ ယေဘူယျအားဖြင့် 15 miliseconds အထိ အနိမ့်ဆုံး 50 microseconds မှ pulse ကြာချိန်ကို ပြောင်းခြင်း။ ပြန့်ကျဲပြီး ညစ်ညမ်းမှု အနည်းဆုံးဖြစ်အောင် ထိန်းထားနိုင်စေသည့် လေမော်လီကျူးများနှင့် အီလက်ထရွန် တိုက်မိမှုကို လျှော့ချရန် EBM တွင် လေဟာနယ်ကို အသုံးပြုသည်။ ဖုန်စုပ်စက်သည် ထုတ်လုပ်ရန် ခက်ခဲပြီး ဈေးကြီးသည်။ အထူးသဖြင့် ကြီးမားသော ထုထည်များနှင့် အခန်းများအတွင်း လေဟာနယ်ကောင်းကောင်းရရှိရန် အလွန်တောင်းဆိုပါသည်။ ထို့ကြောင့် EBM သည် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်သော ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသော လေဟာနယ်အခန်းများနှင့် ကိုက်ညီသော သေးငယ်သော အစိတ်အပိုင်းများအတွက် အကောင်းဆုံးဖြစ်သည်။ EBM ၏သေနတ်အတွင်း လေဟာနယ်အဆင့်သည် 10EXP(-4) မှ 10EXP(-6) Torr ဖြင့် အစဉ်လိုက်ဖြစ်သည်။ အလုပ်အပိုင်းနှင့် အီလက်ထရွန် အလင်းတန်းတို့၏ အပြန်အလှန် သက်ရောက်မှုသည် ကျန်းမာရေးကို ထိခိုက်စေသည့် X-rays များကို ထုတ်လုပ်ပေးသောကြောင့် ကောင်းစွာ လေ့ကျင့်ထားသော ဝန်ထမ်းများသည် EBM စက်ပစ္စည်းများကို လည်ပတ်သင့်သည်။ ယေဘူယျအားဖြင့်ပြောရလျှင် EBM-Machining ကို အချင်း 0.001 လက်မ (0.025 မီလီမီတာ) နှင့် အထူ 0.250 လက်မ (6.25 မီလီမီတာ) အထိ အထူရှိသော ပစ္စည်းများတွင် အပေါက်များကို ဖြတ်ရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။ ဝိသေသ အရှည်သည် အလင်းတန်းပေါ်မှ လှုပ်ရှားနေသော အချင်းဖြစ်သည်။ EBM ရှိ အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းသည် အလင်း၏အာရုံစူးစိုက်မှုဒီဂရီပေါ်မူတည်၍ ဆယ်မိုက်ခရိုမီလီမီတာမှ မီလီမီတာအထိ လက္ခဏာအလျားရှိနိုင်ပါသည်။ ယေဘူယျအားဖြင့်၊ စွမ်းအင်မြင့် အာရုံစူးစိုက်ထားသော အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းသည် 10 မှ 100 microns ရှိသော အစက်အပြောက် အရွယ်အစားရှိသော အလုပ်ခွင်ကို ထိစေရန် ပြုလုပ်ထားသည်။ EBM သည် 100 microns မှ 2 mm အတွင်း အနက် 15 mm အထိ ရှိသည့် အချင်းတွင်း အပေါက်များကို ပေးစွမ်းနိုင်သည် ၊ ဆိုလိုသည်မှာ အနက်/အချင်း အချိုး 10 ဝန်းကျင် ရှိသော အီလက်ထရွန် အလင်းတန်းများ တွင် ပါဝါသိပ်သည်းဆသည် 1 အထိ ကျဆင်းသွားလိမ့်မည် ။ ဝပ်/မီလီမီတာ ၂။ သို့သော် focused beam များတွင် power density ကို kW/mm2 ဆယ်ဂဏန်းအထိ တိုးနိုင်သည်။ နှိုင်းယှဉ်ချက်အရ လေဆာရောင်ခြည်များသည် 10 MW/mm2 အထိ ပါဝါသိပ်သည်းဆ မြင့်မားသော 10-100 microns ရှိသော အစက်အပြောက်များပေါ်တွင် အာရုံစိုက်နိုင်သည်။ လျှပ်စစ်ထုတ်လွှတ်မှုသည် ပုံမှန်အားဖြင့် အမြင့်ဆုံး ပါဝါသိပ်သည်းဆကို သေးငယ်သော အစက်အပြောက် အရွယ်အစားများဖြင့် ပေးဆောင်သည်။ Beam current သည် အလင်းတန်းတွင် ရရှိနိုင်သော အီလက်ထရွန် အရေအတွက်နှင့် တိုက်ရိုက်သက်ဆိုင်သည်။ Electron-Beam-Machining တွင် Beam current သည် 200 microamperes မှ 1 ampere အထိနိမ့်နိုင်သည်။ EBM ၏ beam current နှင့်/သို့မဟုတ် pulse ကြာချိန်ကို တိုးမြှင့်ခြင်းသည် pulse တစ်ခုလျှင် စွမ်းအင်ကို တိုက်ရိုက်တိုးစေသည်။ ပိုထူသောပြားများပေါ်တွင် ပိုကြီးသောအပေါက်များကို စက်ပြုလုပ်ရန် 100 J/pulse ထက် ပိုသော စွမ်းအင်မြင့်ပဲမျိုးစုံကို အသုံးပြုပါသည်။ ပုံမှန်အခြေအနေအောက်တွင်၊ EBM-machining သည် burr-free ထုတ်ကုန်များ၏ အားသာချက်ကို ပေးပါသည်။ Electron-Beam-Machining တွင် တိုက်ရိုက်သက်ရောက်မှုရှိသော လုပ်ငန်းစဉ်ဘောင်များသည်- • အရှိန်ဗို့အား • Beam သည် လက်ရှိဖြစ်သည်။ • Pulse ကြာချိန် • သွေးခုန်နှုန်းအလိုက် စွမ်းအင် • သွေးခုန်နှုန်းအလိုက် ပါဝါ • Lens လက်ရှိ • အစက်အပြောက်အရွယ်အစား • ပါဝါသိပ်သည်းဆ Electron-Beam-Machining ကို အသုံးပြု၍ အချို့သော ဖန်စီတည်ဆောက်ပုံများကိုလည်း ရရှိနိုင်ပါသည်။ အပေါက်များကို အနက် သို့မဟုတ် စည်ပုံသဏ္ဍာန်တစ်လျှောက် သွယ်ဆက်နိုင်သည်။ မျက်နှာပြင်အောက်ရှိ အလင်းတန်းကို အာရုံစူးစိုက်ခြင်းဖြင့်၊ နောက်ပြန်ဆွဲကြိုးများကို ရရှိနိုင်သည်။ သံမဏိ၊ သံမဏိ၊ တိုက်တေနီယမ်နှင့် နီကယ်စူပါအလွိုင်းများ၊ အလူမီနီယမ်၊ ပလတ်စတစ်များ၊ ကြွေထည်ပစ္စည်းများကဲ့သို့ ကျယ်ပြန့်သောပစ္စည်းများကို e-beam-machining ဖြင့် ထုလုပ်နိုင်သည်။ EBM နှင့် ဆက်စပ်သော အပူပိုင်း ပျက်စီးမှုများ ရှိနိုင်သည်။ သို့သော် EBM တွင် တိုတောင်းသော သွေးခုန်နှုန်းကြာချိန်များကြောင့် အပူဒဏ်ခံရသောဇုန်သည် ကျဉ်းပါသည်။ အပူဒဏ်ခံရသောဇုန်များသည် ယေဘူယျအားဖြင့် 20 မှ 30 microns ဝန်းကျင်ဖြစ်သည်။ အလူမီနီယမ်နှင့် တိုက်တေနီယမ် သတ္တုစပ်ကဲ့သို့သော အချို့သောပစ္စည်းများသည် သံမဏိနှင့် နှိုင်းယှဉ်လျှင် ပိုမိုလွယ်ကူစွာ ပြုပြင်နိုင်သည်။ ထို့အပြင် EBM-machining သည် အလုပ်အပိုင်းများပေါ်တွင် ဖြတ်တောက်ထားသော အင်အားများ ပါဝင်ခြင်းမရှိပါ။ ၎င်းသည် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ စက်ယန္တရားနည်းပညာများတွင် ပါသည့်အတိုင်း သိသိသာသာ ကုပ်တွယ်ခြင်း သို့မဟုတ် တွဲခြင်းမရှိဘဲ EBM မှ ပျက်စီးလွယ်ပြီး ကြွပ်ဆတ်သောပစ္စည်းများကို ပြုပြင်နိုင်စေပါသည်။ အပေါက်များကို 20 မှ 30 ဒီဂရီကဲ့သို့ အလွန်တိမ်သောထောင့်များတွင်လည်း တူးနိုင်သည်။ Electron-Beam-Machining ၏အားသာချက်များ- EBM သည် မြင့်မားသောအချိုးအစားရှိသော အပေါက်ငယ်များကို တူးဖော်သောအခါတွင် အလွန်မြင့်မားသော တူးဖော်မှုနှုန်းကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ EBM သည် ၎င်း၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများ မခွဲခြားဘဲ မည်သည့်ပစ္စည်း နီးပါးကိုမဆို စက်ဖြင့် လည်ပတ်နိုင်သည်။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဖြတ်တောက်ခြင်း အင်အားစုများ မပါ၀င်သောကြောင့် အလုပ် ကုပ်ခြင်း၊ ကိုင်ဆောင်ခြင်းနှင့် တပ်ဆင်ခြင်း ကုန်ကျစရိတ်များကို လျစ်လျူမရှုနိုင်ဘဲ ကျိုးပဲ့လွယ်သောပစ္စည်းများကို ပြဿနာမရှိဘဲ စီမံဆောင်ရွက်နိုင်သည်။ EBM ရှိ အပူဒဏ်ခံဇုန်များသည် ပဲမျိုးစုံတိုတောင်းသောကြောင့် သေးငယ်သည်။ EBM သည် အီလက်ထရွန်ရောင်ခြည်တန်းများနှင့် CNC ဇယားများကို လှည့်ပတ်ရန် လျှပ်စစ်သံလိုက်ကွိုင်များကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် အပေါက်များ၏ပုံသဏ္ဍာန်ကို တိကျမှန်ကန်စွာ ပံ့ပိုးပေးနိုင်သည်။ Electron-Beam-Machining ၏အားနည်းချက်များ- စက်ပစ္စည်းသည် ဈေးကြီးပြီး လည်ပတ်မှုနှင့် လေဟာနယ်စနစ်များကို ထိန်းသိမ်းရန် အထူးပြုနည်းပညာရှင်များ လိုအပ်သည်။ EBM သည် လိုအပ်သော ဖိအားများရရှိရန်အတွက် သိသာထင်ရှားသော လေဟာနယ်ပန့်ဆင်းချိန်များ လိုအပ်သည်။ EBM တွင် အပူဒဏ်ခံရသောဇုန်သည် သေးငယ်သော်လည်း၊ ပြန်လည်ထုတ်လွှတ်သည့် အလွှာဖွဲ့စည်းခြင်းမှာ မကြာခဏ ဖြစ်ပေါ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ နှစ်ပေါင်းများစွာ အတွေ့အကြုံနှင့် ကျွမ်းကျင်မှုတို့က ကျွန်ုပ်တို့၏ထုတ်လုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်တွင် ဤတန်ဖိုးကြီးသည့်ကိရိယာများကို အခွင့်ကောင်းယူရန် ကူညီပေးပါသည်။ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Computer Networking Equipment - Intermediate Systems - InterWorking Unit - IWU - IS - Router - Bridge - Switch - Hub available from AGS-TECH Inc. Networking Equipment၊ Network Devices၊ Intermediate Systems၊ Interworking Unit ကွန်ပြူတာချိတ်ဆက်ကိရိယာများသည် ကွန်ပျူတာကွန်ရက်များတွင် အချက်အလက်များကို ပြေလည်အောင်ဆောင်ရွက်ပေးသည့် ကိရိယာများဖြစ်သည်။ ကွန်ပြူတာ ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်သည့် စက်ပစ္စည်းများကို NETWORK EQUIPMENT၊ INTERMIDIATE SYSTEMS (IS) သို့မဟုတ် INTERWORKING UNIT (IWU) ဟုခေါ်သည်။ နောက်ဆုံးလက်ခံသူ သို့မဟုတ် ဒေတာထုတ်ပေးသည့် စက်ပစ္စည်းများကို HOST သို့မဟုတ် DATA TERMINAL EQUIPMENT ဟုခေါ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့ကမ်းလှမ်းသည့် အရည်အသွေးမြင့်အမှတ်တံဆိပ်များထဲတွင် ATOP TECHNOLOGIES၊ JANZ TEC၊ ICP DAS နှင့် KORENIX တို့ဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ATOP TECHNOLOGIES ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ compact ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာ (ATOP Technologies ထုတ်ကုန် List 2021 ကိုဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ) ကျွန်ုပ်တို့၏ JANZ TEC အမှတ်တံဆိပ် ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသော ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ KORENIX အမှတ်တံဆိပ် ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသော ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ်စက်မှုဆက်သွယ်ရေးနှင့် ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်ခြင်းဆိုင်ရာ ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကြမ်းတမ်းသောပတ်ဝန်းကျင်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ်စက်သုံး အီသာနက်ခလုတ်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ် PACs Embedded Controllers & DAQ လက်ကမ်းစာစောင်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ် Industrial Touch Pad လက်ကမ်းစာစောင်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ် Remote IO Modules နှင့် IO Expansion Units ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ် PCI ဘုတ်များနှင့် IO ကတ်များကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ သင့်ပရောဂျက်အတွက် သင့်လျော်သော စက်မှုအဆင့် ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်ကိရိယာကို ရွေးချယ်ရန်၊ ဤနေရာကို နှိပ်ခြင်းဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့၏ စက်မှုကွန်ပြူတာစတိုးသို့ သွားပါ။ ကျွန်ုပ်တို့အတွက် ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ မိတ်ဖက်ပြုခြင်း အစီအစဉ်ကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။ အောက်တွင် သင်အသုံးဝင်သော ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်ကိရိယာများအကြောင်း အခြေခံအချက်အလက်အချို့ဖြစ်သည်။ ကွန်ပြူတာကွန်ရက်ချိတ်ဆက်ကိရိယာများစာရင်း / ဘုံအခြေခံကွန်ရက်ချိတ်ဆက်ကိရိယာများစာရင်း- ROUTER- ၎င်းသည် ပက်ကတ်၏ ဦးတည်ရာဆီသို့ ဒေတာပက်ကေ့ခ်ျတစ်ခုကို ပေးပို့နိုင်သည့် နောက်ကွန်ရက်အမှတ်ကို ဆုံးဖြတ်ပေးသည့် အထူးပြုကွန်ရက်စက်ပစ္စည်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ တံခါးပေါက်တစ်ခုနှင့်မတူဘဲ၊ ၎င်းသည် မတူညီသော ပရိုတိုကောများကို ချိတ်ဆက်၍မရပါ။ OSI အလွှာ 3 တွင်အလုပ်လုပ်သည်။ BRIDGE- ၎င်းသည် ဒေတာလင့်ခ်အလွှာတစ်လျှောက် ကွန်ရက်အပိုင်းများစွာကို ချိတ်ဆက်ပေးသည့် စက်ပစ္စည်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ OSI အလွှာ 2 တွင်အလုပ်လုပ်သည်။ SWITCH- ဤအရာသည် ကွန်ရက်အပိုင်းတစ်ခုမှ လမ်းကြောင်းအချို့ (ရည်ရွယ်ထားသည့်နေရာ(များ)) သို့ အပိုင်းကို အခြားကွန်ရက်အပိုင်းသို့ ချိတ်ဆက်ပေးသည့် စက်ပစ္စည်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ထို့ကြောင့် hub တစ်ခုနှင့်မတူဘဲ switch သည် network traffic ကို ပိုင်းခြားပြီး network ရှိ စနစ်များအားလုံးထက် ကွဲပြားသော နေရာများသို့ ပို့ပေးပါသည်။ OSI အလွှာ 2 တွင်အလုပ်လုပ်သည်။ HUB- များစွာသော Ethernet အပိုင်းများကို အတူတကွ ချိတ်ဆက်ပြီး ၎င်းတို့ကို အပိုင်းတစ်ခုအဖြစ် လုပ်ဆောင်စေသည်။ တစ်နည်းဆိုရသော် hub သည် အရာဝတ္ထုအားလုံးကြားတွင် မျှဝေထားသော bandwidth ကို ပေးဆောင်သည်။ hub သည် ကွန်ရက်တစ်ခုတွင် Ethernet terminals နှစ်ခု သို့မဟုတ် ထို့ထက်ပိုသော ချိတ်ဆက်ပေးသည့် အခြေခံ ဟာ့ဒ်ဝဲကိရိယာများထဲမှ တစ်ခုဖြစ်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ hub နှင့်ချိတ်ဆက်ထားသောကွန်ပျူတာတစ်လုံးတည်းသာ node တစ်ခုချင်းစီကြားတွင် သီးခြားချိတ်ဆက်မှုကိုပေးသည့် switches များနှင့်ဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်ပြီး တစ်ချိန်တည်းတွင် ထုတ်လွှင့်နိုင်သည်။ OSI အလွှာ 1 တွင်အလုပ်လုပ်သည်။ ထပ်တလဲလဲ- ဤအရာသည် ကွန်ရက်၏ အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုမှ အခြားသို့ ပေးပို့စဉ်တွင် လက်ခံရရှိသည့် ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြမှုများကို ချဲ့ထွင်ရန်နှင့်/သို့မဟုတ် ပြန်လည်ထုတ်လုပ်ရန် ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ OSI အလွှာ 1 တွင်အလုပ်လုပ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ HYBRID NETWORK စက်အချို့- MULTILAYER SWITCH- ဤသည်မှာ OSI အလွှာ 2 ကိုပြောင်းခြင်းအပြင် ပိုမိုမြင့်မားသော ပရိုတိုကောအလွှာများတွင် လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို ပေးစွမ်းသည့် ခလုတ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ PROTOCOL CONVERTER- ဤသည်မှာ အပြိုင်အဆိုင် ထုတ်လွှင့်ခြင်း နှင့် ထပ်တူပြုခြင်း ကဲ့သို့သော ကွဲပြားသော ထုတ်လွှင့်မှု အမျိုးအစား နှစ်ခုကြားမှ ပြောင်းလဲပေးသော ဟာ့ဒ်ဝဲ ကိရိယာ တစ်ခု ဖြစ်သည်။ BRIDGE ROUTER (B ROUTER)- ဤစက်ပစ္စည်းအပိုင်းသည် router နှင့် Bridge လုပ်ဆောင်ချက်များကို ပေါင်းစပ်ထားသောကြောင့် OSI အလွှာ 2 နှင့် 3 တွင် အလုပ်လုပ်ပါသည်။ ဤသည်မှာ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဟာ့ဒ်ဝဲနှင့် ဆော့ဖ်ဝဲလ် အစိတ်အပိုင်းအချို့ကို မတူညီသော ကွန်ရက်များ၏ ချိတ်ဆက်မှုနေရာများတွင် ထားလေ့ရှိသည်၊ ဥပမာ- အတွင်းနှင့် ပြင်ပကွန်ရက်များကြားတွင် ထားရှိသည်- PROXY- ၎င်းသည် သုံးစွဲသူများအား အခြားကွန်ရက်ဝန်ဆောင်မှုများသို့ သွယ်ဝိုက်ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်မှုများ ပြုလုပ်နိုင်စေမည့် ကွန်ပျူတာကွန်ရက်ဝန်ဆောင်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ FIREWALL- ဤသည်မှာ ကွန်ရက်ပေါ်လစီမှ တားမြစ်ထားသော ဆက်သွယ်ရေးအမျိုးအစားကို တားဆီးရန် ကွန်ရက်ပေါ်တွင် တင်ထားသော ဟာ့ဒ်ဝဲနှင့်/သို့မဟုတ် ဆော့ဖ်ဝဲအပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကွန်ရက်လိပ်စာ ဘာသာပြန်သူ- ဟာ့ဒ်ဝဲ နှင့်/သို့မဟုတ် ဆော့ဖ်ဝဲလ်အဖြစ် ပံ့ပိုးပေးသော ကွန်ရက်ဝန်ဆောင်မှုများသည် အတွင်းပိုင်းကို ပြင်ပကွန်ရက်လိပ်စာများအဖြစ်သို့ ပြောင်းပေးပြီး အပြန်အလှန်အားဖြင့် ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ ကွန်ရက်များထူထောင်ခြင်း သို့မဟုတ် ဖုန်းခေါ်ဆိုမှုချိတ်ဆက်ခြင်းအတွက် အခြားရေပန်းစားသော ဟာ့ဒ်ဝဲ- MULTIPLEXER- ဤကိရိယာသည် များစွာသော လျှပ်စစ်အချက်ပြမှုများကို အချက်ပြတစ်ခုတည်းအဖြစ် ပေါင်းစပ်ထားသည်။ ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်မှု ထိန်းချုပ်သူ- ပူးတွဲပါကွန်ပျူတာကို ကွန်ရက်ဖြင့် ဆက်သွယ်နိုင်စေသည့် ကွန်ပျူတာ ဟာ့ဒ်ဝဲအပိုင်း။ ကြိုးမဲ့ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်မှုထိန်းချုပ်သူ- ပူးတွဲပါကွန်ပျူတာကို WLAN ဖြင့် ဆက်သွယ်နိုင်စေမည့် ကွန်ပျူတာ ဟာ့ဒ်ဝဲအပိုင်း။ MODEM- ၎င်းသည် ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်အလက်ကို ကုဒ်လုပ်ရန် analog 'ကယ်ရီယာ' အချက်ပြမှု (ဥပမာ အသံ) ကို modulate လုပ်ပေးသည့် ကိရိယာဖြစ်ပြီး၊ ၎င်းသည် အခြားကွန်ပျူတာနှင့် ဆက်သွယ်နေသည့် ကွန်ပြူတာပေါ်ရှိ အခြားကွန်ပြူတာနှင့် ဆက်သွယ်နေသကဲ့သို့ အဆိုပါ သယ်ဆောင်သူ၏ အချက်ပြအချက်ပြမှုကိုလည်း လျှော့ချပေးသည်။ တယ်လီဖုန်းကွန်ရက်။ ISDN terminal ADAPTER (TA) သည် ပေါင်းစည်းထားသော ဝန်ဆောင်မှုဒစ်ဂျစ်တယ်ကွန်ရက် (ISDN) အတွက် အထူးပြုတံခါးပေါက်တစ်ခုဖြစ်သည်။ လိုင်းဒရိုက်ဗာ- ၎င်းသည် အချက်ပြမှုကို ချဲ့ထွင်ခြင်းဖြင့် ဂီယာအကွာအဝေးကို တိုးမြှင့်ပေးသည့် ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Base-band ကွန်ရက်များသာ။ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

Industrial Servers - Database Server - File Server - Mail Server - Print Server - Web Server - AGS-TECH Inc. - NM - USA စက်မှုဆာဗာများ client-server ဗိသုကာကို ရည်ညွှန်းသောအခါ၊ SERVER သည် အခြားပရိုဂရမ်များ၏ တောင်းဆိုမှုများကို ဆောင်ရွက်ပေးသည့် ကွန်ပျူတာပရိုဂရမ်တစ်ခုဖြစ်ပြီး ''ဖောက်သည်များ'' ဟုလည်း သတ်မှတ်သည်။ တစ်နည်းအားဖြင့် ''ဆာဗာ'' သည် ၎င်း၏ ''ဖောက်သည်များ'' ကိုယ်စား တွက်ချက်မှုဆိုင်ရာ တာဝန်များကို လုပ်ဆောင်သည်။ ဖောက်သည်များသည် တူညီသောကွန်ပျူတာပေါ်တွင် အလုပ်လုပ်နိုင်သည် သို့မဟုတ် ကွန်ရက်မှတဆင့် ချိတ်ဆက်နိုင်သည်။ လူကြိုက်များသောအသုံးပြုမှုတွင်၊ ဆာဗာသည် ဤဝန်ဆောင်မှုများထဲမှ တစ်ခု သို့မဟုတ် တစ်ခုထက်ပိုသော host တစ်ခုအဖြစ် လုပ်ဆောင်ရန်နှင့် ကွန်ရက်ပေါ်ရှိ အခြားကွန်ပျူတာများ၏ အသုံးပြုသူများ၏ လိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းပေးရန်အတွက် သီးသန့်ကွန်ပျူတာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဆာဗာတစ်ခုသည် ဒေတာဘေ့စ်ဆာဗာ၊ ဖိုင်ဆာဗာ၊ မေးလ်ဆာဗာ၊ ပုံနှိပ်ဆာဗာ၊ ဝဘ်ဆာဗာ သို့မဟုတ် ၎င်းပေးဆောင်သည့် ကွန်ပျူတာဝန်ဆောင်မှုအပေါ် မူတည်၍ ဖြစ်နိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ATOP TECHNOLOGIES၊ KORENIX နှင့် JANZ TEC တို့ကဲ့သို့ ရရှိနိုင်သော အကောင်းဆုံး အရည်အသွေးရှိသော စက်မှုဆာဗာအမှတ်တံဆိပ်များကို ပေးဆောင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ATOP TECHNOLOGIES ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ compact ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာ (ATOP Technologies ထုတ်ကုန် List 2021 ကိုဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ) ကျွန်ုပ်တို့၏ JANZ TEC အမှတ်တံဆိပ် ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသော ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ KORENIX အမှတ်တံဆိပ် ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသော ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ်စက်မှုဆက်သွယ်ရေးနှင့် ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်ခြင်းဆိုင်ရာ ထုတ်ကုန်ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ICP DAS အမှတ်တံဆိပ် Tiny Device Server နှင့် Modbus Gateway ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ သင့်လျော်သော စက်မှုအဆင့် ဆာဗာကို ရွေးချယ်ရန်၊ ဤနေရာကို နှိပ်ခြင်းဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့၏ စက်မှုကွန်ပြူတာစတိုးသို့ သွားပါ။ ကျွန်ုပ်တို့အတွက် ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ မိတ်ဖက်ပြုခြင်း အစီအစဉ်ကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။ DATABASE SERVER : ဤအသုံးအနှုန်းသည် client/server ဗိသုကာကို အသုံးပြု၍ ဒေတာဘေ့စ်အပလီကေးရှင်းတစ်ခု၏ back-end စနစ်အား ရည်ညွှန်းရန် အသုံးပြုသည်။ Back-end ဒေတာဘေ့စ်ဆာဗာသည် ဒေတာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု၊ ဒေတာသိမ်းဆည်းမှု၊ ဒေတာခြယ်လှယ်မှု၊ ဒေတာသိမ်းဆည်းခြင်းနှင့် အခြားအသုံးပြုသူမဟုတ်သည့် သီးခြားလုပ်ဆောင်စရာများကဲ့သို့သော လုပ်ဆောင်စရာများကို လုပ်ဆောင်သည်။ ဖိုင်ဆာဗာ- ကလိုင်းယင့်/ဆာဗာ မော်ဒယ်တွင်၊ ၎င်းသည် ဒေတာဖိုင်များကို ဗဟိုသိုလှောင်မှုနှင့် စီမံခန့်ခွဲမှုအတွက် တာဝန်ရှိသော ကွန်ပျူတာဖြစ်ပြီး တူညီသောကွန်ရက်ရှိ အခြားကွန်ပျူတာများက ၎င်းတို့ကို ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုနိုင်စေရန် ဖြစ်သည်။ ဖိုင်ဆာဗာများသည် အသုံးပြုသူများအား ဖလော်ပီဒစ် သို့မဟုတ် အခြားပြင်ပ သိုလှောင်ကိရိယာများမှ ဖိုင်များကို ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ လွှဲပြောင်းခြင်းမပြုဘဲ ကွန်ရက်တစ်ခုပေါ်တွင် အချက်အလက်မျှဝေရန် ခွင့်ပြုသည်။ ခေတ်မီပြီး ပရော်ဖက်ရှင်နယ် ကွန်ရက်များတွင်၊ ဖိုင်ဆာဗာသည် အခြားကွန်ပျူတာများအတွက် အဝေးထိန်း ဟာ့ဒ်ဒစ်ဒရိုက်တစ်ခုအဖြစ်လည်း ဆောင်ရွက်ပေးသည့် သီးသန့်ကွန်ရက်-ပူးတွဲသိမ်းဆည်းမှု (NAS) ကိရိယာ ဖြစ်နိုင်သည်။ ထို့ကြောင့် ကွန်ရက်ပေါ်ရှိ မည်သူမဆို ၎င်းတို့၏ ကိုယ်ပိုင် hard drive ကဲ့သို့ ၎င်းတွင် ဖိုင်များကို သိမ်းဆည်းနိုင်သည်။ MAIL SERVER : အီးမေးလ်ဆာဗာဟုလည်း ခေါ်သော မေးလ်ဆာဗာသည် သင်၏ virtual စာတိုက်ရုံးကဲ့သို့ အလုပ်လုပ်သော သင့်ကွန်ရက်အတွင်းရှိ ကွန်ပျူတာဖြစ်သည်။ ၎င်းတွင် အီးမေးလ်ဆာဗာသည် တိကျသောမက်ဆေ့ချ်၏ ဦးတည်ရာသို့ မည်သို့တုံ့ပြန်သင့်သည်ကို ဆုံးဖြတ်သည့် အသုံးပြုသူသတ်မှတ်ထားသော စည်းကမ်းချက်အစုံ၊ အီးမေးလ်ဆာဗာမှ အသိအမှတ်ပြုပြီး ကိုင်တွယ်ပေးမည့် သုံးစွဲသူအကောင့်များ၏ ဒေတာဘေ့စ်တစ်ခု၊ ၎င်းတွင် သိုလှောင်မှုဧရိယာတစ်ခုပါရှိသည်။ ဒေသအလိုက်၊ နှင့် အခြားအီးမေးလ်ဆာဗာများနှင့် ဖောက်သည်များထံ မက်ဆေ့ချ်များလွှဲပြောင်းခြင်းကို ကိုင်တွယ်သည့် ဆက်သွယ်ရေးမော်ဂျူးများနှင့်အတူ။ မေးလ်ဆာဗာများသည် ပုံမှန်လည်ပတ်နေစဉ်အတွင်း လက်ဖြင့်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုမရှိဘဲ ယေဘုယျအားဖြင့် လည်ပတ်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ ပရင့်ဆာဗာ- တစ်ခါတစ်ရံ ပရင်တာဆာဗာဟု ခေါ်သည်၊ ၎င်းသည် ပရင်တာများကို ကွန်ရက်တစ်ခုမှ သုံးစွဲသူကွန်ပျူတာများနှင့် ချိတ်ဆက်ပေးသည့် ကိရိယာဖြစ်သည်။ ပရင့်ဆာဗာများသည် ကွန်ပျူတာများမှ ပရင့်အလုပ်များကို လက်ခံပြီး အလုပ်များကို သင့်လျော်သော ပရင်တာများသို့ ပေးပို့ပါ။ ပရင့်ဆာဗာသည် ၎င်းကို အမှန်တကယ်ကိုင်တွယ်နိုင်သော ပရင်တာထက် အလုပ်များပိုမိုလျင်မြန်စွာရောက်ရှိနိုင်သောကြောင့် အလုပ်များကို စက်တွင်းတွင် တန်းစီနေသည်။ ဝဘ်ဆာဗာ- ဤအရာများသည် ဝဘ်စာမျက်နှာများကို ပို့ဆောင်ပေးသည့် ကွန်ပျူတာများဖြစ်သည်။ ဝဘ်ဆာဗာများအားလုံးတွင် IP လိပ်စာများနှင့် ယေဘုယျအားဖြင့် ဒိုမိန်းအမည်များရှိသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ကျွန်ုပ်တို့၏ဘရောက်ဆာရှိ ဝဘ်ဆိုဒ်တစ်ခု၏ URL ကိုထည့်သွင်းသောအခါ၊ ၎င်းသည် ထည့်သွင်းထားသော ဝဘ်ဆိုက်၏ ဒိုမိန်းအမည်ဖြစ်သည့် ဝဘ်ဆာဗာထံသို့ တောင်းဆိုချက်တစ်ခု ပေးပို့သည်။ ထို့နောက် ဆာဗာသည် index.html အမည်ရှိ စာမျက်နှာကို ရယူပြီး ကျွန်ုပ်တို့၏ ဘရောက်ဆာထံ ပေးပို့သည်။ ဆာဗာဆော့ဖ်ဝဲကို ထည့်သွင်းပြီး စက်ကို အင်တာနက်ချိတ်ဆက်ခြင်းဖြင့် မည်သည့်ကွန်ပျူတာမဆို ဝဘ်ဆာဗာအဖြစ် ပြောင်းလဲနိုင်သည်။ Microsoft နှင့် Netscape တို့မှ package များကဲ့သို့သော ဝဘ်ဆာဗာဆော့ဖ်ဝဲအက်ပ်လီကေးရှင်းများစွာရှိသည်။ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ