Blant våre testinstrumenter for belegging og overflateevaluering er COATING THICKNESS METER, OVERFLATERUHHETSTESTERE, GLANSMETERE, FARGELESER, FARGEDIFFERENCE METAL, MICPERICROPH. Vårt hovedfokus er på NON-DESTRUCTIVE TESTMETODER. Vi fører merkevarer av høy kvalitet som SADTand MITECH.

 

En stor prosentandel av alle overflater rundt oss er belagt. Belegg tjener mange formål, inkludert godt utseende, beskyttelse og å gi produktene en viss ønsket funksjonalitet som vannavstøtende, forbedret friksjon, slitasje- og slitestyrke...osv. Derfor er det av avgjørende betydning å være i stand til å måle, teste og vurdere egenskapene og kvaliteten til belegg og overflater på produkter. Belegg kan grovt kategoriseres i to hovedgrupper hvis tykkelser tas med i betraktningen: THICK FILM_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf758d-581bad5cf71d3d5cf581d5cf581d5cf581d5cf581d5cf58d3d5cf58d3d5cf58d3d5cf58d100000-581000-58100-581-1300-3190-3194-bb3b-136_05cf71d3d1cf3d3d3d5cf58d101cf58d100000000000000000000000

​

For å laste ned katalogen for vårt SADT-merke metrologi og testutstyr, vennligst KLIKK HER.  I denne katalogen finner du noen av disse instrumentene for vurdering av overflater og belegg.

​

For å laste ned brosjyre for Coating Thickness Gauge Mitech Model MCT200, vennligst KLIKK HER.

​

Noen av instrumentene og teknikkene som brukes til slike formål er:

 

BELEGNINGSTYKKELSEMETER : Ulike typer belegg krever forskjellige typer beleggstestere. Grunnleggende forståelse av de ulike teknikkene er derfor avgjørende for at brukeren skal velge riktig utstyr. I Magnetisk induksjonsmetode for måling av beleggtykkelse  måler vi ikke-magnetiske belegg over jernholdige substrater over ikke-magnetiske beleggsubstrater og magnetiske belegg. Sonden plasseres på prøven og den lineære avstanden mellom sondespissen som kommer i kontakt med overflaten og basissubstratet måles. Inne i målesonden er det en spole som genererer et skiftende magnetfelt. Når sonden plasseres på prøven, endres den magnetiske flukstettheten til dette feltet av tykkelsen på et magnetisk belegg eller tilstedeværelsen av et magnetisk substrat. Endringen i magnetisk induktans måles av en sekundærspole på sonden. Utgangen fra sekundærspolen overføres til en mikroprosessor, der den vises som en beleggtykkelsesmåling på det digitale displayet. Denne hurtigtesten er egnet for flytende eller pulverlakker, belegg som krom, sink, kadmium eller fosfat over stål- eller jernunderlag. Belegg som maling eller pulver tykkere enn 0,1 mm er egnet for denne metoden. Den magnetiske induksjonsmetoden er ikke godt egnet for nikkel over stålbelegg på grunn av nikkels partielle magnetiske egenskaper. Fasefølsom virvelstrømmetode er mer egnet for disse beleggene. En annen type belegg hvor den magnetiske induksjonsmetoden er utsatt for feil er sinkgalvanisert stål. Sonden vil lese en tykkelse lik den totale tykkelsen. Nyere modellinstrumenter er i stand til selvkalibrering ved å detektere substratmaterialet gjennom belegget. Dette er selvfølgelig veldig nyttig når et bart underlag ikke er tilgjengelig eller når underlagsmaterialet er ukjent. Billigere utstyrsversjoner krever imidlertid kalibrering av instrumentet på et bart og ubelagt underlag. The Eddy Current Metode for måling av beleggtykkelse measures ikke-ledende belegg på ikke-ledende belegg på ikke-jernholdige metaller og ikke-bærende metallbelegg på ikke-jernholdige belegg på ikke-jernholdige metaller og ikke-bærende belegg på ikke-jernholdig metall Den ligner på den tidligere omtalte magnetiske induktive metoden som inneholder en spole og lignende prober. Spolen i virvelstrømmetoden har den doble funksjonen eksitasjon og måling. Denne sondespolen drives av en høyfrekvent oscillator for å generere et vekslende høyfrekvent felt. Når den plasseres i nærheten av en metallisk leder, genereres det virvelstrømmer i lederen. Impedansendring finner sted i sondespolen. Avstanden mellom sondespolen og det ledende substratmaterialet bestemmer mengden av impedansendringer, som kan måles, korreleres med en beleggtykkelse og vises i form av en digital avlesning. Bruksområder inkluderer flytende eller pulverlakkering på aluminium og ikke-magnetisk rustfritt stål, og anodisering over aluminium. Denne metodens pålitelighet avhenger av delens geometri og beleggets tykkelse. Underlaget må være kjent før avlesninger. Virvelstrømsonder bør ikke brukes til å måle ikke-magnetiske belegg over magnetiske substrater som stål og nikkel over aluminiumsubstrater. Hvis brukere må måle belegg over magnetiske eller ikke-jernholdige ledende underlag, vil de være best tjent med en dobbel magnetisk induksjon/virvelstrømmåler som automatisk gjenkjenner underlaget. En tredje metode, kalt the Coulometric metode for måling av beleggtykkelse, er en destruktiv testmetode som har mange viktige funksjoner. Måling av dupleks nikkelbelegg i bilindustrien er en av de viktigste bruksområdene. I den kulometriske metoden bestemmes vekten av et område med kjent størrelse på et metallisk belegg gjennom lokalisert anodisk stripping av belegget. Massen-per-enhetsareal av beleggtykkelsen beregnes deretter. Denne målingen på belegget gjøres ved å bruke en elektrolysecelle, som er fylt med en elektrolytt som er spesielt valgt for å fjerne det spesielle belegget. En konstant strøm går gjennom testcellen, og siden beleggmaterialet fungerer som anode, blir det deplatert. Strømtettheten og overflatearealet er konstant, og dermed er beleggtykkelsen proporsjonal med tiden det tar å strippe og ta av belegget. Denne metoden er svært nyttig for å måle elektrisk ledende belegg på et ledende underlag. Den coulometriske metoden kan også brukes for å bestemme beleggtykkelsen til flere lag på en prøve. For eksempel kan tykkelsen av nikkel og kobber måles på en del med et toppbelegg av nikkel og et mellomliggende kobberbelegg på et stålsubstrat. Et annet eksempel på et flerlagsbelegg er krom over nikkel over kobber på toppen av et plastsubstrat. Coulometrisk testmetode er populær i galvaniseringsanlegg med et lite antall tilfeldige prøver. Enda en fjerde metode er the Beta Backscatter Method for måling av beleggtykkelser. En beta-emitterende isotop bestråler en testprøve med beta-partikler. En stråle av beta-partikler rettes gjennom en åpning på den belagte komponenten, og en andel av disse partiklene blir tilbakespredt som forventet fra belegget gjennom åpningen for å penetrere det tynne vinduet til et Geiger Muller-rør. Gassen i Geiger Muller-røret ioniserer, og forårsaker en kortvarig utladning over rørelektrodene. Utladningen som er i form av en puls, telles og oversettes til en beleggtykkelse. Materialer med høyt atomnummer sprer beta-partiklene mer tilbake. For en prøve med kobber som substrat og et gullbelegg på 40 mikron tykt, blir beta-partiklene spredt av både substratet og belegningsmaterialet. Hvis gullbeleggtykkelsen øker, øker også tilbakespredningshastigheten. Endringen i hastigheten av partikler som spres er derfor et mål på beleggtykkelsen. Bruksområder som er egnet for beta-backscatter-metoden er de der atomnummeret til belegget og underlaget avviker med 20 prosent. Disse inkluderer gull, sølv eller tinn på elektroniske komponenter, belegg på verktøymaskiner, dekorative belegg på VVS-armaturer, dampavsatte belegg på elektroniske komponenter, keramikk og glass, organiske belegg som olje eller smøremiddel over metaller. Beta-backscatter-metoden er nyttig for tykkere belegg og for substrat- og beleggkombinasjoner der magnetisk induksjon eller virvelstrømmetoder ikke vil fungere. Endringer i legeringer påvirker beta-backscatter-metoden, og forskjellige isotoper og flere kalibreringer kan være nødvendig for å kompensere. Et eksempel kan være tinn/bly over kobber, eller tinn over fosfor/bronse velkjent i trykte kretskort og kontaktstifter, og i disse tilfellene vil endringene i legeringer kunne måles bedre med den dyrere røntgenfluorescensmetoden. The Røntgenfluorescensmetoden for måling av beleggtykkelse er en berøringsfri metode som tillater måling av alle små lag og svært tynne deler. Deler er utsatt for røntgenstråling. En kollimator fokuserer røntgenstrålene på et nøyaktig definert område av testprøven. Denne røntgenstrålingen forårsaker karakteristisk røntgenstråling (dvs. fluorescens) fra både belegget og substratmaterialene til testprøven. Denne karakteristiske røntgenstrålingen detekteres med en energispredningsdetektor. Ved å bruke riktig elektronikk er det mulig å registrere kun røntgenstråling fra beleggmaterialet eller underlaget. Det er også mulig å selektivt oppdage et spesifikt belegg når mellomlag er tilstede. Denne teknikken er mye brukt på trykte kretskort, smykker og optiske komponenter. Røntgenfluorescensen er ikke egnet for organiske belegg. Det målte beleggets tykkelse bør ikke overstige 0,5-0,8 mils. I motsetning til beta-backscatter-metoden kan imidlertid røntgenfluorescens måle belegg med lignende atomnummer (for eksempel nikkel over kobber). Som tidligere nevnt påvirker forskjellige legeringer et instruments kalibrering. Å analysere grunnmaterialet og beleggets tykkelse er avgjørende for å sikre presisjonsavlesninger. Dagens systemer og programvare reduserer behovet for flere kalibreringer uten å ofre kvaliteten. Til slutt er det verdt å nevne at det finnes målere som kan operere i flere av de ovennevnte modusene. Noen har avtakbare prober for fleksibilitet i bruk. Mange av disse moderne instrumentene tilbyr statistiske analysefunksjoner for prosesskontroll og minimale kalibreringskrav selv om de brukes på forskjellig formede overflater eller forskjellige materialer.

​

OVERFLATERUHET TESTERS : Overflateruhet kvantifiseres ved avvikene i retningen til normalvektoren til en overflate fra dens ideelle form. Hvis disse avvikene er store, anses overflaten som ru; hvis de er små, anses overflaten som glatt. Kommersielt tilgjengelige instrumenter kalt SURFACE PROFILOMETERS  brukes til å måle og registrere overflateruhet. Et av de mest brukte instrumentene har en diamantpenn som beveger seg langs en rett linje over overflaten. Opptaksinstrumentene er i stand til å kompensere for eventuelle overflatebølger og indikerer kun ruhet. Overflateruhet kan observeres gjennom a.) Interferometri og b.) Optisk mikroskopi, skanning-elektronmikroskopi, laser eller atomkraftmikroskopi (AFM). Mikroskopiteknikker er spesielt nyttige for å avbilde veldig glatte overflater der funksjoner ikke kan fanges opp av mindre følsomme instrumenter. Stereoskopiske fotografier er nyttige for 3D-visninger av overflater og kan brukes til å måle overflateruhet. 3D overflatemålinger kan utføres med tre metoder. Light from an optical-interference microscope shines against a reflective surface and records the interference fringes resulting from the incident and reflected waves. Laser profilometers_cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_brukes til å måle overflater enten gjennom interferometriske teknikker eller ved å flytte en objektivlinse for å opprettholde en konstant brennvidde over en overflate. Linsens bevegelse er da et mål på overflaten. Til slutt brukes den tredje metoden, nemlig atomic-force-mikroskopet, for å måle ekstremt glatte overflater på atomskala. Med andre ord med dette utstyret kan selv atomer på overflaten skilles ut. Dette sofistikerte og relativt kostbare utstyret skanner områder på mindre enn 100 mikron kvadrat på prøveoverflater.

​

GLANSMETERE, FARGELESER, FARGEDIFFERENCE METER : A GLOSSMETER refleksjonsoverflaten spemea glossMETER. Et mål på glans oppnås ved å projisere en lysstråle med fast intensitet og vinkel på en overflate og måle den reflekterte mengden i en lik, men motsatt vinkel. Glansmålere brukes på en rekke materialer som maling, keramikk, papir, metall og plastoverflater. Måling av glans kan hjelpe bedrifter med å kvalitetssikre produktene deres. God produksjonspraksis krever konsistens i prosessene, og dette inkluderer konsistent overflatefinish og utseende. Glansmålinger utføres ved en rekke ulike geometrier. Dette avhenger av overflatematerialet. For eksempel har metaller høye nivåer av refleksjon og derfor er vinkelavhengigheten mindre sammenlignet med ikke-metaller som belegg og plast der vinkelavhengigheten er høyere på grunn av diffus spredning og absorpsjon. Konfigurasjon av lyskilde og observasjonsmottaksvinkler tillater måling over et lite område av den totale refleksjonsvinkelen. Måleresultatene til et glansmåler er relatert til mengden reflektert lys fra en sort glassstandard med en definert brytningsindeks. Forholdet mellom det reflekterte lyset og det innfallende lyset for testprøven, sammenlignet med forholdet for glansstandarden, registreres som glansenheter (GU). Målevinkel refererer til vinkelen mellom innfallende og reflektert lys. Tre målevinkler (20°, 60° og 85°) brukes for de fleste industrielle malinger.

​

Vinkelen velges basert på det forventede glansområdet, og følgende handlinger utføres avhengig av målingen:

 

Glansområde...........60° Verdi.......Handling

 

Høyglans............>70 GU...........Hvis målingen overstiger 70 GU, endre testoppsettet til 20° for å optimalisere målenøyaktigheten.

 

Medium glans........10 - 70 GU

 

Lav glans.............<10 GU..........Hvis målingen er mindre enn 10 GU, endre testoppsettet til 85° for å optimalisere målenøyaktigheten.

​

Tre typer instrumenter er kommersielt tilgjengelige: 60° enkeltvinkelinstrumenter, en dobbeltvinkeltype som kombinerer 20° og 60° og en trippelvinkeltype som kombinerer 20°, 60° og 85°. To ekstra vinkler brukes for andre materialer, vinkelen på 45° er spesifisert for måling av keramikk, filmer, tekstiler og anodisert aluminium, mens målevinkelen 75° er spesifisert for papir og trykte materialer. A COLOR READER or also referred to as COLORIMETER is a device that measures the absorbance of particular wavelengths of light by en spesifikk løsning. Kolorimetre brukes oftest for å bestemme konsentrasjonen av et kjent oppløst stoff i en gitt løsning ved bruk av Beer-Lambert-loven, som sier at konsentrasjonen av et oppløst stoff er proporsjonal med absorbansen. Våre bærbare fargelesere kan også brukes på plast, maling, plating, tekstiler, trykking, fargestoffproduksjon, mat som smør, pommes frites, kaffe, bakeprodukter og tomater...osv. De kan brukes av amatører som ikke har faglig kunnskap om farger. Siden det finnes mange typer fargelesere, er applikasjonene uendelige. I kvalitetskontroll brukes de hovedsakelig for å sikre at prøver faller innenfor fargetoleranser satt av brukeren. For å gi deg et eksempel, er det håndholdte tomatkolorimetre som bruker en USDA-godkjent indeks for å måle og gradere fargen på bearbeidede tomatprodukter. Nok et eksempel er håndholdte kaffekolorimetre spesielt utviklet for å måle fargen på hele grønne bønner, brente bønner og brent kaffe ved bruk av industristandardmålinger. Our FARGEDIFFERENCE METERS viser direkte fargeforskjell etter E*ab, L*a*L*c,*CIE_CIE. Standardavvik er innenfor E*ab0.2 De fungerer på alle farger og testing tar bare sekunder.

​

METALLURGICAL MICROSCOPES and INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPE : Metallurgical microscope is usually an optical microscope, but differs from others in the method of the specimen illumination. Metaller er ugjennomsiktige stoffer og derfor må de belyses av frontbelysning. Derfor er lyskilden plassert i mikroskoprøret. Installert i røret er en vanlig glassreflektor. Typiske forstørrelser av metallurgiske mikroskoper er i området x50 – x1000. Kraftig feltbelysning brukes til å produsere bilder med lys bakgrunn og mørke ikke-flate strukturfunksjoner som porer, kanter og etsede korngrenser. Mørkt feltbelysning brukes til å produsere bilder med mørk bakgrunn og lyse ikke-flate strukturfunksjoner som porer, kanter og etsede korngrenser. Polarisert lys brukes til å se metaller med ikke-kubisk krystallinsk struktur som magnesium, alfa-titan og sink, som reagerer på krysspolarisert lys. Polarisert lys produseres av en polarisator som er plassert foran illuminator og analysator og plassert foran okularet. Et Nomarsky-prisme brukes for differensialinterferenskontrastsystem som gjør det mulig å observere funksjoner som ikke er synlige i lyst felt. INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPES_cc781905-5cde-3b-1386 condenserer lyset på toppen. , over scenen peker ned, mens målene og tårnet er under scenen og peker opp. Inverterte mikroskoper er nyttige for å observere funksjoner i bunnen av en stor beholder under mer naturlige forhold enn på et glassglass, slik tilfellet er med et konvensjonelt mikroskop. Inverterte mikroskoper brukes i metallurgiske applikasjoner der polerte prøver kan plasseres på toppen av scenen og ses fra undersiden ved hjelp av reflekterende objektiver og også i mikromanipulasjonsapplikasjoner der det kreves plass over prøven for manipulatormekanismer og mikroverktøyene de holder.

​

Her er en kort oppsummering av noen av våre testinstrumenter for vurdering av overflater og belegg. Du kan laste ned detaljer om disse fra produktkataloglenkene ovenfor.

​

Surface Roughness Tester SADT RoughScan : Dette er et bærbart, batteridrevet instrument for å sjekke overflateruhet med de målte verdiene vist på en digital avlesning. Instrumentet er enkelt å bruke og kan brukes i laboratoriet, produksjonsmiljøer, i butikker og overalt hvor det er nødvendig med testing av overflateruhet.

​

SADT GT-SERIEN Gloss Meters : GT-seriens glansmålere er designet og produsert i henhold til internasjonale standarder ISO2813, ASTMD523 og DIN67530. De tekniske parametrene er i samsvar med JJG696-2002. GT45 glansmåler er spesielt designet for måling av plastfilm og keramikk, små områder og buede overflater.

​

SADT GMS/GM60 SERIES Gloss Meters : Disse glansmålerne er designet og produsert i henhold til internasjonale standarder ISO2813, ISO7668, ASTM D523, ASTM D2457. De tekniske parametrene samsvarer også med JJG696-2002. Våre glansmålere i GM-serien er godt egnet til å måle maling, belegg, plast, keramikk, lærprodukter, papir, trykte materialer, gulvbelegg...osv. Den har en tiltalende og brukervennlig design, trevinklet glansdata vises samtidig, stort minne for måledata, nyeste bluetooth-funksjon og flyttbart minnekort for å overføre data enkelt, spesiell glansprogramvare for å analysere datautgang, lavt batteri og minne fullt indikator. Gjennom intern bluetooth-modul og USB-grensesnitt kan GM-glansmålere overføre data til PC eller eksporteres til skriver via utskriftsgrensesnitt. Ved å bruke valgfrie SD-kort kan minnet utvides så mye som nødvendig.

​

Presis fargeleser SADT SC 80 : Denne fargeleseren brukes mest på plast, malerier, plettering, tekstiler og kostymer, trykte produkter og i fargestoffindustrien. Den er i stand til å utføre fargeanalyse. Den 2,4" fargeskjermen og den bærbare designen gir komfortabel bruk. Tre typer lyskilder for brukervalg, SCI- og SCE-modusbryter og metamerismeanalyse tilfredsstiller dine testbehov under forskjellige arbeidsforhold. Toleranseinnstilling, auto-judge fargeforskjellsverdier og fargeavviksfunksjoner gjør at du enkelt kan bestemme fargen selv om du ikke har noen faglig kunnskap om farger. Ved å bruke profesjonell fargeanalyseprogramvare kan brukere utføre fargedataanalysen og observere fargeforskjeller på utdatadiagrammene. Valgfri miniskriver gjør det mulig for brukere å skrive ut fargedata på stedet.

​

Bærbar fargeforskjellsmåler SADT SC 20 : Denne bærbare fargeforskjellsmåleren er mye brukt i kvalitetskontroll av plast og utskriftsprodukter. Den brukes til å fange farger effektivt og nøyaktig. Enkel å betjene, viser fargeforskjell med E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h., standardavvik innenfor E*ab0.2, den kan kobles til datamaskinen via USB-utvidelsen grensesnitt for inspeksjon av programvare.

​

Metallurgisk mikroskop SADT SM500 : Det er et selvstendig bærbart metallurgisk mikroskop som er ideelt egnet for metallografisk evaluering av metaller i laboratoriet eller in situ. Bærbar design og unikt magnetisk stativ, SM500 kan festes direkte mot overflaten av jernholdige metaller i alle vinkler, flathet, krumning og overflatekompleksitet for ikke-destruktiv undersøkelse. SADT SM500 kan også brukes med digitalkamera eller CCD bildebehandlingssystem for å laste ned metallurgiske bilder til PC for dataoverføring, analyse, lagring og utskrift. Det er i utgangspunktet et bærbart metallurgisk laboratorium, med prøveforberedelse på stedet, mikroskop, kamera og ikke behov for AC-strømforsyning i felten. Naturlige farger uten behov for å skifte lys ved å dempe LED-belysningen gir det beste bildet som til enhver tid er observert. Dette instrumentet har valgfritt tilbehør, inkludert ekstra stativ for små prøver, digitalkameraadapter med okular, CCD med grensesnitt, okular 5x/10x/15x/16x, objektiv 4x/5x/20x/25x/40x/100x, minisliper, elektrolytisk poleringsmaskin, et sett med hjulhoder, poleringsdukhjul, kopifilm, filter (grønn, blå, gul), pære.

​

Bærbart metallurgrafisk mikroskop SADT modell SM-3 : Dette instrumentet tilbyr en spesiell magnetisk base, fester enheten godt på arbeidsstykkene, den er egnet for storskala rulletest og direkte observasjon, ingen kutting og prøvetaking nødvendig, LED-belysning, jevn fargetemperatur, ingen oppvarming, forover / bakover og venstre / høyre bevegelige mekanisme, praktisk for justering av inspeksjonspunktet, adapter for å koble til digitale kameraer og observere opptakene direkte på PC. Valgfritt tilbehør ligner på SADT SM500-modellen. For detaljer, last ned produktkatalog fra lenken ovenfor.

​

Metallurgisk mikroskop SADT modell XJP-6A : Dette metalloskopet kan enkelt brukes i fabrikker, skoler, vitenskapelige forskningsinstitusjoner for å identifisere og analysere mikrostrukturen til alle typer metaller og legeringer. Det er det ideelle verktøyet for å teste metallmaterialer, verifisere kvaliteten på støpegods og analysere metallografiske strukturer til de metalliserte materialene.

​

Invertert metallografisk mikroskop SADT-modell SM400 : Designet gjør det mulig å inspisere korn av metallurgiske prøver. Enkel installasjon ved produksjonslinjen og lett å bære. SM400 er egnet for høyskoler og fabrikker. En adapter for å feste digitalkamera til trinokulærrøret er også tilgjengelig. Denne modusen trenger MI for metallografisk bildeutskrift med faste størrelser. Vi har et utvalg CCD-adaptere for datamaskinutskrift med standard forstørrelse og over 60 % observasjonsvisning.

​

Invertert metallografisk mikroskop SADT-modell SD300M : Uendelig fokuseringsoptikk gir bilder med høy oppløsning. Objektiv for lang avstand, 20 mm bredt synsfelt, treplaters mekanisk trinn som aksepterer nesten alle prøvestørrelser, tung belastning og tillater ikke-destruktiv mikroskopundersøkelse av store komponenter. Strukturen med tre plater gir mikroskopet stabilitet og holdbarhet. Optikken gir høy NA og lang visningsavstand, og leverer lyse, høyoppløselige bilder. Det nye optiske belegget til SD300M er støv- og fuktsikkert.

​

For detaljer og annet lignende utstyr, vennligst besøk vårt utstyrsnettsted: http://www.sourceindustrialsupply.com