Kabilang sa aming mga instrumento sa pagsubok para sa coating at surface evaluation ay COATING THICKNESS METERS, SURFACE ROUGHNESS TESTERS, GLOSS METERS, COLOR READERS, COLOR DIFFERENCE METER, MICPHERATED METERS, MICPHETROSTED METER, MICPHETROSTED METER. Ang aming pangunahing focus ay sa NON-DESTRUCTIVE TEST METHODS. Nagdadala kami ng mga de-kalidad na tatak gaya ng SADTand MITECH.

 

Ang isang malaking porsyento ng lahat ng mga ibabaw sa paligid sa amin ay pinahiran. Ang mga coatings ay nagsisilbi sa maraming layunin kabilang ang magandang hitsura, proteksyon at pagbibigay sa mga produkto ng ilang gustong functionality tulad ng water repelling, pinahusay na friction, wear at abrasion resistance...atbp. Samakatuwid, napakahalaga na magkaroon ng kakayahang sukatin, subukan at suriin ang mga katangian at kalidad ng mga coatings at ibabaw ng mga produkto. Ang mga coatings ay maaaring malawak na ikinategorya sa dalawang pangunahing pangkat kung ang mga kapal ay isinasaalang-alang: _CC781905-5CDE-3194-BB3B-136BAD5CF58D_THICK FILM_CC781905-5CDE-3194-BB3B-136BAD5CF58D_AND_CC781905-5CDE-3194-BB3IB-136bad

​

Para mag-download ng catalog para sa aming SADT brand metrology at test equipment, mangyaring MAG-CLICK DITO.  Sa catalog na ito makikita mo ang ilan sa mga instrumentong ito para sa pagsusuri ng mga ibabaw at coatings.

​

Upang mag-download ng polyeto para sa Coating Thickness Gauge Mitech Model MCT200, mangyaring CLICK DITO.

​

Ang ilan sa mga instrumento at pamamaraan na ginagamit para sa mga naturang layunin ay:

 

COATING THICKNESS METER : Ang iba't ibang uri ng coatings ay nangangailangan ng iba't ibang uri ng coating tester. Ang isang pangunahing pag-unawa sa iba't ibang mga diskarte ay kaya mahalaga para sa gumagamit upang pumili ng tamang kagamitan. Sa Magnetic Induction Paraan ng pagsukat ng kapal ng coating sinusukat namin ang nonmagnetic coatings sa ibabaw ng mga ferrous na substrate at nonmagnetic na coatings sa ibabaw ng mga ferrous na substrate at nonmagnetic na coatings. Ang probe ay nakaposisyon sa sample at ang linear na distansya sa pagitan ng probe tip na nakikipag-ugnayan sa ibabaw at sa base substrate ay sinusukat. Sa loob ng measurement probe ay isang coil na bumubuo ng nagbabagong magnetic field. Kapag ang probe ay inilagay sa sample, ang magnetic flux density ng field na ito ay binago ng kapal ng isang magnetic coating o ang pagkakaroon ng isang magnetic substrate. Ang pagbabago sa magnetic inductance ay sinusukat ng pangalawang coil sa probe. Ang output ng pangalawang coil ay inililipat sa isang microprocessor, kung saan ito ay ipinapakita bilang isang pagsukat ng kapal ng patong sa digital display. Ang mabilis na pagsubok na ito ay angkop para sa mga likido o powder coatings, mga plating tulad ng chrome, zinc, cadmium o phosphate sa ibabaw ng bakal o bakal na substrate. Ang mga patong tulad ng pintura o pulbos na mas makapal kaysa sa 0.1 mm ay angkop para sa pamamaraang ito. Ang magnetic induction method ay hindi angkop para sa nickel over steel coatings dahil sa partial magnetic property ng nickel. Mas angkop ang phase-sensitive Eddy current method para sa mga coatings na ito. Ang isa pang uri ng coating kung saan ang magnetic induction method ay prone to failure ay zinc galvanized steel. Ang probe ay magbabasa ng kapal na katumbas ng kabuuang kapal. Ang mga mas bagong modelong instrumento ay may kakayahang mag-self-calibrate sa pamamagitan ng pag-detect ng materyal na substrate sa pamamagitan ng coating. Ito ay siyempre lubhang nakakatulong kapag ang isang hubad na substrate ay hindi magagamit o kapag ang substrate materyal ay hindi kilala. Ang mga bersyon ng mas murang kagamitan ay nangangailangan ng gayunpaman ang pagkakalibrate ng instrumento sa isang hubad at walang patong na substrate. The Eddy Kasalukuyang Paraan ng pagsukat ng kapal ng coating measures nonconductive coatings sa nonferrous nonconductive coatings sa nonferrous nonconductive coatings sa nonferrous nonconductive coatings sa nonferrous nonconductive coatings sa mga nonferrous na konduktibong coatings sa mga nonferrous na konduktibong coatings, nonferrous na conductive na coatings sa mga nonferrous na conductive na coatings, nonferrous na conductive coatings sa mga nonferrous na conductive na coatings, nonferrous na conductive na mga substrate. Ito ay katulad ng magnetic inductive method na naunang nabanggit na naglalaman ng coil at mga katulad na probes. Ang coil sa Eddy current method ay may dual function ng excitation at measurement. Ang probe coil na ito ay hinihimok ng isang high-frequency oscillator upang makabuo ng isang alternating field na may mataas na frequency. Kapag inilagay malapit sa isang metal na konduktor, nabubuo ang mga eddy current sa konduktor. Ang pagbabago ng impedance ay nagaganap sa probe coil. Tinutukoy ng distansya sa pagitan ng probe coil at ng conductive substrate material ang dami ng pagbabago ng impedance, na maaaring masukat, maiugnay sa kapal ng coating at ipinapakita sa anyo ng digital reading. Kasama sa mga application ang likido o powder coating sa aluminum at nonmagnetic stainless steel, at anodize sa aluminum. Ang pagiging maaasahan ng pamamaraang ito ay nakasalalay sa geometry ng bahagi at kapal ng patong. Ang substrate ay kailangang malaman bago kumuha ng mga pagbabasa. Hindi dapat gamitin ang Eddy current probe para sa pagsukat ng mga nonmagnetic coatings sa mga magnetic substrate gaya ng steel at nickel sa mga aluminum substrate. Kung ang mga user ay dapat magsukat ng mga coatings sa ibabaw ng magnetic o nonferrous conductive substrates, ang mga ito ay pinakamahusay na ihahatid sa isang dual magnetic induction/Eddy current gage na awtomatikong kumikilala sa substrate. Ang ikatlong paraan, na tinatawag na the Coulometric na paraan ng pagsukat ng kapal ng coating, ay isang mapanirang paraan ng pagsubok na mayroong maraming mahahalagang function. Ang pagsukat ng duplex nickel coatings sa industriya ng automotive ay isa sa mga pangunahing aplikasyon nito. Sa pamamaraang coulometric, ang bigat ng isang lugar na alam ang laki sa isang metal na patong ay tinutukoy sa pamamagitan ng localized anodic stripping ng coating. Pagkatapos ay kalkulahin ang mass-per-unit area ng kapal ng coating. Ang pagsukat na ito sa patong ay ginawa gamit ang isang electrolysis cell, na puno ng isang electrolyte na partikular na pinili upang alisin ang partikular na patong. Ang isang pare-parehong kasalukuyang ay tumatakbo sa pamamagitan ng test cell, at dahil ang coating material ay nagsisilbing anode, ito ay nababawas. Ang kasalukuyang density at ang lugar sa ibabaw ay pare-pareho, at sa gayon ang kapal ng patong ay proporsyonal sa oras na kinakailangan upang alisin at alisin ang patong. Ang pamamaraang ito ay lubhang kapaki-pakinabang para sa pagsukat ng mga electrically conductive coatings sa isang conductive substrate. Ang Coulometric na paraan ay maaari ding gamitin para sa pagtukoy ng kapal ng patong ng maraming layer sa isang sample. Halimbawa, ang kapal ng nickel at tanso ay maaaring masukat sa isang bahagi na may tuktok na patong ng nickel at isang intermediate na patong na tanso sa isang bakal na substrate. Ang isa pang halimbawa ng multilayer coating ay chrome over nickel over copper sa ibabaw ng plastic substrate. Ang pamamaraan ng pagsusuri ng Coulometric ay popular sa mga planta ng electroplating na may maliit na bilang ng mga random na sample. Ngunit ang ikaapat na paraan ay ang Beta Backscatter Method para sa pagsukat ng mga kapal ng coating. Ang isang beta-emitting isotope ay nag-iilaw ng isang test sample na may mga beta particle. Ang isang sinag ng mga beta particle ay nakadirekta sa pamamagitan ng isang aperture papunta sa coated na bahagi, at isang proporsyon ng mga particle na ito ay backscattered gaya ng inaasahan mula sa coating sa pamamagitan ng aperture upang tumagos sa manipis na window ng isang Geiger Muller tube. Ang gas sa Geiger Muller tube ay nag-ionize, na nagiging sanhi ng panandaliang paglabas sa mga tube electrodes. Ang discharge na nasa anyo ng isang pulso ay binibilang at isinalin sa isang kapal ng patong. Ang mga materyal na may mataas na atomic number ay mas nag-backscatter sa mga beta particle. Para sa isang sample na may tanso bilang substrate at isang gintong coating na 40 microns ang kapal, ang mga beta particle ay nakakalat sa pamamagitan ng parehong substrate at ang coating material. Kung tataas ang kapal ng gold coating, tataas din ang backscatter rate. Ang pagbabago sa rate ng mga particle na nakakalat ay samakatuwid ay isang sukatan ng kapal ng patong. Ang mga application na angkop para sa beta backscatter method ay ang mga kung saan ang atomic number ng coating at substrate ay nagkakaiba ng 20 porsyento. Kabilang dito ang ginto, pilak o lata sa mga elektronikong bahagi, mga patong sa mga kagamitan sa makina, mga pandekorasyon na plating sa mga kagamitan sa pagtutubero, mga patong na naka-deposito ng singaw sa mga elektronikong sangkap, ceramics at salamin, mga organikong patong tulad ng langis o pampadulas sa mga metal. Ang beta backscatter method ay kapaki-pakinabang para sa mas makapal na coating at para sa substrate at coating na kumbinasyon kung saan ang magnetic induction o Eddy current na pamamaraan ay hindi gagana. Ang mga pagbabago sa mga haluang metal ay nakakaapekto sa paraan ng beta backscatter, at maaaring kailanganin ang iba't ibang isotopes at maramihang pag-calibrate upang makabawi. Ang isang halimbawa ay tin/lead over copper, o tin over phosphorous/bronze na kilala sa mga printed circuit board at contact pin, at sa mga kasong ito ang mga pagbabago sa alloys ay mas masusukat sa mas mahal na X-ray fluorescence method. The X-ray fluorescence method para sa pagsukat ng coating thickness ay isang noncontact na paraan ng multilayer na nagbibigay-daan sa pagsukat ng napakaliit na mga bahagi ng alloy at kumplikadong mga bahagi. Ang mga bahagi ay nakalantad sa X-radiation. Itinutuon ng collimator ang mga X-ray sa isang eksaktong tinukoy na lugar ng test specimen. Ang X-radiation na ito ay nagdudulot ng katangiang paglabas ng X-ray (ibig sabihin, fluorescence) mula sa parehong coating at substrate na materyales ng test specimen. Ang katangiang ito ng X-ray emission ay natutukoy gamit ang isang energy dispersive detector. Gamit ang naaangkop na electronics, posibleng irehistro lamang ang X-ray emission mula sa coating material o substrate. Posible ring pumili ng isang partikular na coating kapag may mga intermediate na layer. Ang pamamaraan na ito ay malawakang ginagamit sa mga naka-print na circuit board, alahas at optical na bahagi. Ang X-ray fluorescence ay hindi angkop para sa mga organic na coatings. Ang kapal ng sinusukat na patong ay hindi dapat lumampas sa 0.5-0.8 mil. Gayunpaman, hindi tulad ng beta backscatter na paraan, ang X-ray fluorescence ay maaaring masukat ang mga coatings na may katulad na atomic number (halimbawa, nickel over copper). Tulad ng naunang nabanggit, ang iba't ibang mga haluang metal ay nakakaapekto sa pagkakalibrate ng isang instrumento. Ang pagsusuri sa base material at kapal ng coating ay kritikal para sa pagtiyak ng katumpakan na pagbabasa. Binabawasan ng mga system at software program ngayon ang pangangailangan para sa maramihang pag-calibrate nang hindi sinasakripisyo ang kalidad. Sa wakas ito ay nagkakahalaga ng pagbanggit na may mga gage na maaaring gumana sa ilan sa mga nabanggit na mode. Ang ilan ay may nababakas na probe para sa flexibility sa paggamit. Marami sa mga makabagong instrumentong ito ang nag-aalok ng mga kakayahan sa pagsusuri ng istatistika para sa kontrol ng proseso at kaunting mga kinakailangan sa pagkakalibrate kahit na ginamit sa iba't ibang hugis na ibabaw o iba't ibang mga materyales.

​

SURFACE ROUGHNESS TESTERS : Ang pagkamagaspang sa ibabaw ay sinusukat ng mga paglihis sa direksyon ng normal na vector ng isang ibabaw mula sa perpektong anyo nito. Kung ang mga paglihis na ito ay malaki, ang ibabaw ay itinuturing na magaspang; kung sila ay maliit, ang ibabaw ay itinuturing na makinis. Ang mga instrumentong available sa komersyal na tinatawag na SURFACE PROFILOMETERS ay ginagamit upang sukatin at itala ang pagkamagaspang sa ibabaw. Ang isa sa mga karaniwang ginagamit na instrumento ay nagtatampok ng diamond stylus na naglalakbay sa isang tuwid na linya sa ibabaw. Ang mga instrumento sa pagre-record ay kayang bayaran ang anumang pagkawaksi sa ibabaw at ipahiwatig lamang ang pagkamagaspang. Ang pagkamagaspang ng ibabaw ay maaaring maobserbahan sa pamamagitan ng a.) Interferometry at b.) Optical microscopy, scanning-electron microscopy, laser o atomic-force microscopy (AFM). Ang mga diskarte sa mikroskopya ay lalong kapaki-pakinabang para sa pag-imaging ng mga napakakinis na ibabaw kung saan ang mga tampok ay hindi maaaring makuha ng mga hindi gaanong sensitibong instrumento. Ang mga stereoscopic na larawan ay kapaki-pakinabang para sa mga 3D na view ng mga ibabaw at maaaring gamitin upang sukatin ang pagkamagaspang sa ibabaw. Maaaring isagawa ang 3D surface measurements sa pamamagitan ng tatlong pamamaraan. Light from an optical-interference microscope shines against a reflective surface and records the interference fringes resulting from the incident and reflected waves. Laser profilometers_cc781905- Ang 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ay ginagamit upang sukatin ang mga ibabaw sa pamamagitan ng alinman sa mga interferometric na pamamaraan o sa pamamagitan ng paggalaw ng isang objective lens upang mapanatili ang isang pare-parehong focal length sa ibabaw ng isang surface. Ang paggalaw ng lens ay isang sukatan ng ibabaw. Panghuli, ang pangatlong paraan, ang atomic-force microscope, ay ginagamit para sa pagsukat ng sobrang makinis na mga ibabaw sa atomic scale. Sa madaling salita sa kagamitang ito kahit na ang mga atomo sa ibabaw ay maaaring makilala. Ang sopistikado at medyo mahal na kagamitan na ito ay nag-scan ng mga lugar na mas mababa sa 100 micron square sa mga specimen surface.

​

GLOSS METER, COLOR READERS, COLOR DIFFERENCE METER : A GLOSSMETER na mga pagtakpan sa ibabaw. Ang isang sukat ng pagtakpan ay nakukuha sa pamamagitan ng pag-project ng isang light beam na may nakapirming intensity at anggulo sa isang ibabaw at pagsukat ng nakalarawan na halaga sa isang pantay ngunit kabaligtaran na anggulo. Ang mga glossmeter ay ginagamit sa iba't ibang materyales tulad ng pintura, keramika, papel, metal at plastik na ibabaw ng produkto. Ang pagsukat ng gloss ay maaaring magsilbi sa mga kumpanya sa pagtiyak ng kalidad ng kanilang mga produkto. Ang mga mahusay na kasanayan sa pagmamanupaktura ay nangangailangan ng pagkakapare-pareho sa mga proseso at kabilang dito ang pare-parehong ibabaw na finish at hitsura. Ang mga pagsukat ng gloss ay isinasagawa sa isang bilang ng iba't ibang mga geometries. Depende ito sa materyal sa ibabaw. Halimbawa, ang mga metal ay may mataas na antas ng pagmuni-muni at samakatuwid ang angular na pagdepende ay mas mababa kumpara sa mga di-metal tulad ng mga coatings at plastik kung saan ang angular na pagdepende ay mas mataas dahil sa nagkakalat na pagkakalat at pagsipsip. Ang pagsasaayos ng pinagmumulan ng pag-iilaw at pagtanggap ng obserbasyon ay nagbibigay-daan sa pagsukat sa isang maliit na hanay ng pangkalahatang anggulo ng pagmuni-muni. Ang mga resulta ng pagsukat ng isang glossmeter ay nauugnay sa dami ng nasasalamin na liwanag mula sa isang itim na salamin na pamantayan na may tinukoy na refractive index. Ang ratio ng sinasalamin na liwanag sa ilaw ng insidente para sa test specimen, kumpara sa ratio para sa gloss standard, ay naitala bilang gloss units (GU). Ang anggulo ng pagsukat ay tumutukoy sa anggulo sa pagitan ng insidente at naaaninag na liwanag. Tatlong anggulo ng pagsukat (20°, 60°, at 85°) ang ginagamit para sa karamihan ng mga pang-industriyang coating.

​

Ang anggulo ay pinili batay sa inaasahang hanay ng pagtakpan at ang mga sumusunod na aksyon ay gagawin depende sa pagsukat:

 

Saklaw ng Gloss..........60° Value.......Action

 

High Gloss............>70 GU..........Kung ang pagsukat ay lumampas sa 70 GU, baguhin ang setup ng pagsubok sa 20° upang ma-optimize ang katumpakan ng pagsukat.

 

Medium Gloss........10 - 70 GU

 

Low Gloss.............<10 GU..........Kung ang pagsukat ay mas mababa sa 10 GU, baguhin ang setup ng pagsubok sa 85° upang ma-optimize ang katumpakan ng pagsukat.

​

Tatlong uri ng mga instrumento ang available sa komersyo: 60° single angle instruments, isang double-angle type na pinagsasama ang 20° at 60° at isang triple-angle type na pinagsasama ang 20°, 60° at 85°. Dalawang karagdagang anggulo ang ginagamit para sa iba pang mga materyales, ang anggulo ng 45° ay tinukoy para sa pagsukat ng mga keramika, pelikula, tela at anodized na aluminyo, habang ang anggulo ng pagsukat na 75° ay tinukoy para sa papel at mga naka-print na materyales. A COLOR READER or also referred to as COLORIMETER is a device that measures the absorbance of particular wavelengths of light by isang tiyak na solusyon. Ang mga colorimeter ay karaniwang ginagamit upang matukoy ang konsentrasyon ng isang kilalang solute sa isang ibinigay na solusyon sa pamamagitan ng paggamit ng batas ng Beer-Lambert, na nagsasaad na ang konsentrasyon ng isang solute ay proporsyonal sa absorbance. Ang aming portable color readers ay maaari ding gamitin sa plastic, painting, platings, textiles, printing, dye making, pagkain tulad ng mantikilya, french fries, kape, baked products at mga kamatis....atbp. Maaari silang gamitin ng mga baguhan na walang propesyonal na kaalaman sa mga kulay. Dahil maraming uri ng color reader, walang katapusan ang mga application. Sa kontrol ng kalidad, pangunahing ginagamit ang mga ito upang masiguro na ang mga sample ay nasa loob ng mga pagpapaubaya sa kulay na itinakda ng user. Para bigyan ka ng halimbawa, may mga handheld na colorimeter ng kamatis na gumagamit ng inaprubahang index ng USDA para sukatin at grado ang kulay ng mga produktong naprosesong kamatis. Isa pang halimbawa ay ang mga handheld coffee colorimeter na partikular na idinisenyo upang sukatin ang kulay ng buong green beans, roasted beans, at roasted coffee gamit ang mga standard na sukat ng industriya. Our COLOR DIFFERENCE METERS nagpapakita ng direktang pagkakaiba ng kulay sa pamamagitan ng E*ab, L*a*b*, CIE_L*aL*, CIE_L*a. Ang standard deviation ay nasa loob ng E*ab0.2 Gumagana ang mga ito sa anumang kulay at ang pagsubok ay tumatagal lamang ng ilang segundo ng oras.

​

METALLURGICAL MICROSCOPES and INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPE : Metallurgical microscope is usually an optical microscope, but differs from others in the method of the specimen illumination. Ang mga metal ay mga opaque substance at samakatuwid ay dapat silang iluminado ng frontal lighting. Samakatuwid ang pinagmumulan ng liwanag ay matatagpuan sa loob ng microscope tube. Ang naka-install sa tubo ay isang plain glass reflector. Ang mga karaniwang pagpapalaki ng mga metalurhiko na mikroskopyo ay nasa hanay na x50 – x1000. Ang maliwanag na field illumination ay ginagamit para sa paggawa ng mga larawang may maliwanag na background at madilim na hindi patag na mga feature ng istraktura gaya ng mga pores, mga gilid at nakaukit na mga hangganan ng butil. Ginagamit ang dark field illumination para sa paggawa ng mga larawang may madilim na background at maliwanag na hindi patag na mga feature ng istraktura gaya ng mga pores, gilid, at nakaukit na mga hangganan ng butil. Ang polarized na ilaw ay ginagamit para sa pagtingin sa mga metal na may non-cubic crystalline na istraktura tulad ng magnesium, alpha-titanium at zinc, na tumutugon sa cross-polarized na liwanag. Ang polarized light ay ginawa ng isang polarizer na matatagpuan sa harap ng illuminator at analyzer at inilagay sa harap ng eyepiece. Ang isang Nomarsky prism ay ginagamit para sa differential interference contrast system na ginagawang posible na obserbahan ang mga feature na hindi nakikita sa maliwanag na field. INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPES_cc781905-5cde-bad_5cveden5-5cde-31905-5cde-31905-5cde-31905-5cde-3b194-5cde-bb_3b-den-5cde-bb-31905-5cde-31905-5cde-31905-1905-5cde-31905-5cde-31905 at ang kanilang ilaw sa itaas. , sa itaas ng stage na nakaturo pababa, habang ang mga layunin at turret ay nasa ibaba ng stage na nakaturo pataas. Ang mga inverted microscope ay kapaki-pakinabang para sa pag-obserba ng mga feature sa ilalim ng isang malaking lalagyan sa ilalim ng mas natural na mga kondisyon kaysa sa isang glass slide, tulad ng kaso sa isang conventional microscope. Ang mga inverted microscope ay ginagamit sa mga metalurhiko na aplikasyon kung saan ang mga pinakintab na sample ay maaaring ilagay sa ibabaw ng entablado at tingnan mula sa ilalim gamit ang mga layunin na sumasalamin at gayundin sa mga micromanipulation application kung saan ang espasyo sa itaas ng ispesimen ay kinakailangan para sa mga mekanismo ng manipulator at ang mga microtool na hawak nila.

​

Narito ang isang maikling buod ng ilan sa aming mga instrumento sa pagsubok para sa pagsusuri ng mga ibabaw at coatings. Maaari mong i-download ang mga detalye ng mga ito mula sa mga link ng katalogo ng produkto na ibinigay sa itaas.

​

Surface Roughness Tester SADT RoughScan : Ito ay isang portable, pinapagana ng baterya na instrumento para sa pagsuri sa pagkamagaspang sa ibabaw gamit ang mga sinusukat na halaga na ipinapakita sa isang digital readout. Madaling gamitin ang instrumento at maaaring gamitin sa lab, mga kapaligiran sa pagmamanupaktura, sa mga tindahan, at saanman kinakailangan ang pagsubok sa pagkamagaspang sa ibabaw.

​

SADT GT SERIES Gloss Meters : Ang GT series gloss meter ay idinisenyo at ginawa ayon sa mga internasyonal na pamantayan na ISO2813, ASTMD523 at DIN67530. Ang mga teknikal na parameter ay umaayon sa JJG696-2002. Ang GT45 gloss meter ay partikular na idinisenyo para sa pagsukat ng mga plastic film at ceramics, maliliit na lugar at curved surface.

​

SADT GMS/GM60 SERIES Gloss Meters : Ang mga glossmeter na ito ay dinisenyo at ginawa ayon sa mga internasyonal na pamantayan na ISO2813, ISO7668, ASTM D523, ASTM D2457. Ang mga teknikal na parameter ay umaayon din sa JJG696-2002. Ang aming GM Series gloss meter ay angkop na angkop sa pagsukat ng pagpipinta, coating, plastic, ceramics, mga produktong gawa sa balat, papel, mga naka-print na materyales, mga panakip sa sahig...atbp. Ito ay may kaakit-akit at madaling gamitin na disenyo, tatlong-anggulo na gloss data ay ipinapakita nang sabay-sabay, malaking memorya para sa data ng pagsukat, pinakabagong bluetooth function at naaalis na memory card upang maginhawang magpadala ng data, espesyal na gloss software upang pag-aralan ang output ng data, mababang baterya at puno ng memorya tagapagpahiwatig. Sa pamamagitan ng Internal na bluetooth module at USB interface, ang GM gloss meter ay maaaring maglipat ng data sa PC o i-export sa printer sa pamamagitan ng interface ng pag-print. Ang paggamit ng mga opsyonal na SD card memory ay maaaring palawigin hangga't kinakailangan.

​

Precise Color Reader SADT SC 80 : Ang color reader na ito ay kadalasang ginagamit sa mga plastic, painting,, platings, textile at costume, printed na produkto at sa industriya ng dye manufacturing. Ito ay may kakayahang magsagawa ng pagtatasa ng kulay. Ang 2.4" color screen at portable na disenyo ay nag-aalok ng kumportableng paggamit. Tatlong uri ng light source para sa pagpili ng user, SCI at SCE mode switch at metamerism analysis ay nakakatugon sa iyong mga pangangailangan sa pagsubok sa ilalim ng iba't ibang kondisyon sa trabaho. Ang setting ng pagpapaubaya, mga halaga ng pagkakaiba ng kulay ng auto-judge at mga function ng paglihis ng kulay ay ginagawang madali mong matukoy ang kulay kahit na wala kang anumang propesyonal na kaalaman sa mga kulay. Ang paggamit ng mga propesyonal na gumagamit ng software ng pagtatasa ng kulay ay maaaring magsagawa ng pagsusuri ng data ng kulay at obserbahan ang mga pagkakaiba ng kulay sa mga diagram ng output. Ang opsyonal na mini printer ay nagbibigay-daan sa mga user na i-print ang data ng kulay sa site.

​

Portable Color Difference Meter SADT SC 20 : Ang portable color difference meter na ito ay malawakang ginagamit sa kontrol ng kalidad ng mga plastik at mga produkto sa pag-print. Ito ay ginagamit upang makuha ang kulay nang mahusay at tumpak. Madaling patakbuhin, ipinapakita ang pagkakaiba ng kulay ayon sa E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h., standard deviation sa loob ng E*ab0.2, maaari itong ikonekta sa computer sa pamamagitan ng USB expansion interface para sa inspeksyon ng software.

​

Metallurgical Microscope SADT SM500 : Ito ay isang self-contained na portable metallurgical microscope na perpektong angkop para sa metallographic na pagsusuri ng mga metal sa laboratoryo o in situ. Portable na disenyo at natatanging magnetic stand, ang SM500 ay maaaring direktang idikit sa ibabaw ng mga ferrous na metal sa anumang anggulo, flatness, curvature at surface complexity para sa hindi mapanirang pagsusuri. Ang SADT SM500 ay maaari ding gamitin sa digital camera o CCD image processing system para mag-download ng mga metalurhikong imahe sa PC para sa paglilipat ng data, pagsusuri, pag-iimbak at pag-print. Ito ay karaniwang isang portable metalurgical laboratory, na may on-site na sample na paghahanda, mikroskopyo, camera at hindi na kailangan ng AC power supply sa field. Ang mga natural na kulay nang hindi nangangailangan ng pagpapalit ng liwanag sa pamamagitan ng pagdidilim ng LED lighting ay nagbibigay ng pinakamahusay na imaheng naobserbahan anumang oras. Ang instrumento na ito ay may mga opsyonal na accessory kabilang ang karagdagang stand para sa maliliit na sample, digital camera adapter na may eyepiece, CCD na may interface, eyepiece 5x/10x/15x/16x, layunin 4x/5x/20x/25x/40x/100x, mini grinder, electrolytic polisher, isang set ng mga ulo ng gulong, buli na gulong ng tela, replica film, filter (berde, asul, dilaw), bombilya.

​

Portable Metallurgraphic Microscope SADT Model SM-3 : Ang instrumento na ito ay nag-aalok ng isang espesyal na magnetic base, pag-aayos ng unit nang matatag sa mga piraso ng trabaho, ito ay angkop para sa malakihang pagsubok ng roll at direktang pagmamasid, walang pagputol at kailangan ng sampling, LED lighting, pare-parehong temperatura ng kulay, walang heating, forward / backward at left / right moving mechanism, maginhawa para sa pagsasaayos ng inspection point, adapter para sa pagkonekta ng mga digital camera at pag-obserba ng mga recording nang direkta sa PC. Ang mga opsyonal na accessory ay katulad ng SADT SM500 na modelo. Para sa mga detalye, mangyaring i-download ang katalogo ng produkto mula sa link sa itaas.

​

Metallurgical Microscope SADT Model XJP-6A : Ang metalloscope na ito ay madaling gamitin sa mga pabrika, paaralan, institusyong siyentipikong pananaliksik para sa pagtukoy at pagsusuri sa microstructure ng lahat ng uri ng metal at alloys. Ito ang perpektong tool para sa pagsubok ng mga metal na materyales, pag-verify ng kalidad ng mga casting at pagsusuri ng metallographic na istraktura ng mga metalized na materyales.

​

Inverted Metallographic Microscope SADT Model SM400 : Ginagawang posible ng disenyo ang pag-inspeksyon ng mga butil ng metallurgical sample. Madaling pag-install sa linya ng produksyon at madaling dalhin. Ang SM400 ay angkop para sa mga kolehiyo at pabrika. Available din ang adaptor para sa paglakip ng digital camera sa trinocular tube. Ang mode na ito ay nangangailangan ng MI ng metallographic image printing na may mga nakapirming laki. Mayroon kaming pagpipilian ng mga adaptor ng CCD para sa pag-print ng computer na may karaniwang pag-magnify at higit sa 60% na view ng pagmamasid.

​

Inverted Metallographic Microscope SADT Model SD300M : Ang infinite focusing optics ay nagbibigay ng mga larawang may mataas na resolution. Layunin ng long distance na panonood, 20 mm ang lapad na field of view, tatlong-plate na mekanikal na yugto na tumatanggap ng halos anumang sukat ng sample, mabibigat na karga at nagpapahintulot sa hindi mapanirang pagsusuri sa mikroskopyo ng malalaking bahagi. Ang tatlong-plate na istraktura ay nagbibigay ng katatagan at tibay ng mikroskopyo. Nagbibigay ang optika ng mataas na NA at mahabang distansya sa panonood, na naghahatid ng maliliwanag at mataas na resolution na mga imahe. Ang bagong optical coating ng SD300M ay dust at damp proof.

​

Para sa mga detalye at iba pang katulad na kagamitan, pakibisita ang aming website ng kagamitan: http://www.sourceindustrialsuply.com