Kaplama ve yüzey değerlendirmesine yönelik test cihazlarımız arasında KAPLAMA KALINLIĞI ÖLÇERLER, YÜZEY PÜRÜZLÜLÜK TEST CİHAZLARI, PARLAKLIK ÖLÇERLER, RENK OKUYUCULAR, RENK FARKI ÖLÇER, METALÜRJİK MİKROSKOPLAR, TERS METALOGRAFİK MİKROSKOP yer almaktadır. Ana odak noktamız Tahribatsız Test Yöntemleridir. SADT ve MITECH gibi yüksek kaliteli markaları taşıyoruz.

 

Etrafımızdaki tüm yüzeylerin büyük bir yüzdesi kaplanmıştır. Kaplamalar, iyi görünüm, koruma ve ürünlere su itme, artırılmış sürtünme, aşınma ve aşınma direnci gibi istenen belirli işlevleri verme dahil olmak üzere birçok amaca hizmet eder. Bu nedenle ürünlerin kaplamalarının ve yüzeylerinin özelliklerini ve kalitesini ölçebilmek, test edebilmek ve değerlendirebilmek hayati önem taşımaktadır. Kaplamalar kalınlıkları dikkate alındığında genel olarak iki ana gruba ayrılabilir: KALIN FİLM ve İNCE FİLM KAPLAMALAR.

​

SADT marka metroloji ve test cihazlarımızın kataloğunu indirmek için lütfen TIKLAYINIZ.  Bu katalogda, yüzeylerin ve kaplamaların değerlendirilmesi için bu araçlardan bazılarını bulacaksınız.

​

Kaplama Kalınlık Ölçer Mitech Model MCT200 broşürünü indirmek için lütfen TIKLAYINIZ.

​

Bu amaçlar için kullanılan araç ve tekniklerden bazıları şunlardır:

 

KAPLAMA KALINLIĞI METER : Farklı kaplama türleri, farklı kaplama test cihazları gerektirir. Bu nedenle, kullanıcının doğru ekipmanı seçmesi için çeşitli tekniklerin temel bir anlayışı gereklidir. the Manyetik İndüksiyon Kaplama kalınlığı ölçümü yönteminde manyetik olmayan kaplamaları demirli alt tabakalar üzerinde ve manyetik kaplamaları manyetik olmayan alt tabakalar üzerinde ölçüyoruz. Prob numune üzerine yerleştirilir ve yüzeye temas eden prob ucu ile taban substratı arasındaki doğrusal mesafe ölçülür. Ölçüm probunun içinde değişen bir manyetik alan oluşturan bir bobin bulunur. Prob numune üzerine yerleştirildiğinde, bu alanın manyetik akı yoğunluğu, bir manyetik kaplamanın kalınlığı veya bir manyetik alt tabakanın varlığı ile değiştirilir. Manyetik endüktanstaki değişiklik, prob üzerindeki ikincil bir bobin ile ölçülür. İkincil bobinin çıkışı, dijital ekranda kaplama kalınlığı ölçümü olarak gösterildiği bir mikroişlemciye aktarılır. Bu hızlı test, sıvı veya toz kaplamalar, çelik veya demir yüzeyler üzerine krom, çinko, kadmiyum veya fosfat gibi kaplamalar için uygundur. 0,1 mm'den kalın boya veya toz gibi kaplamalar bu yöntem için uygundur. Manyetik indüksiyon yöntemi, nikelin kısmi manyetik özelliğinden dolayı nikel üzeri çelik kaplamalar için pek uygun değildir. Bu kaplamalar için faza duyarlı girdap akımı yöntemi daha uygundur. Manyetik indüksiyon yönteminin başarısızlığa meyilli olduğu başka bir kaplama türü çinko galvanizli çeliktir. Prob, toplam kalınlığa eşit bir kalınlık okuyacaktır. Daha yeni model enstrümanlar, kaplama boyunca alt tabaka malzemesini tespit ederek kendi kendini kalibre etme yeteneğine sahiptir. Bu, elbette, çıplak bir alt tabaka mevcut olmadığında veya alt tabaka malzemesi bilinmediğinde çok faydalıdır. Ancak daha ucuz ekipman versiyonları, aletin çıplak ve kaplanmamış bir alt tabaka üzerinde kalibrasyonunu gerektirir. The Eddy Current Kaplama kalınlığı ölçümü yöntemi demir içermeyen iletken alt tabakalar üzerindeki iletken olmayan kaplamaları, iletken olmayan alt tabakalar üzerindeki demir içermeyen iletken kaplamaları ve bazı demir içermeyen metal kaplamaları ölçer. Bir bobin ve benzer problar içeren daha önce bahsedilen manyetik endüktif yönteme benzer. Girdap akımı yöntemindeki bobin, uyarma ve ölçmenin ikili işlevine sahiptir. Bu prob bobini, alternatif bir yüksek frekans alanı oluşturmak için yüksek frekanslı bir osilatör tarafından çalıştırılır. Metal bir iletkenin yanına yerleştirildiğinde, iletkende girdap akımları oluşur. Empedans değişimi prob bobininde gerçekleşir. Prob bobini ile iletken alt tabaka malzemesi arasındaki mesafe, ölçülebilen, bir kaplama kalınlığıyla ilişkilendirilen ve dijital bir okuma şeklinde görüntülenen empedans değişikliği miktarını belirler. Uygulamalar, alüminyum ve manyetik olmayan paslanmaz çelik üzerine sıvı veya toz kaplama ve alüminyum üzerine anotlama içerir. Bu yöntemin güvenilirliği, parçanın geometrisine ve kaplamanın kalınlığına bağlıdır. Okumalar yapılmadan önce substratın bilinmesi gerekir. Girdap akımı probları, alüminyum yüzeyler üzerindeki çelik ve nikel gibi manyetik yüzeyler üzerindeki manyetik olmayan kaplamaları ölçmek için kullanılmamalıdır. Kullanıcıların manyetik veya demir içermeyen iletken alt tabakalar üzerindeki kaplamaları ölçmesi gerekiyorsa, alt tabakayı otomatik olarak tanıyan ikili bir manyetik indüksiyon/Eddy akımı ölçer ile en iyi şekilde hizmet göreceklerdir. The Coulometrik kaplama kalınlığı ölçümü yöntemi olarak adlandırılan üçüncü bir yöntem, birçok önemli işlevi olan bir tahribatlı test yöntemidir. Otomotiv endüstrisindeki dubleks nikel kaplamaların ölçülmesi, ana uygulamalarından biridir. Kulometrik yöntemde, metalik bir kaplama üzerindeki bilinen boyuttaki bir alanın ağırlığı, kaplamanın lokalize anodik sıyrılması yoluyla belirlenir. Kaplama kalınlığının birim alan başına kütlesi daha sonra hesaplanır. Kaplama üzerindeki bu ölçüm, belirli kaplamayı soymak için özel olarak seçilmiş bir elektrolit ile doldurulmuş bir elektroliz hücresi kullanılarak yapılır. Test hücresinden sabit bir akım geçer ve kaplama malzemesi anot görevi gördüğü için deplase edilir. Akım yoğunluğu ve yüzey alanı sabittir ve bu nedenle kaplama kalınlığı, kaplamanın sıyrılması ve çıkarılması için geçen süre ile orantılıdır. Bu yöntem, iletken bir substrat üzerindeki elektriksel olarak iletken kaplamaları ölçmek için çok kullanışlıdır. Kulometrik yöntem, bir numune üzerindeki çoklu katmanların kaplama kalınlığını belirlemek için de kullanılabilir. Örneğin, nikel ve bakırın kalınlığı, bir çelik alt tabaka üzerinde bir üst nikel kaplama ve bir ara bakır kaplama ile bir parça üzerinde ölçülebilir. Çok katmanlı bir kaplamanın başka bir örneği, plastik bir substratın üzerinde bakır üzerinde nikel üzerine kromdur. Kulometrik test yöntemi, az sayıda rastgele numune içeren elektrokaplama tesislerinde popülerdir. Yine dördüncü bir yöntem, kaplama kalınlıklarını ölçmek için the Beta Geri Saçılım Yöntemidir. Beta yayan bir izotop, bir test örneğini beta parçacıklarıyla ışınlar. Bir beta parçacıkları demeti, bir açıklıktan kaplanmış bileşene yönlendirilir ve bu parçacıkların bir kısmı, bir Geiger Muller tüpünün ince penceresine nüfuz etmek için açıklık boyunca kaplamadan beklendiği gibi geri saçılır. Geiger Muller tüpündeki gaz iyonlaşarak tüp elektrotları arasında anlık bir boşalmaya neden olur. Darbe şeklinde olan deşarj sayılır ve kaplama kalınlığına çevrilir. Atom numarası yüksek olan malzemeler beta parçacıklarını daha fazla geri saçar. Substrat olarak bakır ve 40 mikron kalınlığında altın kaplama olan bir numune için, beta partikülleri hem substrat hem de kaplama materyali tarafından saçılır. Altın kaplama kalınlığı artarsa geri saçılma oranı da artar. Bu nedenle saçılan parçacıkların oranındaki değişiklik kaplama kalınlığının bir ölçüsüdür. Beta geri saçılım yöntemi için uygun olan uygulamalar, kaplama ve substratın atom numarasının yüzde 20 farklı olduğu uygulamalardır. Bunlar, elektronik bileşenler üzerinde altın, gümüş veya kalay, takım tezgahları üzerindeki kaplamalar, sıhhi tesisat armatürleri üzerindeki dekoratif kaplamalar, elektronik bileşenler, seramikler ve cam üzerindeki buharla kaplanmış kaplamalar, metaller üzerindeki yağ veya yağlayıcı gibi organik kaplamaları içerir. Beta geri saçılım yöntemi, daha kalın kaplamalar ve manyetik indüksiyon veya Eddy akımı yöntemlerinin çalışmadığı alt katman ve kaplama kombinasyonları için kullanışlıdır. Alaşımlardaki değişiklikler beta geri saçılım yöntemini etkiler ve telafi etmek için farklı izotoplar ve çoklu kalibrasyonlar gerekebilir. Bir örnek, bakır üzerinde kalay/kurşun veya baskılı devre kartlarında ve kontak pimlerinde iyi bilinen fosfor/bronz üzerinde kalay olabilir ve bu durumlarda alaşımlardaki değişiklikler, daha pahalı X-ışını floresan yöntemiyle daha iyi ölçülebilir. Kaplama kalınlığını ölçmek için X-ray floresan yöntemi küçük ve karmaşık parçalar üzerinde çok ince çok katmanlı alaşım kaplamaların ölçülmesine olanak tanıyan temassız bir yöntemdir. Parçalar X-radyasyonuna maruz kalır. Bir kolimatör, X-ışınlarını test örneğinin tam olarak tanımlanmış bir alanına odaklar. Bu X-radyasyonu, test numunesinin hem kaplamasından hem de altlık malzemelerinden karakteristik X-ışını emisyonuna (yani floresan) neden olur. Bu karakteristik X-ışını emisyonu, bir enerji dağıtıcı dedektör ile tespit edilir. Uygun elektroniği kullanarak, kaplama malzemesinden veya alt tabakadan yalnızca X-ışını emisyonunu kaydetmek mümkündür. Ara katmanlar mevcut olduğunda belirli bir kaplamayı seçici olarak algılamak da mümkündür. Bu teknik, baskılı devre kartlarında, mücevherlerde ve optik bileşenlerde yaygın olarak kullanılmaktadır. X-ışını floresansı organik kaplamalar için uygun değildir. Ölçülen kaplamanın kalınlığı 0,5-0,8 mili geçmemelidir. Bununla birlikte, beta geri saçılım yönteminden farklı olarak, X-ışını floresansı, benzer atom numaralarına sahip kaplamaları ölçebilir (örneğin, bakır üzerinde nikel). Daha önce belirtildiği gibi, farklı alaşımlar bir aletin kalibrasyonunu etkiler. Temel malzemenin ve kaplamanın kalınlığının analiz edilmesi, hassas okumalar sağlamak için kritik öneme sahiptir. Günümüzün sistemleri ve yazılım programları, kaliteden ödün vermeden çoklu kalibrasyon ihtiyacını azaltır. Son olarak, yukarıda belirtilen modların birkaçında çalışabilen göstergelerin olduğunu belirtmekte fayda var. Bazıları kullanımda esneklik için ayrılabilir problara sahiptir. Bu modern cihazların çoğu, farklı şekilli yüzeylerde veya farklı malzemelerde kullanılsalar bile proses kontrolü ve minimum kalibrasyon gereksinimleri için istatistiksel analiz yetenekleri sunar.

​

YÜZEY PÜRÜZLÜLÜĞÜ TEST CİHAZLARI : Yüzey pürüzlülüğü, bir yüzeyin ideal biçiminden normal vektörünün yönündeki sapmalarla ölçülür. Bu sapmalar büyükse, yüzey pürüzlü olarak kabul edilir; küçüklerse, yüzey pürüzsüz kabul edilir. Yüzey pürüzlülüğünü ölçmek ve kaydetmek için SURFACE PROFILOMETERS adlı ticari olarak temin edilebilen cihazlar kullanılır. Yaygın olarak kullanılan araçlardan biri, yüzey üzerinde düz bir çizgi boyunca hareket eden bir elmas kaleme sahiptir. Kayıt cihazları, herhangi bir yüzey dalgalanmasını telafi edebilir ve yalnızca pürüzlülüğü gösterebilir. Yüzey pürüzlülüğü a.) İnterferometri ve b.) Optik mikroskopi, taramalı elektron mikroskobu, lazer veya atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ile gözlemlenebilir. Mikroskopi teknikleri, özellikleri daha az hassas aletlerle yakalanamayan çok düzgün yüzeylerin görüntülenmesi için özellikle yararlıdır. Stereoskopik fotoğraflar, yüzeylerin 3D görünümleri için kullanışlıdır ve yüzey pürüzlülüğünü ölçmek için kullanılabilir. 3D yüzey ölçümleri üç yöntemle yapılabilir. an optical-interference mikroskobu yansıtıcı bir yüzeye karşı parlar ve gelen ve yansıyan dalgalardan kaynaklanan girişim saçaklarını kaydeder._cc781905-5cde-3194-bb3b-58dometer_136badcc 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_interferometrik tekniklerle veya bir yüzey üzerinde sabit bir odak uzaklığı sağlamak için bir objektif merceğini hareket ettirerek yüzeyleri ölçmek için kullanılır. Lensin hareketi daha sonra yüzeyin bir ölçüsüdür. Son olarak, üçüncü yöntem olan the atomik-kuvvet mikroskobu, atom ölçeğinde son derece pürüzsüz yüzeyleri ölçmek için kullanılır. Yani bu ekipman ile yüzeydeki atomlar bile ayırt edilebilmektedir. Bu sofistike ve nispeten pahalı ekipman, numune yüzeylerinde 100 mikron kareden küçük alanları tarar.

​

PARLAK ÖLÇER, RENK OKUYUCULAR, RENK FARKI METER : A GLOSSMETREbir yüzeyin aynasal yansıma parlaklığını ölçer. Bir yüzeye sabit yoğunluk ve açıya sahip bir ışık huzmesinin yansıtılması ve yansıyan miktarın eşit fakat zıt bir açıda ölçülmesiyle bir parlaklık ölçüsü elde edilir. Glossmetreler boya, seramik, kağıt, metal ve plastik ürün yüzeyleri gibi çeşitli malzemeler üzerinde kullanılmaktadır. Parlaklığı ölçmek, şirketlerin ürünlerinin kalitesini güvence altına almalarına hizmet edebilir. İyi üretim uygulamaları, süreçlerde tutarlılık gerektirir ve buna tutarlı yüzey kalitesi ve görünüm dahildir. Parlaklık ölçümleri bir dizi farklı geometride gerçekleştirilir. Bu, yüzey malzemesine bağlıdır. Örneğin metaller yüksek yansıma seviyelerine sahiptir ve dolayısıyla açısal bağımlılık, dağınık saçılma ve absorpsiyon nedeniyle açısal bağımlılığın daha yüksek olduğu kaplamalar ve plastikler gibi metal olmayanlara kıyasla daha azdır. Aydınlatma kaynağı ve gözlem alım açıları konfigürasyonu, genel yansıma açısının küçük bir aralığında ölçüm yapılmasına izin verir. Bir parlaklık ölçerin ölçüm sonuçları, tanımlanmış bir kırılma indisine sahip bir siyah cam standardından yansıyan ışığın miktarı ile ilgilidir. Test numunesi için yansıyan ışığın gelen ışığa oranı, parlaklık standardı oranıyla karşılaştırıldığında parlaklık birimleri (GU) olarak kaydedilir. Ölçüm açısı, gelen ve yansıyan ışık arasındaki açıyı ifade eder. Endüstriyel kaplamaların çoğu için üç ölçüm açısı (20°, 60° ve 85°) kullanılır.

​

Açı, beklenen parlaklık aralığına göre seçilir ve ölçüme bağlı olarak aşağıdaki işlemler yapılır:

 

Parlaklık Aralığı..........60° Değer.......Eylem

 

Yüksek Parlaklık............>70 GU..........Ölçüm 70 GU'yu aşarsa, ölçüm doğruluğunu optimize etmek için test kurulumunu 20° olarak değiştirin.

 

Orta Parlaklık........10 - 70 GU

 

Düşük Parlaklık.............<10 GU..........Ölçüm 10 GU'dan azsa, ölçüm doğruluğunu optimize etmek için test kurulumunu 85° olarak değiştirin.

​

Ticari olarak üç tip enstrüman mevcuttur: 60° tek açılı enstrümanlar, 20° ve 60°'yi birleştiren çift açılı tip ve 20°, 60° ve 85°'yi birleştiren üç açılı tip. Diğer malzemeler için iki ek açı kullanılır, seramik, film, tekstil ve anodize alüminyumun ölçümü için 45°'lik açı belirtilirken, kağıt ve basılı malzemeler için ölçüm açısı 75° olarak belirtilir. A COLOR READER veya ayrıca COLORIMETER_cc781905-bb3c'nin dalga boyunu belirli bir dalga boyuna göre absorbe eden a58df-b3c-cc781905-bb3 olarak da anılır. özel bir çözüm. Kolorimetreler en yaygın olarak, bir çözünen konsantrasyonunun absorbansla orantılı olduğunu belirten Beer-Lambert yasasının uygulanmasıyla belirli bir çözeltideki bilinen bir çözünen maddenin konsantrasyonunu belirlemek için kullanılır. Taşınabilir renk okuyucularımız ayrıca plastik, boya, kaplama, tekstil, baskı, boya yapımı, tereyağı, patates kızartması, kahve, fırınlanmış ürünler ve domates gibi yiyeceklerde de kullanılabilir. Renkler konusunda profesyonel bilgisi olmayan amatörler tarafından kullanılabilirler. Pek çok renkli okuyucu türü olduğu için uygulamalar sonsuzdur. Kalite kontrolünde esas olarak numunelerin kullanıcı tarafından belirlenen renk toleransları dahilinde olmasını sağlamak için kullanılırlar. Size bir örnek vermek gerekirse, işlenmiş domates ürünlerinin rengini ölçmek ve derecelendirmek için USDA onaylı bir indeks kullanan el tipi domates kolorimetreleri vardır. Yine bir başka örnek, endüstri standardı ölçümleri kullanarak bütün yeşil çekirdeklerin, kavrulmuş çekirdeklerin ve kavrulmuş kahvenin rengini ölçmek için özel olarak tasarlanmış el tipi kahve kolorimetreleridir. Our COLOR FARKI METERS display doğrudan E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h ile renk farkını gösterir. Standart sapma E*ab0.2 dahilindedir. Herhangi bir renk üzerinde çalışırlar ve test sadece saniyeler sürer.

​

METALURJİK MİKROSKOPLAR and INVERTED METALLOGRAPHIC MİKROSCOPE_cc781905-5cde-3194-bb3b-136_bad5cf58 yöntemi mikroskopta genellikle optik aydınlatmadan farklıdır. Metaller opak maddelerdir ve bu nedenle önden aydınlatma ile aydınlatılmaları gerekir. Bu nedenle ışık kaynağı mikroskop tüpünün içinde bulunur. Tüpe monte edilmiş düz bir cam reflektördür. Metalurjik mikroskopların tipik büyütmeleri x50 – x1000 aralığındadır. Parlak alan aydınlatması, parlak arka plana ve gözenekler, kenarlar ve kazınmış tane sınırları gibi koyu düz olmayan yapı özelliklerine sahip görüntüler üretmek için kullanılır. Karanlık alan aydınlatması, koyu arka plana ve gözenekler, kenarlar ve kazınmış tane sınırları gibi parlak düz olmayan yapı özelliklerine sahip görüntüler üretmek için kullanılır. Polarize ışık, çapraz polarize ışığa tepki veren magnezyum, alfa-titanyum ve çinko gibi kübik olmayan kristal yapılı metalleri görüntülemek için kullanılır. Polarize ışık, aydınlatıcı ve analizörün önüne yerleştirilen ve göz merceğinin önüne yerleştirilen bir polarizör tarafından üretilir. Diferansiyel girişim kontrast sistemi için, parlak alanda görünmeyen özellikleri gözlemlemeyi mümkün kılan bir Nomarsky prizma kullanılır. INVERTED METALLOGRAPHIC MİKROSKOPLAR ışık kaynağı ve kondansatörü üstte bulunur , sahnenin üstünde aşağıyı gösterirken, hedefler ve taret sahnenin altında yukarıyı gösterir. Ters mikroskoplar, geleneksel mikroskopta olduğu gibi, büyük bir kabın altındaki özellikleri bir cam slayttan daha doğal koşullar altında gözlemlemek için kullanışlıdır. Ters mikroskoplar, cilalı numunelerin sahnenin üstüne yerleştirilebildiği ve yansıtıcı amaçlar kullanılarak alttan görüntülenebildiği metalurjik uygulamalarda ve ayrıca manipülatör mekanizmaları ve tuttukları mikro aletler için numunenin üzerinde alan gerektiren mikromanipülasyon uygulamalarında kullanılır.

​

Yüzeylerin ve kaplamaların değerlendirilmesi için test araçlarımızdan bazılarının kısa bir özetini burada bulabilirsiniz. Bunların ayrıntılarını yukarıda verilen ürün kataloğu bağlantılarından indirebilirsiniz.

​

Yüzey Pürüzlülük Test Cihazı SADT RoughScan : Bu, dijital bir okumada görüntülenen ölçülen değerlerle yüzey pürüzlülüğünü kontrol etmek için taşınabilir, pille çalışan bir cihazdır. Cihazın kullanımı kolaydır ve laboratuvarda, üretim ortamlarında, mağazalarda ve yüzey pürüzlülük testinin gerekli olduğu her yerde kullanılabilir.

​

SADT GT SERİSİ Gloss Meters : GT serisi parlaklık ölçerler uluslararası ISO2813, ASTMD523 ve DIN67530 standartlarına göre tasarlanmış ve üretilmiştir. Teknik parametreler JJG696-2002'ye uygundur. GT45 parlaklık ölçer özellikle plastik filmlerin ve seramiklerin, küçük alanların ve kavisli yüzeylerin ölçülmesi için tasarlanmıştır.

​

SADT GMS/GM60 SERİSİ Parlaklık Ölçerler : Bu parlaklık ölçerler uluslararası ISO2813, ISO7668, ASTM D523, ASTM D2457 standartlarına göre tasarlanmış ve üretilmiştir. Teknik parametreler ayrıca JJG696-2002'ye uygundur. GM Serisi parlaklık ölçerlerimiz boyama, kaplama, plastik, seramik, deri ürünleri, kağıt, basılı malzemeler, zemin kaplamaları vb. ölçmek için çok uygundur. Çekici ve kullanıcı dostu bir tasarıma sahiptir, aynı anda üç açılı parlak veri görüntülenir, ölçüm verileri için geniş bellek, verileri rahatça iletmek için en son bluetooth işlevi ve çıkarılabilir hafıza kartı, veri çıkışını analiz etmek için özel parlak yazılım, düşük pil ve hafıza dolu gösterge. Dahili bluetooth modülü ve USB arabirimi aracılığıyla GM parlaklık ölçerler, verileri PC'ye aktarabilir veya yazdırma arabirimi aracılığıyla yazıcıya aktarabilir. İsteğe bağlı SD kartları kullanarak bellek gerektiği kadar genişletilebilir.

​

Hassas Renkli Okuyucu SADT SC 80 : Bu renkli okuyucu çoğunlukla plastiklerde, tablolarda, kaplamalarda, tekstil ve kostümlerde, basılı ürünlerde ve boya imalat endüstrilerinde kullanılır. Renk analizi yapabilmektedir. 2,4” renkli ekranı ve portatif tasarımı rahat bir kullanım sunar. Kullanıcı seçimi için üç çeşit ışık kaynağı, SCI ve SCE mod anahtarı ve metamerizm analizi, farklı çalışma koşullarında test ihtiyaçlarınızı karşılar. Tolerans ayarı, renk farkı değerlerini otomatik değerlendir ve renk sapması fonksiyonları, renkler konusunda profesyonel bilginiz olmasa bile rengi kolayca belirlemenizi sağlar. Kullanıcılar, profesyonel renk analizi yazılımını kullanarak renk verisi analizini gerçekleştirebilir ve çıktı diyagramlarında renk farklılıklarını gözlemleyebilir. İsteğe bağlı mini yazıcı, kullanıcıların yerinde renkli verileri yazdırmasını sağlar.

​

Taşınabilir Renk Farkı Ölçer SADT SC 20 : Bu taşınabilir renk farkı ölçer, plastik ve baskı ürünlerinin kalite kontrolünde yaygın olarak kullanılmaktadır. Rengi verimli ve doğru bir şekilde yakalamak için kullanılır. Kullanımı kolay, renk farkını E*ab, L*a*b, CIE_L*a*b, CIE_L*c*h., E*ab0.2 içinde standart sapma ile gösterir, USB genişletme yoluyla bilgisayara bağlanabilir yazılım tarafından denetim için arayüz.

​

Metalurjik Mikroskop SADT SM500 : Metallerin laboratuvarda veya yerinde metalografik değerlendirmesi için ideal olarak uygun, bağımsız, taşınabilir bir metalurjik mikroskoptur. Taşınabilir tasarımı ve benzersiz manyetik standı ile SM500, tahribatsız inceleme için herhangi bir açıda, düzlükte, eğrilikte ve yüzey karmaşıklığında doğrudan demirli metallerin yüzeyine takılabilir. SADT SM500, metalurjik görüntüleri veri aktarımı, analiz, depolama ve çıktı için PC'ye indirmek için dijital kamera veya CCD görüntü işleme sistemi ile de kullanılabilir. Temel olarak, yerinde numune hazırlama, mikroskop, kamera ve sahada AC güç kaynağına ihtiyaç duymayan portatif bir metalurji laboratuvarıdır. Doğal renkler, ışığı dimleyerek ışığı değiştirmeye gerek kalmadan her an gözlenen en iyi görüntüyü sağlar. Bu cihaz, küçük numuneler için ek stand, mercekli dijital kamera adaptörü, arayüzlü CCD, 5x/10x/15x/16x mercek, objektif 4x/5x/20x/25x/40x/100x, mini öğütücü, elektrolitik parlatıcı, bir dizi tekerlek başlığı, parlatma bezi tekerleği, replika film, filtre (yeşil, mavi, sarı), ampul.

​

Taşınabilir Metalurgrafik Mikroskop SADT Model SM-3 : Bu cihaz, üniteyi iş parçalarına sıkıca sabitleyen özel bir manyetik taban sunar, büyük ölçekli yuvarlanma testi ve doğrudan gözlem için uygundur, kesme ve örnekleme gerekli, LED aydınlatma, tek tip renk sıcaklığı, ısıtma yok, ileri / geri ve sol / sağ hareket mekanizması, kontrol noktasının ayarlanması için uygun, dijital kameraları bağlamak ve kayıtları doğrudan PC'de izlemek için adaptör. İsteğe bağlı aksesuarlar SADT SM500 modeline benzer. Detaylar için lütfen yukarıdaki bağlantıdan ürün kataloğunu indirin.

​

Metalurjik Mikroskop SADT Modeli XJP-6A : Bu metaloskop fabrikalarda, okullarda, bilimsel araştırma kurumlarında her türlü metal ve alaşımın mikroyapısını tanımlamak ve analiz etmek için rahatlıkla kullanılabilir. Metal malzemeleri test etmek, dökümlerin kalitesini doğrulamak ve metalize malzemelerin metalografik yapısını analiz etmek için ideal bir araçtır.

​

Ters Metalografik Mikroskop SADT Modeli SM400 : Tasarım, metalurjik numunelerin taneciklerinin incelenmesini mümkün kılar. Üretim hattında kolay kurulum ve taşıması kolaydır. SM400, kolejler ve fabrikalar için uygundur. Trinoküler tüpe dijital kamera takmak için bir adaptör de mevcuttur. Bu mod, sabit boyutlarda metalografik görüntü baskısının MI'sını gerektirir. Standart büyütme ve %60'ın üzerinde gözlem görünümü ile bilgisayar çıktısı için çeşitli CCD adaptörlerimiz var.

​

Ters Metalografik Mikroskop SADT Modeli SD300M : Sonsuz odaklama optiği, yüksek çözünürlüklü görüntüler sağlar. Uzun mesafe görüntüleme hedefi, 20 mm geniş görüş alanı, hemen hemen her numune boyutunu kabul eden üç plakalı mekanik sahne, ağır yükler ve büyük bileşenlerin tahribatsız mikroskopla incelenmesine izin verir. Üç plakalı yapı, mikroskop stabilitesini ve dayanıklılığını sağlar. Optik, yüksek NA ve uzun görüntüleme mesafesi sağlayarak parlak, yüksek çözünürlüklü görüntüler sunar. SD300M'nin yeni optik kaplaması toza ve neme karşı dayanıklıdır.

​

Ayrıntılar ve diğer benzer ekipmanlar için lütfen ekipman web sitemizi ziyaret edin: http://www.sourceindustrialsupply.com