我们用于涂层和表面评估的测试仪器包括 涂层厚度仪、表面粗糙度测试仪、光泽度仪、色差仪、色差仪、金相显微镜、倒置金相显微镜。我们的主要关注点是 on NON-DESTRUCTIVE 测试方法。我们拥有高品质品牌，例如 SADT和 MITECH。

 

我们周围的所有表面都有很大一部分是涂层的。涂料有多种用途，包括良好的外观、保护和赋予产品某些所需的功能，例如防水、增强摩擦、耐磨性和耐磨性……等。因此，能够测量、测试和评估产品涂层和表面的性能和质量至关重要。如果考虑厚度，涂层可以大致分为两大类： THICK FILM 和 THCO

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要下载我们 SADT 品牌计量和测试设备的目录，请单击此处。  在本目录中，您将找到其中一些用于评估表面和涂层的仪器。

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要下载涂层测厚仪 Mitech 型号 MCT200 的手册，请单击此处。

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用于此类目的的一些仪器和技术是：

 

涂层厚度计 ：不同类型的涂层需要不同类型的涂层测试仪。因此，对各种技术的基本了解对于用户选择正确的设备至关重要。在 涂层厚度测量的磁感应法 中，我们测量了铁基体上的非磁性涂层和非磁性基体上的磁性涂层。将探针定位在样品上，并测量接触表面的探针尖端和基础基板之间的线性距离。测量探头内部是一个产生变化磁场的线圈。当探头放在样品上时，该磁场的磁通密度会因磁性涂层的厚度或磁性基底的存在而改变。磁感的变化由探头上的次级线圈测量。次级线圈的输出被传输到微处理器，在数字显示器上显示为涂层厚度测量值。这种快速测试适用于钢或铁基材上的液体或粉末涂层、镀铬、锌、镉或磷酸盐等。厚度大于 0.1 毫米的涂料或粉末等涂层适用于这种方法。由于镍的部分磁性，磁感应方法不适用于钢涂层上的镍。相敏涡流法更适用于这些涂层。另一种磁感应法容易失效的涂层是镀锌钢。探头将读取等于总厚度的厚度。较新的型号仪器能够通过检测穿过涂层的基材进行自校准。当没有裸基板或基板材料未知时，这当然非常有用。然而，更便宜的设备版本需要在裸露和未涂层的基材上校准仪器。 The 涡流测量涂层厚度的方法 测量有色金属导电基材上的非导电涂层、非导电基材上的有色金属导电涂层和有色金属上的一些有色金属涂层。它类似于前面提到的包含线圈和类似探头的磁感应方法。涡流法中的线圈具有励磁和测量的双重功能。该探测线圈由高频振荡器驱动以产生交变高频场。当放置在金属导体附近时，导体中会产生涡流。阻抗变化发生在探头线圈中。探针线圈和导电基板材料之间的距离决定了阻抗变化量，阻抗变化量可以测量，与涂层厚度相关，并以数字读数的形式显示。应用包括铝和非磁性不锈钢上的液体或粉末涂层，以及铝上的阳极氧化。这种方法的可靠性取决于零件的几何形状和涂层的厚度。在读取之前需要知道底物。涡流探头不应用于测量磁性基材上的非磁性涂层，例如铝基材上的钢和镍。如果用户必须测量磁性或有色导电基材上的涂层，最好使用自动识别基材的双磁感应/涡流计。第三种方法，称为涂层厚度测量的 库仑法，是一种具有许多重要功能的破坏性测试方法。测量汽车工业中的双相镍涂层是其主要应用之一。在库仑法中，金属涂层上已知大小的区域的重量是通过涂层的局部阳极剥离来确定的。然后计算涂层厚度的单位面积质量。对涂层的这种测量是使用电解池进行的，该电解池填充有专门选择用于剥离特定涂层的电解质。恒定电流流过测试电池，由于涂层材料用作阳极，因此会脱镀。电流密度和表面积是恒定的，因此涂层厚度与剥离和剥离涂层所需的时间成正比。这种方法对于测量导电基材上的导电涂层非常有用。库仑法也可用于确定样品上多层的涂层厚度。例如，镍和铜的厚度可以在钢基材上具有镍顶涂层和中间铜涂层的零件上测量。多层涂层的另一个例子是在塑料基材顶部的铜上的镍上的铬。库仑法测试方法在随机样本较少的电镀厂很流行。第四种方法是用于测量涂层厚度的 Beta 反向散射方法。发射 β 的同位素用 β 粒子照射测试样品。一束 β 粒子通过孔被引导到涂层组件上，并且这些粒子的一部分如预期的那样从涂层通过孔反向散射，以穿透 Geiger Muller 管的薄窗口。 Geiger Muller 管中的气体电离，在管电极上产生瞬时放电。脉冲形式的放电被计数并转化为涂层厚度。具有高原子序数的材料更多地反向散射β粒子。对于以铜为基材和 40 微米厚的金涂层的样品，β 粒子被基材和涂层材料散射。如果金涂层厚度增加，反向散射率也会增加。因此，颗粒散射率的变化是涂层厚度的量度。适用于 β 反向散射法的应用是那些涂层和基材的原子序数相差 20% 的应用。其中包括电子元件上的金、银或锡、机床上的涂层、卫生设备上的装饰镀层、电子元件、陶瓷和玻璃上的气相沉积涂层、金属上的油或润滑剂等有机涂层。 β 反向散射法适用于较厚的涂层以及磁感应或涡流方法不起作用的基材和涂层组合。合金的变化会影响 β 反向散射方法，并且可能需要不同的同位素和多次校准来进行补偿。一个例子是在印刷电路板和触针中众所周知的铜上锡/铅，或磷/青铜上的锡，在这些情况下，使用更昂贵的 X 射线荧光法可以更好地测量合金的变化。 The X 射线荧光法测量涂层厚度 是一种非接触式方法，可以测量小型和复杂零件上的非常薄的多层合金涂层。零件暴露在 X 射线下。准直器将 X 射线聚焦到试样的精确定义区域。这种 X 射线从测试样品的涂层和基材材料中引起特征性的 X 射线发射（即荧光）。使用能量色散检测器检测这种特征 X 射线发射。使用适当的电子设备，可以只记录涂层材料或基材的 X 射线发射。当存在中间层时，也可以选择性地检测特定涂层。这种技术广泛用于印刷电路板、珠宝和光学元件。 X 射线荧光不适用于有机涂层。测量的涂层厚度不应超过 0.5-0.8 密耳。然而，与 β 反向散射法不同，X 射线荧光可以测量具有相似原子序数的涂层（例如镍对铜）。如前所述，不同的合金会影响仪器的校准。分析基材和涂层的厚度对于确保精确读数至关重要。今天的系统和软件程序在不牺牲质量的情况下减少了多次校准的需要。最后值得一提的是，有些量具可以在上述几种模式下运行。有些具有可拆卸的探头，以提高使用灵活性。即使在不同形状的表面或不同的材料上使用，许多现代仪器确实提供了过程控制的统计分析功能和最小的校准要求。

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表面粗糙度测试仪 ：表面粗糙度通过表面法线向量方向与其理想形状的偏差来量化。如果这些偏差很大，则认为表面粗糙；如果它们很小，则表面被认为是光滑的。市售仪器称为 SURFACE PROFILOMETERS 用于测量和记录表面粗糙度。一种常用仪器的特点是金刚石触针在表面上沿直线移动。记录仪器能够补偿任何表面波纹并仅指示粗糙度。可以通过 a.) 干涉测量法和 b.) 光学显微镜、扫描电子显微镜、激光或原子力显微镜 (AFM) 观察表面粗糙度。显微技术特别适用于对非常光滑的表面进行成像，这些表面的特征不能被不太敏感的仪器捕捉到。立体照片可用于表面的 3D 视图，并可用于测量表面粗糙度。可以通过三种方法执行 3D 表面测量。来自 an optical-interference 显微镜 的光照射在反射表面上并记录由入射波和反射波产生的干涉条纹。_cc781905-5cde-3194-bb305-136bad5cccf75 profilometers_bb3b-136bad5cf75 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_用于通过干涉技术或通过移动物镜以在表面上保持恒定焦距来测量表面。透镜的运动然后是表面的量度。最后，第三种方法，即 atomic-force 显微镜，用于在原子尺度上测量极其光滑的表面。换句话说，使用这种设备，甚至可以区分表面上的原子。这种精密且相对昂贵的设备可扫描样品表面小于 100 平方微米的区域。

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光泽计、色差仪、色差 METER ：A GLOSSMETER 测量表面的镜面反射光泽。通过将具有固定强度和角度的光束投射到表面上并以相等但相反的角度测量反射量来获得光泽度的测量。光泽度计用于各种材料，例如油漆、陶瓷、纸张、金属和塑料产品表面。测量光泽度可以帮助公司确保其产品的质量。良好的制造实践需要工艺的一致性，这包括一致的表面光洁度和外观。光泽度测量在许多不同的几何形状下进行。这取决于表面材料。例如，金属具有高水平的反射，因此与非金属（如涂层和塑料）相比，由于漫散射和吸收，角度依赖性较高，因此角度依赖性较小。照明源和观察接收角配置允许在小范围的整体反射角上进行测量。光泽度计的测量结果与来自具有规定折射率的黑色玻璃标准的反射光量有关。将试样的反射光与入射光的比值与光泽度标准的比值相比较，记录为光泽度单位 (GU)。测量角度是指入射光和反射光之间的角度。大多数工业涂料使用三个测量角度（20°、60° 和 85°）。

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根据预期的光泽范围选择角度，并根据测量采取以下措施：

 

光泽范围............60°值............作用

 

高光泽............>70 GU.............如果测量超过 70 GU，请将测试设置更改为 20°，以优化测量精度。

 

中等光泽........10 - 70 GU

 

低光泽......<10 GU..........如果测量值小于 10 GU，请将测试设置更改为 85° 以优化测量精度。

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市售的仪器分为三种：60°单角度仪器、20°和60°组合的双角度类型和20°、60°和85°组合的三角度类型。两个额外的角度用于其他材料，45° 的角度用于测量陶瓷、薄膜、纺织品和阳极氧化铝，而 75° 的测量角度用于纸张和印刷材料。 A COLOR READER or also referred to as COLORIMETER is a device that measures the absorbance of particular wavelengths of light by一个具体的解决方案。色度计最常用于通过应用 Beer-Lambert 定律来确定给定溶液中已知溶质的浓度，该定律指出溶质的浓度与吸光度成正比。我们的便携式彩色阅读器还可用于塑料、绘画、电镀、纺织品、印刷、染料制造、黄油、炸薯条、咖啡、烘焙产品和西红柿等食品……等。它们可以供没有专业色彩知识的业余爱好者使用。由于彩色阅读器的种类繁多，因此应用层出不穷。在质量控制中，它们主要用于确保样品在用户设定的颜色容差范围内。举个例子，有手持式番茄色度计，它使用美国农业部批准的指数来测量和分级加工番茄产品的颜色。另一个例子是手持咖啡色度计，专门设计用于使用行业标准测量来测量整个生豆、烤豆和烤咖啡的颜色。 Our COLOR DIFFERENCE METERS 通过E*ab、L*a*b、CIE_L*a*b、CIE_L*c*h直接显示色差。标准偏差在 E*ab0.2 范围内，它们适用于任何颜色，测试只需几秒钟的时间。

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METALLURGICAL MICROSCOPES and INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPE : Metallurgical microscope is usually an optical microscope, but differs from others in the method of the specimen illumination.金属是不透明的物质，因此必须通过正面照明进行照明。因此光源位于显微镜管内。安装在管中的是普通玻璃反射器。金相显微镜的典型放大倍率在 x50 – x1000 范围内。明场照明用于产生具有明亮背景和暗非平面结构特征（例如孔隙、边缘和蚀刻的晶界）的图像。暗场照明用于产生具有深色背景和明亮的非平面结构特征（例如孔隙、边缘和蚀刻的晶界）的图像。偏振光用于观察具有非立方晶体结构的金属，例如镁、α-钛和锌，以响应交叉偏振光。偏振光由位于照明器和分析器之前并放置在目镜之前的偏振器产生。 Nomarsky 棱镜用于微分干涉对比系统，可以观察明场中不可见的特征。 INVERTED METALLOGRAPHIC MICROSCOPES 顶部有光源和聚光镜，在舞台上方朝下，而物镜和炮塔在舞台下方朝上。倒置显微镜可用于在比载玻片更自然的条件下观察大容器底部的特征，就像传统显微镜一样。倒置显微镜用于冶金应用中，抛光样品可以放置在平台顶部并使用反射物镜从下方观察，也用于样品上方需要空间用于机械手机构和它们所持有的微型工具的显微操作应用中。

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以下是我们用于评估表面和涂层的一些测试仪器的简要总结。您可以从上面提供的产品目录链接下载这些详细信息。

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表面粗糙度测试仪 SADT RoughScan ：这是一种便携式电池供电仪器，用于检查表面粗糙度，测量值显示在数字读数器上。该仪器易于使用，可用于实验室、制造环境、商店以及需要进行表面粗糙度测试的任何地方。

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SADT GT SERIES Gloss Meters ：GT系列光泽计按照国际标准ISO2813、ASTMD523和DIN67530设计制造。技术参数符合JJG696-2002。 GT45光泽度计专为测量塑料薄膜和陶瓷、小面积和曲面而设计。

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SADT GMS/GM60 系列光泽度计 ：这些光泽度计是根据国际标准 ISO2813、ISO7668、ASTM D523、ASTM D2457 设计和制造的。技术参数也符合JJG696-2002。我们的 GM 系列光泽度计非常适合测量油漆、涂料、塑料、陶瓷、皮革制品、纸张、印刷材料、地板覆盖物……等。设计美观、人性化、三角度光泽度数据同时显示、测量数据大内存、最新蓝牙功能和可移动存储卡方便传输数据、专用光泽度软件分析数据输出、低电池、内存满指标。通过内置蓝牙模块和USB接口，GM光泽度计可以将数据传输到PC或通过打印接口导出到打印机。使用可选的 SD 卡可以根据需要扩展内存。

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精密读色器 SADT SC 80 ：这种读色器主要用于塑料、绘画、电镀、纺织品和服装、印刷产品以及染料制造行业。它能够执行颜色分析。 2.4 英寸彩色屏幕和便携设计提供了舒适的使用体验。三种光源供用户选择，SCI和SCE模式切换，同色异谱分析，满足您不同工况下的测试需求。容差设置、自动判断色差值和色差功能，即使您对颜色没有任何专业知识，也能轻松判断颜色。使用专业的色彩分析软件，用户可以进行色彩数据分析，观察输出图上的色彩差异。可选的微型打印机使用户能够在现场打印出颜色数据。

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便携式色差仪 SADT SC 20 ：这款便携式色差仪广泛用于塑料和印刷产品的质量控制。它用于高效准确地捕捉颜色。操作简单，以E*ab、L*a*b、CIE_L*a*b、CIE_L*c*h显示色差，标准差在E*ab0.2以内，可通过USB扩展连接电脑软件检测界面。

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金相显微镜 SADT SM500 ：它是一款独立的便携式金相显微镜，非常适合在实验室或现场对金属进行金相评估。便携式设计和独特的磁性支架，SM500 可以以任何角度、平面度、曲率和表面复杂度直接贴在黑色金属表面进行无损检测。 SADT SM500 还可与数码相机或 CCD 图像处理系统一起使用，将冶金图像下载到 PC 进行数据传输、分析、存储和打印输出。它基本上是一个便携式冶金实验室，配备现场样品制备、显微镜、摄像头，现场无需交流电源。自然色彩，无需通过调暗 LED 照明来改变光线，可随时提供最佳观察图像。该仪器具有可选配件，包括用于小样品的附加支架、带目镜的数码相机适配器、带接口的 CCD、目镜 5x/10x/15x/16x、物镜 4x/5x/20x/25x/40x/100x、迷你研磨机、电解抛光机、一组砂轮头、抛光布轮、复制膜、滤光片（绿、蓝、黄）、灯泡。

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便携式金相显微镜SADT Model SM-3 ：该仪器提供特殊的磁性底座，将单元牢固地固定在工件上，适用于大规模轧辊测试和直接观察，无需切割和需要取样，LED照明，色温均匀，不加热，前后左右移动机构，方便调整检查点，连接数码相机的适配器，直接在PC上观察记录。可选配件类似于 SADT SM500 型号。详情请从以上链接下载产品目录。

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金相显微镜SADT Model XJP-6A ：该金相显微镜可方便地用于工厂、学校、科研机构，用于识别和分析各种金属和合金的显微组织。是检测金属材料、验证铸件质量和分析金属化材料金相组织的理想工具。

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倒置金相显微镜 SADT 型号 SM400 ：该设计可以检查冶金样品的晶粒。生产线安装方便，携带方便。 SM400适用于高校和工厂。还提供用于将数码相机连接到三目镜筒的适配器。该模式需要对固定尺寸的金相图像进行 MI 打印。我们有一系列用于计算机打印输出的 CCD 适配器，具有标准放大倍率和超过 60% 的观察视图。

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倒置金相显微镜 SADT 型号 SD300M ：无限聚焦光学器件提供高分辨率图像。长距离观察物镜，20 毫米宽视场，三板机械台，几乎可以接受任何样品尺寸，重载并允许对大型部件进行无损显微镜检查。三板结构提供了显微镜的稳定性和耐用性。该光学器件提供高数值孔径和长观察距离，提供明亮、高分辨率的图像。 SD300M的新型光学镀膜防尘防潮。

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详情及其他类似设备请访问我们的设备网站： http://www.sourceindustrialsupply.com